一种玻镁平板厚度测量仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种玻镁平板厚度测量仪，包括底座和数显游标卡尺；底座上设有通孔；该通孔与数显游标卡尺的尾部深度杆相匹配，且与底座底面相垂直。利用本实用新型厚度测量仪能有效、准确得对玻镁平板厚度进行现场测试。
【专利说明】
一种玻镁平板厚度测量仪
技术领域
[0001 ]本发明具体涉及一种玻镁平板厚度测量仪。
【背景技术】
[0002]日常在生产过程中需不断测量玻镁平板厚度使其厚度得到保证，厚度的正常误差范围是±0.3-0.5mm。采用数显型游标卡尺进行测量，但在测量过程中，由于生产线是一直滚动移动的，即便采用双手握住游标卡尺也不能保持游标卡尺始终处于与玻镁平板垂直状态，测量结果的准确性得不到保障;且每次测量前都需要擦拭尾部深度杆上留下的玻镁平板浆料，程序繁琐，保证不了产品生产的质量。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺陷，提供一种能在生产过程中方便、准确测量玻镁平板厚度的仪器。
[0004]为了达到上述目的，本实用新型提供了一种玻镁平板厚度测量仪，包括底座和数显游标卡尺;底座上设有通孔;该通孔与数显游标卡尺的尾部深度杆相匹配，且与底座底面相垂直。
[0005]其中，底座上端设有与底座底面垂直的固定卡槽；固定卡槽与数显游标卡尺的尾部深度杆相匹配，且与通孔相连通。
[0006]上述底座采用金属底座。
[0007]本实用新型相比现有技术具有以下优点:利用金属底座置于平板上，保证插入其中的数显游标卡尺始终处于垂直状态;利用底座上端的固定卡槽，更好的固定了垂直状态下的数显游标卡尺。同时利用与尾部深度杆大小匹配的通孔，使数显游标卡尺在取出时，其上的浆料无法通过通孔，避免了对数显游标卡尺的擦拭，简化了测量步骤。利用本实用新型厚度测量仪能有效、准确得对玻镁平板厚度进行现场测试。
【附图说明】
[0008]图1为本实用新型玻镁平板厚度测量仪的结构示意图；
[0009]图2为本实用新型玻镁平板厚度测量仪使用时的结构示意图。
[0010]图中，1-数显游标卡尺，11-尾部深度杆，2-金属底座，21-固定卡槽，22-挡板。
【具体实施方式】
[0011 ]下面结合附图对本实用新型进行详细说明。
[0012]如图1所示，本实用新型玻镁平板厚度测量仪包括数显游标卡尺I和金属底座2。金属底座2上设有通孔，通孔与垂直设置于金属底座2上端的固定卡槽21相连通。固定卡槽21与数显游标卡尺I的接触处设有挡板22。
[0013]在测量过程中，将金属底座2置于玻镁平板上方，仅需将数显游标卡尺I的尾部深度杆11插入固定卡槽21内，进行厚度测量，可以使用单手操作。每次测量结束后，拔出数显游标卡尺I，由于挡板22的作用，粘附在尾部深度杆11上的浆料无法通过固定卡槽21，从而停留在金属底座21底面或挡板22上。
【主权项】
1.一种玻镁平板厚度测量仪，其特征在于:包括底座和数显游标卡尺;所述底座上设有通孔;所述通孔与所述数显游标卡尺的尾部深度杆相匹配，且与底座底面相垂直。2.根据权利要求1所述的玻镁平板厚度测量仪，其特征在于:所述底座上端设有与底座底面垂直的固定卡槽;所述固定卡槽与所述数显游标卡尺的尾部深度杆相匹配，且与所述通孔相连通。3.根据权利要求1或2所述的玻镁平板厚度测量仪，其特征在于:所述底座采用金属底座。
【文档编号】G01B5/06GK205448914SQ201521109946
【公开日】2016年8月10日
【申请日】2015年12月28日
【发明人】王兴文, 孙忠, 步晓霞, 李成
【申请人】江苏万瑞新材料有限公司