一种晶片强度检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种检测装置，具体涉及一种晶片强度检测装置。
【背景技术】
[0002]抗拉强度测试仪，拉伸性能，拉伸强度与变形率，拉断力，抗撕裂性能，热封强度性能，滚筒剥离试验，90度剥离，绳类拉断力，裤型撕裂力，180度剥离，压缩试验，弯曲试验，剪切试验，顶破试验等完成不同的试验，根据客户的需求不同，可以安装不同的夹具，宽试样夹具，日式夹具。现有的抗拉强度测试仪不方便对晶片的强度进行检测。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种可以将待检测的晶片放置在检测台上，可以将待检测的晶片安装在压力传感片上，旋管的旋转可以控制压管沿着导向管实现移动，从而方便对压头进行升降控制，通过压头方便对晶片进行压破，从而方便对晶片强度进行检测的晶片强度检测装置。
[0004]为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是:
[0005]—种晶片强度检测装置，包括检测台，检测台的一端设置在第一底座上，第一底座上设有第一支撑柱，第一支撑柱呈竖直布置，检测台的一端设置在第一支撑柱上;检测台的另一端设置在第二底座上，第二底座上设有第二支撑柱，第二支撑柱呈竖直布置，检测台的另一端设置在第二支撑柱上;检测台设有检测槽;检测台的一端上设有第一支撑杆，第一支撑杆为弧形形状，第一支撑杆的端部设有第一限位板，第一限位板呈水平布置，第一限位板的下方设有第一锁片，第一限位板插接有第一锁杆，第一锁杆的下端与第一锁片连接，第一锁杆的上端为自由端;检测台的另一端上设有第二支撑杆，第二支撑杆为弧形形状，第二支撑杆的端部设有第二限位板，第二限位板的下方设有第二锁片，第二限位板插接有第二锁杆，第二锁杆的下端与第二锁片连接，第二锁杆的上端为自由端;第一限位板与第二限位板之间设有扣杆，扣杆设有导向管，导向管呈竖直布置，导向管内套装有压管，导向管的下端设有旋管，旋管与压管通过螺纹连接，压管的下端设有压头，检测台上设有第一压力传感片与第二压力传感片，第一压力传感片设置在第一锁片的下方，第二压力传感片设置在第二锁片的下方，检测台设有压力检测器，第一压力传感片、第二压力传感片分别与压力检测器连接。
[0006]进一步的，所述第一锁杆的上端设有第一旋帽。
[0007]进一步的，所述第一旋帽的外表面设有防滑纹。
[0008]进一步的，所述第二锁杆的上端设有第二旋帽。
[0009]进一步的，所述第二旋帽的外表面设有防滑纹。
[0010]采用上述结构后，本实用新型有益效果为:可以将待检测的晶片放置在检测台上，可以将待检测的晶片的一端安装在第一压力传感片上，可以将待检测的晶片的另一端安装在第二压力传感片上，通过第一锁片与第二锁片可以使晶片锁接更加牢固；旋管的旋转可以控制压管沿着导向管实现移动，从而方便对压头进行升降控制，通过压头方便对晶片进行压破，从而方便对晶片强度进行检测。
【附图说明】
[0011]图1是本实用新型的结构示意图；
[0012]附图标记说明:
[0013]检测台11、第一底座12、第一支撑柱13、第二底座14、第二支撑柱15、检测槽16、第一支撑杆17、第一限位板18、第一锁片19、第一锁杆20、第一旋帽21、第二支撑杆22、第二限位板23、第二锁片24、第二锁杆25、第二旋帽26、扣杆27、导向管28、压管29、旋管30、压头31、第一压力传感片32、第二压力传感片33、压力检测器34。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。
[0015]如图1所示，本实用新型所述的一种晶片强度检测装置，包括检测台11，检测台11的一端设置在第一底座12上，第一底座12上设有第一支撑柱13，第一支撑柱13呈竖直布置，检测台11的一端设置在第一支撑柱13上;检测台11的另一端设置在第二底座14上，第二底座14上设有第二支撑柱15，第二支撑柱15呈竖直布置，检测台11的另一端设置在第二支撑柱15上;检测台11设有检测槽16;检测台11的一端上设有第一支撑杆17，第一支撑杆17为弧形形状，第一支撑杆17的端部设有第一限位板18，第一限位板18呈水平布置，第一限位板18的下方设有第一锁片19，第一限位板18插接有第一锁杆20，第一锁杆20的下端与第一锁片19连接，第一锁杆20的上端为自由端;检测台11的另一端上设有第二支撑杆22，第二支撑杆22为弧形形状，第二支撑杆22的端部设有第二限位板23，第二限位板23的下方设有第二锁片24，第二限位板23插接有第二锁杆25，第二锁杆25的下端与第二锁片24连接，第二锁杆25的上端为自由端;第一限位板18与第二限位板23之间设有扣杆27，扣杆27设有导向管28，导向管28呈竖直布置，导向管28内套装有压管29，导向管28的下端设有旋管30，旋管30与压管29通过螺纹连接，压管29的下端设有压头31，检测台11上设有第一压力传感片32与第二压力传感片33，第一压力传感片32设置在第一锁片19的下方，第二压力传感片33设置在第二锁片24的下方，检测台11设有压力检测器34，第一压力传感片32、第二压力传感片33分别与压力检测器34连接;第一锁杆20的上端设有第一旋帽21，第一旋帽21的外表面设有防滑纹，第二锁杆25的上端设有第二旋帽26，第二旋帽26的外表面设有防滑纹。
[0016]本实用新型晶片强度检测装置，可以将待检测的晶片放置在检测台11上，可以将待检测的晶片的一端安装在第一压力传感片32上，可以将待检测的晶片的另一端安装在第二压力传感片33上，通过第一锁片19与第二锁片24可以使晶片锁接更加牢固；旋管30的旋转可以控制压管29沿着导向管28实现移动，从而方便对压头31进行升降控制，通过压头31方便对晶片进行压破，从而方便对晶片强度进行检测。
[0017]其中，第一锁杆20的上端设有第一旋帽21，第一旋帽21的外表面设有防滑纹，所以通过第一旋帽21方便对第一锁杆20进行转动控制。
[0018]其中，第二锁杆25的上端设有第二旋帽26，第二旋帽26的外表面设有防滑纹，所以通过第二旋帽26方便对第二锁杆25进行转动控制。
[0019]以上所述仅是本实用新型的较佳实施方式，故凡依本实用新型专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包括于本实用新型专利申请范围内。
【主权项】
1.一种晶片强度检测装置，包括检测台(11)，其特征在于:检测台(11)的一端设置在第一底座(12)上，第一底座(12)上设有第一支撑柱(13)，第一支撑柱(13)呈竖直布置，检测台(11)的一端设置在第一支撑柱(13)上;检测台(11)的另一端设置在第二底座(14)上，第二底座(14)上设有第二支撑柱(15)，第二支撑柱(15)呈竖直布置，检测台(11)的另一端设置在第二支撑柱(15)上;检测台(11)设有检测槽(16);检测台(11)的一端上设有第一支撑杆(17)，第一支撑杆(17)为弧形形状，第一支撑杆(17)的端部设有第一限位板(18)，第一限位板(18)呈水平布置，第一限位板(18)的下方设有第一锁片(19)，第一限位板(18)插接有第一锁杆(20)，第一锁杆(20)的下端与第一锁片(19)连接，第一锁杆(20)的上端为自由端;检测台(11)的另一端上设有第二支撑杆(22)，第二支撑杆(22)为弧形形状，第二支撑杆(22)的端部设有第二限位板(23)，第二限位板(23)的下方设有第二锁片(24)，第二限位板(23)插接有第二锁杆(25)，第二锁杆(25)的下端与第二锁片(24)连接，第二锁杆(25)的上端为自由端;第一限位板(18)与第二限位板(23)之间设有扣杆(27)，扣杆(27)设有导向管(28)，导向管(28)呈竖直布置，导向管(28)内套装有压管(29)，导向管(28)的下端设有旋管(30)，旋管(30)与压管(29)通过螺纹连接，压管(29)的下端设有压头(31)，检测台(11)上设有第一压力传感片(32)与第二压力传感片(33)，第一压力传感片(32)设置在第一锁片(19)的下方，第二压力传感片(33)设置在第二锁片(24)的下方，检测台(11)设有压力检测器(34)，第一压力传感片(32)、第二压力传感片(33)分别与压力检测器(34)连接。2.根据权利要求1所述的晶片强度检测装置，其特征在于:第一锁杆(20)的上端设有第一旋帽(21)。3.根据权利要求2所述的晶片强度检测装置，其特征在于:第一旋帽(21)的外表面设有防滑纹。4.根据权利要求1所述的晶片强度检测装置，其特征在于:第二锁杆(25)的上端设有第二旋帽(26)。5.根据权利要求4所述的晶片强度检测装置，其特征在于:第二旋帽(26)的外表面设有防滑纹。
【专利摘要】本实用新型涉及一种晶片强度检测装置，包括检测台，检测台设有检测槽；检测台设有支撑杆，支撑杆的端部设有限位板，限位板的下方设有锁片，限位板之间设有扣杆，导向管内套装有压管，导向管的下端设有旋管，旋管与压管通过螺纹连接，压管的下端设有压头，检测台上设有压力传感片，压力传感片设置在锁片的下方，压力传感片与压力检测器连接。本实用新型方便对压头进行升降控制，通过压头方便对晶片进行压破，从而方便对晶片强度进行检测。
【IPC分类】G01N3/08
【公开号】CN205209888
【申请号】CN201521026876
【发明人】许春杰, 谢保卫
【申请人】江苏润丽光能科技发展有限公司
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2015年12月10日