一种芯片测试夹的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测试夹技术领域，尤其涉及一种芯片测试夹。
【背景技术】
[0002]随着科技的发展，电子芯片已经越来越多的被运用到我们的生活及生产中。芯片以其高度的集成功能及稳定的性能被广泛应用。在测试集成芯片功能及好坏时，为了测试的方便快捷，通常都会用到测试夹。
[0003]当遇到空间较紧密的器件时，传统的芯片测试夹的结构过宽无法在芯片布局较紧密的电路板上使用，通常都需要利用独立的小夹子与各测试脚单独连接进行测试，使用极为不便。
[0004]因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型的目的是克服现有技术的不足，提供一种芯片测试夹。
[0006]本实用新型的技术方案如下:本实用新型提供一种芯片测试夹，包括第一本体、第二本体和连接装置，所述第一本体和所述第二本体通过连接装置旋转连接，所述第一本体和所述第二本体的一端设置有若干连接脚，所述第一本体和所述第二本体的另一端上设置有滑动片，所述滑动片一侧上设置有若干测试脚，所述滑动片的另一侧设置有与所述测试脚连接的金属片，所述金属片与所述连接脚连接的金属槽连接，所述金属片能够卡合于所述金属槽内。
[0007]本实用新型优选的，所述滑动片通过滑动卡槽安装于所述第一本体和第二本体的一端上。
[0008]本实用新型优选的，所述连接装置包括第一连接杆、第二连接杆、旋转轴和弧形旋转片，所述第一连接杆和所述第二连接杆的一端安装于所述旋转轴的两侧，所述第一连接杆的另一端与所述第一本体连接，所述第二连接杆的另一端与所述第二本体连接，所述弧形旋转片上设置有滑槽，所述第一本体和所述第二本体上设置的第一滑竿和第二滑竿置于所述滑槽内，且能够滑动。
[0009]采用上述方案，本实用新型将油热辊涂胶机上所有和温度控制有关的所有设备都集成在了主机内部，并通过触摸屏的工控程序把所有和温度有关的控制体统整合在了主机台操作人员的右手边，操作人员无需离开控制台，即可简单直观的对几台所有温度点进行监控及控制。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型所述一种芯片测试夹的结构示意图；
[0011 ]图2为本实用新型所述滑动片的俯视结构示意图；
[0012]图3为本实用新型所述第一本体的仰视结构示意图。
【具体实施方式】
[0013]以下结合附图和具体实施例，对本实用新型进行详细说明。
[0014]请参阅图1、图2和图3，本实用新型提供一种芯片测试夹，包括第一本体1、第二本体2和连接装置，第一本体I和第二本体2通过连接装置旋转连接，第一本体I和第二本体2的一端设置有若干连接脚10，第一本体I和第二本体2的另一端上设置有滑动片3，滑动片3—侧上设置有若干测试脚5，滑动片3的另一侧设置有与测试脚5连接的金属片13，金属片13与连接脚10连接的金属槽14连接，金属片13能够卡合于金属槽14内，滑动片3通过滑动卡槽4安装于第一本体I和第二本体2的一端上。
[0015]如图1所示，连接装置包括第一连接杆8、第二连接杆7、旋转轴6和弧形旋转片9，第一连接杆8和第二连接杆7的一端安装于旋转轴6的两侧，第一连接杆8的另一端与第一本体I连接，第二连接杆7的另一端与第二本体2连接，弧形旋转片9上设置有滑槽15，第一本体I和第二本体2上设置的第一滑竿12和第二滑竿11置于滑槽15内，且能够滑动。
[0016]综上所述，本实用新型提供一种芯片测试夹，一方面通过将滑动片设置为滑动式结构，并且测试脚和连接脚通过金属片和金属槽进行滑动位置后接触，另一方面通过设置连接装置，可以调节第一本体和第二本体上设置的测试脚之间的间距，可以应对不同大小的芯片测试需求;本实用新型具有结构简单、性能稳定和实用寿命较长的优点。
[0017]以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种芯片测试夹，其特征在于，包括第一本体、第二本体和连接装置，所述第一本体和所述第二本体通过连接装置旋转连接，所述第一本体和所述第二本体的一端设置有若干连接脚，所述第一本体和所述第二本体的另一端上设置有滑动片，所述滑动片一侧上设置有若干测试脚，所述滑动片的另一侧设置有与所述测试脚连接的金属片，所述金属片与所述连接脚连接的金属槽连接，所述金属片能够卡合于所述金属槽内。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试夹，其特征在于，所述滑动片通过滑动卡槽安装于所述第一本体和所述第二本体的一端上。3.根据权利要求2所述的一种芯片测试夹，其特征在于，所述连接装置包括第一连接杆、第二连接杆、旋转轴和弧形旋转片，所述第一连接杆和所述第二连接杆的一端安装于所述旋转轴的两侧，所述第一连接杆的另一端与所述第一本体连接，所述第二连接杆的另一端与所述第二本体连接，所述弧形旋转片上设置有滑槽，所述第一本体和所述第二本体上设置的第一滑竿和第二滑竿置于所述滑槽内，且能够滑动。
【专利摘要】本实用新型公开一种芯片测试夹，包括第一本体、第二本体和连接装置，所述第一本体和所述第二本体通过连接装置旋转连接。本实用新型一方面通过将滑动片设置为滑动式结构，并且测试脚和连接脚通过金属片和金属槽进行滑动位置后接触，另一方面通过设置连接装置，可以调节第一本体和第二本体上设置的测试脚之间的间距，可以应对不同大小的芯片测试需求；本实用新型具有结构简单、性能稳定和实用寿命较长的优点。
【IPC分类】G01R1/04
【公开号】CN205333682
【申请号】CN201520821392
【发明人】徐建高
【申请人】北京易豪伟业弱电系统工程技术有限公司
【公开日】2016年6月22日
【申请日】2015年10月23日