一种功率器件mosfet特性测试实验装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种MOSFET特性测试实验装置，解决了现有技术的不足，技术方案为：包括MOSFET特性测试实验板、温度传感器、温控显示板和温度传感器固定板，所述温度传感器固定板包括支撑板和至少三根支撑杆，所述支撑杆的第一端均与所述支撑板连接，所述MOSFET特性测试实验板上开设有若干个连接孔，所述支撑杆的第二端插入连接孔与所述MOSFET特性测试实验板连接，所述支撑板的中部开设有通孔，所述温度传感器安装在所述支撑板的上表面，所述温度传感器的检测端贯穿通孔对准MOSFET特性测试实验板，所述温控显示板与所述温度传感器电连接。
【专利说明】
一种功率器件MOSFET特性测试实验装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种学生用实验装置，特别涉及一种功率器件MOSFET特性测试实验装置。
【背景技术】
[0002]目前随着电气应用的越来越广泛，各个高校中对于电气实验的要求也越来越高，各中电子电气实验设备也越来越成熟，比较成熟的使用的实验设备较多的使用的是在表面带有电路图的触点的特性测试实验装置，基本构造呈盒状，电气元件固定在盒子内部，盒子表面画好相应元件或电路的电路原理图，在相应触点放置空点，供学生进行电路连接线连接，学生可以根据实验的需要进行不同电路的连接，接通电路后输出电路由波形显示器进行显示，可以对很多电气元件的特性进行测试。
[0003]但是现有技术中，还是存在电路控制参数较少，特别是缺少温度参数的调监控，但是温度参数在电路中是非常重要的因此，例如MOSFET特性测试实验装置中也缺少相应的温度监控，而温度特性是MOSFET管中较为重要的参数，因此这个缺陷，需要尽快修复。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型的目的在于解决上述现有技术还是存在电路控制参数较少，特别是缺少温度参数的监控，但是温度参数在电路中是非常重要的因此，这个缺陷，需要尽快修复的问题，提供了一种功率器件MOSFET特性测试实验装置。
[0005]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种功率器件MOSFET特性测试实验装置，包括MOSFET特性测试实验板、温度传感器、温控显示板和温度传感器固定板，所述温度传感器固定板包括支撑板和至少三根支撑杆，所述支撑杆的第一端均与所述支撑板连接，所述MOSFET特性测试实验板上开设有若干个连接孔，所述支撑杆的第二端插入连接孔与所述MOSFET特性测试实验板连接，所述支撑板的中部开设有通孔，所述温度传感器安装在所述支撑板的上表面，所述温度传感器的检测端贯穿通孔对准MOSFET特性测试实验板，所述温控显示板与所述温度传感器电连接。本实用新型可以对温度参数进行监测，对传统的实验线路进行改进，利用现有教学实验条件下，采用低功耗电路，在额定工作电压、工作电流条件下进行MOSFET动态特性测试。通过测试不同温度下，不同工作电压和电流参数下的开关特性，来探究其开关特性变化的规律。通过测试相同规格不同生产厂家的器件，来探究其开关特性的差异。拓展研究器件结温、阻容吸收保护对其开关特性的影响。培养和提高学生发现问题和处理问题的兴趣和能力。
[0006]作为优选，所述支撑杆为伸缩杆，所述MOSFET特性测试实验板为水平放置，所述连接孔为盲孔，所述伸缩杆上设置有旋紧装置。本实用新型这样设置，可以调节伸缩杆的长度，使得温度传感器能够适应不同的电路，需要抵接的时候能够抵接，需要留出空间的时候也能有足够的调节余地。
[0007]作为优选，所述温度传感器为数字温度传感器。
[0008]作为优选，所述MOSFET特性测试实验板的侧壁上开设有卡接条，所述温控显示板的侧壁上固定有卡接槽，所述卡接槽和卡接条卡接固定。本实用新型这样设置，可以将温控显示板可以固定在波形显示器处也可以卡接在MOSFET特性测试实验板的侧壁上。
[0009]作为优选，所述支撑杆的第二端的外侧设置有外螺纹，所述连接孔的内壁上设置有内螺纹。本实用新型这样设置，可以将支撑杆较好的固定在MOSFET特性测试实验板上。
[0010]本实用新型的实质性效果是:本实用新型可以对温度参数进行监测，对传统的实验线路进行改进，利用现有教学实验条件下，采用低功耗电路，在额定工作电压、工作电流条件下进行MOSFET动态特性测试。通过测试不同温度下，不同工作电压和电流参数下的开关特性，来探究其开关特性变化的规律。通过测试相同规格不同生产厂家的器件，来探究其开关特性的差异。拓展研究器件结温、阻容吸收保护对其开关特性的影响。培养和提高学生发现问题和处理问题的兴趣和能力。
【附图说明】
[0011]图1为本实用新型的一种结构示意图。
[0012]图中:UM0SFET特性测试实验板，2、温度传感器，3、温控显示板，4、电源。
【具体实施方式】
[0013]下面通过具体实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的具体说明。
[0014]实施例:
[0015]—种功率器件MOSFET特性测试实验装置(参见附图1)，包括MOSFET特性测试实验板1、温度传感器2、温控显示板3和温度传感器固定板，由电源4供电，MOSFET特性测试实验板整体呈盒状，电气元件固定在盒子内部，盒子表面画好相应元件或电路的电路原理图，在相应触点放置空点，供学生进行电路连接线连接，学生可以根据实验的需要进行不同电路的连接，接通电路后输出电路由波形显示器进行显示，可以对很多电气元件的特性进行测试。波形显示器与电源固定在一起，所述温度传感器固定板包括支撑板和四根支撑杆，所述支撑杆的第一端均与所述支撑板连接，所述MOSFET特性测试实验板上开设有若干个连接孔，所述支撑杆的第二端插入连接孔与所述MOSFET特性测试实验板连接，所述支撑板的中部开设有通孔，所述温度传感器安装在所述支撑板的上表面，所述温度传感器的检测端贯穿通孔对准MOSFET特性测试实验板，所述温控显示板与所述温度传感器电连接。所述支撑杆为伸缩杆，所述MOSFET特性测试实验板为水平放置，所述连接孔为盲孔，所述伸缩杆上设置有旋紧装置。所述旋紧装置为选用装置，用于固定伸缩杆的高度，在本实施例中暂时未选用，所述温度传感器为数字温度传感器。所述MOSFET特性测试实验板的侧壁上开设有卡接条，所述温控显示板的侧壁上固定有卡接槽，所述卡接槽和卡接条卡接固定。可以将温控显示板可以固定在波形显示器处也可以卡接在MOSFET特性测试实验板的侧壁上。所述支撑杆的第二端的外侧设置有外螺纹，所述连接孔的内壁上设置有内螺纹。
[0016]本实施例可以对温度参数进行监测，对传统的实验线路进行改进，利用现有教学实验条件下，采用低功耗电路，在额定工作电压、工作电流条件下进行MOSFET动态特性测试。通过测试不同温度下，不同工作电压和电流参数下的开关特性，来探究其开关特性变化的规律。通过测试相同规格不同生产厂家的器件，来探究其开关特性的差异。拓展研究器件结温、阻容吸收保护对其开关特性的影响。培养和提高学生发现问题和处理问题的兴趣和能力。
[0017]以上所述实施例只是本实用新型的一种较佳的方案，并非对本实用新型作任何形式上的限制，在不超出权利要求所记载的技术方案的前提下还有其它的变体及改型。
【主权项】
1.一种MOSFET特性测试实验装置，其特征在于:包括MOSFET特性测试实验板、温度传感器、温控显示板和温度传感器固定板，所述温度传感器固定板包括支撑板和至少三根支撑杆，所述支撑杆的第一端均与所述支撑板连接，所述MOSFET特性测试实验板上开设有若干个连接孔，所述支撑杆的第二端插入连接孔与所述MOSFET特性测试实验板连接，所述支撑板的中部开设有通孔，所述温度传感器安装在所述支撑板的上表面，所述温度传感器的检测端贯穿通孔对准MOSFET特性测试实验板，所述温控显示板与所述温度传感器电连接。2.根据权利要求1所述的MOSFET特性测试实验装置，其特征在于:所述支撑杆为伸缩杆，所述MOSFET特性测试实验板为水平放置，所述连接孔为盲孔，所述伸缩杆上设置有旋紧目.ο3.根据权利要求1或2所述的MOSFET特性测试实验装置，其特征在于:所述温度传感器为数字温度传感器。4.根据权利要求2所述的MOSFET特性测试实验装置，其特征在于:所述MOSFET特性测试实验板的侧壁上开设有卡接条，所述温控显示板的侧壁上固定有卡接槽，所述卡接槽和卡接条卡接固定。5.根据权利要求2所述的MOSFET特性测试实验装置，其特征在于:所述支撑杆的第二端的外侧设置有外螺纹，所述连接孔的内壁上设置有内螺纹。
【文档编号】G01R31/26GK205484684SQ201521075497
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2015年12月18日
【发明人】俞勇祥
【申请人】浙江大学