薄膜拉伸和穿刺强度测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于薄膜性能测试领域,尤其涉及薄膜拉伸和穿刺强度测试装置。
【背景技术】
[0002]在薄膜性能测试领域中,目前的设备在技术上不能满足薄膜穿刺强度的测试实验,无法进行穿刺测试数据采集,给薄膜性能检测带来不便,有时候不能满足客户需求。目前的薄膜拉伸强度测试装置带有拉伸强度测试仪,只能准确地检测薄膜拉伸数据,用途较单一。
【实用新型内容】
[0003]为了解决上述问题,本实用新型提供了一种可进行薄膜拉伸和穿刺两种强度测试且能够准确采集数据的薄膜拉伸和穿刺强度测试装置。
[0004]根据本实用新型的一个方面,提供一种薄膜拉伸和穿刺强度测试装置,包括支架和底座,所述支架上方设有拉伸强度测试装置,还包括穿刺强度测试装置,所述穿刺强度测试装置包括穿刺头,所述穿刺头下方设有薄膜固定支架,所述穿刺头连接有传感器,所述传感器连接自动控制装置。其有益效果是:本装置在薄膜拉伸强度测试装置的基础上有效合理的增加了薄膜穿刺实验测试装置,能有效准确的测试薄膜穿刺性能,且能满足实验数据采集,解决薄膜中穿刺性能数据缺陷,为掌握薄膜工艺的改进有了一个准确地依据,从而使薄膜质量得到有效的控制和改进。
[0005]在一些实施方式中,所述穿刺头还设有可松开与固定的穿刺头卡具。其有益效果是:有效的固定和松开穿刺头,使得测试数据更准确。
【附图说明】
[0006]图1是本实用新型的结构示意图。
[0007]图中:1-支架,2-底座,3-穿刺头,4-薄膜固定支架,5-穿刺头卡具,6_传感器,7-拉伸强度测试装置。
【具体实施方式】
[0008]下面结合附图1对本实用新型作进一步的说明。附图1示意性的显示了本实用新型薄膜拉伸和穿刺强度测试装置,包括支架I和底座2,所述支架I上方设有拉伸强度测试装置7,还包括穿刺强度测试装置,所述穿刺强度测试装置包括穿刺头3,所述穿刺头3下方设有薄膜固定支架4,所述穿刺头3连接有传感器6,所述传感器6连接自动控制装置。本装置在薄膜拉伸强度测试装置7的基础上增加了薄膜穿刺强度测试装置,在实验中,把薄膜展平延伸,用薄膜固定支架4将其拉平夹紧,穿刺头3穿透薄膜的力度由传感器6传递给自动控制装置,从而可以采集数据。
[0009]为使得测试数据更加准确,所述穿刺头3还设有可松开与固定的穿刺头卡具5。穿刺头卡具能平稳的固定和松开穿刺头3,保证采集的数据更加准确。
[0010]以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式,应当指出,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型的创造构思的前提下,还可以做出其它变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.薄膜拉伸和穿刺强度测试装置,包括支架(I)和底座(2),所述支架(I)上方设有拉伸强度测试装置(7),其特征在于,还包括穿刺强度测试装置,所述穿刺强度测试装置包括穿刺头(3 ),所述穿刺头(3 )下方设有薄膜固定支架(4),所述穿刺头(3 )连接有传感器(6 ),所述传感器(6)连接自动控制装置。
2.如权利要求1所述的薄膜拉伸和穿刺强度测试装置,其特征在于,所述穿刺头(3)还设有可松开与固定的穿刺头卡具(5)。
【专利摘要】本实用新型公开了一种可进行薄膜拉伸和穿刺两种强度测试且能够准确采集数据的薄膜拉伸和穿刺强度测试装置,包括支架和底座,所述支架上方设有拉伸强度测试装置,还包括穿刺强度测试装置,所述穿刺强度测试装置包括穿刺头,所述穿刺头下方设有薄膜固定支架,所述穿刺头连接有传感器,所述传感器连接自动控制装置。本装置在薄膜拉伸强度测试装置的基础上有效合理的增加了薄膜穿刺实验测试装置,能有效准确的测试薄膜穿刺性能,且能满足实验数据采集,解决薄膜中穿刺性能数据缺陷,为掌握薄膜工艺的改进有了一个准确地依据,从而使薄膜质量得到有效的控制和改进。
【IPC分类】G01N3-00
【公开号】CN204613016
【申请号】CN201520255627
【发明人】王彩霞
【申请人】昆山运城塑业有限公司
【公开日】2015年9月2日
【申请日】2015年4月24日