一种玻璃厚度检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型设及光学测量技术领域，更为具体地，设及一种玻璃厚度检测装置及 方法。
【背景技术】
[0002] 目前，主要采用光学测量的方法测量玻璃的厚度，光学测量方法不仅精度高，而且 能够实现非接触测量。现有的用于测量玻璃厚度的光学测量方法中主要是利用光的折射和 反射的原理，用一束光斜射在被测玻璃上，经过玻璃折射后的光束被光电二极管传感器接 收，由计算机或单片机进行运算得到玻璃厚度值。例如申请号为CN200920201105的专利公 开了一种玻璃厚度测量仪，申请号为CN201010528877的专利公开了一种中空玻璃厚度和 侣框宽度检测装置，申请号为CN201220327620. 2的专利公开了一种数码玻璃厚度仪、申请 号为CN201310695005的专利公开了一种非相干成像玻璃测厚方法。
[0003] 在实际生产中，如图1所示，浮法玻璃常常会出现模角，导致同一块玻璃的厚度不 均匀，即玻璃的两个表面不平行。另外，中空玻璃或者=玻两腔中空玻璃在制作过程中，中 空腔也很容易出现模角。
[0004] 图2是表示使用现有的厚度测量装置测量玻璃厚度时的光路原理图，在此，假设 被测玻璃的上下表面是相互平行的，不存在模角。如图2所示，现有的玻璃厚度检测装置包 括一个光源201和光电检测部件202,由光源201发出的检测用光在被检测玻璃203的上表 面及下表面反射后，入射到光电检测部件202的各光检测单元。设玻璃的折射率为n、检测 用光的入射角为i，检测用光经被检测玻璃上表面反射的光出射的位置与经被测玻璃下表 面反射的光出射的位置之间的距离为A，光电检测部件接受到的两反射光斑间距为A'。 由图中几何关系可知，被测玻璃的厚度G可W用W下公式1表示。
[0005][公式1]
[0007] 由光学原理可知，当被测玻璃的上下表面相互平行时，两条反射光路也互相平行， A' =A。此时，被测玻璃的厚度G可W用W下公式2表示。 阳00引[公式引
[0010] 图3是表示使用现有的厚度测量装置测量厚度方向存在模角的玻璃的厚度时的 示意图。图3所示，由于玻璃的上、下表面间存在模角，导致经玻璃上表面与下表面反射的 光路不平行，光电检测部件接受到的反射光斑间距A'小于反射光从玻璃出射的位置A， 从而使测得的玻璃厚度值偏小。
[0011] 此外，申请号为CN200910054824. 6的专利公开了一种玻璃厚度的检测设备和检 测方法。虽然该方法尽管采用两个激光器进行测量，但是其测量原理基于光的折射。该专 利中提供的设备和检测方法中，激光器和CCD探测器分别在待测玻璃的两侧，难W准确控 制激光器和CCD探测器之间W及二者与待测玻璃之间的相对位置，可能会造成CCD探测器 与待测玻璃表面不平行，从而影响测量准确度。并且，由于运种方法需要将玻璃置于检测装 置中，因此，限制了该检测装置的使用范围。 【实用新型内容】
[0012] 本实用新型是为了解决现有技术中存在的上述技术问题而做出，其目的在于提供 一种玻璃厚度检测装置和玻璃厚度检测方法W提高玻璃测量的精度，并且简化测量步骤。
[0013]根据本实用新型的一个方面提供了一种玻璃厚度检测装置，其包括：壳体，具有能 够与被测玻璃表面接触的底面部，所述底面部为平面形状且可透过光线；两个光源，相对置 地隔着规定间距设置在所述壳体的内部，可发出射向所述底面部的检测用光；光电检测部， 由多个光检测单元排列构成，设置在所述壳体的内部，可接收来自所述被测玻璃的反射光； 玻璃厚度计算部，根据由所述光电检测部输出的检测信息，计算所述被测玻璃的厚度参数。
[0014] 此外，优选地，在所述壳体的底面部设有狭缝。
[0015] 另外，优选地，在所述光电检测部的光入射侧设置有滤光片，用于滤除杂散光。
[0016] 再者，优选地，所述玻璃厚度计算部根据所述两个光源分别发出的所述检测用光 照射到所述被测玻璃后反射至所述光电检测部而得到的检测信息，分别计算被测玻璃的厚 度参数，并将该两个厚度参数的平均值作为最终的玻璃的厚度参数。
[0017] 此外，优选地，所述光电检测部与所述壳体的底面部平行设置。
[0018] 另外，优选地，所述光电检测部包括两个光电检测器件，所述两个光电检测器件的 光入射面朝着相反方向，并且，所述两个光电检测器件与所述壳体的底面部垂直设置。
[0019] 根据如上所述的实用新型，能够有效减小玻璃模角对厚度测量结果造成的误差， 从而提高测量玻璃厚度时的准确度。
【附图说明】
[0020] 通过参考W下【具体实施方式】及权利要求书的内容并且结合附图，本实用新型的其 它目的及结果将更加明白且易于理解。在附图中：
[0021] 图1是有模角的玻璃的示意图；
[0022] 图2是表示现有的厚度测量装置测量表面平行的玻璃的厚度时的示意图；
[0023] 图3是表示现有的厚度测量装置测量表面带模角的玻璃的厚度时的示意图；
[0024] 图4是表示本实用新型设及的玻璃厚度检测装置的结构示意图；
[0025] 图5是表示使用本实用新型设及的玻璃厚度检测装置测量有模角玻璃的厚度时 的光路不意图；
[00%] 图6是说明使用本实用新型设及的玻璃厚度检测装置测量带模角玻璃的测量实 例的示意图；
[0027]图7是使用本实用新型设及的玻璃厚度检测装置测量=玻两腔中空玻璃的示意 图；
[0028] 图8是表示测量=玻两腔中空玻璃时的第一光源射出的检测用光的光路的示意 图；
[0029] 图9是本实用新型设及的玻璃厚度检测装置的另一实施例的结构示意图；
【具体实施方式】
[0030] 在下面的描述中，出于说明的目的，为了提供对一个或多个实施例的全面理解，阐 述了许多具体细节。然而，很明显，也可W在没有运些具体细节的情况下实现运些实施例。 在其它例子中，为了便于描述一个或多个实施例，公知的结构和设备W方框图的形式示出。
[0031] 下面将参照附图来对根据本实用新型的各个实施例进行详细描述。
[0032] 图4是表示本实用新型设及的玻璃厚度检测装置的结构示意图。如图4所示，本 实用新型设及的玻璃厚度检测装置包括：壳体400,用于收容所述玻璃厚度检查装置的各 构成部件，具有能够与被测玻璃表面接触的底面部405,该底面部405为平面形状且可透过 光线；第一光源401和第二光源402,相对置地隔着规定间距设置在所述壳体400的内部， 可发出射向所述底面部的检测用光；光电检测部403,由多个光检测单元排列构成，设置在 所述壳体的内部，可接收来自所述被测玻璃的反射光；W及未图示的玻璃厚度计算部，根据 由所述光电检测部输出的检测信息，计算所述被测玻璃的厚度参数。在此，所述光电检测部 403例如可W使用光电二极管线阵传感器，也可W使用面阵CCD器件。
[0033] 所述第一光源401和第二光源402可W是激光光源，优选窄带激光器。由于激光 光源的方向性，单色性好，因此可W确保测量的准确性。但本实用新型不限于此，也可采用 配合准直系统的非相干光源。
[0034] 此外，在所述外壳400上还可W设置显示装置，用于显示玻璃厚度参数等各种信 息。
[0035]另外，在壳体101的底面部405还可W设置狭缝，由所述第一光源401和第二光源 402发出的光通过该狭缝后出射到被测玻璃，经过被测玻璃反射的反射光也通过该狭缝后 入射到光电检测部403。
[0036] 此外，该玻璃厚度检测装置还可W包括窗口片，该窗口片用于覆盖该狭缝。优选 地，在窗口片上可W锻膜，用于过滤由于多次折射和反射引起的杂散光及环境光，W提高测 量精度。此外，窗口片还可W与壳体400 -起形成封闭的空间，从而可W防止灰尘、水气等 进入玻璃厚度检测装置内部，W保护第一光源401、第二光源402、光电检测部403等。
[0037]另外，该玻璃厚度检测装置还可W包括滤光片，该滤光片设置在检测用光的光路 中的任一处位置，用于过滤除检测用光（包含反射光）W外的杂散光。例如，滤光片可W是 带通滤光片，其允许特定波长的光通过，滤除其他波长的光，，也可W是灰度片，降低光电检 测部的接收光的强度，滤出强度较低的杂散光。
[0038] 在该玻璃厚度检测装置中，由第一光源401和第二光源402发出射向底面部的检 测用光，运两路检测用光分别通过底面部405的狭缝射向被测玻璃406。所述检测用光的 一部分在被检测玻璃406的上表面反射后，经由底面部405的狭缝入射到所述光电检测部 403,其余部分在被测玻璃的上表面折射进入被测玻璃内部，之后一部分检测用光在被测玻 璃406的下表面反射后经由被测玻璃406的上表面和底面部405再入射到所述光电检测部 403。运样，由第一光源401射出的检测用光分别在被测玻璃406的上表面和下表面反射的 两路反射光LI、L2,W及由第二光源402射出的检测用光分别在被测玻璃406的上表面和 下表面反射的两路反射光L3、14,共计四路反射光入射到光电检测部403的不同光检测单 元中。
[0039] 所述光电检测部403根据其光检测单元的光检测结果，向玻璃厚度计算部输出表 示反射光Ll与L2之间距离、W及反射光L3与L4之间距离的检测信息。所述玻璃厚度计 算部根据所述光电检测部403的输出信号，可W计算所述被测玻璃的厚度参数。
[0040]图5是表示使用本实用新型设及的玻璃厚度检测装置测量有模角玻璃的厚度时 的光路示意图。在运种情况下，分别使用第一光源和第二光源测量时与图3所