集成电路的检测装置及检测设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种检测装置，尤其涉及一种用于集成电路的检测装置及检测设备。
【背景技术】
[0002]随着科技的发展，许多信息电子产品是朝向轻薄短小的方向来进行设计，但所具备的功能却只能增加而不能减少，在如此的情况下，使得其电子电路走向集成化，制作成可执行多种功能的集成电路(Integrated Circuit，IC)，由于集成电路内的结构繁复，线宽窄小，制作上具有一定的困难度，且所需的制作成本高，相对的品质及良率的管控也愈加重要。其中各集成电路在出厂前，必须经过测试机台的检测，而测试机台主要包含有一测试座以及一测试电路板，利用测试座供集成电路放置定位后，集成电路再通过测试座与测试电路板电性连接，而进行检测。
[0003]现有用于集成电路的检测装置，主要包括一底座及与底座枢接的一盖体，底座上设有一凹槽，并于凹槽内设有一导电结构，而盖体底面设有一抵压单元，其中，导电结构设有配合待测集成电路固定的一定位部，并于定位部中设有对应待测集成电路底部锡球位置的多个透孔，透孔用以套接固定待测集成电路的锡球，将待测集成电路定位于定位部上，定位部下方设有导通待测集成电路与测试电路板的一导电部，待测集成电路藉由抵压单元的抵压以与导电部导接，藉由导电部中的导通件与测试电路板导接，而进行量测。
[0004]然而，现有用于集成电路的检测装置，虽然具有检测的效果，但仍然存在有抵压单元对集成电路下压过程中，亦令导电部的探针产生折断的情况。另定位部一般为了利于集成电路能够轻易置入，两者之间的配合皆相当的宽松，因而常导致集成电路和探针对位不准确的情况，而亟待加以改善。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型的一目的，在于提供一种集成电路的检测装置及检测设备，其可达成快速定位和精准固持效果。
[0006]为达上述目的，本实用新型提供一种集成电路的检测装置，其包括:
[0007]一承载座，安装有一探针台；
[0008]—夹掣定位机构，包含一下基座、一弹性体、一上基座及一对弹性夹臂，该下基座对应该探针台配置，该弹性体被弹性夹掣在该探针台和该下基座之间，该上基座叠接在该下基座上，并于该上基座设有一芯片容槽，该对弹性夹臂能够移动的配置在该芯片容槽内；
[0009]—盖板，固定在该承载座，该盖板在对应该芯片容槽的位置设有一开口，并在该对弹性夹臂和该盖板之间设有令该对弹性夹臂能够对所述集成电路夹掣固定的一滑动结构。
[0010]上述的集成电路的检测装置，其中该探针台布设有多支弹性探针，该下基座包含一矩形板，于该矩形板开设有供各该弹性探针穿出的多个穿孔。
[0011]上述的集成电路的检测装置，其中该下基座更包含从该矩形板的各角端分别向上延伸有一角柱，该弹性夹臂包含一 τ型移动块及一弹性顶针，该弹性顶针被弹性夹掣在该T型移动块和该角柱之间。
[0012]上述的集成电路的检测装置，其中该T型移动块的底端形成有一 V形槽，该T型移动块顶端设有供该弹性顶针插接的一插孔。
[0013]上述的集成电路的检测装置，其中在该盖板的该开口对应角端分别延伸有一对凸柱，该对凸柱是对应于该T型移动块的两侧翼设置，该滑动结构包含形成在该T型移动块的一第一斜面及形成在该凸柱的一第二斜面，该第二斜面和该第一斜面的倾斜方向相反，且彼此相互滑接接触。
[0014]上述的集成电路的检测装置，其中该上基座开设有连通该芯片容槽的一导引槽，该T型移动块安装在该导引槽内且能够操作性移动。
[0015]上述的集成电路的检测装置，其中该下基座的该矩形板设有多个导引孔，该上基座连接有穿接各该导引孔的多个定位柱。
[0016]为达上述目的，本实用新型还提供一种集成电路的检测设备，其包括:
[0017]—承载座，安装有多个探针台；
[0018]多个夹掣定位机构，分别对应各该探针台装设，每一该夹掣定位机构包含一下基座、一弹性体、一上基座及一对弹性夹臂，该下基座对应该探针台配置，该弹性体被弹性夹掣在该探针台和该下基座之间，该上基座叠接在该下基座上，并于该上基座设有一芯片容槽，该对弹性夹臂能够移动的配置在该芯片容槽内；
[0019]—盖板，固定在该承载座，该盖板在对应各该芯片容槽的位置分别设有一开口，并在各该弹性夹臂和该盖板之间设有令各该弹性夹臂能够分别对所述各集成电路夹掣固定的一滑动结构。
[0020]上述的集成电路的检测设备，其中该探针台布设有多支弹性探针，该下基座包含一矩形板，于该矩形板开设有供各该弹性探针穿出的多个穿孔。
[0021]上述的集成电路的检测设备，其中该下基座更包含从该矩形板的各角端分别向上延伸有一角柱，该弹性夹臂包含一 T型移动块及一弹性顶针，该弹性顶针被弹性夹掣在该T型移动块和该角柱之间。
[0022]上述的集成电路的检测设备，其中该T型移动块的底端形成有一 V形槽，该T型移动块顶端设有供该弹性顶针插接的一插孔。
[0023]上述的集成电路的检测设备，其中在该盖板的该开口对应角端分别延伸有一对凸柱，该对凸柱是对应于该T型移动块的两侧翼设置，该滑动结构包含形成在该T型移动块的一第一斜面及形成在该凸柱的一第二斜面，该第二斜面和该第一斜面的倾斜方向相反，且彼此相互滑接接触。
[0024]上述的集成电路的检测设备，其中该上基座开设有连通该芯片容槽的一导引槽，该T型移动块安装在该导引槽内且能够操作性移动。
[0025]上述的集成电路的检测设备，其中该下基座的该矩形板设有多个导引孔，该上基座连接有穿接各该导引孔的多个定位柱。
[0026]本实用新型还具有以下功效，利用滑动结构设置在盖板和弹性夹臂之间，在向下压掣上基座时可同时驱动各弹性夹臂进行对集成电路的夹掣固定，更增加使用的方便性。藉由T型移动块的V形槽设置，可有效地对集成电路的对角进行精确的定位。
[0027]以下结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细描述，但不作为对本实用新型的限定。
【附图说明】
[0028]图1本实用新型集成电路的检测装置分解图；
[0029]图2本实用新型集成电路的检测装置另一视角分解图；
[0030]图3本实用新型集成电路的检测装置组合外观图；
[0031]图4本实用新型的检测装置应用于集成电路的俯视图；
[0032]图5为图4中的5-5剖面的剖视图；
[0033]图6为图4中的6-6剖面的剖视图；
[0034]图7本实用新型的夹掣定位机构被压下后的剖视图；
[0035]图8本实用新型的夹掣定位机构被压下后另一方向的剖视图；
[0036]图9本实用新型集成电路的检测设备组合外观图。
[0037]其中，附图标记
[0038]1…检测装置
[0039]10…承载座
[0040]1L...探针台
[0041]12…弹性探针
[0042]13…螺孔
[0043]20…夹掣定位机构
[0044]21…下基座
[0045]211…矩形板
[0046]212…角柱
[0047]213…穿孔
[0048]214…导引孔
[0049]22…弹性体
[0050]23…上基座
[0051]231…芯片容槽
[0052]232…导引槽
[0053]233…定位柱
[0054]24…弹性夹臂
[0055]241…Τ型移动块
[0056]242 …V 形槽
[0057]243…插孔
[0058]244…第一斜面
[0059]245…弹性顶针
[0060]30…盖板
[0061]31 …开口
[0062]32…凸柱
[0063]321…第二斜面
[0064]33…通孔
[0065]A…滑动结构
[0066]8…集成电路
[0067]1A…检测设备
[0068]100…承载座
[0069]300…盖板
【具体实施方式】
[0070]有关本实用新型的详细说明及技术内容，配合【附图说明】如下，然而所附的附图仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制。
[0071]请参阅图1至图3所示，本实用新型提供一种集成电路的检测装置，此集成电路的检测装置1主要包括一承载座10、一夹掣定位机构20及一盖