一种近场电磁探头的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种电磁探头，特别涉及一种近场电磁探头。
【背景技术】
[0002]在电磁兼容等需要对电磁辐射进行测量或诊断的领域，电磁辐射近场测试是基本的故障诊断技术手段，通过近场探头(主要为电场探头和磁场探头)配合频谱分析仪，对电磁辐射源的近场电场和磁场辐射分别进行测量。综合近场电场和磁场的测量结果诊断出电磁兼容三要素:辐射源、耦合路径和敏感源。但现有技术中的近场探头中的电场探头和磁场探头均为独立的个体，二者不能同时工作，也就是在测量电磁辐射源的电场分量和磁场分量时，需按需要更换探头，操作步骤繁琐。
[0003]另外，由于近场电磁辐射的电场分量和磁场分量的比值并不固定，所以近场测量的电场和磁场结果均不能单独反映出辐射源或辐射出去的电磁平面波能量。
[0004]针对上述问题，现有技术中通常采用以下两种解决方案:
[0005]方案1:根据辐射源的特性，以电场或磁场中较强的分量约略等效辐射源的辐射能量。
[0006]该方案的缺点是:因为电场或磁场分量中相对较弱的分量被略去，所以对测试的精确度产生了影响，尤其当相对较弱的分量与较强的分量可比拟时，测试结果会与实际结果有较大差异；
[0007]方案2:分别测量辐射源的电场分量和磁场分量，然后根据测试结果再综合分析辐射源电磁辐射能量。
[0008]该方案的缺点是:1、需要对电场分量和磁场分量分别进行测量，操作复杂度较高；
[0009]2、虽然有电场分量和磁场分量的两个测试结果，但是很难做到对辐射源能量实时、直观的观察与诊断。
【实用新型内容】
[0010]本实用新型所要解决的问题是，提供一种能够同时测量电场分量和磁场分量的近场电磁探头。
[0011]为了解决上述问题，本实用新型提供一种近场电磁探头，包括频谱分析仪和与所述频谱分析仪电连接的同轴线，所述同轴线上同时接有电场探测部和磁场探测部。
[0012]作为优选，所述电场探测部接于所述同轴线的内芯上，所述磁场探测部的一端与所述内芯电连接，另一端与所述同轴线的导电层电连接。
[0013]作为优选，位于所述磁场探测部和电场探测部间的所述内芯上还接有相位偏移电路。
[0014]作为优选，所述磁场探测部为磁场探圈。
[0015]作为优选，所述电场探测部为电导线。
[0016]本实用新型的近场电磁探头的有益效果在于:
[0017]1、可以同时测量出辐射源的电场分量和磁场分量，并进行同向叠加，无需判断辐射源的类型，也不需要分别测量电场分量和磁场分量，操作简便。
[0018]2、通过设置相位偏移电路能够在信号数据传输至频谱分析仪前将近场电磁探头直接测量出的电场分量和磁场分量进行同向叠加，以保证频谱分析仪不仅能够实时能反映出辐射源的辐射能量情况，且大幅提高对辐射源的辐射能量的情况分析的精确性。
【附图说明】
[0019]图1为本实用新型的近场电磁探头的结构示意图。
[0020]附图标记:
[0021]1-频谱分析仪；2-电场探测部；3-磁场探测部;4-相位偏移电路;5-同轴线；6-内芯;7-导电层
【具体实施方式】
[0022]以下结合附图对本实用新型进行详细描述。
[0023]如图1所示，本实用新型公开一种近场电磁探头，包括频谱分析仪I和与频谱分析仪I电连接的同轴线5，进一步地，该同轴线5上还同时接有用于测量辐射源电场分量的电场探测部2和用于测量辐射源磁场分量的磁场探测部3。其中，电场探测部2接于同轴线5的内芯6上，磁场探测部3的一端与同轴线5的内芯6电连接，另一端与同轴线5的导电层7电连接以使电场探测部2、磁场探测部3、同轴线5和频谱分析仪I间形成完整的电流回路。
[0024]本实施例中的磁场探测部3为磁场探圈。电场探测部2为能够感应出辐射源电场的感应电动势的电导线。
[0025]进一步地，本实施例中的同轴线5的内芯6上位于磁场探测部3和电场探测部2之间的部分上还接有相位偏移电路4。而之所以在电场探测部2和磁场探测部3间设置相位偏移电路4，是因为磁场探测部3测量到的磁场分量和电场探测部2测量到的电场分量通常存在相位差，也就是磁场探测部3因近场磁通量的变化而感应出代表磁场分量的感应电动势(根据法拉第电磁感应定律，磁场探测部3在探测磁场时，会感应出感应电流，感应电流在探圈内阻上产生压降形成感应电压)，电场探测部2因电场耦合而感应出代表电场分量的感应电动势，代表两种分量的感应电动势通常存在相位差。如果将代表两分量的电动势直接叠加有可能会产生相互削弱的现象，若将该被削弱后的感应电动势传输至频谱分析仪I中进行分析，那么分析结果的误差必然较大。而通过在两探测部间设置相位偏移电路4可将代表电场分量和磁场分量的感应电动势转换为相同的相位后再进行叠加。也就是代表两分量的感应电动势通过相位偏移电路4将相位偏移到相互叠加的角度后再进行叠加，S卩，实现电场和磁场感应电动势的同向叠加，以使频谱分析仪I通过同轴线5接收到的信号数据精准度高，进而保证频谱分析仪I能够根据电场分量和磁场分量的感应电动势实时、精确地反映出被测辐射源的辐射能量情况，而不受辐射源性质的影响，即，有效避免了频谱分析仪I发生分析结果误差较大的现象，从而为辐射源的分析和诊断提供更为精确和直观的支持。
[0026]以上实施例仅为本实用新型的示例性实施例，不用于限制本实用新型，本实用新型的保护范围由权利要求书限定。本领域技术人员可以在本实用新型的实质和保护范围内，对本实用新型做出各种修改或等同替换，这种修改或等同替换也应视为落在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种近场电磁探头，包括频谱分析仪和与所述频谱分析仪电连接的同轴线，其特征在于，所述同轴线上同时接有电场探测部和磁场探测部。2.根据权利要求1所述的电磁探头，其特征在于，所述电场探测部接于所述同轴线的内芯上，所述磁场探测部的一端与所述内芯电连接，另一端与所述同轴线的导电层电连接。3.根据权利要求2所述的近场电磁探头，其特征在于，位于所述磁场探测部和电场探测部间的所述内芯上还接有相位偏移电路。4.根据权利要求1-3中任一项所述的近场电磁探头，其特征在于，所述磁场探测部为磁场探圈。5.根据权利要求1-3中任一项所述的近场电磁探头，其特征在于，所述电场探测部为电导线。
【专利摘要】本实用新型提供一种近场电磁探头，包括频谱分析仪和与所述频谱分析仪电连接的同轴线，所述同轴线上同时接有电场探测部和磁场探测部。本实用新型提供的近场电磁探头可以同时测量出辐射源的电场分量和磁场分量，并进行同向叠加，无需判断辐射源的类型，也不需要分别测量电场分量和磁场分量，操作简便。
【IPC分类】G01R29/08
【公开号】CN205120840
【申请号】CN201520931988
【发明人】魏伟, 邹学文, 丁燕, 梁书芳
【申请人】合肥联宝信息技术有限公司
【公开日】2016年3月30日
【申请日】2015年11月19日