一种同轴度检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及一种同轴度检测装置，属于同轴度检测设备的技术领域。
【背景技术】
[0002] 目前市场上，人们通常采用三坐标测量仪来测量阀体的同轴度，但此类仪器价格 昂贵，使用过程中仪器的部件容易受损，维修成本高，测量的效率也不高，同时使用过程中 对测量环境有很高的要求，难以在更多领域中普遍使用。
[0003] 为解决上述技术问题，中国专利文献CN20181170U公开了一种同轴度检测装置， 包括水平工作台和检测装置，水平工作台的一侧固定有一用于支撑阀杆的支撑座，检测装 置包括底座和百分表，底座滑动设置在水平工作台上且位于阀杆支撑座的后方，底座上固 定一小立柱，一条状平板挂装在小立柱上，百分表固定在底座上的大立柱上且百分表的量 杆下端抵靠在条状平板的上表面上。测量阀杆的同轴度时，底座可左右滑动，调整百分表的 检测位置，将阀杆放置在支撑座上，通过条状平板间接地将测量的同轴度误差传递给百分 表，进而百分表将数字显示出，完成阀杆同轴度的测量。
[0004] 上述专利文献公开的同轴度检测装置，在测量过程中，百分表的测量探头与条状 平板一侧接触，条状平板的另一侧与阀杆外壁接触，即百分表的测量数据是通过条状平板 进行传递的，不可避免地出现条状平板固定不稳定，百分表的探头与条状平板接触或条状 平板与阀杆表面接触不紧密，增加测量过程中的累积误差，导致百分表测量的同轴度结果 不精确，同时检测装置的整体结构也复杂。 【实用新型内容】
[0005] 因此，本实用新型所要解决的技术问题在于现有技术中同轴度检测装置测量精度 不高、结构复杂的缺陷，从而提供一种测量精度高且结构简单的同轴度检测装置。
[0006] 为此，本实用新型提供一种同轴度检测装置，包括底座，所述底座上设置有回转分 度盘、测量座、用于对回转分度盘的横向位置进行调整的横向调节结构、用于对回转分度 盘的纵向位置进行调整的纵向调节结构，以及用于显示横向调节结构和纵向调节结构移动 距离的显示屏；所述测量座上设有测量表，所述测量表的探头用于与被检测工件的内孔壁 接触。
[0007] 上述的同轴度检测装置，所述横向调节结构包括X轴方向固定设置的X轴滑台，设 置在所述X轴滑台上的滑道，可滑动设置在所述滑道上的滑块，所述回转分度盘设置在所 述滑块上。
[0008] 上述的同轴度检测装置，所述纵向调节结构包括固定在底座上且位于X轴滑台底 部的Y轴滑台，安装在Y轴滑台上的螺杆以及套设在螺杆上的螺母，所述螺母与X轴滑台固 定连接。
[0009] 上述的同轴度检测装置，所述X轴滑台的一侧面上还设有刻度盘，用于记录所述 滑块沿X轴方向移动的距离。
[0010] 上述的同轴度检测装置，所述回转分度盘的转轴上还套设内孔膨胀器，所述内孔 膨胀器底端上套设定位块，所述定位块底侧表面紧靠在回转分度盘的上表面，以用于将套 设在内孔膨胀器上的检测工件固定在所述回转分度盘上。
[0011] 上述的同轴度检测装置，所述回转分度盘上表面刻有分度值，在所述回转分度盘 的侧壁上还设有手柄，在所述手柄的驱动下，使所述回转分度盘绕所述转轴转动。
[0012] 上述的同轴度检测装置，所述回转分度盘上还设有当所述回转分度盘转动到所需 角度后对所述回转分度盘进行卡位的锁紧装置。
[0013] 上述的同轴度检测装置，所述回转分度盘沿着圆周方向等分为四个扇形区域，相 邻两扇形区域之间形成T型槽，所述T型槽的端部靠近所述定位块。
[0014] 上述的同轴度检测装置，在所述测量座上固定设有水平布置的连接杆，所述连接 杆上通过连接组件连接有竖直布置的调节杆，所述调节杆上设置有水平布置的夹头，所述 夹头上设置所述测量表。
[0015] 上述的同轴度检测装置，所述连接组件包括设置在所述连接杆远离所述测量座一 端上的安装孔，以及将可滑动插入所述安装孔内的调节杆锁定在所需位置的锁定组件。
[0016] 上述的同轴度检测装置，所述锁定组件包括沿所述调节杆的轴向设置在所述调节 杆上的至少一个通孔，设置在所述连接杆靠近安装孔的一端上的与所述通孔相适配的孔， 以及插入所述孔和通孔将所述调节杆固定在所述连接杆上的螺栓或螺钉或销。
[0017] 本实用新型提供的一种同轴度检测装置，与现有技术中同轴度检测装置相比，具 有以下优点：
[0018] (1)本实用新型提供的同轴度检测装置，包括底座，所述底座上设置有回转分度 盘、测量座、用于对回转分度盘的横向位置进行调整的横向调节结构、用于对回转分度盘的 纵向位置进行调整的纵向调节结构，以及用于显示横向调节结构和纵向调节结构移动距离 的显示屏；所述测量座上设有测量表，所述测量表的探头用于与被检测工件的内孔壁接触。
[0019] 此同轴度检测装置在测量过程中，将环状标准工件的一端孔套设在转轴上，并使 测量表的探头与标准工件的另一端孔的内壁测量圆Pc某一圆周上的测量点接触；
[0020] 观察测量表的指针指向，若测量表的指针指向零位，则代表转轴与测量表在竖直 方向上的轴线平行，此时，取下标准工件，完成转轴的校正；若测量表的指针指向偏离零位， 则通过调节装置调节转轴的横向和/或纵向位置，在测量表的指针指向零位时取下标准工 件，完成转轴的校正；以此时测量表探头的位置坐标为检测基准点，且保持测量表探头的位 置固定不变，此时，测量表探头的位置坐标就是测量圆Pc上的测量点的位置坐标；
[0021] 将检测工件的一端孔套设在校正后的转轴上，通过横向调节结构和/或纵向调节 结构调节转轴，使检测工件的另一端孔内壁测量圆？:某一圆周上的测量点与转轴校正后位 置固定的测量表探头接触；观察测量表的指针的指向，若测量表的指针仍指向零位，则检测 工件两端孔同轴；若测量表的指针指向偏离零位，则检测工件两端孔存在同轴度误差。
[0022] 若检测工件两端孔存在同轴度误差时，使得测量表探头与环状标准工件一端 孔内壁测量圆匕的同一圆周上的至少三个测量点接触，并分别对转轴进行校正，并分 别记录转轴校正后各个测量点的位置坐标;将记录的坐标带入公式 (XQl-XpQ)2+(YQl-YpQ)2=R。2中形成三元二次方程组，求出测量圆P。的圆心坐标（Xp。，Yp。）以及 测量圆Pc的半径Rd;
[0023] 对应于转轴校正后的测量圆P。同一圆周上的至少三个测量点的位置，使测量表 探头与检测工件一端孔内壁测量圆同一圆周上的至少三个测量点接触，并在测量 表的指针分别再次指向零位时，分别记录各个测量点的位置坐标（Xu，Yu)，将记录的坐标 (XH，YH)带入公式（Xn-Xp^+an-Yj2:Rj中形成三元二次方程组，求出测量圆Pi的圆心 坐标（xpl，Ypl)以及测量圆Pi的半径R1;
[0024] 将计算出的测量圆P。和测量圆Pi的圆心坐标带入公另 中，求出检测工件两端孔的同轴度误差L。
[0025] 上述的同轴度检测装置在测量同轴度时，首先用环形标准工件对转轴进行校正定 位，使转轴与测量表在竖直方向上的轴线平行，测量表指针指向零位，此时转轴的轴线位置 代表着检测