一种抗菌薄膜的测厚装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及抗菌薄膜光老化性能测试领域，具体涉及一种抗菌薄膜的测厚装置。
【背景技术】
[0002]薄膜是一种薄而软的透明薄片。用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成。聚酯薄膜科学上的解释为:由原子，分子或离子沉积在基片表面形成的二维材料。例:光学薄膜、复合薄膜、超导薄膜、聚酯薄膜、尼龙薄膜、塑料薄膜等等。薄膜被广泛用于电子电器，机械，印刷等行业，暴晒、烟熏、火烤，都会使其使用寿命会大大缩短，光氧化使薄膜的厚度会产生一定的影响，通过测定薄膜厚度来判断光氧化老化程度是至关重要的环节，而测厚仪是薄膜厚度控制系统中的主要设备。目前国内用于薄膜厚度在线测量的测厚仪主要靠国外进口，维护和使用成本很高，而国产测厚仪也存在精度低，响应慢，实时控制效果不好等缺点。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供一种抗菌薄膜的测厚装置，优化了传统薄膜的测厚装置。
[0004]为实现上述目的，本实用新型提供以下的技术方案:一种抗菌薄膜的测厚装置，装置由薄膜支架、激光传感器、C型架、C型架垫板、滑块、步进电机、直线导轨、滚珠丝杆和工控机组成，所述激光传感器一共有2个，且激光传感器通过微动台架与C型架连接，激光传感器上设置有激光测头，所述C型架通过C型架垫板与滑块进行固定，滑块设置在直线导轨上，所述滚珠丝杆两端分别连接直线导轨和步进电机，所述工控机设置在整个装置的上方。
[0005]优选的，所述薄膜支架上方设置有防尘罩。
[0006]优选的，所述激光传感器激光测头的左右两侧设置有测头校准器。
[0007]优选的，所述直线导轨右侧设置有光电传感器。
[0008]优选的，所述直线导轨上设置有报警器。
[0009]本实用新型的有益效果在于:提供一种抗菌薄膜的测厚装置，所述机架上方设置有防尘罩，既能保护安全，同时也能隔绝外界环境，减小外界环境变化对测量产生的影响，所述激光传感器激光测头的左右两侧设置有测头校准器，对激光传感器测头进行标定，通过微动台架进行改变位置，保证测量厚度的精确性，所述直线导轨右侧设置有光电传感器，所述直线导轨上设置有报警器，当光电对射传感器感应到滑块到达直线导轨的正向限定位时，报警器发出报警，减少因振动引起的测量误差现象，通过测定薄膜厚度来判断光氧化老化程度是至关重要的环节，具有广阔的市场前景。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型一种抗菌薄膜的测厚装置的结构示意图；
[0011]图2为C型架的的结构示意图；
[0012]其中:1_薄膜支架、2-激光传感器、3-C型架、4-C型架垫板、5-滑块、6-步进电机、7-直线导轨、8-滚珠丝杆、9-工控机、10-激光测头、11-防尘罩、12-测头校准器、13-光电传感器、14-报警器、15-微动台架。
【具体实施方式】
[0013]为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合【具体实施方式】，进一步阐述本实用新型。
[0014]如图1、图2所示，一种抗菌薄膜的测厚装置，装置由薄膜支架1、激光传感器2、C型架3、C型架垫板4、滑块5、步进电机6、直线导轨7、滚珠丝杆8和工控机9组成，所述激光传感器2 —共有2个，且激光传感器2通过微动台架15固定在C型架3上，激光传感器2上设置有激光测头10，所述C型架3通过C型架垫板4与滑块5固定，滑块5设置在直线导轨7上，所述滚珠丝杆8两端分别连接直线导轨7和步进电机6，所述工控机9设置在整个装置的上方。
[0015]此外，所述薄膜支架I上方设置有防尘罩11，所述激光传感器激光测头10的左右两侧设置有测头校准器12，所述直线导轨右侧设置有光电传感器13，所述直线导轨上设置有报警器14。
[0016]打开防尘罩11，启动测厚装置，通过测头校准器12和微动台架15对激光传感器激光测头10进行调整，然后步进电机6开始运转，滚珠丝杆8带动C型架3在直线导轨7运动，激光传感器2的激光测头10开始对薄膜支架I上的抗菌薄膜进行测量，工控机9采集通过激光传感器激光侧头11测得的测量数据，经过运算处理得到稳定的抗菌薄膜的厚度，光电传感器13感应C型架3的运动，当C型架3运动到直线导轨7的正向限位处时，报警，14发出警告，步进电机6接受指令，控C型架往回运动，回到初始位置。
[0017]基于上述，提供一种抗菌薄膜的测厚装置，所述机架上方设置有防尘罩，既能保护安全，同时也能隔绝外界环境，减小外界环境变化对测量产生的影响，所述激光传感器激光测头的左右两侧设置有测头校准器，对激光传感器测头进行标定，通过微动台架进行改变位置，保证测量厚度的精确性，所述直线导轨右侧设置有光电传感器，所述直线导轨上设置有报警器，当光电对射传感器感应到滑块到达直线导轨的正向限定位时，报警器发出报警，减少因振动引起的测量误差现象，通过测定薄膜厚度来判断光氧化老化程度是至关重要的环节，具有广阔的市场前景。
[0018]由技术常识可知，本实用新型可以通过其它的不脱离其精神实质或必要特征的实施方案来实现。因此，上述公开的实施方案，就各方面而言，都只是举例说明，并不是仅有的。所有在本实用新型范围内或在等同于本实用新型的范围内的改变均被本实用新型包含ο
【主权项】
1.一种抗菌薄膜的测厚装置，其特征在于:装置由薄膜支架、激光传感器、C型架、C型架垫板、滑块、步进电机、直线导轨、滚珠丝杆和工控机组成，所述激光传感器一共有2个，且激光传感器通过微动台架与C型架连接，激光传感器上设置有激光测头，所述C型架通过C型架垫板与滑块进行固定，滑块设置在直线导轨上，所述滚珠丝杆两端分别连接直线导轨和步进电机，所述工控机设置在整个装置的上方。
2.根据权利要求1所述的一种抗菌薄膜的测厚装置，其特征在于:所述薄膜支架上方设置有防尘罩。
3.根据权利要求1所述的一种抗菌薄膜的测厚装置，其特征在于:所述激光传感器激光测头的左右两侧设置有测头校准器。
4.根据权利要求1所述的一种抗菌薄膜的测厚装置，其特征在于:所述直线导轨右侧设置有光电传感器。
5.根据权利要求1所述的一种抗菌薄膜的测厚装置，其特征在于:所述直线导轨上设置有报警器。
【专利摘要】本实用新型公开了一种抗菌薄膜的测厚装置，所述机架上方设置有防尘罩，既能保护安全，同时也能隔绝外界环境，减小外界环境变化对测量产生的影响，所述激光传感器激光测头的左右两侧设置有测头校准器，对激光传感器测头进行标定，通过微动台架进行改变位置，保证测量厚度的精确性，所述直线导轨右侧设置有光电对射传感器，所述直线导轨上设置有报警器，当光电传感器感应到滑块到达直线导轨的正向限定位时，报警器发出报警，减少因振动引起的测量误差现象，通过测定薄膜厚度来判断光氧化老化程度是至关重要的环节,具有广阔的市场前景。
【IPC分类】G01B11-06
【公开号】CN204535668
【申请号】CN201520120295
【发明人】焦国平, 齐继业, 方兴旺
【申请人】安徽松泰包装材料有限公司
【公开日】2015年8月5日
【申请日】2015年2月28日