一种通用集成电路测试装置的制造方法

文档序号:10192809阅读:745来源:国知局
一种通用集成电路测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及集成电路制造领域,特别涉及一种通用集成电路测试装置。
【背景技术】
[0002]市场上集成电路竞争非常激烈,大部份国内外芯片制造厂都具备各种集成电路的制造能力,从目前的趋势来看,测试是影响价格的关键因素之一。在兼顾测试可靠性的前提下,如何提高测试效率并降低测试成本,是一个非常重要的问题。
[0003]通常,为了模仿使用环境,通常在测试集成电路时,需要对集成电路进行加热,在高温的环境下对集成电路进行各种测试。集成电路在制造过程中涉及多种测试,而且对于不同的型号的集成电路其测试条件要不尽相同。也就是说,每一次测试的温度条件都不相同。例如,第一次测试的温度条件远高于第二次测试的温度条件,这时,在完成第一次测试后第二次测试前,需要对测试平台进行自然降温,当温度降低到第二次测试温度条件范围内时,才能够进行第二次测试。如果两次测试条件的温度落差较大时,等待自然降温的时间将非常长,有时甚至超过120分钟,严重降低了测试效率,导致了测试成本的上升。

【发明内容】

[0004]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种降温时间短可以完全自动根据温度调整开关以及具有温度显示器和声控提醒装置,更具人性化,更加节约人力成本的通用集成电路测试装置。
[0005]本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下:
[0006]—种通用集成电路测试装置,包括测试平台,其特征在于:测试平台上方设置有加热装置和数个小型散热装置,测试平台下方设置有冷却装置,所述测试平台与温度检测装置连接,所述加热装置与加热控制装置连接,所述小型散热装置和冷却装置与冷却控制装置连接,温度检测装置与加热控制装置和冷却控制装置连接,冷却控制装置与加热控制装置之间连接有自动控制开关装置,冷却控制装置、加热控制装置和自动控制开关装置与输入输出控制装置连接。
[0007]进一步的,所述温度检测装置上设置有温度显示器和声控提醒装置。
[0008]进一步的,所述小型散热装置设置有两个分别在加热装置两端。
[0009]进一步的,所述小型散热装置设置有四个均匀分布在加热装置四周。
[0010]进一步的,所述小型散热装置和冷却装置为陶瓷制成。
[0011]本实用新型所述的一种通用集成电路测试装置的优点在于,降温时间短可以完全自动根据温度调整开关以及具有温度显示器和声控提醒装置,更具人性化,更加节约人力成本的。
【附图说明】
[0012]下面结合附图对本实用新型做进一步的说明:
[0013]图1为本实用新型的结构示意图。
[0014]1、测试平台,2、加热装置,3、小型散热装置,4、温度检测装置,4-1、温度显示器,4-2、声控提醒装置,5、加热控制装置,6、自动控制开关装置,7、冷却控制装置,8、输入输出控制装置,9、冷却装置。
【具体实施方式】
[0015]—种通用集成电路测试装置,包括测试平台1,其特征在于:测试平台1上方设置有加热装置2和数个小型散热装置3,测试平台1下方设置有冷却装置9,所述测试平台1与温度检测装置4连接,所述加热装置2与加热控制装置5连接,所述小型散热装置3和冷却装置9与冷却控制装置7连接,温度检测装置4与加热控制装置5和冷却控制装置7连接,冷却控制装置7与加热控制装置5之间连接有自动控制开关装置6,冷却控制装置7、加热控制装置5和自动控制开关装置6与输入输出控制装置8连接。
[0016]进一步的,所述温度检测装置4上设置有温度显示器4-1和声控提醒装置4-2。
[0017]进一步的,所述小型散热装置3设置有两个分别在加热装置2两端。
[0018]进一步的,所述小型散热装置3设置有四个均匀分布在加热装置2四周。
[0019]进一步的,所述小型散热装置3和冷却装置9为陶瓷制成。
[0020]具体实施时,温度检测装置4可以设定第一次检测所需的温度数值A和下一次检测所需的温度数值B,加热控制装置5启动后市的测试平台的温度达到了第一次检测所需温度A时,发出声控提醒提醒进行第一次测试;第一次检测结束后自动通过冷却控制装置7降温到第二次所需温度B,发出声控提醒提醒进行第二次测试,第二次检测结束后自动控制开关装置6自动关闭,防止能源浪费。
[0021]以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书内容所作的等效结构或等效流程变换或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
[0022]综上所述,本实用新型所述的一种通用集成电路测试装置的优点在于,降温时间短可以完全自动根据温度调整开关以及具有温度显示器和声控提醒装置,更具人性化,更加节约人力成本的。
【主权项】
1.一种通用集成电路测试装置,包括测试平台(1 ),其特征在于:测试平台(1)上方设置有加热装置(2 )和数个散热装置(3 ),测试平台(1)下方设置有冷却装置(9 ),所述测试平台(1)与温度检测装置(4)连接,所述加热装置(2)与加热控制装置(5)连接,所述散热装置(3)和冷却装置(9)与冷却控制装置(7)连接,温度检测装置(4)与加热控制装置(5)和冷却控制装置(7)连接,冷却控制装置(7)与加热控制装置(5)之间连接有自动控制开关装置(6),冷却控制装置(7)、加热控制装置(5)和自动控制开关装置(6)与输入输出控制装置(8)连接。2.根据权利要求1所述的一种通用集成电路测试装置,其特征在于:所述温度检测装置(4 )上设置有温度显示器(4-1)和声控提醒装置(4-2 )。3.根据权利要求1或2所述的一种通用集成电路测试装置,其特征在于:所述散热装置(3 )设置有两个分别在加热装置(2 )两端。4.根据权利要求1或2所述的一种通用集成电路测试装置,其特征在于:所述散热装置(3)设置有四个均匀分布在加热装置(2)四周。5.根据权利要求1所述的一种通用集成电路测试装置,其特征在于:所述散热装置(3)和冷却装置(9)为陶瓷制成。
【专利摘要】一种通用集成电路测试装置,包括测试平台,测试平台上方设置有加热装置和数个小型散热装置,测试平台下方设置有冷却装置,所述测试平台与温度检测装置连接,所述加热装置与加热控制装置连接,所述小型散热装置和冷却装置与冷却控制装置连接,温度检测装置与加热控制装置和冷却控制装置连接,冷却控制装置与加热控制装置之间连接有自动控制开关装置,冷却控制装置、加热控制装置和自动控制开关装置与输入输出控制装置连接。本实用新型所述的一种通用集成电路测试装置的优点在于,降温时间短可以完全自动根据温度调整开关以及具有温度显示器和声控提醒装置,更具人性化,更加节约人力成本的。
【IPC分类】H05K7/20, G01R31/28
【公开号】CN205103370
【申请号】CN201520790007
【发明人】朱旭, 姜蕾, 黄彩明
【申请人】上海浦壹电子科技有限公司
【公开日】2016年3月23日
【申请日】2015年10月13日
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1