一种天线测试装置的制造方法

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一种天线测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于天线测试技术领域,尤其涉及一种天线测试装置。
【背景技术】
[0002]软板(Flexible Printed Circuit,FPC)天线的检测技术,已经较为成熟,目前有三种较为常见的方式,即探针(pogopin针)接触FPC的焊盘进行馈电的方式、Ipex座形式馈电的方式以及Ipex母头接触测试的方式,这些检测方式都存在缺陷,具体为:
[0003]pogopin针接触软板的焊盘进行馈电,以检测一致性,其检测的通用性较差,需要频繁的更换检测装置,实现对不同软板的天线检测工作,测试效率较低;
[0004]Ipex母头接触测试的方式:以Ipex座形式馈电,由于Ipex座的尺寸较小(约为2.5*2.5mm),采用传统的上下压冲方式,由于工装精度误差容易造成产品的压伤,影响天线良率;
[0005]采用Ipex母头接触测试方法,需要将每个产品与Ipex母头接触,测试效率较低,而且由于Ipex母头的使用次数有限,也需要经常更换,降低了天线测试的效率。
【实用新型内容】
[0006]本实用新型的目的在于提供一种天线测试装置,旨在解决现有技术提供的天线检测方式存在测试效率低、影响天线良率的问题。
[0007]本实用新型是这样实现的,一种天线测试装置,所述天线测试装置包括上压块和天线固定块,其中:
[0008]所述天线固定块固定安装在检测电路板上,所述天线固定块上设有第一天线放置槽和第二天线放置槽,所述第一天线放置槽内放置待测的第一类天线,所述第二天线放置槽内放置待测的第二类天线,所述第一类天线上设有若干个第一天线定位孔,所述第二类天线上设有若干个第二天线定位孔;
[0009]所述第一天线放置槽内设有若干个第一固定块定位孔和若干个第一固定块探针穿孔,所述第二天线放置槽内设有若干个第二固定块定位孔和若干个第二固定块探针穿孔,所述第一固定块探针穿孔和所述第二固定块探针穿孔套装在所述检测电路板上对应位置的探针上,所述探针穿过所述第一固定块探针穿孔后与所述第一类天线的漏铜部分相接触,所述探针穿过所述第二固定块探针穿孔后与所述第二类天线的漏铜部分相接触;
[0010]所述上压块固定安装在升降板与所述天线固定块相对应的一侧,所述上压块上设有第一压块凸起和第二压块凸起,所述第一压块凸起与所述第一天线放置槽相适应,所述第二压块凸起与所述第二天线放置槽相适应,所述第一压块凸起上设有若干个第一压块定位孔,所述第二压块凸起上设有若干个第二压块定位孔;
[0011]所述第一固定块定位孔、第一天线定位孔以及第一压块定位孔相对应,所述第二固定块定位孔、第二天线定位孔以及第二压块定位孔相对应。
[0012]作为一种改进的方案,所述第一固定块定位孔的数量为两个,分别记为:第一固定块定位孔A和第一固定块定位孔B,相对应的,所述第一压块定位孔的数量也两个,分别记为:第一压块定位孔A和第一压块定位孔B,其中:
[0013]所述第一固定块定位孔B位于所述天线固定块的中心位置,所述第一压块定位孔B位于所述上压块的中心位置。
[0014]作为一种改进的方案,所述第二固定块定位孔的数量为三个,分别记为:第二固定块定位孔A、第二固定块定位孔B以及第二固定块定位孔C,相对应的,所述第二压块定位孔的数量也为三个,分别记为:第二压块定位孔A、第二压块定位孔B以及第二压块定位孔C,其中:
[0015]所述第二固定块定位孔A、第二固定块定位孔B以及第二固定块定位孔C从所述天线固定块的中心向一侧分布,第二压块定位孔A、第二压块定位孔B以及第二压块定位孔C从所述上压块的中心向一侧分布。
[0016]作为一种改进的方案,所述第一固定块探针穿孔的数量为两个,分别记为:第一固定块探针穿孔A和第一固定块探针穿孔B ;
[0017]所述第二固定块探针穿孔的数量为两个,分别记为:第二固定块探针穿孔A和第二固定块探针穿孔B。
[0018]作为一种改进的方案,所述第一天线定位孔设置为两个,分别记为:第一天线定位孔A和第一天线定位孔B,所述第二天线定位孔设置为三个,分别记为:第二天线定位孔A、第二天线定位孔B以及第二天线定位孔C。
[0019]作为一种改进的方案,所述第一固定块定位孔A、第一天线定位孔A以及第一压块定位孔A相对应;
[0020]所述第一固定块定位孔B、第一天线定位孔B以及第一压块定位孔B相对应;
[0021]所述第二固定块定位孔A、第二天线定位孔A以及第二固定块定位孔A相对应;
[0022]所述第二固定块定位孔B、第二天线定位孔B以及第二固定块定位孔B相对应;
[0023]所述第二固定块定位孔C、第二天线定位孔C以及第二固定块定位孔C相对应。
[0024]作为一种改进的方案,所述第一类天线为分集天线,所述第二类天线为主天线。
[0025]由于天线测试装置包括上压块和天线固定块,天线固定块上设有第一天线放置槽和第二天线放置槽,第一天线放置槽内放置待测的第一类天线,第二天线放置槽内放置待测的第二类天线,第一类天线上设有若干个第一天线定位孔,第二类天线上设有若干个第二天线定位孔,第一天线放置槽内设有若干个第一固定块定位孔和若干个第一固定块探针穿孔,第二天线放置槽内设有若干个第二固定块定位孔和若干个第二固定块探针穿孔,上压块上设有第一压块凸起和第二压块凸起,第一压块凸起上设有若干个第一压块定位孔,所述第二压块凸起上设有若干个第二压块定位孔,第一固定块定位孔、第一天线定位孔以及第一压块定位孔相对应,所述第二固定块定位孔、第二天线定位孔以及第二压块定位孔相对应,从而实现对天线的检测,而且采用天线漏铜部分的接触方式,提高检测效率,也进一步地提尚了天线广品良率。
【附图说明】
[0026]图1是本实用新型提供的天线固定块的结构示意图;
[0027]图2是本实用新型提供的上压块的结构示意图;
[0028]图3和图4分别是本实用新型提供的分级天线的结构示意图;
[0029]图5和图6分别是本实用新型提供的主天线的结构示意图;
[0030]其中,1-上压块,2-天线固定块,3-第一天线放置槽,4-第二天线放置槽,5-第一压块凸起,6-第二压块凸起,7-第一固定块定位孔A,8-第一固定块定位孔B,9-第一压块定位孔A,10-第一压块定位孔B,11-第二固定块定位孔A,12-第二固定块定位孔B,13-第二固定块定位孔C,14-第二压块定位孔A,15-第二压块定位孔B,16-第二压块定位孔C,17-第一固定块探针穿孔A,18-第一固定块探针穿孔B,19-第二固定块探针穿孔A,20-第二固定块探针穿孔B,21-第一天线定位孔A,22-第一天线定位孔B,23-第二天线定位孔A,24-第二天线定位孔B,25-第二天线定位孔C,26-第一漏铜区域,27-第二漏铜区域,28-第三漏铜区域,29-第四漏铜区域,30-第五漏铜区域,31-第六漏铜区域。
【具体实施方式】
[0031]为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
[0032]图1示出了本实用新型提供的天线固定块的结构示意图,图2示出了本实
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