移动斗式散状物料自动采样机的制作方法
【专利说明】
[技术领域]
[0001]本实用新型涉及散状物料自动采样机，特别是移动斗式散状物料自动采样机。
[【背景技术】]
[0002]目前，人们使用的散状物料自动采样机多为皮带中部和旋转头部等形式，皮带中部形式较能满足采样标准要求，但是该形式对主皮带影响较大，经常出现犁料和刮伤皮带现象，影响运输皮带的寿命和生产；旋转头部采样机形式与采样标准不完全相符，采取的样品代表性稍差。
[
【发明内容】
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[0003]本实用新型的目的是要提供一种既能满足有关取样标准，又不影响主皮带运行的散状物料皮带头部自动采样机。
[0004]本实用新型的目的是这样实现的:设计一种移动斗式散状物料自动采样机，其特征在于，包括采样斗、主皮带、支架、驱动装置、移动小车以及吊架，所述采样斗由吊架固定悬挂在移动小车上，移动小车的滚轮嵌入支架上的横向导轨，移动小车通过链条与驱动装置相连，通过驱动装置于横向导轨内往复移动，主皮带正对采样斗的开口输送物料。需要采样时，采样斗在驱动装置带动下匀速通过主皮带抛物线料流，料流通过采样斗的开口进入斗体。
[0005]采样斗底部设有物料出口，所述物料出口由开门机构控制连接。当采样斗移动到一端时，底部开门机构自动碰撞打开，采取的样品进入下级设备进行制样。
[0006]所述驱动装置由可靠的、运行过程中速度恒定的制动电机减速机组成。
[0007]采样斗的切割口垂直主皮带的抛物线料流，料流通过采样斗的开口进入斗体。
[0008]由于采用上述移动斗式散状物料皮带头部采样机，采取的样品完全符合有关采样标准的要求，样品代表性强，无采样偏差。同时，由于采样机与主皮带及驱动滚筒无任何接触，不影响主皮带的运行。移动斗式散状物料皮带头部自动采样机完全满足采样标准的要求，使用过程中不与主皮带接触，不影响主皮带的运行和生产。
[【附图说明】]
[0009]图1为本实用新型的结构示意图
[0010]图2为本实用新型的结构示意图
[0011]图中标记说明
[0012]1.采样斗，2.主皮带，3.支架，4.驱动装置，5.移动小车，6.开门机构，7.吊架。
[【具体实施方式】]
[0013]现结合附图及实施例对本实用新型的技术方案作进一步阐述。
[0014]如图1-2所示，一种移动斗式散状物料自动采样机，包括采样斗1、主皮带2、支架3、驱动装置4、移动小车5以及吊架7，所述采样斗I由吊架7固定悬挂在移动小车5上，移动小车5的滚轮嵌入支架3上的横向导轨，移动小车5通过链条与驱动装置4相连，通过驱动装置4于横向导轨内往复移动，可如箭头方向所示，主皮带2正对采样斗I的开口输送物料。
[0015]采样斗I底部设有物料出口，所述物料出口由开门机构6控制连接。
[0016]所述驱动装置4由可靠的、运行过程中速度恒定的制动电机减速机组成。
[0017]采样斗I的切割口垂直主皮带2的抛物线料流，料流通过采样斗I的开口进入斗体。
[0018]工作时，采样机接到指令，驱动装置启动，链条带动移动小车以设定的速度匀速移动，小车带动吊架、采样斗匀速通过抛物线料流，一定量的样品进入采样斗。当采样斗移动到图示卸料位置时，采样斗底部开门机构碰撞打开，样品从采样斗中流出进入下一级设备。采样过程结束，进入下一循环。
【主权项】
1.一种移动斗式散状物料自动采样机，其特征在于，包括采样斗(1)、主皮带(2)、支架(3)、驱动装置(4)、移动小车(5)以及吊架(7)，所述采样斗⑴由吊架(7)固定悬挂在移动小车(5)上，移动小车(5)的滚轮嵌入支架(3)上的横向导轨，移动小车(5)通过链条与驱动装置(4)相连，通过驱动装置(4)于横向导轨内往复移动，主皮带(2)正对采样斗(I)的开口输送物料。
2.如权利要求1所述的一种移动斗式散状物料自动采样机，其特征在于，采样斗(I)底部设有物料出口，所述物料出口由开门机构(6)控制连接。
3.如权利要求1所述的一种移动斗式散状物料自动采样机，其特征在于，所述驱动装置(4)由可靠的、运行过程中速度恒定的制动电机减速机组成。
4.如权利要求1所述的一种移动斗式散状物料自动采样机，其特征在于，采样斗(I)的切割口垂直主皮带(2)的抛物线料流，料流通过采样斗(I)的开口进入斗体。
【专利摘要】本实用新型涉及移动斗式散状物料自动采样机，其特征在于，包括采样斗、主皮带、支架、驱动装置、移动小车以及吊架，所述采样斗由吊架固定悬挂在移动小车上，移动小车嵌入支架上的横向导轨，移动小车通过链条与驱动装置相连，通过驱动装置于横向导轨内往复移动，主皮带正对采样斗的开口输送物料。本移动斗式散状物料自动采样机完全满足采样标准的要求，使用过程中不与主皮带接触，不影响主皮带的运行和生产。
【IPC分类】G01N1-10
【公开号】CN204612967
【申请号】CN201520081085
【发明人】袁晓鹰, 金樱华, 张岳胜, 闫凯
【申请人】上海赫尔斯测控工程科技有限公司
【公开日】2015年9月2日
【申请日】2015年2月5日