通用测试板的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试板，具体地说是一种通用测试板，属于测试板领域。
【背景技术】
[0002]传统的ATE测试过程中，因为DUT (被测器件)的封装类型不同，所以导致在测试时需要定做不同的Loadboard (测试板)，从而导致测试成本的增加。
【实用新型内容】
[0003]为了解决上述问题，本实用新型设计了一种通用测试板，能够通过转接板统一做成DIP双列直插封装的形式，再通过跳线来定义器件的电源地线来完成其通用性，大大节约了成本。
[0004]本实用新型的技术方案为:
[0005]通用测试板，包括板体，所述板体设有两排测试口，连接待测试产品的针脚，所述测试口的左右两侧设有两排DIP，每排DIP均设有3列；第I列为电源列针脚，所有针脚均与电源连接；第2列为测试通道针脚，与所述测试口对应连接；第3列为地线针脚。
[0006]进一步地，所述板体的任意两个针脚上还设有跳线，跳线扣在任意两个针脚上，SP为接通状态，用以完成设备的通电及测试。
[0007]本实用新型的优点在于:能够通过转接板统一做成DIP双列直插封装的形式，再通过跳线来定义器件的电源地线来完成其通用性，大大节约了成本。
[0008]下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型实施例的结构示意图。
【具体实施方式】
[0010]以下对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0011]实施例1
[0012]如图1所示，一种通用测试板，包括板体1，所述板体I设有两排测试口 2，连接待测试产品的针脚，所述测试口 2的左右两侧设有两排DIP，每排DIP均设有3列；第I列为电源列针脚3，所有针脚均与电源连接；第2列为测试通道针脚4，与所述测试口对应连接；第3列为地线针脚5 ;所述板体的任意两个针脚上还设有跳线6，跳线扣在任意两个针脚上，即为接通状态，用以完成设备的通电及测试。
【主权项】
1.通用测试板，其特征在于:包括板体，所述板体设有两排测试口，连接待测试产品的针脚，所述测试口的左右两侧设有两排DIP，每排DIP均设有3列；第I列为电源列针脚，所有针脚均与电源连接；第2列为测试通道针脚，与所述测试口对应连接；第3列为地线针脚。2.根据权利要求1所述的通用测试板，其特征在于:所述板体的任意两个针脚上还设有跳线。
【专利摘要】本实用新型公开了一种通用测试板，包括板体，所述板体设有两排测试口，连接待测试产品的针脚，所述测试口的左右两侧设有两排DIP，每排DIP均设有3列；第1列为电源列针脚，所有针脚均与电源连接；第2列为测试通道针脚，与所述测试口对应连接；第3列为地线针脚；本实用新型的优点在于：能够通过转接板统一做成DIP双列直插封装的形式，再通过跳线来定义器件的电源地线来完成其通用性，大大节约了成本。
【IPC分类】G01R1/04
【公开号】CN204903575
【申请号】CN201520459249
【发明人】徐子昆
【申请人】北京泰码思测控技术有限公司
【公开日】2015年12月23日
【申请日】2015年7月1日