片式组件弹性点接触法测试工装的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于微波测试领域，特别涉及一种片式组件弹性点接触法测试工装。
【背景技术】
[0002]随着系统对微波组件轻型化、小型化提出了越来越高的要求，微波组件正逐渐由原来的二维封装向三维封装方向发展，从而有效利用垂直方向的空间，可即便如此，微波组件的小型化之路仍然面临极大挑战，诸如连接器、环行器等器件本身体积大，极大地占用了组件的装配空间限制了组件的进一步小型化。采用连接器外置的方式可以有效解决上述问题，这样片式微波组件应运而生。而外置连接器与片式组件的连接方式便成为需要解决的关键问题。
[0003]片式组件对外提供的接口形式是平面的点状金属焊盘，如果采用将微矩形连接器引针直接焊接到组件焊盘的方式，不但焊接质量难以保证，而且这种刚性连接的长期可靠性也难以保证，返修过程中还有损伤焊盘的风险；另外一种常见的连接方式是使用毛纽扣代替微矩形连接器，利用毛纽扣本身的弹性实现外部连线和片式组件接口点状金属焊盘间的弹性连接，但是容易将毛纽扣压散，同时还存在安全的隐患，因毛纽扣瞬间软性点接触压接力过大很容易破坏片式组件电路基板，而且长期使用易磨损造成接触不良或短路现象。
【实用新型内容】
[0004]针对现有技术的不足，本实用新型公开了一种片式组件弹性点接触法测试工装。
[0005]本实用新型的技术方案如下:
[0006]—种片式组件弹性点接触法测试工装，包括片式组件，所述片式组件上设置有点状焊盘，所述点状焊盘的底面设置有多个焊接点；还包括可上下扣合的第一测试接头和第二测试接头；所述第一测试接头上固定有第一限位块，所述片式组件紧靠第一限位块，固定在第一测试接头上；所述第二测试接头的上固定有微矩形连接器，所述微矩形连接器中设置有多个套管，套管中固定有弹性接触探针；还包括第二限位块，所述第二限位块上设置有多个贯穿其上下表面的圆孔；所述点状焊盘上的焊接点、第二限位块上的圆孔和弹性接触探针的数量和位置都一一对应；当第一测试接头和第二测试接头上下扣合固定时，弹性接触探针穿过第二限位块上的圆孔，与点状焊盘上的焊接点相接触。
[0007]本实用新型的有益技术效果是:
[0008]本实用新型布局紧凑，适用范围广，实用性强以及可靠性高。
[0009]本实用新型采用铝合金材料作为测试接头，而接触探针弹性点接触法连接测试装置则采用弹性较好的探针，既保证了与片式组件连接的准确性，同时也保证了片式组件电路基板的安全性、更长的使用寿命，进一步提高了测试装置长期可靠性。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型的示意图。
[0011]图2为本实用新型的结构分解图。
[0012]图3为微矩形连接器的示意图。
[0013]图4为第二限位块的示意图。
【具体实施方式】
[0014]图1为本实用新型的示意图。图2为本实用新型的结构分解图。从图1和图2中可看出，本实用新型包括片式组件4，片式组件4上设置有下凹状的点状焊盘8，点状焊盘8底面上设置有多个焊接点。本实用新型还包括可上下扣合的第一测试接头1和第二测试接头2。第一测试接头1的上表面固定有L字形的第一限位块3，片式组件4的一个直角处紧靠第一限位块3，固定在第一测试接头1上，第一限位块3可更好的定位和固定片式组件4。
[0015]第二测试接头2的下表面固定有微矩形连接器5。图3为微矩形连接器的示意图。如图3所示，微矩形连接器5下端设置有多个套管，每一个套管中都固定有一个弹性接触探针6。微矩形连接器5的上端设置有多个引针，用以连接导线。
[0016]本实用新型还包括第二限位块7，图4为第二限位块的示意图。如图4所示，第二限位块7上设置有多个贯穿其上下表面的圆孔，在本实施例中，第二限位块7有两个，可上下叠放在点状焊盘8之上。位于下方的第二限位块7的外形与点状焊盘8相匹配，可放置于点状焊盘8的下凹处。
[0017]在图4中还可看到，点状焊盘8底面上的焊接点、第二限位块3上的圆孔、弹性接触探针6的数量和位置都一一对应，当第一测试接头1和第二测试接头2上下扣合固定时，弹性接触探针6穿过第二限位块3上的圆孔，可与点状焊盘8上的焊接点相接触。
[0018]本实用新型的制作方法如下:
[0019](1)、使用焊接或胶接的方式将微矩形连接器5装配至第二测试接头2的下表面，微矩形连接器5上的套管一端朝向片式组件4上的点状焊盘8 ;
[0020](2)、将弹性接触探针6尾端插装至微矩形连接器5的套管中，并使用烙铁焊接固定;
[0021](3)、使用烙铁将柔性导线焊接至微矩形连接器5的引针一端；
[0022](4)、将片式组件4安装至测试接头1上，通过第一限位块3固定，并用不脱出螺钉紧固测试接头1和测试接头2，利用探针本身的弹性使探针与片式组件的焊盘区域形成弹性接触，实现电连接的目的。
[0023]以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式，本实用新型不限于以上实施例。可以理解，本领域技术人员在不脱离本实用新型的精神和构思的前提下直接导出或联想到的其他改进和变化，均应认为包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种片式组件弹性点接触法测试工装，包括片式组件(4)，其特征在于:所述片式组件(4)上设置有点状焊盘(8)，所述点状焊盘(8)的底面设置有多个焊接点；还包括可上下扣合的第一测试接头(1)和第二测试接头(2);所述第一测试接头(1)上固定有第一限位块(3)，所述片式组件(4)紧靠第一限位块(3)，固定在第一测试接头(1)上；所述第二测试接头(2)的上固定有微矩形连接器(5)，所述微矩形连接器(5)中设置有多个套管，套管中固定有弹性接触探针￠);还包括第二限位块(7)，所述第二限位块(7)上设置有多个贯穿其上下表面的圆孔；所述点状焊盘⑶上的焊接点、第二限位块⑶上的圆孔和弹性接触探针(6)的数量和位置都一一对应；当第一测试接头(1)和第二测试接头(2)上下扣合固定时，弹性接触探针(6)穿过第二限位块(3)上的圆孔，与点状焊盘⑶上的焊接点相接触。
【专利摘要】本实用新型公开了一种片式组件弹性点接触法测试工装，包括片式组件，所述片式组件上设置有点状焊盘；还包括可上下扣合的第一测试接头和第二测试接头；所述第一测试接头上固定片式组件；所述第二测试接头的上固定有微矩形连接器，所述微矩形连接器中设置有多个套管，套管中固定有弹性接触探针；还包括第二限位块，所述第二限位块上设置有多个贯穿其上下表面的圆孔；当第一测试接头和第二测试接头上下扣合固定时，弹性接触探针穿过第二限位块上的圆孔，与点状焊盘上的焊接点相接触。本实用新型保证了与片式组件连接的准确性，同时也保证了片式组件电路基板的安全性、更长的使用寿命，进一步提高了测试装置的长期可靠性。
【IPC分类】G01R31/00, G01R1/073
【公开号】CN205015418
【申请号】CN201520793114
【发明人】刘园, 刘均东, 程志远
【申请人】无锡华测电子系统有限公司
【公开日】2016年2月3日
【申请日】2015年10月14日