一种镭射二极管推力测试仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开一种镭射二极管推力测试仪，包括底板、依次设置于底板上的第一垫块组及第一连接板、依次设置于第一连接板上的TO管座固定装置、测力部及显微镜组件、及设置于第一连接板上且支撑于TO管座固定装置底部的管座三轴调整组件，该管座三轴调整组件包括调整基板、分别设置于调整基板上的X轴调试仪、Y轴调试仪及Z轴调试仪；所述测力部包括设置于第一连接板上的测力部固定座、及依次设置于测力部固定座上的推力装置、第二连接板与数显测力计，在该第二连接板的上端面及数显测力计的前端设有测试臂水平支撑组件，该测试臂水平支撑组件上设置有一测试针。该镭射二极管推力测试仪可多轴向调节待测品位置，且测试数据的精准度高。
【专利说明】
一种镭射二极管推力测试仪
技术领域
[0001]本实用新型涉及检测领域，特别涉及一种镭射二极管推力测试仪。
【背景技术】
[0002]目前，对二极管，特别是镭射二极管推力的测试，均是将待测品放入固定装置后，滑动推力杆达到测试推力的目的。但将待测品放入固定装置后，只能进行一个轴向调节，对待测品测试点的位置难把握；同时测试针与测力计都没有纵向支撑点，导致测试臂出现不水平现象，易造成测试误差，导致测试精度低。
[0003]因此，开发出一种可多轴向调节待测品位置，且提高测试精度的镭射二极管推力测试仪，显得尤为重要。
【实用新型内容】
[0004]针对上述不足，本实用新型的目的在于提供一种镭射二极管推力测试仪，以解决现有推力测试装置无法对轴向调节待测品位置，且测试精度低等问题，本实用新型提供的镭射二极管推力测试仪，可多轴向调节待测品位置，且测试数据的精准度高。
[0005]为实现上述目的，本实用新型提供的技术方案是:
[0006]—种镭射二极管推力测试仪，包括底板、设置于底板上的第一垫块组、设置于第一垫块组上的第一连接板、设置于第一连接板上的TO管座固定装置与测力部、及设置于TO管座固定装置上方的显微镜组件，其特征在于，还包括设置于第一连接板上且支撑于TO管座固定装置底部的管座三轴调整组件，该管座三轴调整组件包括调整基板、分别设置于调整基板上的X轴调试仪、Y轴调试仪及Z轴调试仪;所述测力部包括设置于第一连接板上的测力部固定座、及依次设置于测力部固定座上的推力装置、第二连接板与数显测力计，在该第二连接板的上端面及数显测力计的前端设有测试臂水平支撑组件，该测试臂水平支撑组件上设置有一测试针。
[0007]作为本实用新型的进一步改进，所述TO管座固定装置包括连接架、管座压板轨道、分别设置于连接架前后两端的前挡板与后挡板，其中，该连接架与后挡板之间设有一扳手，该连接架与前挡板之间设有一管座定位座与一管座端面压板，且在该连接架、管座定位座与管座端面压板上均开设有通孔，所述管座压板轨道依次贯穿于连接架、管座定位座与管座端面压板的通孔中，同时，在该连接架中且在管座压板轨道上下端分别设置有定位销。
[0008]作为本实用新型的进一步改进，所述测试针的前端设置于管座端面压板上。
[0009]作为本实用新型的进一步改进，所述定位销与管座压板轨道垂直。
[0010]作为本实用新型的进一步改进，所述显微镜组件包括显微镜支杆、设置于显微镜支杆上的显微镜安装座、及安装于显微镜安装座上的显微镜。
[0011]作为本实用新型的进一步改进，所述推力装置包括一推力基板、及连接于推力基板侧边的推力手臂。
[0012]作为本实用新型的进一步改进，所述第一垫块组由平行设置的若干第一垫块组成。
[0013]作为本实用新型的进一步改进，所述推力装置与第二连接板之间还设有第二垫块组。
[0014]作为本实用新型的进一步改进，所述第二垫块组由平行设置的若干第二垫块组成。
[0015]本实用新型的优点在于:通过管座三轴调整组件实现对待测品位置进行X轴、Y轴与Z轴调节，方便更精准的找到测试点，以提供测试精准度;通过测试臂水平支撑组件，增加了测试针与数显测力计之间的Z轴支撑点，起到支撑作用的同时，保证在测试的过程中，进行X轴滑动时不会出现晃动，以提高测试数据的精准度。
[0016]下面结合附图与【具体实施方式】，对本实用新型进一步说明。
【附图说明】
[0017]图1为本实用新型镭射二极管推力测试仪的整体结构示意图；
[0018]图2为TO管座固定装置的分解示意图。
【具体实施方式】
[0019]为更进一步阐述本实用新型为达到预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对本实用新型的【具体实施方式】详细说明。
[0020]请参照图1至图2，本实用新型提供一种镭射二极管推力测试仪，包括底板1、设置于底板I上的第一垫块组2、设置于第一垫块组2上的第一连接板3、设置于第一连接板3上的TO管座固定装置4与测力部5、及设置于TO管座固定装置4上方的显微镜组件6，还包括设置于第一连接板3上且支撑于TO管座固定装置4底部的管座三轴调整组件7，该管座三轴调整组件7包括调整基板71、分别设置于调整基板71上的X轴调试仪72、Y轴调试仪73及Z轴调试仪74;所述测力部5包括设置于第一连接板3上的测力部固定座51、及依次设置于测力部固定座51上的推力装置52、第二连接板53与数显测力计54，该推力装置52包括一推力基板521、及连接于推力基板521侧边的推力手臂522，在该第二连接板53的上端面及数显测力计54的前端设有测试臂水平支撑组件8，该测试臂水平支撑组件8上设置有一测试针9。
[0021]所述TO管座固定装置4包括连接架41、管座压板轨道42、分别设置于连接架41前后两端的前挡板43与后挡板44，其中，该连接架41与后挡板44之间设有一扳手45，该连接架41与前挡板43之间设有一管座定位座46与一管座端面压板47，且在该连接架41、管座定位座46与管座端面压板47上均开设有通孔，所述管座压板轨道42依次贯穿于连接架41、管座定位座46与管座端面压板47的通孔中，同时，在该连接架41中且在管座压板轨道42上下端分别设置有定位销48，该定位销48与管座压板轨道42垂直，且所述测试针9的前端设置于管座端面压板47上。
[0022]所述显微镜组件6包括显微镜支杆61、设置于显微镜支杆61上的显微镜安装座62、及安装于显微镜安装座62上的显微镜63。
[0023]所述第一垫块组2由平行设置的若干第一垫块21组成;所述第二垫块组55由平行设置的若干第二垫块551组成。
[0024]所述推力装置52与第二连接板53之间还设有第二垫块组55。
[0025]推力测试原理:将待测品放置于TO管座固定装置4内，目视显微镜63，并通过管座三轴调整组件7中的X轴调试仪7 2、Y轴调试仪7 3与Z轴调试仪74可以调节待测品在X轴、Y轴及Z轴的位置，使待测品调至要求的测试位置，再滑动推力手臂522，待测品芯片剥离后记录数显测力计54数据，完成推力测试。
[0026]本实用新型的重点在于:通过管座三轴调整组件实现对待测品位置进行X轴、Y轴与Z轴调节，方便更精准的找到测试点，以提供测试精准度;通过测试臂水平支撑组件，增加了测试针与数显测力计之间的Z轴支撑点，起到支撑作用的同时，保证在测试的过程中，进行X轴滑动时不会出现晃动，以提高测试数据的精准度。
[0027]以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型的技术范围作任何限制，故采用与本实用新型上述实施例相同或近似的技术特征，均在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种镭射二极管推力测试仪，包括底板、设置于底板上的第一垫块组、设置于第一垫块组上的第一连接板、设置于第一连接板上的TO管座固定装置与测力部、及设置于TO管座固定装置上方的显微镜组件，其特征在于，还包括设置于第一连接板上且支撑于TO管座固定装置底部的管座三轴调整组件，该管座三轴调整组件包括调整基板、分别设置于调整基板上的X轴调试仪、Y轴调试仪及Z轴调试仪;所述测力部包括设置于第一连接板上的测力部固定座、及依次设置于测力部固定座上的推力装置、第二连接板与数显测力计，在该第二连接板的上端面及数显测力计的前端设有测试臂水平支撑组件，该测试臂水平支撑组件上设置有一测试针。2.根据权利要求1所述的镭射二极管推力测试仪，其特征在于，所述TO管座固定装置包括连接架、管座压板轨道、分别设置于连接架前后两端的前挡板与后挡板，其中，该连接架与后挡板之间设有一扳手，该连接架与前挡板之间设有一管座定位座与一管座端面压板，且在该连接架、管座定位座与管座端面压板上均开设有通孔，所述管座压板轨道依次贯穿于连接架、管座定位座与管座端面压板的通孔中，同时，在该连接架中且在管座压板轨道上下端分别设置有定位销。3.根据权利要求2所述的镭射二极管推力测试仪，其特征在于，所述测试针的前端设置于管座端面压板上。4.根据权利要求2所述的镭射二极管推力测试仪，其特征在于，所述定位销与管座压板轨道垂直。5.根据权利要求1或2所述的镭射二极管推力测试仪，其特征在于，所述显微镜组件包括显微镜支杆、设置于显微镜支杆上的显微镜安装座、及安装于显微镜安装座上的显微镜。6.根据权利要求1所述的镭射二极管推力测试仪，其特征在于，所述推力装置包括一推力基板、及连接于推力基板侧边的推力手臂。7.根据权利要求1所述的镭射二极管推力测试仪，其特征在于，所述第一垫块组由平行设置的若干第一垫块组成。8.根据权利要求1或2所述的镭射二极管推力测试仪，其特征在于，所述推力装置与第二连接板之间还设有第二垫块组。9.根据权利要求8所述的镭射二极管推力测试仪，其特征在于，所述第二垫块组由平行设置的若干第二垫块组成。
【文档编号】G01L5/00GK205483356SQ201620042763
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2016年1月14日
【发明人】王敏
【申请人】广东瑞谷光纤通信有限公司