一种ntc热敏元件芯片测量夹具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种夹具，具体涉及一种NTC热敏元件芯片测量夹具。
【背景技术】
[0002]现有的片式(薄膜)电阻测试时一般采用金属夹子或测试笔，这两种测试方法均存在一定的问题。金属夹子由于夹紧力度较大，容易破坏薄膜电阻元件的表面，影响测试的结构；而采用测试笔测试时，使用者难以保证每次测试的力度大致一致，而且测试时手容易出现抖动，造成测试结果不稳定。申请号201020227663.4的专利公开了一种薄膜电阻测试夹具，该夹具虽解决了上述的问题，但装载测试电阻时需转动压板，将电阻放置在测试槽中，在将压板压好后再测试，显得比较麻烦。另外该夹具的测试槽尺寸固定，难以适应不同规格的电阻，限制了进一步的应用。
【实用新型内容】
[0003]为解决现有技术的不足，本实用新型提供了一种结构简单，方便装载热敏元件芯片测量夹具。
[0004]本实用新型解决问题采用的技术方案是:
[0005]一种NTC热敏元件芯片测量夹具，包括底板和测试触杆，所述底板上设置有两个测试块，所述测试块上设置有测试孔，所述测试块的侧面设置有贯通至测试孔的通孔，所述测试触杆可移动地穿进通孔内，所述挡片与测试块的侧面之间套接有弹簧，在弹簧拉力下，所述测试触杆其前端伸进测试孔的内部，所述测试触杆的前端设置有斜面。
[0006]作为上述方案的进一步改进，包括锁紧手轮，其中一个测试块滑动连接在底板上，该测试块上还设置有通槽，所述锁紧手轮穿过通槽将该测试块与底板锁紧。
[0007]作为上述方案的进一步改进，所述测试孔为垂直设置。
[0008]本实用新型的有益效果:本实用新型结构简单而且装载电阻十分方便。
【附图说明】
[0009]下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明:
[0010]图1是本实用新型的俯视不意图；
[0011]图2是图1的A-A方向的剖视图。
【具体实施方式】
[0012]参照图1和图2，一种NTC热敏元件芯片测量夹具，包括底板I和一端设置有挡片2的测试触杆3，所述底板I上设置有两个测试块4，所述测试块4上设置有测试孔5，所述测试块4的侧面设置有贯通至测试孔5的通孔，所述测试触杆3可移动地穿进通孔内，所述挡片2与测试块4的侧面之间套接有弹簧6，在弹簧6拉力下，所述测试触杆3其前端伸进测试孔5的内部，所述测试触杆3的前端设置有斜面。
[0013]作为进一步优选的实施方式，包括锁紧手轮7，其中一个测试块4滑动连接在底板I上，该测试块4上还设置有通槽8，所述锁紧手轮7穿过通槽8将该测试块4与底板I锁紧。利用锁紧手轮7可锁紧和松开测试块4和底板1，而且松开后，利用通槽8，可移动测试块3使两个测试孔5之间的距离增大或减小至所需的距离，再拧紧锁紧手轮7。该设计可使夹具能够适用不同规格的热敏元件芯片。
[0014]作为进一步优选的实施方式，所述测试孔5为垂直设置。
[0015]以上所述只是本实用新型较佳的实施方式，其并不构成对本实用新型保护范围的限制，只要是以基本相同的手段实现本实用新型的目的都应属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种NTC热敏元件芯片测量夹具，包括底板(I)和一端设置有挡片(2)的测试触杆(3)，其特征在于:所述底板(I)上设置有两个测试块(4)，所述测试块(4)上设置有测试孔(5)，所述测试块(4)的侧面设置有贯通至测试孔(5)的通孔，所述测试触杆(3)可移动地穿进通孔内，所述挡片(2)与测试块(4)的侧面之间套接有弹簧(6)，在弹簧(6)拉力下，所述测试触杆(3)其前端伸进测试孔(5)的内部，所述测试触杆(3)的前端设置有斜面。
2.根据权利要求1所述的一种NTC热敏元件芯片测量夹具，其特征在于包括锁紧手轮(7 )，其中一个测试块(4 )滑动连接在底板(I)上，该测试块(4 )上还设置有通槽(8 )，所述锁紧手轮(7 )穿过通槽(8 )将该测试块(4)与底板(I)锁紧。
3.根据权利要求1所述的一种NTC热敏元件芯片测量夹具，其特征在于所述测试孔(5)为垂直设置。
【专利摘要】本实用新型公开了一种NTC热敏元件芯片测量夹具，包括底板和测试触杆，所述底板上设置有两个测试块，所述测试块上设置有测试孔，所述测试块的侧面设置有贯通至测试孔的通孔，所述测试触杆可移动地穿进通孔内，所述挡片与测试块的侧面之间套接有弹簧，在弹簧拉力下，所述测试触杆其前端伸进测试孔的内部，所述测试触杆的前端设置有斜面。本实用新型结构简单而且装载电阻十分方便。
【IPC分类】G01R1-04
【公开号】CN204536370
【申请号】CN201520041818
【发明人】刘 英
【申请人】兴化市新兴电子有限公司
【公开日】2015年8月5日
【申请日】2015年1月21日