一种辐照宽度与均匀性测量装置的制造方法

文档序号:10139886阅读:314来源:国知局
一种辐照宽度与均匀性测量装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测量工具,具体是一种辐照宽度与均匀性测量装置。
【背景技术】
[0002]在辐照生产车间,对于辐照剂量的大小需要严格的控制,因为辐照加工是一种新型的技术,现实生产当中,生产人员需要考虑到生产的需要,不是对轨道所有的地区覆盖性的辐照,这样造成了大量能源的浪费,而且,对于辐照要对货物是均匀照射,但是现实生产过程中,工人只能根据辐照后的结果来做慢慢的调试,费时费力,浪费能源,还不准确。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型目的是提供一种构造简单,造价低廉,使用方便的辐照宽度与均匀性测量装置。
[0004]为了解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案是:
[0005]—种辐照宽度与均匀性测量装置,包括底板、凹槽、标尺、剂量片,所述凹槽位于底板表面,凹槽均匀排列,所述标尺位于底板边沿,所述剂量片放置在凹槽内。
[0006]进一步的,所述底板侧面呈“U”型结构,底部平整,边沿两端凸起。
[0007]进一步的,所述凹槽之间间距小于2mm。
[0008]优选的,所述底板前后两端各有一个手提把手。
[0009]作为优选,所述标尺零点位于中心位置。
[0010]本实用新型的有益效果是:
[0011]本实用新型以简单的结构,有着手提把手,可以随意拖动,均匀排布的一模一样的剂量片可以方便快捷测量出辐照剂量均匀性,旁边的标尺可以很快的测量出辐照的宽度范围,简单,实用。
【附图说明】
[0012]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型作进一步详细的说明。
[0013]图1为本实用新型辐照宽度与均匀性测量装置示意图。
[0014]其中,1-底板,2-凹槽,3-标尺,4-剂量片,5-手提把手,6_标尺零点。
【具体实施方式】
[0015]以下结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明,但是本实用新型可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
[0016]如图1所示,本实用新型公开一种辐照宽度与均匀性测量装置,包括底板1、凹槽2、标尺3、剂量片4,凹槽2位于底板表面,凹槽2均匀排列,标尺3位于底板边沿,所述剂量片4放置在凹槽2内,保证剂量片4不会滑动掉出。
[0017]底板1侧面呈“U”型结构,底部平整,边沿两端凸起。
[0018]每两个凹槽2间距小于2mm,凹槽2之间间距相等,因为位置时均匀分布的,剂量片4接受到的辐射而产生不同的反应来观察辐照的均匀性。
[0019]标尺3零点位于中心位置,这样会准确测量,而且有时需要两端对称时,也可以做到准确。
[0020]底板1前后两端各有一个手提把手,能很好的移动,以及到达自己的理想位置,适宜检测。
[0021]以上所述的本实用新型实施方式,并不构成对本实用新型保护范围的限定。任何在本实用新型的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的权利要求保护范围之内。
【主权项】
1.一种辐照宽度与均匀性测量装置,其特征在于,包括底板、凹槽、标尺、剂量片,所述凹槽位于底板表面,凹槽均匀排列,所述标尺位于底板边沿,所述剂量片放置在凹槽内。2.根据权利要求1所述辐照宽度与均匀性测量装置,其特征在于,还包括手提把手,所述手提把手有两个,位于底板前后两端。3.根据权利要求1所述辐照宽度与均匀性测量装置,其特征在于,所述底板侧面呈“U”型结构,底部平整,边沿两端凸起。4.根据权利要求1所述辐照宽度与均匀性测量装置,其特征在于,所述两凹槽间距小于 2mm。5.根据权利要求1所述辐照宽度与均匀性测量装置,其特征在于,所述标尺零点位于中心位置。
【专利摘要】一种辐照宽度与均匀性测量装置,包括底板、凹槽、标尺、剂量片,所述凹槽位于底板表面,凹槽均匀排列,所述标尺位于底板边沿,所述剂量片放置在凹槽内,本实用新型以简单的结构,有着手提把手,可以随意拖动,均匀排布的一模一样的剂量片可以方便快捷测量出辐照剂量均匀性,旁边的标尺可以很快的测量出辐照的宽度范围,简单,实用。
【IPC分类】G01T1/29, G01T1/02
【公开号】CN205049747
【申请号】CN201520821674
【发明人】王忠明, 裴元吉, 赵跃春, 姚江涛, 刘波
【申请人】安徽戈瑞电子科技股份有限公司
【公开日】2016年2月24日
【申请日】2015年10月19日
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