一种平面度检测治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及平面度检测技术领域，特别是涉及一种平面度检测治具。
【背景技术】
[0002]平面度作为形位误差中形状误差的一种，对于产品的品质有着十分重要的影响。现有技术中，检测产品平面度较常采用的方法如下:
[0003]如图1所示，以大理石平台10的平台表面作为基准平面，将待测物体3放置于大理石平台10的平台表面上，将不同规格厚度的塞规(图中未示出)塞入大理石平台10与待测物体3的待测面之间的间隙中，可以测得该待测面的平面度。
[0004]现有技术存在的缺陷在于，在进行平面度检测时，需要将待测物体放置于大理石平台上，操作十分不方便，并且，由于待测物体的重力，经常会导致检测结果不够准确。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型实施例提供了一种平面度检测治具，以简化平面度的检测操作，提高平面度的检测精度。
[0006]本实用新型实施例提供了一种平面度检测治具，包括具有基准平面的基准杆以及与所述基准杆连接的刻度尺，其中，所述刻度尺与所述基准杆垂直设置。
[0007]较佳的，所述刻度尺与所述基准杆滑动装配，并可在任意滑动位置与所述基准杆锁定连接。
[0008]优选的，所述基准杆沿长度方向具有导轨，所述刻度尺具有与所述导轨滑动装配的滑块部。
[0009]较优的，所述基准杆具有刻度。
[0010]具体的，所述刻度尺在任意滑动位置与所述基准杆通过螺钉或销柱锁定连接。
[0011 ]优选的，所述基准杆为可折叠基准杆，包括顺序铰接的多个折叠臂。
[0012]优选的，所述基准杆为可伸缩基准杆，包括顺序套装的多节伸缩臂。
[0013]本实用新型实施例提供的平面度检测治具，包括具有基准平面的基准杆和与基准杆垂直设置的刻度尺。当使用该平面度检测治具检测待测物体的平面度时，将基准杆的基准平面靠于待测物体的待测面，使刻度尺相对待测物体的与基准杆平行的端面滑动，刻度尺的最大读数即为待测物体待测面的平面度。相比现有技术，采用本技术方案的平面度检测治具检测待测物体的平面度，操作较为简单;此外，待测物体无需水平放置，可减小重力因素对测量结果的影响，因此，平面度检测的精度大大提高。
【附图说明】
[0014]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0015]图1为现有技术检测待测物体平面度示意图；
[0016]图2为采用本实用新型实施例平面度检测治具检测平面度示意图；
[0017]图3为本实用新型一实施例平面度检测治具截面示意图；
[0018]图4为本实用新型一实施例平面度检测治具的可折叠基准杆示意图；
[0019]图5为本实用新型另一实施例平面度检测治具的可伸缩基准杆示意图。
[0020]附图标记:
[0021]10-大理石平台 3-待测物体
[0022]11-基准杆12-刻度尺
[0023]110-端面30-待测面
[0024]111-导轨112-第一平面
[0025]121-滑块部4-伸缩臂
[0026]5-折叠臂
【具体实施方式】
[0027]为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0028]本实用新型实施例提供了一种平面度检测治具，如图2所示，包括具有基准平面(与第一平面112相对的平面)的基准杆11以及与基准杆11连接的刻度尺12，其中，刻度尺12与基准杆11垂直设置。
[0029]当使用该平面度检测治具检测待测物体3的平面度时，将基准杆的基准平面靠于待测物体的待测面30，使刻度尺12相对待测物体的端面110滑动，刻度尺的最大读数即为待测物体待测面的平面度。相比现有技术，采用本技术方案的平面度检测治具检测待测物体的平面度，操作较为简单;此外，待测物体无需水平放置，可减小重力因素对测量结果的影响，因此，平面度检测的精度大大提高。
[0030]待测物体3的具体类型不限，例如可以为背光模组、显示模组、液晶面板以及其它所有需要检测平面度的物体。
[0031]在本实用新型的一个优选实施例中，刻度尺与基准杆滑动装配，并可在任意滑动位置与基准杆锁定连接。在该优选实施例中，刻度尺与基准杆滑动装配的具体方式不限，例如，如图3所示，基准杆11沿长度方向上设置有导轨111，刻度尺12上设置有与基准杆上的导轨滑动装配的滑块部121。采用本实施例的技术方案，在测定待测物体待测面的平面度时，通过在基准杆上滑动刻度尺，即可测得平面度，操作十分简单，并且由于基准杆与待测物体无相对移动，因此有利于提高平面度检测的精度。
[0032]在本实用新型的另一优选实施例中，平面度检测治具的基准杆具有刻度，当刻度尺在基准杆上来回滑动时，检测人员可以测得待测物体的待测面的平面度，即待测面偏离理想平面的最大值(也就是刻度尺的最大读数)，此时，可将刻度尺与基准杆锁定连接，便于读取基准杆上的刻度读数，从而获知待测面的弯曲分布情况。其中，刻度尺与基准杆锁定连接的具体方式不限，例如可以使用螺钉或者销柱锁定连接刻度尺与基准杆。
[0033]在本实用新型的又一优选实施例中，如图4所示，基准杆为可折叠基准杆，包括顺序铰接的多个折叠臂5。采用具有可折叠基准杆的平面度检测治具，可以根据待测物体的长度对基准杆的长度进行调节，从而可以适用于不同长度规格的待测物体;此外，在不使用平面度检测治具时，可以将基准杆折叠收纳，便于平面度检测治具的存放。
[0034]在本实用新型的再一优选实施例中，如图5所示，基准杆为可伸缩基准杆，包括顺序套装的多节伸缩臂4。其中，每节伸缩臂沿长度方向上都设置有导轨。与图4所示实施例的有益效果类似，采用具有可伸缩基准杆的平面度检测治具，可以根据待测物体的长度对基准杆的长度进行调节，从而可以适用于不同长度规格的待测物体;此外，在不使用平面度检测治具时，可以将基准杆收缩收纳，便于平面度检测治具的存放。
[0035]以图2所示平面度检测治具检测显示模组某一待测面的平面度为例，具体操作步骤如下:
[0036]首先，将显示模组竖直放置；
[0037]然后，将平面度检测治具的基准杆的基准平面(与第一平面112相对的平面)靠在显示模组的待测面30上，并使平面度检测治具的的刻度尺12沿显示模组的端面110的长度方向来回滑动，检测人员观测并记录刻度尺在滑动过程中不同位置的读数；
[0038]最后，检测人员记录的刻度尺的最大读数即为显示模组待测面的平面度。
[0039]可以看出，采用本技术方案的平面度检测治具检测待测物体的平面度，操作较为简单;此外，相比现有技术，待测物体无需水平放置，可减小重力因素对测量结果的影响，因此，平面度检测的精度大大提高。
[0040]最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。
【主权项】
1.一种平面度检测治具，其特征在于，包括具有基准平面的基准杆以及与所述基准杆连接的刻度尺，其中，所述刻度尺与所述基准杆垂直设置。2.根据权利要求1所述的平面度检测治具，其特征在于，所述刻度尺与所述基准杆滑动装配，并可在任意滑动位置与所述基准杆锁定连接。3.根据权利要求2所述的平面度检测治具，其特征在于，所述基准杆沿长度方向具有导轨，所述刻度尺具有与所述导轨滑动装配的滑块部。4.根据权利要求2所述的平面度检测治具，其特征在于，所述基准杆具有刻度。5.根据权利要求4所述的平面度检测治具，其特征在于，所述刻度尺可在任意滑动位置与所述基准杆通过螺钉或销柱锁定连接。6.根据权利要求1?5任一项所述的平面度检测治具，其特征在于，所述基准杆为可折叠基准杆，包括顺序铰接的多个折叠臂。7.根据权利要求1?5任一项所述的平面度检测治具，其特征在于，所述基准杆为可伸缩基准杆，包括顺序套装的多节伸缩臂。
【专利摘要】本实用新型公开了一种平面度检测治具。平面度检测治具包括具有基准平面的基准杆以及与所述基准杆连接的刻度尺，其中，所述刻度尺与所述基准杆垂直设置。相比现有技术，采用本技术方案的平面度检测治具检测待测物体的平面度，操作较为简单；此外，待测物体无需水平放置，可减小重力因素对测量结果的影响，因此，平面度检测的精度大大提高。
【IPC分类】G01B5/28
【公开号】CN205102763
【申请号】CN201520907160
【发明人】靳续刚
【申请人】乐视致新电子科技（天津）有限公司
【公开日】2016年3月23日
【申请日】2015年11月13日