Z向变形度检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种检测工装，具体涉及一种用于Z向变形度测量的检测装置。
【背景技术】
[0002]产品在生产过程中，由于各种原因会发生一定程度上的变形，为了确保产品出厂时的品质，需要对产品的变形度进行专门的检测。传统的实用高度尺测量产品某结构面的Z向变形度时，必须分如下两步进行:1)测量结构面变形度基准点的高度，将高度尺归零；2)采用多次采点的方式测量结构面上变形度较大位置处点，取最大测量数值作为最终测量值。这一测量过程繁琐，效率低下，同时二次测量带来的累计误差将影响最终测量结果的精确度。
【发明内容】
[0003]为了解决【背景技术】中的不足，本实用新型的目的在于克服【背景技术】的缺陷，提供一种Z向变形度检测装置，确保测量精度的前提下精简了测量步骤。
[0004]为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案为:一种Z向变形度检测装置，其特征在于:包括长条状的基座、能够拆卸的固定在所述基座上的数显千分表，所述数显千分表具有垂直延伸的顶针测头，所述基座的一端部上设有基准块，所述基准块向下延伸的端面上设有基准点测头，所述顶针侧头和基准点测头延伸的方向相同。
[0005]本实用新型一个较佳实施例中，进一步包括其还包括设置在所述基座上位于基准块一侧的平衡块，在同一平面上所述平衡块支撑基座的高度大于所述基准块支撑基座的高度。
[0006]本实用新型一个较佳实施例中，进一步包括所述基座的另一端部上设有与所述基准块同高度的垫块。
[0007]本实用新型一个较佳实施例中，进一步包括所述基座的沿其长度方向开设有多个穿孔。
[0008]本实用新型一个较佳实施例中，进一步包括其还包括一端均固定在所述数显千分表上的两个“L”字形连接件，两所述连接件的另一端上均设有固定孔，一紧固件穿过所述固定孔使得数显千分表能够拆卸的固定在基座上。
[0009]本实用新型的有益之处在于:使用本实用新型的Z向变形度检测装置测量产品变形度时，精简原本必须两个步骤的测量过程至一步就能完成，提高了测量工作的工作效率，避免了两次测量所带来了累计误差，提高了测量结果的精确度，具有结构简单、使用方便、可推广使用的特点。
【附图说明】
[0010]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型作进一步详细的说明。
[0011]图1是本实用新型优选实施例的结构示意图；
[0012]图2是使用本实用新型的检测装置测量产品时的结构示意图。
[0013]图中:1、产品，2、基座，4、数显千分表，6、顶针测头，8、基准块，10、基准点测头，12、平衡块，14、垫块，16、穿孔，18、连接件。
【具体实施方式】
[0014]为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，并使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合实施例及实施例附图对本实用新型作进一步详细的说明。
[0015]如图1所示，本实用新型提供一种Z向变形度检测装置，包括长条状的基座2、能够拆卸的固定在所述基座2上的数显千分表4，所述数显千分表4具有垂直延伸的顶针测头6，所述基座2的一端部上设有基准块8，所述基准块8向下延伸的端面上设有基准点测头10，所述顶针侧头6和基准点测头10延伸的方向相同，所述基座2的另一端部上设有与所述基准块8同高度的垫块14。
[0016]基于上述的结构，如图2所示，本实用新型的检测装置在测量产品某结构面的变形度的过程如下:开始测量前根据产品实际状态(也就是目测产品I的具有最大变形度的区域)，将数显千分表4固定在这一具有最大变形度的区域范围内的基座2上，考虑安装拆卸的方便性以及可重复操作性，优选通过一端均固定在数显千分表4上的两个“L”字形连接件18来将数显千分表4固定在基座2上，具体的，在两连接件18的另一端上均开设固定孔，紧固件穿过固定孔(未图示)使得数显千分表4能够拆卸的固定在基座2上。然后将整个检测装置放置于大理石平台上，基准块8和垫块14共同平行支撑基座2于平台上，此时基准点测头10接触平台，调整数显千分表4至顶针侧头6接触平台，此时完成数显千分表4以基准点测头10为基准实现标准归零；然后将产品待测变相度的结构面置于检测装置的正下方，即垫块14和基准块8共同支撑安装有数显千分表4的基座2于产品的正上方；开始测量时，将基准点测头10放置于结构面的变形度基准点处，从数显千分表4上就可以直接读出该结构面的变形度。本采用这一检测装置精简原本必须两个步骤的测量过程至一步就能完成，提高了测量工作的工作效率，避免了两次测量所带来了累计误差，提高了测量结果的精确度，具有结构简单、使用方便、可推广使用的特点。
[0017]其还包括设置在所述基座2上位于基准块8 一侧的平衡块12，在同一平面上所述平衡块12支撑基座2的高度大于所述基准块8支撑基座2的高度。测量装置在不使用时，平衡块12支撑基座2使得基准块8悬空，保护基准点测头10，在使用时，基准块8支撑基座2，平衡块12悬空，平衡块12起到平衡对重的作用，使得基准点测头10始终位于结构面的变形度基准点处。
[0018]为了减轻重量，以及辅助平衡块12的平衡对重作用，在所述基座2的沿其长度方向开设有多个穿孔16。
[0019]上述实施例为本实用新型较佳的实施方式，但本实用新型的实施方式并不受所述实施例的限制，其它的任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化均应为等效的置换方式，都包含在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求所界定的保护范围为准。
【主权项】
1.一种Z向变形度检测装置，其特征在于:包括长条状的基座、能够拆卸的固定在所述基座上的数显千分表，所述数显千分表具有垂直延伸的顶针测头，所述基座的一端部上设有基准块，所述基准块向下延伸的端面上设有基准点测头，所述顶针侧头和基准点测头延伸的方向相同。2.根据权利要求1所述的Z向变形度检测装置，其特征在于:其还包括设置在所述基座上位于基准块一侧的平衡块，在同一平面上所述平衡块支撑基座的高度大于所述基准块支撑基座的高度。3.根据权利要求2所述的Z向变形度检测装置，其特征在于:所述基座的另一端部上设有与所述基准块同高度的垫块。4.根据权利要求2所述的Z向变形度检测装置，其特征在于:所述基座的沿其长度方向开设有多个穿孔。5.根据权利要求1所述的Z向变形度检测装置，其特征在于:其还包括一端均固定在所述数显千分表上的两个“L”字形连接件，两所述连接件的另一端上均设有固定孔，一紧固件穿过所述固定孔使得数显千分表能够拆卸的固定在基座上。
【专利摘要】本实用新型提供一种Z向变形度检测装置，其特征在于：包括长条状的基座、能够拆卸的固定在所述基座上的数显千分表，所述数显千分表具有垂直延伸的顶针测头，所述基座的一端部上设有基准块，所述基准块向下延伸的端面上设有基准点测头，所述顶针侧头和基准点测头延伸的方向相同。使用本实用新型的Z向变形度检测装置测量产品变形度时，精简原本必须两个步骤的测量过程至一步就能完成，提高了测量工作的工作效率，避免了两次测量所带来了累计误差，提高了测量结果的精确度，具有结构简单、使用方便、可推广使用的特点。
【IPC分类】G01B21/32
【公开号】CN204757968
【申请号】CN201520255846
【发明人】曹久佳, 蔡伯华
【申请人】常州煜明电子有限公司
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年4月24日