一种带有锥形头的测试针的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种带有锥形头的测试针。
【背景技术】
[0002]—般而言，在电路板的制造过程中，有许多外在因素会影响生产中的电路板，例如组件的损坏、缺件、线路短路、线路开路、零件不良、机台的异常或人为疏失等。因此，为了对电子产品的出货质量进行控管，在完成电路板的制造过程后，通常制造商会先藉由自动化设备对电路板进行电性测试，并利用测量的数据来加以判断电路板上各组件的电性参数是否正常，藉以预先确认电路板的质量是否符合规范，让使用电路板的电子产品合乎质量标准。
[0003]因此，考虑到电路板生产完成后的测试需求，在电路设计时，便会在电路板上设置许多的测试点，以利后续利用自动化设备对电路板进行测试。具体而言，当电路板在进行测试时，可藉由设置于自动化设备上的测试针接触电路板的测试点，并输入测试信号至电路板进行测试，并根据自动化设备计算机测量的信号来判断电路板的功能是否正常。此外，在电路板上的测试点一般为零件脚或焊接点(soldering point)。
[0004]常见的电路板测试点是在各测试点的表面附着锡膏以形成球状的凸起结构。之后，通过自动化设备的测试针直接接触位于测试点的球状的凸起结构，再加以测量相关的电性参数，例如电阻值、电容值或电感值等。此外，由于电路板的组件仅设置于同一表面已成为发展的趋势，为了减少锡膏印刷设备与人力成本，测试点上膏的方式已由传统的锡膏印刷改为波峰焊上锡。
[0005]然而，若使用波峰焊上锡的方式，大量的助焊剂可能会残留在电路板上的测试点与零件脚上，使得自动化设备上未经设计的测试针易被助焊剂附着，导致测量时测试针与零件脚接触不良，影响自动化设备测试时的稳定性。也就是说，当测试针易被助焊剂附着时，可能会造成测量错误而使产能降低，并增加制造的成本。因此，需要提供一种带有锥形头的测试针以解决上述问题。
【实用新型内容】
[0006]本实用新型提供了一种定位稳定可靠，且不会造成异物残留的测试针。
[0007]为达此目的，本实用新型采用以下技术方案:
[0008]—种带有锥形头的测试针，该测试针包括锥形针头部及圆周均布于所述锥形针头部的偶数个测试部，相邻测试部之间形成V字形开槽，所述V字形开槽相互贯通，且所述V字形开槽的两侧壁设置为弧形。
[0009]其中，相邻所述V字形开槽的一相邻面之间设置有交线，所述交线形成所述测试部的内侧棱。
[0010]其中，所述测试部设置为4个且两两相对设置。
[0011]其中，相对设置的测试部的内侧棱之间相互垂直。
[0012]其中，所述锥形针头部的锥度小于70度。
[0013]本实用新型的有益效果:本实用新型包括锥形针头部及圆周均布于所述锥形针头部的偶数个测试部，相邻测试部之间形成V字形开槽，所述V字形开槽相互贯通，且所述V字形开槽的两侧壁设置为弧形。此结构设计的测试针，利于助焊剂的排出，使助焊剂或其他异物不易残留于测试体上，能够确保测试针稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚，不易滑开。
【附图说明】
[0014]图1是本实用新型一种带有锥形头的测试针针头部的轴测图。
[0015]图2是本实用新型一种带有锥形头的测试针针头部的主视图。
【具体实施方式】
[0016]下面结合附图1至图2所示并通过【具体实施方式】来进一步说明本实用新型的技术方案。
[0017]—种带有锥形头的测试针，该测试针包括锥形针头部I及圆周均布于所述锥形针头部I的偶数个测试部2，相邻测试部2之间形成V字形开槽3，所述V字形开槽3相互贯通，且所述V字形开槽3的两侧壁设置为弧形。优选的，弧形设置为螺旋状或向V字形开槽3内部凸起状设置，以此便于稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚，不易滑开。
[0018]进一步优选的，相邻所述V字形开槽3的一相邻面之间设置有交线，所述交线形成所述测试部2的内侧棱21，作为优选，测试部2呈三棱形设置，且3条侧棱的焦点位于锥形针头部I的边缘处。
[0019]进一步优选的，所述测试部2设置为4个且两两相对设置，相对设置的测试部2的内侦懒21之间相互垂直。此结构设计，方便测试部2的加工，方便快捷，省时省力。
[0020]其中，所述锥形针头部的锥度小于70度，优选为65度
[0021]通过上述结构设计的测试针，利于助焊剂的排出，使助焊剂或其他异物不易残留于测试针的测试体上，进而提升测试针的使用寿命，降低产品制造的成本，此外，测试针可稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚，不易滑开。
[0022]以上结合具体实施例描述了本实用新型的技术原理。这些描述只是为了解释本实用新型的原理，而不能以任何方式解释为对本实用新型保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本实用新型的其它【具体实施方式】，这些方式都将落入本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种带有锥形头的测试针，其特征在于，该测试针包括锥形针头部及圆周均布于所述锥形针头部的偶数个测试部，相邻测试部之间形成V字形开槽，所述V字形开槽相互贯通，且所述V字形开槽的两侧壁设置为弧形。2.根据权利要求1所述的一种带有锥形头的测试针，其特征在于，相邻所述V字形开槽的一相邻面之间设置有交线，所述交线形成所述测试部的内侧棱。3.根据权利要求2所述的一种带有锥形头的测试针，其特征在于，所述测试部设置为4个且两两相对设置。4.根据权利要求3所述的一种带有锥形头的测试针，其特征在于，相对设置的测试部的内侧棱之间相互垂直。5.根据权利要求1所述的一种带有锥形头的测试针，其特征在于，所述锥形针头部的锥度小于70度。
【专利摘要】本实用新型公开了一种带有锥形头的测试针，包括锥形针头部及圆周均布于所述锥形针头部的偶数个测试部，相邻测试部之间形成V字形开槽，所述V字形开槽相互贯通，且所述V字形开槽的两侧壁设置为弧形。此结构设计的测试针，利于助焊剂的排出，使助焊剂或其他异物不易残留于测试体上，能够确保测试针稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚，不易滑开。
【IPC分类】G01R31/28, G01R1/067
【公开号】CN205333700
【申请号】CN201521041184
【发明人】钟兴彬
【申请人】深圳市新富城电子有限公司
【公开日】2016年6月22日
【申请日】2015年12月14日