一种能通用的磁环电感测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本申请涉及一种铁氧体电感测试装置，特别是一种能通用的磁环电感测试装置。
【背景技术】
[0002]2010年12月29日公布的申请号为201020140997.8号的中国实用新型专利，该专利公开了一种磁环测试装置。该测试装置包括上盖板、下盖板和两个防护皮套，所述上盖板上沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置有多个插针，下盖板上设置有与插针相配合的若干个插槽，每个外圈插针和内圈插针通过设置在插针根部的导线连接，相对应的两个插槽根部也用导线连接，形成一个完整的单根通路。
[0003]上述测试装置确实解决了同一种磁环绕线测试困难的技术问题，带来了有益的技术效果，但也存在着如下不足:
[0004]每次测试前，需要操作人员将带有插针的上盖与带有插槽的下盖进行配合，而插针和插槽数量多，每个都准确配合，需要较长时间，测试效率低下，另外，还需出现个别插针与插槽配合不良的现象，导致测试数据不准确。
【实用新型内容】
[0005]本申请要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，而提供一种自动化程度高，不需人工将上盖和下盖进行配合，测试效率高且通用性强的能通用的磁环电感测试装置。
[0006]为解决上述技术问题，本申请采用的技术方案是:
[0007]一种能通用的磁环电感测试装置，包括一个多分度回转盘和一套磁环电感测试装置，所述多分度回转盘沿周向均匀设置有若干个通孔，每个通孔内均固定设置有一个用于支撑待测磁环的支撑盘，每个支撑盘均设置有两圈径向滑移孔，且两圈径向滑移孔沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置；所述磁环电感测试装置包括同轴设置且高度均能够升降的上盖和下盖，其中，上盖位于多分度回转盘其中一个通孔的正上方，下盖位于多分度回转盘的下方；上盖的下表面和下盖的上表面均以圆心为中心，沿半径方向呈辐射状设置有若干根绝缘辐射筋；其中，上盖的每根绝缘辐射筋上均滑动连接有两根通过导线相连接的插针，下盖的每根绝缘辐射筋上均滑动连接有两根通过导线相连接的固定柱；当上盖的高度下降和下盖的高度上升后，所述插针能从相应的径向滑移孔中穿出，并与相应的固定柱相接触配合。
[0008]所述多分度回转盘为8分度回转盘，所述通孔有8个。
[0009]所述多分度回转盘分别与分度器和电机相连接。
[0010]本申请采用上述结构后，自动化程度高，不需人工将上盖和下盖进行配合，测试效率高且通用性强。
【附图说明】
[0011]图1是本申请一种能通用的磁环电感测试装置的结构示意图；
[0012]图2显示了当插针穿过径向滑移孔时，支撑盘的放大结构示意图。
[0013]其中有:1.多分度回转盘；2.通孔；21.支撑盘；22.径向滑移孔；3.上盖；32.插针;4.下盖；41.固定柱。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图和具体较佳实施方式对本申请作进一步详细的说明。
[0015]如图1所示，一种能通用的磁环电感测试装置，包括一个多分度回转盘I和一套磁环电感测试装置。
[0016]多分度回转盘I沿周向均匀设置有若干个通孔2，每个通孔2内均固定设置有一个用于支撑待测磁环的支撑盘21。
[0017]如图2所示，每个支撑盘21均设置有两圈径向滑移孔22，且两圈径向滑移孔22沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置。
[0018]磁环电感测试装置包括同轴设置且高度均能够升降的上盖3和下盖4。
[0019]上盖3位于多分度回转盘I其中一个通孔2的正上方，下盖4位于多分度回转盘I的下方。
[0020]上盖3的下表面和下盖4的上表面均以圆心为中心，沿半径方向呈辐射状设置有若干根绝缘辐射筋；其中，上盖3的每根绝缘辐射筋上均滑动连接有两根通过导线相连接的插针32，下盖4的每根绝缘辐射筋上均滑动连接有两根通过导线相连接的固定柱41。
[0021]上述插针32和固定柱41均能沿着相应的绝缘辐射筋进行滑动并锁紧，且径向滑移孔22沿径向设置，当插针32滑移调节后，仍能从径向滑移孔22中穿出，如图2所示，从而能适应不同直径的待测磁环，通用性强。
[0022]当上盖3的高度下降和下盖4的高度上升后，所有插针32能从相应的径向滑移孔22中穿出，并与相应的固定柱41相接触配合，进行电感测试与分选。
[0023]进一步，上述多分度回转盘I为8分度回转盘，通孔2优选有8个。
[0024]进一步，多分度回转盘I分别与分度器和电机相连接。
[0025]以上所述，仅为本申请较佳的【具体实施方式】，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1.一种能通用的磁环电感测试装置，其特征在于:包括一个多分度回转盘和一套磁环电感测试装置，所述多分度回转盘沿周向均匀设置有若干个通孔，每个通孔内均固定设置有一个用于支撑待测磁环的支撑盘，每个支撑盘均设置有两圈径向滑移孔，且两圈径向滑移孔沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置；所述磁环电感测试装置包括同轴设置且高度均能够升降的上盖和下盖，其中，上盖位于多分度回转盘其中一个通孔的正上方，下盖位于多分度回转盘的下方；上盖的下表面和下盖的上表面均以圆心为中心，沿半径方向呈辐射状设置有若干根绝缘辐射筋；其中，上盖的每根绝缘辐射筋上均滑动连接有两根通过导线相连接的插针，下盖的每根绝缘辐射筋上均滑动连接有两根通过导线相连接的固定柱；当上盖的高度下降和下盖的高度上升后，所述插针能从相应的径向滑移孔中穿出，并与相应的固定柱相接触配合。2.根据权利要求1所述的能通用的磁环电感测试装置，其特征在于:所述多分度回转盘为8分度回转盘，所述通孔有8个。3.根据权利要求2所述的能通用的磁环电感测试装置，其特征在于:所述多分度回转盘分别与分度器和电机相连接。
【专利摘要】本申请公开了一种能通用的磁环电感测试装置，包括多分度回转盘和磁环电感测试装置，多分度回转盘沿周向均匀设有若干个通孔，每个通孔内设一个支撑盘，每个支撑盘设有两圈不同半径的径向滑移孔；磁环电感测试装置包括上盖和下盖；上盖的下表面和下盖的上表面均以圆心为中心，沿半径方向呈辐射状设置有若干根绝缘辐射筋；上盖的每根绝缘辐射筋上均滑动连接有两根插针，下盖的每根绝缘辐射筋上均滑动连接有两根固定柱；当上盖的高度下降和下盖的高度上升后，所述插针能从相应的径向滑移孔中穿出，并与相应的固定柱相接触配合。采用上述结构后，自动化程度高，不需人工将上盖和下盖进行配合，测试效率高且通用性强。
【IPC分类】G01R1/04, G01R27/26
【公开号】CN204758703
【申请号】CN201520410280
【发明人】李玲
【申请人】李玲
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年6月15日