基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于机器视觉缺陷检测技术领域，具体涉及基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置。
【背景技术】
[0002]光伏行业中，硅片作为太阳能电池片的原料，其质量直接决定后续生产环节的半成品、成品的品质，因此需要针对硅片进行及时有效的外观缺陷检测。目前，很多企业中都有相关的电池片检测装置，但这些设备在使用环境发生变化时很难进行快速有效的调整，灵活性不强，并且仅针对某种缺陷检测有效，不具备广泛的适用性，无法满足越来越多企业低成本下的现代快生产的需求。
【实用新型内容】
[0003]实用新型目的:本实用新型提供基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置，结构简单，实现硅片外观缺陷检测的同时，降低了成本。
[0004]技术方案:为实现上述实用新型目的，本实用新型采用如下技术方案:基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置，包括CCD相机、相机支架、光源、光源支架、箱体框架、箱体支架和凹槽;所述的箱体框架为底面开口的箱体结构，其包括前、后、左、右四个侧面和顶面;所述的箱体框架的前、后侧面的底部的对边与单向传送带的传送方向垂直，所述的箱体框架的左、右侧面的底部的对边通过箱体支架架设在双向传送带上，双向传送带与单向传送带位于同一平面且相互垂直;配合后，在所述的箱体框架的底面形成检测平台；在所述箱体框架的左、右侧面的中心均分别设置凹槽，在所述的凹槽上均分别设置相机支架和光源支架，所述的CCD相机通过对称设置的相机支架固定，所述的光源通过对称设置的光源支架固定。
[0005]所述的CCD相机通过相机支架固定在箱体框架顶面与检测平台之间；所述的光源通过光源支架固定在CCD相机与检测平台之间。
[0006]所述的光源为方形光源。
[0007]所述的凹槽为竖直条形。
[0008]在所述的箱体框架的前侧面设置开窗。
[0009]在所述的箱体支架上设有通孔。
[0010]有益效果:与现有技术相比，本实用新型的基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置通过设置配合使用的箱体框架和支架，实现了对硅片外观缺陷的在线检测图像采集;通过设置方形LED光源，并置于相机镜头底部，在视场内实现均匀打光并有效呈现硅片缺陷，并能够进行适应性地灵活调节相机参数、相机位置、光源位置、易于安装等优点，在生产检测的环节中极大提高了检测精度与速度，有效节约了成本;本实用新型的装置结构科学，易于推广应用，具备良好的实用性。
【附图说明】
[0011]图1为基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置的内部结构示意图。
【具体实施方式】
[0012]以下结合附图和【具体实施方式】对本实用新型做进一步的说明。
[0013]如图1所示，基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置，包括CCD相机1、相机支架2、光源3、光源支架4、箱体框架5、开窗6、箱体支架7和凹槽8。从左至右依次为相机支架2和光源支架4。
[0014]箱体框架5为底面开口的箱体结构，其包括前、后、左、右四个侧面和顶面。
[0015]箱体框架5的前、后侧面的底部的对边与单向传送带9的传送方向垂直，所述的箱体框架5的左、右侧面的底部的对边通过箱体支架7架设在双向传送带10上，双向传送带10与单向传送带9位于同一平面且相互垂直，单向传送带9和双向传送带10均分别贯穿箱体框架5，便于输送硅片；配合后，在箱体框架5的底面形成检测平台。经检测不合格的硅片会经过双向传送带10输出，合格的硅片经单向传送带9继续传送。
[0016]在箱体框架5的左、右侧面的中心均分别设置凹槽8，凹槽8设置在左、右侧面的的内壁上，凹槽8为竖直条形。在凹槽8上均分别设置相机支架2和光源支架4，CCD相机I通过对称设置的相机支架2固定，光源3通过对称设置的光源支架4固定。光源3为方形光源。CCD相机I通过相机支架2固定在箱体框架5顶面与检测平台之间；光源3通过光源支架4固定在箱体内相机与检测平台之间。
[0017]在箱体框架5的前侧面设置开窗6。在箱体支架7上设有通孔，箱体支架7通过螺丝螺母固定在生产线上视觉检测部分的相应位置。
[0018]相机支架2和光源支架4的外端通过旋钮调节伸缩长度固定在两侧凹槽8内，相机支架2和光源支架4的内端通过螺丝螺母分别固定CCD相机1、光源3;根据所需视场或物距大小调整所述相机支架2、光源支架4的伸缩长度，进而调整CCD相机I和光源3的高度，确保硅片表面打光均匀，成像清晰，满足检测所需图像质量要求。
[0019]工作过程:硅片到达指定位置时，由光电传感器触发CCD相机I，通过相机支架2和光源支架4，CCD相机I和光源3的配合，从检测平台获取硅片图像，完成硅片外观缺陷检测，如果检测结果为合格，则直接由单向传送带9流出，如果检测结果为不合格，则根据不同的检测结果由双向传送带10的左右两端分别流出。
【主权项】
1.基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置，其特征在于:包括CCD相机(I)、相机支架(2)、光源(3)、光源支架(4)、箱体框架(5)、箱体支架(7)和凹槽(8);所述的箱体框架(5)为底面开口的箱体结构，其包括前、后、左、右四个侧面和顶面;所述的箱体框架(5)的前、后侧面的底部的对边与单向传送带(9 )的传送方向垂直，所述的箱体框架(5 )的左、右侧面的底部的对边通过箱体支架(7)架设在双向传送带(10)上，双向传送带(10)与单向传送带(9)位于同一平面且相互垂直;配合后，在所述的箱体框架(5)的底面形成检测平台；在所述箱体框架(5)的左、右侧面的中心均分别设置凹槽(8)，在所述的凹槽(8)上均分别设置相机支架(2)和光源支架(4)，所述的CCD相机(I)通过对称设置的相机支架(2)固定，所述的光源(3)通过对称设置的光源支架(4)固定。2.根据权利要求1所述的基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置，其特征在于:所述的CCD相机(I)通过相机支架(2)固定在箱体框架(5)顶面与检测平台之间；所述的光源(3)通过光源支架(4)固定在C⑶相机(I)与检测平台之间。3.根据权利要求1所述的基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置，其特征在于:所述的光源(3)为方形光源。4.根据权利要求1所述的基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置，其特征在于:所述的凹槽(8)为竖直条形。5.根据权利要求1所述的基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置，其特征在于:在所述的箱体框架(5)的前侧面设置开窗(6)。6.根据权利要求1所述的基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置，其特征在于:在所述的箱体支架(7)上设有通孔。
【专利摘要】本实用新型公开了基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置，属于机器视觉缺陷检测技术领域，基于机器视觉的原料硅片表面划痕检测装置，包括箱体框架，箱体框架为底面开口的箱体结构，其包括前、后、左、右四个侧面和顶面；箱体框架的前、后侧面的底部的对边与单向传送带的传送方向垂直，箱体框架的左、右侧面的底部的对边通过箱体支架架设在双向传送带上，双向传送带与单向传送带位于同一平面且相互垂直；该装置在太阳能电池片生产检测的环节中极大提高了检测精度与效率，有效降低了成本；且结构科学，易于推广应用，具备良好的实用性。
【IPC分类】G01N21/95
【公开号】CN205246566
【申请号】CN201520839566
【发明人】孙智权, 童钢, 周奇, 张千
【申请人】镇江苏仪德科技有限公司
【公开日】2016年5月18日
【申请日】2015年10月28日