单键槽对称度的检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种检测装置，尤其涉及套类零件键槽对称度的检测装置。
【背景技术】
[0002]套类零件上的单键槽加工后需要对其对称度进行检测，目前有以下两种方法。一种方法是将测量键块塞进键槽内、分别测量键块两侧到孔的距离；此种方法的缺点是:由于相同规格键槽宽度尺寸加工完的实际尺寸不一样，键块和键槽配合或紧或松，如过紧则键块不易塞进键槽，过松则测量不准，因此检测精度不能保证；另外，不同规格的键槽需要不同规格的测量键块，或用同一种测量键块作基准再用块规凑成键槽尺寸，操作非常麻烦。另一种方法是采用三坐标测量仪测量键槽的对称度；其缺点是:虽然检测精度能保证，但设备投入较大，还需要专人检测；另外检测时间较长，适合综合性形位误差检测，不太适合单项对称度检测。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型所要解决的问题是提供一种检测装置，它可以精确地对单键槽的对称度进行检测。同时，它操作方便，成本低廉。
[0004]本实用新型单键槽对称度的检测装置，它包括固定测量块、一对楔形键；固定测量块为方形，其上端有一凸出限位块；楔形键分为固定楔形键和活动楔形键:固定楔形键为“T”形、两边的凸耳为限位块，固定楔形键和活动楔形键的配合面为楔形面，固定楔形键的楔形面距左侧面的距离上小下大，活动楔形键的楔形面距右侧面的距离上大下小。
[0005]在使用本新型的检测装置进行测量时，固定测量块I的左侧面和被测工件4的一侧键槽面接触，其上的凸出限位块和工件4的上端面接触起轴向限位作用；固定楔形键2的左侧面与固定测量块I的右侧面接触，其“T”形中的一个凸耳和工件4的上端面接触起轴向限位作用；活动楔形键3的右侧面与被测工件4的另一侧键槽面接触，其楔形面与固定楔形键2的楔形面完全接触。这时找到被测工件4的内孔中与固定测量块I的左侧面垂直的直径，测量出它的左端点与固定测量块左侧面I之间的距离BI。同样的方法测量出尺寸B2，比较两者的测量值就可确定键槽的对称度。
[0006]本实用新型检测装置可以精确地测量出单键槽的对称度，使用方便，成本低廉。
【附图说明】
[0007]图1是本新型检测装置的装配示意图；
[0008]图2是本新型检测工件键槽左侧面的示意图；
[0009]图3是本新型检测工件键槽右侧面的示意图；
[0010]图4是固定测量块的示意图；
[0011]图5是固定楔形键的主视图；
[0012]图6是图5的左视图；
[0013]图7是活动楔形键的示意图。
【具体实施方式】
[0014]本实用新型单键槽对称度的检测装置，它包括固定测量块1、一对楔形键；固定测量块I为方形，其上端有一凸出限位块；楔形键分为固定楔形键2和活动楔形键3:固定楔形键2为“T”形、两边的凸耳为限位块，固定楔形键2和活动楔形键3的配合面为楔形面，固定楔形键2的楔形面距左侧面的距离上小下大，活动楔形键3的楔形面距右侧面的距离上大下小。
[0015]为了便于测量，固定测量块I宽度方向要超过被测工件4内孔的中心。
[0016]做为本新型的一种改进方式，为了更准确地测量，活动楔形键3的高度大于固定楔形键2的高度。这样，可以保证活动楔形键3与固定楔形键2的楔形面之间完全接触。
[0017]做为本新型的一种改进方式，为了更准确地测量，固定楔形键2和活动楔形键3的楔形角α=5-10°。较小的楔形角可以进一步保证测量的准确性。
[0018]为了方便活动楔形键的上下移动，作为本新型的一种优选方式，活动楔形键3的上部为“Τ”形。这样，可以方便地拿着T形部分进行上下移动。
[0019]在使用本新型的检测装置进行测量时，固定测量块I的左侧面和被测工件4的一侧键槽面接触，其上的凸出限位块和工件4的上端面接触起轴向限位作用；固定楔形键2的左侧面与固定测量块I的右侧面接触，其“Τ”形中的一个凸耳和工件4的上端面接触起轴向限位作用；活动楔形键3的右侧面与被测工件4的另一侧键槽面接触，其楔形面与固定楔形键2的楔形面完全接触。这时找到被测工件4的内孔中与固定测量块I的左侧面垂直的直径，测量出它的左端点与固定测量块左侧面I之间的距离BI。同样的方法测量出尺寸Β2，比较两者的测量值就可确定键槽的对称度。
[0020]本新型检测装置的优点有:1、结构简单、制造容易:本装置主要为一个固定测量块和一对楔形键组成，零件数量少，且表面为斜面和平面，很容易通过磨削加工；2、检测可靠、操作方便、检测效率高:通过一对楔形键将固定测量块键槽侧面贴紧，测量时不会松动，不会因人手感不同得出不同的测量结果，使检测非常可靠；同时，只需上下移动活动楔形键，就可以使固定测量块和工件快速楔紧或松开，操作非常方便快捷，大大提高检测效率；3、该检测装置具有一定的通用性:一对楔形键之间具有微量的调节功能，可以适应同尺寸不同配合公差键槽检测；在加工过程中就可测量，键槽未加工到位可准确测量出对称度，就可方便计算出键槽各侧面加工量，从而确保键槽对称度加工精度；同时，通过更换不同规格尺寸的固定测量块，可以检测不同尺寸规格的键槽的对称度，因此该检测装置具有一定的通用可调性。
【主权项】
1.单键槽对称度的检测装置，其特征是:它包括固定测量块(1)、一对楔形键；固定测量块(1)为方形，其上端有一凸出限位块；楔形键分为固定楔形键(2)和活动楔形键(3):固定楔形键(2)为“T”形、两边的凸耳为限位块，固定楔形键(2)和活动楔形键(3)的配合面为楔形面，固定楔形键(2)的楔形面距左侧面的距离上小下大，活动楔形键(3)的楔形面距右侧面的距离上大下小。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征是:固定测量块(1)宽度方向要超过被测工件(4)内孔的中心。3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征是:活动楔形键(3)的高度大于固定楔形键(2)的高度。4.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征是:固定楔形键(2)和活动楔形键(3)的楔形角α=5-10ο。5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征是:活动楔形键(3)的上部为“T”形。
【专利摘要】本实用新型公开了单键槽对称度的检测装置，它包括固定测量块、一对楔形键；固定测量块为方形，其上端有一凸出限位块；楔形键分为固定楔形键和活动楔形键：固定楔形键为“T”形、两边的凸耳为限位块，固定楔形键和活动楔形键的配合面为楔形面，固定楔形键的楔形面距左侧面的距离上小下大，活动楔形键的楔形面距右侧面的距离上大下小。本实用新型检测装置可以精确地测量出单键槽的对称度，使用方便，成本低廉。
【IPC分类】G01B21/24
【公开号】CN205027338
【申请号】CN201520760708
【发明人】周梅斌, 江长娟, 朱昌平, 杨远航
【申请人】泰尔重工股份有限公司
【公开日】2016年2月10日
【申请日】2015年9月29日