射频集成电路测试系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及集成电路技术领域，尤其涉及射频集成电路测试系统，本实用新型采用了电磁波感应传感器检测射频信号的技术设计，解决了传统射频信号检测设备复杂、成本昂贵的技术问题，达到了信号检测原理简易、设备简单、成本较低的技术效果；采用原信号和射频信号同时示波显示对的技术方法，解决了无法直观得到检测结果的技术问题，达到了通过对比两信号直观得出所测射频集成电路性能优劣的技术效果；采用了以单片机为核心的检测控制单元的技术方法，达到了整个检测系统工作方式简易、控制功能完善的技术效果。
【专利说明】
射频集成电路测试系统
技术领域
[0001]本实用新型涉及集成电路技术领域，尤其涉及射频集成电路测试系统。
【背景技术】
[0002]射频简称RF，射频就是射频电流，它是一种高频交流变化电磁波的简称。每秒变化小于1000次的交流电称为低频电流，大于1000次的称为高频电流，而射频就是这样一种高频电流。有线电视系统就是采用射频传输方式的。
[0003]在电子技术领域，射频电路的特性不同于普通的低频电路。主要原因是在高频条件下，电路的特性与低频条件下不同，因此需要利用射频电路理论去理解射频电路的工作原理。在高频条件下，杂散电容和杂散电感对电路的影响很大。杂散电感存在于导线连接以及组件本身存在的内部自感。杂散电容存在于电路的导体之间以及组件和地之间。在低频电路中，这些杂散参数对电路的性能影响很小，随着频率的增加，杂散参数的影响越来越大。在早期的VHF频段电视接收机中的高频头，以及通信接收机的前端电路中，杂散电容的影响都非常大以至于不再需要另外添加电容。
[0004]射频集成电路往往需要检测其实用性，但传统射频集成电路的检测方式一般较为复杂且设备昂贵。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型所要解决的技术问题，是针对上述存在的技术不足，提供了射频集成电路测试系统，采用了电磁波感应传感器检测射频信号的技术设计，解决了传统射频信号检测设备复杂、成本昂贵的技术问题，达到了信号检测原理简易、设备简单、成本较低的技术效果;采用原信号和射频信号同时示波显示对的技术方法，解决了无法直观得到检测结果的技术问题，达到了通过对比两信号直观得出所测射频集成电路性能优劣的技术效果；采用了以单片机为核心的检测控制单元的技术方法，达到了整个检测系统工作方式简易、控制功能完善的技术效果。
[0006]为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是:包括被测射频电路、检测控制器;检测控制器一侧连接有数据线，检测控制器通过数据线连接被测射频电路;检测控制器另一侧连接有示波器，示波器输入端连接有电磁传感器，被测射频电路射频信号连接电磁传感器；
[0007]检测控制器包括M⑶单元、调频电路、控制电路和电源;M⑶单元一侧I /0控制调频电路，调频电路输入端连接有载波信号，调频电路输出端一侧连接示波器口，调频电路输出端另一侧连接有数据线口，数据线口外接数据线;控制电路连接在MCU单元的I/O口，MCU单元另一侧连接有工作显示屏；电源为MCU单元和工作显示屏提供稳定电压。
[0008]进一步优化本技术方案，所述的M⑶单元为ATmegal28单片机芯片，工作显示屏为LCD1602显示屏，载波信号为38K高频载波信号。
[0009]进一步优化本技术方案，所述的控制电路包括检测信号频率调节旋钮和电源开关;
[0010]进一步优化本技术方案，所述的检测信号频率调节旋钮为旋转开关，电源开关为单刀双掷开关。
[0011 ]与现有技术相比，本实用新型具有以下优点:1、使用ATmegal28单片机作为主控单元，集成了较大容量的存储器和丰富强大的硬件接口电路，具有极高性能价格比；2、LCD液晶显示屏以其微功耗、体积小、显示内容丰富、超薄轻巧的诸多优点，在袖珍式仪表和低功耗应用系统中得到越来越广泛的应用，能较好地显示本系统的工作流程;3、本检测系统工作方式简单、能够较为简单地检测出射频集成电路的优劣，控制方式简易，成本较低。
【附图说明】
[0012]图1是本实用新型工作流程图；
[0013]图2是本实用新型控制器结构图；
[0014]图3是控制电路结构图；
[0015]图4是工作流程图；
[0016]图5是M⑶单元电路图。
[0017]图中，1、被测射频电路;2、数据线；3、检测控制器;4、示波器;5、电磁传感器;31、MCU单元;32、工作显示屏;33、调频电路;34、数据线口 ； 35、载波信号；36、示波器口 ； 37、控制电路;38、电源;371、检测信号频率调节旋钮;372、电源开关。
【具体实施方式】
[0018]为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面结合【具体实施方式】并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本实用新型的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本实用新型的概念。
[0019]【具体实施方式】一:如图1-5所示，包括被测射频电路1、检测控制器3;检测控制器3一侧连接有数据线2，检测控制器3通过数据线2连接被测射频电路I;检测控制器3另一侧连接有示波器4，示波器4输入端连接有电磁传感器5，被测射频电路I射频信号连接电磁传感器5;
[0020]检测控制器3包括M⑶单元31、调频电路33、控制电路37和电源38 ;M⑶单元31—侧I/O控制调频电路33，调频电路33输入端连接有载波信号35，调频电路33输出端一侧连接示波器4，调频电路33输出端另一侧连接有数据线口 34，数据线口 34外接数据线2;控制电路37连接在MCU单元31的I/O口，M⑶单元31另一侧连接有工作显示屏32;电源38为MCU单元31和工作显示屏32提供稳定电压。
[0021]所述的MCU单元31为ATmegal28单片机芯片，工作显示屏32为LCD1602显示屏，载波信号35为38K高频载波信号。所述的控制电路37包括检测信号频率调节旋钮371和电源开关372;所述的检测信号频率调节旋钮371为旋转开关，电源开关372为单刀双掷开关。
[0022]如图1，首先通过检测控制器3向被测射频电路I发送特定频率的检测信号，使被测射频电路I射频发出该信号，通过检测控制器3将该信号通过示波器显示，被测射频电路I通过射频信号发出检测信号被电磁传感器5接收，继而发送至示波器4显示，通过对比原信号和射频信号的差别来判断被测射频电路I的性能优劣；
[0023]图2为本实用新型控制器内部结构图，首先MCU单元I通过工作显示屏32显示本系统的工作状态，如检测中、等待;控制电路37控制M⑶单元31的工作状态，M⑶单元31通过控制调频电路33来发出特定信号的检测信号，一者发送给示波器4显示，一者通过数据线口 34发送至被测射频电路I。图2中，控制电路37主要包括两个部分，一者是检测信号频率调节旋钮371，其作用为调节检测信号的频率，使本系统具有普遍性;另一者为电源开关372;
[0024]图4为本实用新型的工作流程图，结合图1、3，首先通过检测信号频率调节旋钮371来选择检测信号频率;通过MCU单元31发送至示波器4和被测射频电路1，通过对比两者对比是否一致来验证被测射频电路I的性能好坏。
[0025]图5为单片机ATmegal28的最小型系统，使用ATmegal28单片机作为主控单元31，集成了较大容量的存储器和丰富强大的硬件接口电路，具有极高性能价格比。
[0026]应当理解的是，本实用新型的上述【具体实施方式】仅仅用于示例性说明或解释本实用新型的原理，而不构成对本实用新型的限制。因此，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。此外，本实用新型所附权利要求旨在涵盖落入所附权利要求范围和边界、或者这种范围和边界的等同形式内的全部变化和修改例。
【主权项】
1.射频集成电路测试系统，其特征在于:包括被测射频电路(I)、检测控制器(3);检测控制器(3)—侧连接有数据线(2)，检测控制器(3)通过数据线(2)连接被测射频电路(I);检测控制器(3)另一侧连接有示波器(4)，示波器(4)输入端连接有电磁传感器(5)，被测射频电路(I)射频信号连接电磁传感器(5); 检测控制器(3)包括MCU单元(31)、调频电路(33)、控制电路(37)和电源(38);M⑶单元(31)一侧I/O控制调频电路(33)，调频电路(33)输入端连接有载波信号(35)，调频电路(33)输出端一侧连接示波器(4)，调频电路(33)输出端另一侧连接有数据线口(34)，数据线口(34)外接数据线(2);控制电路(37)连接在MCU单元(31)的I/O口，MCU单元(31)另一侧连接有工作显示屏(32);电源(38)为MCU单元(31)和工作显示屏(32)提供稳定电压。2.根据权利要求1所述的射频集成电路测试系统，其特征在于:MCU单元(31)为ATmegal28单片机芯片，工作显示屏(32)为LCD1602显示屏，载波信号(35)为38K高频载波信号。3.根据权利要求1所述的射频集成电路测试系统，其特征在于:控制电路(37)包括检测信号频率调节旋钮(371)和电源开关(372)。4.根据权利要求3所述的射频集成电路测试系统，其特征在于:检测信号频率调节旋钮(371)为旋转开关，电源开关(372)为单刀双掷开关。
【文档编号】G01R31/28GK205539360SQ201620100079
【公开日】2016年8月31日
【申请日】2016年2月1日
【发明人】师建英
【申请人】河北大学