分体式手持式x荧光光谱仪pda放置装置的制造方法

文档序号:8865734阅读:391来源:国知局
分体式手持式x荧光光谱仪pda放置装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及X荧光光谱仪技术领域,特别涉及一种分体式手持式X荧光光谱仪PDA放置装置。
【背景技术】
[0002]X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。现有技术中的X荧光光谱仪大多数为一体式光谱仪,PDA嵌入在仪器上,若出现问题时,需要整机拆卸更换或维修,非常不方便。

【发明内容】

[0003]本实用新型的目的是克服现有技术存在的缺陷,提供一种结构简单、设计合理的分体式手持式X荧光光谱仪PDA放置装置。
[0004]实现本实用新型目的的技术方案是:一种分体式手持式X荧光光谱仪PDA放置装置,具有放置壳体;所述放置壳体安装在光谱仪机壳上;所述放置壳体上具有用于放置PDA的凹槽,放置壳体的下边缘开设有若干个安装通孔;所述凹槽下端侧壁上具有凸起卡件。
[0005]上述技术方案所述放置壳体的上边缘安装有PDA定位部件。
[0006]上述技术方案所述凹槽槽口为圆角。
[0007]上述技术方案所述凸起卡件与凹槽为一体成型。
[0008]上述技术方案所述放置壳体的下边缘呈折线形。
[0009]上述技术方案所述放置壳体的上边缘为上翘的弧形。
[0010]上述技术方案所述弧形部具有一开口。
[0011]采用上述技术方案后,本实用新型具有以下积极的效果:
[0012](I)本实用新型具有结构简单、设计合理等特点,便于PDA的安装、拆卸、更换或维修。
[0013](2)本实用新型的放置壳体的上边缘安装有PDA定位部件,可以防止PDA掉出损坏。
[0014](3)本实用新型的弧形部具有一开口,便于取出放置壳体。
【附图说明】
[0015]为了使本实用新型的内容更容易被清楚地理解,下面根据具体实施例并结合附图,对本实用新型作进一步详细的说明,其中
[0016]图1为本实用新型的结构示意图;
[0017]图2为本实用新型的主视图;
[0018]附图中标号为:放置壳体1,凹槽2,安装通孔3,凸起卡件4,PDA定位部件5,圆角6,开口 ?。
【具体实施方式】
[0019](实施例1)
[0020]见图1和图2,本实用新型具有放置壳体I ;放置壳体I安装在光谱仪机壳上;放置壳体I上具有用于放置PDA的凹槽2,放置壳体I的下边缘呈折线形,放置壳体I的下边缘开设有若干个安装通孔3 ;凹槽2下端侧壁上具有凸起卡件4,凹槽2槽口为圆角6。
[0021]放置壳体I的上边缘为上翘的弧形,弧形部具有一开口 7,放置壳体I的上边缘安装有PDA定位部件5。
[0022]凸起卡件4与凹槽2为一体成型。
[0023]以上所述的具体实施例,对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种分体式手持式X荧光光谱仪PDA放置装置,具有放置壳体(I);所述放置壳体(I)安装在光谱仪机壳上;其特征在于:所述放置壳体(I)上具有用于放置PDA的凹槽(2),放置壳体(I)的下边缘开设有若干个安装通孔(3);所述凹槽(2)下端侧壁上具有凸起卡件⑷。
2.根据权利要求1所述的分体式手持式X荧光光谱仪PDA放置装置,其特征在于:所述放置壳体(I)的上边缘安装有PDA定位部件(5)。
3.根据权利要求2所述的分体式手持式X荧光光谱仪PDA放置装置,其特征在于:所述凹槽⑵槽口为圆角(6)。
4.根据权利要求2或3所述的分体式手持式X荧光光谱仪PDA放置装置,其特征在于:所述凸起卡件(4)与凹槽(2)为一体成型。
5.根据权利要求4所述的分体式手持式X荧光光谱仪PDA放置装置,其特征在于:所述放置壳体(I)的下边缘呈折线形。
6.根据权利要求5所述的分体式手持式X荧光光谱仪PDA放置装置,其特征在于:所述放置壳体(I)的上边缘为上翘的弧形。
7.根据权利要求6所述的分体式手持式X荧光光谱仪PDA放置装置,其特征在于:所述弧形部具有一开口(7)。
【专利摘要】本实用新型涉及一种分体式手持式X荧光光谱仪PDA放置装置,具有放置壳体;所述放置壳体安装在光谱仪机壳上;所述放置壳体上具有用于放置PDA的凹槽,放置壳体的下边缘开设有若干个安装通孔;所述凹槽下端侧壁上具有凸起卡件。本实用新型具有结构简单、设计合理等特点,便于PDA的安装、拆卸、更换或维修。
【IPC分类】G01N23-223
【公开号】CN204575574
【申请号】CN201520219573
【发明人】杜亚明
【申请人】苏州浪声科学仪器有限公司
【公开日】2015年8月19日
【申请日】2015年4月10日
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