傅立叶变换红外光谱仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于检测仪器技术领域，尤其涉及一种傅立叶变换红外光谱仪。
【背景技术】
[0002]傅立叶变换红外光谱是利用迈克尔逊干涉仪将检测光(红外光)分成两束，在动镜和定镜上反射回分束器上，这两束光是宽带的相干光，会发生干涉。相干的红外光照射到样品上，经检测器采集，获得含有样品信息的红外干涉图数据，经过计算机对数据进行傅立叶变换后，得到样品的红外光谱图。傅立叶变换红外光谱具有扫描速率快，分辨率高，稳定的可重复性等特点，目前被广泛使用。目前实际使用的光谱仪，控制电路板紧贴壳体设置，使电路板只能一面散热，散热效果不佳。
【发明内容】
[0003]本实用新型提供一种傅立叶变换红外光谱仪，以解决上述【背景技术】中提出的电路板散热不佳的问题。
[0004]本实用新型所解决的技术问题采用以下技术方案来实现:
[0005]—种傅立叶变换红外光谱仪，其特征在于:包括底壳、上盖，所述底壳的上表面设有定位凸起，所述上盖的下底面设有与定位凸起相配合的定位凹槽，所述底壳内设有隔断，所述隔断水平设置，所述隔断下方设有样品仓，所述隔断上方设有检测仓，所述样品仓底部设有样品支座，所述样品支座上设有样品支架，所述检测仓内设有下支撑杆，所述下支撑杆水平设置，所述下支撑杆上表面设有第一下支撑柱、第二下支撑柱，所述第一下支撑柱上表面设有第一下限位柱，所述第二下支撑柱上表面设有第二下限位柱，所述上盖下底面设有上支撑杆，所述上支撑杆下底面设有第一上支撑柱、第二上支撑柱，所述第一上支撑柱下底面设有第一上限位柱，所述第二上支撑柱下底面设有第二上限位柱，所述上支撑杆、下支撑杆之间设有集成电路板，所述集成电路板设有第一限位槽、第二限位槽，所述第一上限位柱、第一下限位柱位于第一限位槽内，所述第二上限位柱、第二下限位柱位于第二限位槽内。
[0006]所述第一上限位柱、第一下限位柱对称设置。
[0007]所述第二上限位柱、第二下限位柱对称设置。
[0008]本实用新型的有益效果为:
[0009]本技术方案的集成电路板通过支撑柱及限位柱进行固定安装，使电路板四面均可实现散热，不仅安装方便，结构稳固，且散热效果佳，便于维修，将样品仓位于检测仓的下方，虽然取样有些不便，但是可以增强电路板的散热，延长电路板的寿命，定位凸起与定位凹槽，可以实现上盖与底壳的快速定位安装，适用性强。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型的结构示意图。
[0011]图中:1-底壳，2-上盖，3-定位凸起，4-定位凹槽，5-隔断，6-样品支座，7-样品支架，8-下支撑杆，9-第一下支撑柱，10-第二下支撑柱，11-第一下限位柱，12-第二下限位柱，13-上支撑杆，14-第一上支撑柱，15-第二上支撑柱，16-第一上限位柱，17-第二上限位柱，18-集成电路板，19-第一限位槽，20-第二限位槽，21-样品仓，22-检测仓。
【具体实施方式】
[0012]—种傅立叶变换红外光谱仪，包括底壳1、上盖2，底壳I的上表面设有定位凸起3，上盖2的下底面设有与定位凸起3相配合的定位凹槽4，底壳I内设有隔断5，隔断5水平设置，隔断5下方设有样品仓21，隔断5上方设有检测仓22，样品仓21底部设有样品支座6，样品支座6上设有样品支架7，检测仓22内设有下支撑杆8，下支撑杆8水平设置，下支撑杆8上表面设有第一下支撑柱9、第二下支撑柱10，第一下支撑柱9上表面设有第一下限位柱11，第二下支撑柱10上表面设有第二下限位柱12，上盖2下底面设有上支撑杆13，上支撑杆13下底面设有第一上支撑柱14、第二上支撑柱15，第一上支撑柱14下底面设有第一上限位柱16，第二上支撑柱15下底面设有第二上限位柱17，上支撑杆13、下支撑杆8之间设有集成电路板18，集成电路板18设有第一限位槽19、第二限位槽20，第一上限位柱16、第一下限位柱11位于第一限位槽19内，第二上限位柱17、第二下限位柱12位于第二限位槽20内。
[0013]第一上限位柱16、第一下限位柱11对称设置。
[0014]第二上限位柱17、第二下限位柱12对称设置。
[0015]以上对本实用新型的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围，凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。
【主权项】
1.一种傅立叶变换红外光谱仪，其特征在于:包括底壳、上盖，所述底壳的上表面设有定位凸起，所述上盖的下底面设有与定位凸起相配合的定位凹槽，所述底壳内设有隔断，所述隔断水平设置，所述隔断下方设有样品仓，所述隔断上方设有检测仓，所述样品仓底部设有样品支座，所述样品支座上设有样品支架，所述检测仓内设有下支撑杆，所述下支撑杆水平设置，所述下支撑杆上表面设有第一下支撑柱、第二下支撑柱，所述第一下支撑柱上表面设有第一下限位柱，所述第二下支撑柱上表面设有第二下限位柱，所述上盖下底面设有上支撑杆，所述上支撑杆下底面设有第一上支撑柱、第二上支撑柱，所述第一上支撑柱下底面设有第一上限位柱，所述第二上支撑柱下底面设有第二上限位柱，所述上支撑杆、下支撑杆之间设有集成电路板，所述集成电路板设有第一限位槽、第二限位槽，所述第一上限位柱、第一下限位柱位于第一限位槽内，所述第二上限位柱、第二下限位柱位于第二限位槽内。2.根据权利要求1所述的一种傅立叶变换红外光谱仪，其特征在于:所述第一上限位柱、第一下限位柱对称设置。3.根据权利要求1所述的一种傅立叶变换红外光谱仪，其特征在于:所述第二上限位柱、第二下限位柱对称设置。
【专利摘要】本实用新型属于检测仪器技术领域，尤其涉及一种傅立叶变换红外光谱仪，所述检测仓内设有下支撑杆，所述下支撑杆水平设置，所述下支撑杆上表面设有第一下支撑柱、第二下支撑柱，所述第一下支撑柱上表面设有第一下限位柱，所述第二下支撑柱上表面设有第二下限位柱，所述上盖下底面设有上支撑杆，所述上支撑杆下底面设有第一上支撑柱、第二上支撑柱，所述第一上支撑柱下底面设有第一上限位柱，所述第二上支撑柱下底面设有第二上限位柱，所述上支撑杆、下支撑杆之间设有集成电路板，所述集成电路板设有第一限位槽、第二限位槽，所述第一上限位柱、第一下限位柱位于第一限位槽内，所述第二上限位柱、第二下限位柱位于第二限位槽内。
【IPC分类】G01J3/45, G01N21/359
【公开号】CN205373886
【申请号】CN201521125376
【发明人】万成富, 赵朋辉, 白志恒
【申请人】天津中世沃克科技发展有限公司
【公开日】2016年7月6日
【申请日】2015年12月29日