一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置的制造方法

文档序号:10354272阅读:225来源:国知局
一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种磁光克尔效应实验设备,尤其涉及一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置。
【背景技术】
[0002]目前,国内对磁光克尔的研究主要集中在磁光记录及生物物理方面,在近年来吸引越来越多人的关注。目前实验室的磁光克尔实验设备只能对标配的铁镍合金样品进行测试,实验装置调节过程繁琐,且难以达到准直状态,测量结果精度不高。
[0003]因此,现在市场上亟需设计一种新的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置。
【实用新型内容】
[0004]为了克服现有技术的上述不足,本实用新型提出了一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,该装置可简化磁光克尔效应实验的调节过程,并能提高实验精度。
[0005]本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,包括:导轨、平衡调节孔和水准仪;其中,所述导轨为长方体,其两短边分别为远端和近端;所述导轨的上表面设置有凸起;所述平衡调节孔设置在所述导轨的长边两侧,其用于放置平衡调节螺丝;所述水准仪设置在所述导轨的远端。
[0006]本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述水准仪包括横向水准仪和纵向水准仪。
[0007]本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述导轨的底部设置有高度调节件。
[0008]本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述高度调节件设置在所述导轨的近端。
[0009]本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述导轨的近端短边为弧形,曲率半径为15cm O
[0010]本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述导轨的长度为75cm0
[0011]本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述导轨的宽度为12cm0
[0012]本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述平衡调节螺丝为尖脚螺丝。
[0013]本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,通过调节平衡调节螺丝,辅以观察所述纵、横两个水准仪,可快速将所述长直导轨调至平衡。
[0014]本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,导轨近端切割为圆弧状,曲率半径为15cm,保证能与磁光克尔效应实验主装置底座完全吻合,使得调节两根导轨张角的同时,光路始终通过实验样品中央。
[0015]本实用新型的有益效果在于:本实用新型可使调节实验光路准直的过程快速、便捷,实验过程中光路更加稳定,不易受外界干扰,能提高实验稳定性。同时精度提高,改进后的磁光克尔效应实验装置可用于非标准样品的测量,得到较理想的实验数据。
【附图说明】
[0016]图1为本实用新型提高磁光克尔效应实验精度的调节装置的结构示意图。
[0017]图2为本实用新型提高磁光克尔效应实验精度的调节装置的正视图。
[0018]图3为本实用新型中导轨的弧形端放大图。
[0019]图4为本实用新型中平衡调节螺丝与导轨连接装置示意图。
[0020]图5为本实用新型中平衡调节螺丝的放大图。
【具体实施方式】
[0021]结合以下具体实施例和附图,对发明作进一步的详细说明。实施本发明的过程、条件、实验方法等,除以下专门提及的内容之外,均为本领域的普遍知识和公知常识,本发明没有特别限制内容。
[0022]如图1和图5所示,本实用新型提出了一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,包括:导轨1、平衡调节孔2和水准仪3。
[0023]其中,导轨I为长方体,其两短边分别为远端和近端。导轨I的上表面设置有凸起U,凸起部分与实验所配光具座匹配,所有光具座螺丝拧紧后,其中轴线处于同一直线。平衡调节孔2设置在导轨I的长边两侧,其用于放置平衡调节螺丝21。水准仪3设置在导轨I的远端。
[0024]本实用新型中,水准仪3包括横向水准仪31和纵向水准仪32。
[0025]本实用新型中,导轨I的底部设置有高度调节件4。
[0026]本实用新型中,高度调节件4设置在导轨I的近端。
[0027]本实用新型中,导轨I的近端短边为弧形,曲率半径为15cm。
[0028]本实用新型中,导轨I的长度为75cm,能容下实验所放置的若干个光具座,并满足一定的光路间距需要。
[0029]本实用新型中,导轨I的宽度为12cm。
[0030]本实用新型中,平衡调节螺丝21为尖脚螺丝。
[0031]本实用新型在使用时,将平衡调节螺丝21旋入导轨I远端的两平衡调节孔2内。实验时,通过调节两个平衡调节螺丝21,调节导轨I的平衡。调节同时,可通过观察导轨I上方的水准仪3,来判断导轨I是否平衡。必要时,可调节高度调节件4和平衡调节螺丝21,来改变导轨I的整体高度。实验时,使得导轨I的圆弧端紧贴实验的主装置底座,以确保入射光射入装置中心的样品并能通过导轨I上所放置光具座的中轴线。
[0032]利用本实用新型进行测量的具体步骤如下:
[0033]步骤一:将平衡调节螺丝21旋进导轨I所设置的两平衡调节孔2内。
[0034]步骤二:将两条实验用导轨I分别紧贴实验主装置底座放置,并呈一定的角度。
[0035]步骤三:调节高度调节件4至适宜高度,调节平衡调节螺丝21,同时观察水准仪3,将导轨I调至水平。
[0036]步骤四:将各个光具座放置在两条导轨I上,调节光路准直,并锁紧。实验并测量数据。
[0037]本发明的保护内容不局限于以上实施例。在不背离发明构思的精神和范围下,本领域技术人员能够想到的变化和优点都被包括在本发明中,并且以所附的权利要求书为保护范围
【主权项】
1.一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,其特征在于,包括:导轨(I)、平衡调节孔(2)和水准仪(3);其中, 所述导轨(I)为长方体,其两短边分别为远端和近端; 所述导轨(I)的上表面设置有凸起(11); 所述平衡调节孔(2)设置在所述导轨(I)的长边两侧,其用于放置平衡调节螺丝(21); 所述水准仪(3)设置在所述导轨(I)的远端。2.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,其特征在于,所述水准仪(3)包括横向水准仪(31)和纵向水准仪(32)。3.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,其特征在于,所述导轨(I)的底部设置有高度调节件(4)。4.如权利要求3所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,其特征在于,所述高度调节件(4)设置在所述导轨(I)的近端。5.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,其特征在于,所述导轨(I)的近端短边为弧形,曲率半径为15cmO6.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,其特征在于,所述导轨(I)的长度为75Cm07.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,其特征在于,所述导轨(I)的宽度为I2Cm08.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,其特征在于,所述平衡调节螺丝(21)为尖脚螺丝。
【专利摘要】本实用新型公开了一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,其由导轨、平衡调节孔和水准仪组成;导轨的长度应能容纳实验所放置的若干个光具座,并满足一定的光路间距需要;导轨顶部凸起部分与实验用光具座匹配,所有光具座螺丝拧紧后,其中轴线处于同一直线;导轨远端的两个平衡调节孔放置平衡调节螺丝,通过调节两个平衡调节螺丝,可以调节导轨的水平;导轨近端有高度可调支撑件,配合远端两个平衡调节螺丝,可改变导轨高度;导轨近端切割为弧形,曲率半径为15cm,与磁光克尔效应实验主装置底座完全吻合,保证调节两导轨张角的同时,光路始终通过待测样品中央。本实用新型可简化磁光克尔效应实验的调节过程,并能提高实验精度。
【IPC分类】G01N21/01
【公开号】CN205280568
【申请号】CN201520987115
【发明人】王春梅, 李 赫, 傅方杰, 阮建中, 沈国土
【申请人】华东师范大学
【公开日】2016年6月1日
【申请日】2015年12月2日
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1