电子元件测试装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型提供电子元件测试装置，它包括有转盘，转盘底部设有带动转盘旋转的动力机构，转盘盘缘处均布有若干检测座，转盘顶部设有检测架，检测架上设有固定座，固定座上设有上下滑动的滑板，滑板顶部与检测架上的升降杆相连接，滑板底部安装有检测头，检测头位于检测座上方；转盘一侧设有与检测座相配合的送料机构，转盘底部设有与检测头相配合的下顶紧机构。采用本方案后的结构简单、操作方便、无需使用气缸带动，使机械手的稳定性得以大大提高，减少了冲击性，使测试数据更精准。
【专利说明】
电子元件测试装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及电子元件技术领域，尤其是指片式电子元件测试装置。
【背景技术】
[0002]电子元件是组成电子产品的基础，了解常用的电子元件的种类、结构、性能并能正确选用是学习、掌握电子技术的基本。常用的电子元件有电阻、电容、电感、电位器、变压器、晶振等，电子元件在生产后需要检测，现有的检测装置都是采用气缸传动，检测时冲击性较大，会大大影响产品性能，甚至会击穿产品。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构简单、操作方便、数据更精准的电子元件测试装置。
[0004]为实现上述目的，本实用新型所提供的技术方案为:电子元件测试装置，它包括有转盘，转盘底部设有带动转盘旋转的动力机构，转盘盘缘处均布有若干检测座，转盘顶部设有检测架，检测架上设有固定座，固定座上设有上下滑动的滑板，滑板顶部与检测架上的升降杆相连接，滑板底部安装有检测头，检测头位于检测座上方;转盘一侧设有与检测座相配合的送料机构，转盘底部设有与检测头相配合的下顶紧机构。
[0005]所述的检测头为三个，呈弧形分布在检测架上，每个检测头下方均设有一组下顶紧机构。
[0006]本实用新型在采用上述方案后，电子元件通过送料机构输送至检测座上，动力机构带动转盘旋转使电子元件输送至第一检测头下方，第一检测头和第一顶紧机构相配合完成第一次检测，然后继续旋转进行下一次检测;采用本方案后的结构简单、操作方便、无需使用气缸带动，使机械手的稳定性得以大大提高，减少了冲击性，使测试数据更精准。
【附图说明】
[0007]图1为本实用新型的整体结构示意图。
【具体实施方式】
[0008]下面结合所有附图对本实用新型作进一步说明，本实用新型的较佳实施例为:参见附图1，本实施例所述的电子元件测试装置包括有转盘I，转盘I底部设有带动转盘I旋转的动力机构2，转盘I盘缘处均布有若干检测座3，转盘I顶部设有检测架4，检测架4上设有固定座5，固定座5上设有上下滑动的滑板6，滑板6顶部与检测架4上的升降杆7相连接，滑板6底部安装有检测头8，检测头8位于检测座3上方;转盘I 一侧设有与检测座3相配合的送料机构9，转盘I底部设有与检测头8相配合的下顶紧机构10，所述的检测头8为三个，呈弧形分布在检测架4上，每个检测头8下方均设有一组下顶紧机构10。本实施例的电子元件通过送料机构输送至检测座上，动力机构带动转盘旋转使电子元件输送至第一检测头下方，第一检测头和第一顶紧机构相配合完成第一次检测，然后继续旋转进行下一次检测;采用本实施例后的结构简单、操作方便、无需使用气缸带动，使机械手的稳定性得以大大提高，减少了冲击性，使测试数据更精准。
[0009]以上所述之实施例只为本实用新型之较佳实施例，并非以此限制本实用新型的实施范围，故凡依本实用新型之形状、原理所作的变化，均应涵盖在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.电子元件测试装置，其特征在于:它包括有转盘(I)，转盘(I)底部设有带动转盘(I)旋转的动力机构(2)，转盘(I)盘缘处均布有若干检测座(3)，转盘(I)顶部设有检测架(4)，检测架(4)上设有固定座(5)，固定座(5)上设有上下滑动的滑板(6)，滑板(6)顶部与检测架(4)上的升降杆(7)相连接，滑板(6)底部安装有检测头(8)，检测头(8)位于检测座(3)上方；转盘(I) 一侧设有与检测座(3)相配合的送料机构(9)，转盘(I)底部设有与检测头(8)相配合的下顶紧机构(10)。2.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于:检测头(8)为三个，呈弧形分布在检测架(4)上，每个检测头(8)下方均设有一组下顶紧机构(10)。
【文档编号】G01R31/00GK205484609SQ201620219184
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2016年3月22日
【发明人】肖旭辉
【申请人】湖南省福晶电子有限公司