一种晶片测试防护装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及晶片测试，特别是一种晶片测试防护装置。
【背景技术】
[0002]随着电子设备的发展，电子设备基本上都是通过晶片来进行导通或传送信号，而且为了市场的需求，晶片基本上都是小型板状，因此晶片上的触电小，在测试时，需要保证与探针的接触精度，而在现有的晶片测试中，晶片通常都是裸露在空气中进行测试，因此晶片在测试时，空气中的粉尘很容易吸附在晶片的测试面上，因有些粉尘具有导电作用，因此很容易影响晶片的测试效果，而且粉尘吸附在探针的表面，也很容易造成探针使用寿命缩短，从而提高测试成本。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种能持续提供洁净环境、测试精度高和使用寿命长的晶片测试防护装置。
[0004]本实用新型的目的通过以下技术方案来实现:一种晶片测试防护装置，它包括导电基座、罩体和升降台，所述导电基座上设置有探针卡，所述的罩体设在所述导电基座外围，在罩体上开设有一电缆引出口，电缆引出口内设置有使测试设备与探针卡连接的电缆，其特征在于:所述的电缆引出口设置有一用以密封电缆的弹性密封圈，所述的罩体内部安装有一粉尘检测器，粉尘检测器与测试设备电连接，在罩体上开设有一吸口，吸口通过管道连接有一抽真空装置，所述的升降台包括升降气缸和晶片放置平台，晶片放置平台上设置有多个用以吸住晶片的吸盘。
[0005]所述的导电基座为导电橡胶底座。
[0006]所述的罩体的侧面位置设置有观测门和旋转把手。
[0007]所述的罩体的顶部内设置有电缆固定支架，电缆固定支架上开设有多个电缆导向孔。
[0008]所述的罩体的内表面设置有电缆导向支架，电缆导向支架上开设有导向过孔，电缆穿过导向过孔。
[0009]本实用新型具有以下优点:本实用新型的晶片测试防护罩，设置有粉尘检测仪和抽真空装置，能够随时对罩体内的粉尘度进行检测，并且对罩体内的粉尘进行清理，从而为晶片的测试提供了一持续洁净的安全环境，从而避免了粉尘对晶片测试效果的影响，提高了晶片参数的测试精度，减少了晶片的报废；同时也避免了粉尘吸附在探测针上，从而保证了探测针的使用寿命。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型的结构示意图
[0011]图2为升降台的俯视不意图
[0012]图中，1-导电基座，2-罩体，3-升降台，4-探针卡，5-电缆引出口，6_测试设备，7-电缆，8-弹性密封圈，9-粉尘检测器，10-吸口，11-抽真空装置，12-升降气缸，13-晶片放置平台，14-吸盘，15-电缆固定支架，16-电缆导向支架。
【具体实施方式】
[0013]下面结合附图对本实用新型做进一步的描述，本实用新型的保护范围不局限于以下所述:
[0014]如图1所示，一种晶片测试防护装置，它包括导电基座1、罩体2和升降台3，所述导电基座I上设置有探针卡4，所述的罩体2设在所述导电基座I外围，在本实施例中，所述的导电基座I为导电橡胶底座，在罩体2上开设有一电缆引出口 5，电缆引出口 5内设置有使测试设备6与探针卡4连接的电缆7，所述的电缆引出口 5设置有一用以密封电缆7的弹性密封圈8，弹性密封圈8将电缆与电缆引出口 5之间的间隙密封，保证了屏蔽效果，同时避免光和粉尘从电缆引出口 5进入到罩体内，所述的罩体2内部安装有一粉尘检测器9，粉尘检测器9与测试设备6电连接，在罩体2上开设有一吸口 10，吸口 10通过管道连接有一抽真空装置11，粉尘检测器9可在线检测罩体2内的粉尘度，当检测到粉尘超标后，测试设备停止测试，并且将其信号传送给抽真空装置，抽真空装置启动，将罩体2内的粉尘吸走，从而保证晶片在测试时，罩体2内的粉尘度处于达标状态，从而避免了粉尘影响晶片的测试效果，当所述的升降台3包括升降气缸12和晶片放置平台13，晶片放置平台13上设置有多个用以吸住晶片的吸盘14。
[0015]在本实施例中，所述的罩体2的侧面位置设置有观测门和旋转把手，图1中未画出，通过旋转把手实现打开或闭合所述观测门，在本实施例中，观测门可以是左右旋转式的，也可以是上下旋转式的。
[0016]本实施例中，所述的罩体2的顶部内设置有电缆固定支架15，电缆固定支架15上开设有多个电缆导向孔，以使所述电缆7穿过电缆固定支架15，设置的多个电缆导向孔，从而使得多根电缆7能够分别从一电缆导向孔中穿出，避免电缆打结，也可便于电缆理顺，从而为线路的检修提供便利。
[0017]在本实施例中，为了将电缆7有序的从罩体2中引出到外部测试设备的接口，所述的罩体2的内表面设置有电缆导向支架16，电缆导向支架16上开设有导向过孔，电缆7穿过导向过孔，从而使得电缆7处于捆扎状态，避免了电缆散乱排列。
[0018]本实用新型的工作过程如下:将晶片放置在晶片放置平台13上，吸盘14吸住晶片，然后升降气缸12工作，使得晶片位于导电基座I下方并使晶片上的待测点与探针卡4接触，从而使得晶片与测试设，6电连接，测试设备6开始测试，测试完毕后，升降气缸12下行，吸盘14释放晶片，可通过人工或者机械手将晶片取出，在测试前，粉尘检测器9要对罩体2内的粉尘度进出检测，当检测到粉尘超标后，测试设备停止测试，并且将其信号传送给抽真空装置，抽真空装置启动，将罩体2内的粉尘吸走，罩体2内的粉尘度处于达标状态，从而避免了粉尘影响晶片的测试效果，保证了晶片的测试精准度。
【主权项】
1.一种晶片测试防护装置，它包括导电基座(1)、罩体(2)和升降台(3)，所述导电基座(I)上设置有探针卡(4 )，所述的罩体(2 )设在所述导电基座(I)外围，在罩体(2 )上开设有一电缆引出口(5)，电缆引出口(5)内设置有使测试设备(6 )与探针卡(4 )连接的电缆(7 )，其特征在于:所述的电缆引出口(5)设置有一用以密封电缆(7)的弹性密封圈(8)，所述的罩体(2)内部安装有一粉尘检测器(9)，粉尘检测器(9)与测试设备(6)电连接，在罩体(2)上开设有一吸口(10)，吸口(10)通过管道连接有一抽真空装置(11)，所述的升降台(3)包括升降气缸(12)和晶片放置平台(13)，晶片放置平台(13)上设置有多个用以吸住晶片的吸盘(14)。2.根据权利要求1所述的一种晶片测试防护装置，其特征在于:所述的导电基座(I)为导电橡胶底座。3.根据权利要求1所述的一种晶片测试防护装置，其特征在于:所述的罩体(2)的侧面位置设置有观测门和旋转把手。4.根据权利要求1所述的一种晶片测试防护装置，其特征在于:所述的罩体(2)的顶部内设置有电缆固定支架(15)，电缆固定支架(15)上开设有多个电缆导向孔。5.根据权利要求1所述的一种晶片测试防护装置，其特征在于:所述的罩体(2)的内表面设置有电缆导向支架(16)，电缆导向支架(16)上开设有导向过孔，电缆(7)穿过导向过孔。
【专利摘要】本实用新型公开了一种晶片测试防护装置，它包括导电基座（1）、罩体（2）和升降台（3），导电基座上（1）设置有探针卡（4），罩体（2）设在导电基座（1）外围，在罩体（2）上开设有一电缆引出口（5），电缆引出口（5）内设置有电缆（7），电缆引出口（5）设置有弹性密封圈（8），罩体（2）内部安装有一粉尘检测器（9），在罩体（2）上开设有一吸口（10），吸口（10）通过管道连接有一抽真空装置（11），升降台（3）包括升降气缸（12）和晶片放置平台（13），晶片放置平台（13）上设置有吸盘（14）。本实用新型的有益效果是：它具有能持续提供洁净环境、测试精度高和使用寿命长的优点。
【IPC分类】G01R1/04, G01R31/00
【公开号】CN204925175
【申请号】CN201520645596
【发明人】吴峰
【申请人】四川芯联发电子股份有限公司
【公开日】2015年12月30日
【申请日】2015年8月25日