电源芯片测试系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种电源芯片测试系统，包括待测电源芯片、用于为待测电源芯片提供工作电压的直流源模块、用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下输入电流的电流测试模块、用于为所述待测电源芯片提供目标负载的负载模块、用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下的输出电压的电压测试模块及与所述直流源模块、所述电流测试模块、所述负载模块及所述电压测试模块相连的用于控制和管理对所述待测电源芯片的整个测试过程的上位机。本实用新型可以对被测电源芯片进行自动线性调整、负载调整的测试，自动采集输入电流、输出电压数据，并能将完整的测试数据信息进行记录并输出。
【专利说明】
电源芯片测试系统
技术领域
[0001]本实用新型涉及集成电路测试领域，特别是涉及一种电源芯片测试系统。
【背景技术】
[0002]在集成电路的测试中，为了保证电源芯片的稳定性，往往会对电源芯片的各项工作参数进行测试。
[0003]现有的电源测试方案主要应用于解决大功率开关电源在生产线上的量产测试，针对电源芯片的测试，其成套系统的造价非常昂贵，且软硬件配置过剩。因此，在对电源芯片进行测试时，不得不采用人工测试的方法，一边调整输入电压与负载大小，一边记录输入电流与输出电压，假设有9个以上样片、4种温度条件、4个以上输入电压条件、6个左右负载条件的情况下，至少有864个输入电流数据及864个输出电压数据需要测试并记录，这无疑是一项巨大的工作量。而且，人工测试难免出现部分数据记录有误的情况，对后续数据分析工作造成了影响。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种能够进行自动测试的电源芯片测试系统，可以对被测电源芯片进行自动线性调整、负载调整的测试，自动采集输入电流、输出电压数据，并能将完整的测试数据信息进行记录并输出。
[0005]本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:一种电源芯片测试系统，所述电源芯片测试系统包括待测电源芯片、用于为待测电源芯片提供工作电压的直流源模块、与所述直流源模块及所述待测电源芯片相连用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下输入电流的电流测试模块、与所述待测电源芯片相连用于为所述待测电源芯片提供目标负载的负载模块、与所述待测电源芯片相连用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下的输出电压的电压测试模块及与所述直流源模块、所述电流测试模块、所述负载模块及所述电压测试模块相连的用于控制和管理对所述待测电源芯片的整个测试过程的上位机。
[0006]所述上位机包括系统总控模块、与所述系统总控模块相连用于控制并监视所述直流源模块的工作状态的直流源单控模块、与所述系统总控模块相连用于控制并监视所述负载模块的工作状态的负载单控模块及与所述系统总控模块相连的测试数据信息输出模块。
[0007]所述系统总控模块包括用于设置控制所述直流源模块与所述负载模块控制指令的控制指令预设子模块、用于设置测试状态切换时间间隔的时间间隔预设子模块及用于设置测试数据存储路径及名称的存储预设子模块。
[0008]所述系统总控模块还包括用于启动或停止测试系统的系统控制子模块及用于实时显示所述待测电源芯片在不同测试条件下的输入输出数据信息的数据显示子模块。
[0009]本实用新型的有益效果是:可以对被测电源芯片进行自动线性调整、负载调整的测试，自动采集输入电流、输出电压数据，并能将完整的测试数据信息进行记录并输出，从而实现对目标数据的自动采集、存储并输出，使得设计人员能够更快更准确的获得实验数据。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型电源芯片测试系统的系统结构图；
[0011 ]图2为本实用新型电源芯片测试系统的测试方法流程图。
【具体实施方式】
[0012]下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案，但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。
[0013]如图1所示，图1为本实用新型电源芯片测试系统的系统结构图，其包括待测电源芯片、用于为待测电源芯片提供工作电压的直流源模块、与直流源模块及待测电源芯片相连用于测试待测电源芯片在不同测试状态下输入电流的电流测试模块、与待测电源芯片相连用于为待测电源芯片提供目标负载的负载模块、与待测电源芯片相连用于测试待测电源芯片在不同测试状态下的输出电压的电压测试模块及与直流源模块、电流测试模块、负载模块及电压测试模块相连的用于控制和管理对待测电源芯片的整个测试过程的上位机。
[0014]其中，上位机包括系统总控模块、与系统总控模块相连用于控制并监视直流源模块的工作状态的直流源单控模块、与系统总控模块相连用于控制并监视负载模块的工作状态的负载单控模块及与系统总控模块相连的测试数据信息输出模块。系统总控模块包括用于设置控制直流源模块与负载模块控制指令的控制指令预设子模块、用于设置测试状态切换时间间隔的时间间隔预设子模块、用于设置测试数据存储路径及名称的存储预设子模块、用于启动或停止测试系统的系统控制子模块及用于实时显示待测电源芯片在不同测试条件下的输入输出数据信息的数据显示子模块。
[0015]如图2所示，图2为本实用新型电源芯片测试系统的测试方法流程图，本实用新型电源芯片测试系统的测试方法包括以下步骤:
[0016]步骤一，开始。
[0017]步骤二，上位机初始化。
[0018]步骤三，对上位机的系统总控模块进行参数设置，包括通过系统总控模块的控制指令预设子模块设置控制直流源模块与负载模块控制指令、通过系统总控模块的时间间隔预设子模块设置测试状态切换时间间隔、通过系统总控模块的存储预设子模块设置测试数据存储路径及名称。
[0019]步骤四，系统总控模块的控制指令预设子模块、时间间隔预设子模块及存储预设子模块通过直流源单控模块及负载单控模块给直流源模块及负载模块发送控制指令，并通过系统控制子模块切换测试状态。
[0020]步骤五，系统总控模块的控制指令预设子模块、时间间隔预设子模块及存储预设子模块给电流测试模块及电压测试模块发送测试指令，对待测电源芯片进行测试。
[0021]步骤六，电流测试模块及电压测试模块将测试数据返回至系统总控模块的数据显示子模块及测试数据信息输出模块进行显示并输出。
[0022]步骤七，结束。
[0023]在本实用新型中，用户可通过上位机加载、勾选、更改10组以内的直流源控制指令，以满足线性调整所需的不同输入电压;可加载、勾选、更改10组以内的负载控制指令，以满足负载调整所需的不同负载;可选择只测试输入电流或者输出电压，或者二者同时测试；可选择测试结果存放路径、存放文件名；上位机可实时显示输入电压、输入电流、输出电压及负载的数值等，可根据需求设置不同测试条件间的切换时间间隔及测试系统的启动或者停止。
[0024]综上所述，本实用新型电源芯片测试系统可以对被测电源芯片进行自动线性调整、负载调整的测试，自动采集输入电流、输出电压数据，并能将完整的测试数据信息进行记录并输出，从而实现对目标数据的自动采集、存储并输出，使得设计人员能够更快更准确的获得实验数据。
【主权项】
1.一种电源芯片测试系统，其特征在于:所述电源芯片测试系统包括待测电源芯片、用于为待测电源芯片提供工作电压的直流源模块、与所述直流源模块及所述待测电源芯片相连用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下输入电流的电流测试模块、与所述待测电源芯片相连用于为所述待测电源芯片提供目标负载的负载模块、与所述待测电源芯片相连用于测试所述待测电源芯片在不同测试状态下的输出电压的电压测试模块及与所述直流源模块、所述电流测试模块、所述负载模块及所述电压测试模块相连的用于控制和管理对所述待测电源芯片的整个测试过程的上位机。2.根据权利要求1所述的电源芯片测试系统，其特征在于:所述上位机包括系统总控模块、与所述系统总控模块相连用于控制并监视所述直流源模块的工作状态的直流源单控模块、与所述系统总控模块相连用于控制并监视所述负载模块的工作状态的负载单控模块及与所述系统总控模块相连的测试数据信息输出模块。3.根据权利要求2所述的电源芯片测试系统，其特征在于:所述系统总控模块包括用于设置控制所述直流源模块与所述负载模块控制指令的控制指令预设子模块、用于设置测试状态切换时间间隔的时间间隔预设子模块及用于设置测试数据存储路径及名称的存储预设子模块。4.根据权利要求3所述的电源芯片测试系统，其特征在于:所述系统总控模块还包括用于启动或停止测试系统的系统控制子模块及用于实时显示所述待测电源芯片在不同测试条件下的输入输出数据信息的数据显示子模块。
【文档编号】G01R31/28GK205484704SQ201620255987
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2016年3月30日
【发明人】杨旸, 韩涛
【申请人】成都锐成芯微科技有限责任公司