一种用于透射式太赫兹检测的采样装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型设及一种用于透射式太赫兹检测的采样装置，属于分析化学领域，更 进一步属于应用太赫兹装置进行检测的分析化学领域。
【背景技术】
[0002] 太赫兹是指频率在0.ITOz-IOT化之间，波长在30um-lmm之间的电磁波，太赫兹光 谱具有W下特点；典型脉宽在皮秒量级，时间分辨力高；许多有机分子、生物大分子的振动 和转动能级都落在T化波段，对太赫兹呈现出强烈的吸收和色散，不同物质的太赫兹光谱 往往呈现出不同的特征，因此使用太赫兹光谱技术可W实现很多有机分子和生物大分子的 特征识别；具有很高的时间和空间相干性，通过测量太赫兹透过介质的时域波形可W得到 包括振幅和相位的光谱数据，从而同时得到介质对太赫兹的吸收谱和色散谱，计算出介质 的复折射率、复介电常数等参数；太赫兹光子能量低，不会对生物组织产生有害的电离，实 现无损检测。
[0003] 目前在使用透射式太赫兹时域光谱装置Cfflz-TD巧对样品进行检测时，常用的太 赫兹采样装置是采用透明聚己締制作的中间缕空的长方形盒子，中间位置摆放待测样品， 太赫兹脉冲透过样品后到达接收器，其结构非常简单，但是，每次采样均需要重新手动摆放 位置，使采样点正对采样脉冲，然后进行采样检测，检测过程十分繁琐。因此，研发出一种可 W实现样品的多点、机械自动检测的用于透射式太赫兹检测的采样装置是本领域亟需解决 的问题。 【实用新型内容】
[0004]为解决上述技术问题，本实用新型的目的在于提供一种用于透射式太赫兹检测的 采样装置。
[0005]为达到上述目的，本实用新型提供一种用于透射式太赫兹检测的采样装置，该装 置包括内层双向导轨2、可旋转的中央转向平台1、滑块4 ;
[0006]所述内层双向导轨2水平设置于中央转向平台1上，该中央转向平台1可在第一 驱动装置的驱动下旋转W用于改变内层双向导轨2的方向；
[0007] 所述滑块4设置于内层双向导轨2之上，并可在第二驱动装置的驱动下在内层双 向导轨2上往复滑动。
[0008]根据本实用新型所述的采样装置，优选地，该装置还包括外层双向导轨3,该外层 双向导轨3W中央转向平台1为中屯、向四周福射设置，所述内层双向导轨2能够在中央转 向平台1旋转下与外层双向导轨3保持水平衔接，W使滑块4能够在内层双向导轨2和外 层双向导轨3上自由往复滑动，该外层双向导轨3与所述中央转向平台1之间设置间隙，W 使中央转向平台1能够旋转。
[0009]根据本实用新型所述的采样装置，优选地，所述外层双向导轨3与中央转向平台1 之间的间隙小于0. 3mm。
[0010] 根据本实用新型所述的采样装置，优选地，所述外层双向导轨3是W中央转向平 台1为中屯、呈十字形分布于中央转向平台1的周围。
[0011] 根据本实用新型所述的采样装置，优选地，所述内层双向导轨2长度方向的中屯、 线穿过所述中央转向平台1的旋转中屯、，且所述外层双向导轨3W中央转向平台1的旋转 中屯、为中屯、向四周福射设置。
[0012] 根据本实用新型所述的采样装置，优选地，所述内层双向导轨2与外层双向导轨3 的横截面形状相同。
[0013] 根据本实用新型所述的采样装置，优选地，所述内层双向导轨2与外层双向导轨3 为单根导轨或双根导轨。
[0014] 根据本实用新型所述的采样装置，优选地，当所述内层双向导轨2与外层双向导 轨3为双根导轨时，所述滑块4的高度为30-40mm，宽度为140-160mm;所述中央转向平台1 的直径为220-250mm;内层双向导轨2的高度为60-80mm，宽度为40-60mm，内层双向导轨2 两轨之间的宽度为120-140mm;外层双向导轨3的高度为60-80mm，宽度为40-60mm，外层双 向导轨3两轨之间的宽度为120-140mm。
[0015] 根据本实用新型所述的采样装置，优选地，当所述内层双向导轨2与外层双向导 轨3为单根导轨时，所述滑块4的高度为30-40mm，宽度为140-160mm;所述中央转向平台1 的直径为220-250mm;内层双向导轨2的高度为60-80mm，宽度为40-60mm;外层双向导轨3 的高度为60-80mm，宽度为40-60mm。
[0016] 根据本实用新型所述的采样装置，所述内层双向导轨是指位于可旋转的中央转向 平台上的双向导轨，而外层双向导轨是W中央转向平台的旋转中屯、为中屯、呈十字形分布于 可旋转的中央转向平台四周的双向导轨；所述内层双向导轨、外层双向导轨均是本领域的 常规导轨，本实用新型并没有对其进行改进。
[0017] 根据本实用新型所述的采样装置，上述第一驱动装置、第二驱动装置均为本领域 的常规驱动装置，其具体结构和安装均为本领域技术人员所公知，故在本实用新型附图中 没有详细示出。
[0018] 在本实用新型的优选实施例中，上述第一驱动装置、第二驱动装置均可W为常规 的电动机。
[0019] 根据本实用新型所述的采样装置，上述中央转向平台不但可W用于改变内层双向 导轨的方向，还可W用来支撑该采样装置及保持滑块水平；当中央转向平台转动到使内层 双向导轨与外层双向导轨水平对接时，滑块可W在与内层双向导轨对接的外层双向导轨上 滑行。当中央转向平台足够大时，本实用新型的采样装置也可W不使用外层双向导轨，此 时，使滑块在中央转向平台上的内层双向导轨上进行滑行即可W完成透射式太赫兹检测的 采样过程。
[0020] 本实用新型用于透射式太赫兹检测的采样装置不与透射式太赫兹检测装置的部 件相连接，而是将该采样装置使用螺丝固定在面板上，再将面板放置在太赫兹脉冲所在的 位置，调整面板位置使样品正对着太赫兹脉冲即可。
[0021] 本实用新型的用于透射式太赫兹检测的采样装置可W用来搭载待测样品，而采样 及检测过程是由透射式太赫兹时域光谱装置（THz-ID巧发射的太赫兹脉冲实现的；本实用 新型的用于透射式太赫兹检测的采样装置的中央转向平台可W在第一驱动装置的驱动下 进行旋转，进而可W改变位于中央转向平台上的内层双向导轨的方向；同时，该用于透射式 太赫兹检测的采样装置的滑块可W在第二驱动装置的驱动下在内层双向导轨上滑动，进而 可W实现对待测样品进行多点、动态、机械自动采样检测。
[0022] 本实用新型还提供了上述用于透射式太赫兹检测的采样装置的使用方法，该方法 包括W下步骤：将待测样品置于滑块中央，然后，使滑块在内层双向导轨和/或外层双向导 轨上匀速地往返进行横向或纵向的滑行，在匀速滑行过程中，太赫兹光波进行脉冲扫描定 位采样点W进行采样，采样完毕后，再次在双向导轨上滑动滑块定位下一个采样点W进行 采样，如此便得到待测样品的多个采样点，每次对一个采样点采样时同时也完成了对该采 样点的检测，即一个太赫兹脉冲透射经过待测样品到达接收器，接收器再把接收到的数据 发送到计算机。在进行数据处理时，将每个采样点的测试数据进行存储、比较、除去误差较 大的测量数据，再对余下的测量数据取平均值，得到待测样品的太赫兹脉冲平均时域波形。
[0023] 上述滑块匀速滑行的滑行速度可W根据滑块移动的距离及太赫兹脉冲发射的时 间间隔进行调整；在本实用新型的优选实施例中其移动速度为0. 5mm/s。
[0024] 本实用新型的用于透射式太赫兹检测的采样装置可W对待测样品进行多点、动 态、机械自动采样检测，进而可W实现多点、动态太赫兹检测，相对于现有的单点、静态、手 动移动样品的采样检测方式，使用本实用新型的装置可W提高检测精度，降低实验的误差， 并且能够实现机械自动检测，提高检测效率，减少因手动移动样品而导致的样品破损率。
【附图说明】
[0025] 图1为本实用新型的用于透射式太赫兹检测的采样装置的结构示意图；
[0026] 图2为本实用新型实施例2得到的采样点的分布示意图。
[0027] 主要附图标号说明；
[0028]1中央转向平台2内层双向导轨3外层双向导轨4滑块5待测样品。
【具体实施方式】
[0029] 为了对本实用新型的技术特征、目的和有益效果有更加清楚的理解，现参照说明 书附图对本实用新型的技术方案进行W下详细说明，但不能理解为对本实用新型的可实施 范围的限定。
[0030] 实施例1
[0031] 本实施例提供了一种用于透射式太赫兹检测的采样装置，该装置的结构示意图如 图1所示，从图1中可W看出该装置包括中央转向平台1、两个内层双向导轨2、八个外层双 向导轨3、滑块4;
[0032] 所述八个外层双向导轨3 W中央转向平台1的旋转中屯、为中屯、呈十字形分布于中 央转向平台1的周围，该外层双向导轨3与可旋转的中央转向平台1之间存在间隙，W使中 央转向平台1能够在第一驱动装置的驱动下进行旋转，该间隙的宽度小于0. 3mm;中央转向 平台1的旋转可W用于改变内层双向导轨2的滑行的方向；
[0033] 所述两个内层双向导轨2位于中央转向平台1之上，且其长度方向的中屯、线穿过 所述中央转向平台1的旋转中屯、，内层双向导轨2能够在中央转向平台1旋转下与外层双 向导轨3保持水平衔接，W使滑块4能够在第二驱动装置的驱动下在内层双向导轨2和外 层双向导轨3上自由往复滑动；
[0034] 所述滑块4可滑动的位于内层双向导轨2之上，当使用