一种检测弯头内部和内表面缺陷的超声检测专用试块的制作方法

文档序号:8770368阅读:392来源:国知局
一种检测弯头内部和内表面缺陷的超声检测专用试块的制作方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及一种超声波试块,具体涉及一种检测弯头内部和内表面缺陷的超 声检测专用试块。
【背景技术】
[0002] 火力发电厂的弯头,由于推制或挤压工艺引起弯头外侧壁厚减小,内侧壁厚增大, 而且常在径向截面内产生椭圆度。椭圆短轴在回转体的径向弯头承压后有变圆趋势,于是 在弯头内、外侧的外壁及中性面内壁产生拉应力,所以弯头的外侧或中性面处的当量应力 最大,加之其内部受到汽水介质的腐蚀和冲刷。所以弯头运行一段时间经常在内壁出现裂 纹和腐蚀缺陷,从而引发弯头爆裂事故,严重影响机组运行和人员生命的安全。
[0003] 对弯头内壁裂纹或腐蚀缺陷的检验,超声波检测具有方便、快捷、成本低、检出率 高等明显优势。本专利申请的试块可以指导无损检测人员顺利地弯头检验工作,以有效地 发现弯头内壁裂纹,减少乃至杜绝因弯头裂纹造成的爆管事故。

【发明内容】

[0004] 为了克服上述现有技术存在的问题,本实用新型的目的在于提供检测弯头内部和 内表面缺陷的超声检测专用试块,通过设置通孔数量、尺寸,使弯头超声波检验中内壁和内 部的缺陷精确判定,解决了弯头检验判定缺陷这一难题。
[0005] 为了达到上述目的,本实用新型所采用的技术方案是:
[0006] 一种检测弯头内部和内表面缺陷的超声检测专用试块,包括对被检部件壁厚为 20mm~50mm的弯头检验采用的W-I试块以及对被检部件壁厚为50mm~160mm的弯头检验 采用的W- II试块;所述W-I试块和W- II试块包括方形部分1以及设置在方形部分1宽边 上半径为RIOOmm的用于斜探头前沿距离测定的1/4圆弧面2,所述方形部分1和1/4圆弧 面2为一体结构,所述1/4圆弧面2与方形部分1的上检验面平齐;所述W-I试块的厚度为 40mm、长度350mm、宽度120mm,所述W_ II试块的厚度为40mm、长度350mm、宽度150mm ;所述 W-I试块的方形部分1加工有6个用于制作DAC曲线的直径1. 5mm的横通孔,所述W- II试 块的方形部分1加工有7个用于制作DAC曲线的直径3. 0_的横通孔。
[0007] 所述W-I试块的方形部分1加工的6个用于制作DAC曲线的直径1. 5mm的横通孔 的排列位置为:距离W-I试块的1/4圆弧面2为50mm处,沿宽度方向加工有一排三个直径 1. 5mm的横通孔,三个直径1. 5mm的横通孔距离W-I试块的方形部分1上检验面的距离分别 为20mm、60mm、80mm ;距离远离W-I试块的1/4圆弧面2的一端50mm处,沿宽度方向加工有 一排三个直径1. 5mm的横通孔,三个直径1. 5mm的横通孔距离W-I试块的方形部分1上检 验面的距离分别为10mm、50mm、90mm。
[0008] 所述W- II试块的方形部分1加工的6个用于制作DAC曲线的直径3. 0mm的横通 孔的排列位置为:距离W- II试块的1/4圆弧面2为50mm处,沿宽度方向加工有一排三个直 径3. 0mm的横通孔,三个直径3. 0mm的横通孔距离W- II试块的方形部分1上检验面的距离 分别为30mm、70mm、110mm ;距离远离W- II试块的1/4圆弧面2的一端50mm处,沿宽度方向 加工有一排四个直径3. 0_的横通孔,四个直径3. 0_的横通孔距离W- II试块的方形部分 1上检验面的距离分别为10mm、50mm、90mm、130mm。
[0009] 所述W-I试块和W- II试块的材料与所检材料相同或相近,且无影响检测质量的缺 陷存在。
[0010] 所述试块适用于外径彡219mm、厚度直径比< 0. 23的三通及弯头手工A型脉冲反 射法超声波检测。
[0011] 试块横孔分布情况及检验深度范围见表1、表2。
[0012] 表1W-I试块横孔分布情况及检验深度范围
[0013]
【主权项】
1. 一种检测弯头内部和内表面缺陷的超声检测专用试块,其特征在于:包括对被检部 件壁厚为20mm~50mm的弯头检验米用的W-I试块以及对被检部件壁厚为50mm~160mm 的弯头检验采用的W-II试块;所述W-I试块和W-II试块包括方形部分(1)以及设置在方 形部分(1)宽边上半径为RlOOmm的用于斜探头前沿距离测定的1/4圆弧面(2),所述方形 部分(1)和1/4圆弧面(2)为一体结构,所述1/4圆弧面(2)与方形部分(1)的上检验面 平齐;所述W-I试块的厚度为40mm、长度350mm、宽度120mm,所述W-II试块的厚度为40mm、 长度350mm、宽度150mm;所述W-I试块的方形部分(1)加工有6个用于制作DAC曲线的直 径I. 5mm的横通孔,所述W-II试块的方形部分(1)加工有7个用于制作DAC曲线的直径 3.Omm的横通孔。
2. 根据权利要求1所述的检测弯头内部和内表面缺陷的超声检测专用试块,其特征在 于:所述W-I试块的方形部分(1)加工的6个用于制作DAC曲线的直径I. 5mm的横通孔的 排列位置为:距离W-I试块的1/4圆弧面(2)为50mm处,沿宽度方向加工有一排三个直径 I. 5mm的横通孔,三个直径I. 5mm的横通孔距离W-I试块的方形部分(1)上检验面的距离 分别为20mm、60mm、80mm;距离远离W-I试块的1/4圆弧面(2)的一端50mm处,沿宽度方向 加工有一排三个直径I. 5mm的横通孔,三个直径I. 5mm的横通孔距离W-I试块的方形部分 (1)上检验面的距离分别为10_、50mm、90mm。
3. 根据权利要求1所述的检测弯头内部和内表面缺陷的超声检测专用试块,其特征在 于:所述W-II试块的方形部分⑴加工的6个用于制作DAC曲线的直径3.Omm的横通孔的 排列位置为:距离W-II试块的1/4圆弧面(2)为50mm处,沿宽度方向加工有一排三个直径 3.Omm的横通孔,三个直径3.Omm的横通孔距离W-II试块的方形部分⑴上检验面的距离 分别为30mm、70mm、IlOmm;距离远离W-II试块的1/4圆弧面(2)的一端50mm处,沿宽度方 向加工有一排四个直径3.Omm的横通孔,四个直径3.Omm的横通孔距离W-II试块的方形部 分(1)上检验面的距离分别为10_、50mm、90mm、130mm。
4. 根据权利要求1所述的检测弯头内部和内表面缺陷的超声检测专用试块,其特征在 于:所述W-I试块和W-II试块的材料与所检材料相同或相近,且无影响检测质量的缺陷存 在。
5. 根据权利要求1所述的检测弯头内部和内表面缺陷的超声检测专用试块,其特征在 于:所述试块适用于外径彡219mm、厚度直径比< 0. 23的三通及弯头手工A型脉冲反射法 超声波检测。
【专利摘要】一种检测弯头内部和内表面缺陷的超声检测专用试块,包括对被检部件壁厚为20mm~50mm的弯头检验采用的W-I试块以及对被检部件壁厚为50mm~160mm的弯头检验采用的W-Ⅱ试块;两试块包括方形部分以及设置在方形部分宽边上半径为R100mm的1/4圆弧面,方形部分和1/4圆弧面为一体结构,1/4圆弧面与方形部分的上检验面平齐;W-I试块的厚度为40mm、长度350mm、宽度120mm,W-Ⅱ试块的厚度为40mm、长度350mm、宽度150mm;W-I试块的方形部分加工有6个直径1.5mm的横通孔,W-Ⅱ试块的方形部分加工有7个直径3.0mm的横通孔;应用此试块对仪器进行调整和校验后对弯头进行超声检测,缺陷检出率明显提高,对缺陷定位和定量准确,检验结果真实、可靠。
【IPC分类】G01N29-30
【公开号】CN204479523
【申请号】CN201520148238
【发明人】蔡晖, 殷尊, 李东江, 马翼超, 秦承鹏, 梅宝
【申请人】西安热工研究院有限公司
【公开日】2015年7月15日
【申请日】2015年3月16日
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