一种恒温分析天平的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种恒温分析天平，所述恒温分析天平包括：测量基座、测量室、测量平台、加热管、继电器、电源和恒温控制电路；其中，电源与继电器、加热管串联连接；所述恒温控制电路包括：电压源、热敏电阻、电阻、三极管、比较器和继电器；第一电压源与热敏电阻的一端连接，热敏电阻的另一端连接第一电阻的一端，第一电阻的另一端接地，热敏电阻的另一端连接比较器的反向输入端，比较器的正向输入端连接第二电压源，比较器的输出端连接三极管的基极，三极管的集电极连接第一电压源，三极管的发射极连接继电器的一端，继电器的另一端连接第二电阻，第二电阻的另一端接地。本实用新型提供的技术方案具有用户使用方便，恒温控制的优点。
【专利说明】
一种恒温分析天平
技术领域
[0001 ]本实用新型涉及测量技术领域，尤其涉及一种恒温分析天平。【背景技术】
[0002]称量前应检查天平是否正常，是否处于水平位置，吊耳、圈码是否脱落，玻璃框内外是否清洁。分析天平是定量分析工作中不可缺少的重要仪器，一般是指能精确称量到 0.0001克(0.1毫克)的天平。分析天平的精度温度影响也很大，现有的分析天平一般设置有加热管，但是并没有相应的温度控制装置，所以现有的分析天平精度低。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种恒温分析天平，该分析天平具有使用方便的优点。
[0004]—种恒温分析天平，所述恒温分析天平包括:测量基座、测量室、测量平台、加热管、继电器、电源和恒温控制电路；
[0005]其中，电源与所述继电器、所述加热管串联连接;所述恒温控制电路包括:电压源、 热敏电阻RT、电阻、三极管、比较器和继电器；
[0006]第一电压源与热敏电阻的一端连接，热敏电阻的另一端连接第一电阻的一端，第一电阻的另一端接地，热敏电阻的另一端连接比较器的反向输入端，比较器的正向输入端连接第二电压源，比较器的输出端连接三极管的基极，三极管的集电极连接第一电压源，三极管的发射极连接继电器的一端，继电器的另一端连接第二电阻，第二电阻的另一端接地。
[0007]可选的，所述测量基座的四角设置4个槽孔，该分析天平还包括:与该4个槽孔配合的柱体、插销，该柱体的侧面设置有与插销配合的定位孔，该槽孔的一侧设置有高度不同的多个限位孔。
[0008]由上述本实用新型提供的技术方案可知，该分析天平恒温的优点。【附图说明】
[0009]为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。
[0010]图1为本实用新型所提供恒温分析天平的电路示意图；
[0011]图2为本实用新型所提供的恒温分析天平的结构示意图；
[0012]图3为本实用新型提供的分析天平的柱体和槽孔的配合示意图。【具体实施方式】
[0013]下面结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型的保护范围。
[0014]下面将结合附图对本实用新型实施例作进一步地详细描述，如图1、2所示为本实用新型所提供恒温分析天平的电路示意图，所述分析天平包括:测量基座1、测量室2、测量平台3、加热管、继电器40、电源和恒温控制电路；
[0015]其中，电源与继电器、加热管串联连接;该恒温控制电路如图1所示，包括:电压源、 热敏电阻RT、电阻、三极管、比较器和继电器40;
[0016]第一电压源VCC1与热敏电阻RT的一端连接，热敏电阻RT的另一端连接第一电阻R1 的一端，第一电阻R1的另一端接地，热敏电阻RT的另一端连接比较器的反向输入端，比较器的正向输入端连接第二电压源VCC2，比较器的输出端连接三极管T1的基极，三极管T1的集电极连接第一电压源VCC1，三极管T1的发射极连接继电器40的一端，继电器40的另一端连接第二电阻R2，第二电阻R2的另一端接地。
[0017]其实现原理为，RT随温度的增加阻值变小，随着其阻值的变小，比较器的反向输入端的电压升高，此时比较器的输出端输出低电平，T1关闭，继电器40关断，这样继电器关闭电源与加热管之间的电路，温度降低时，RT的阻值变大，比较器的反向输入端电压降低，比较器输出高电平，T1导通，继电器40闭合，加热管工作。所以其具有控制测量室的温度的优点。
[0018]可选的，如图2、3所示，测量基座1的四角设置4个槽孔10,该分析天平还包括:与该 4个槽孔配合的中空柱体20、插销，该柱体的侧面设置有与插销配合的中空定位孔21，该4个槽孔10的一侧设置有高度不同的多个限位孔19。
[0019]本实用新型提供的分析天平的底部设置有柱体和槽孔，这样分析天平就可以依据该柱体来调节分析天平的平整度，所以其能够在户外使用，所以其具有用户使用方便的优点。
[0020]综上所述，本实用新型实施例所提供的技术方案能够对分析天平的高度进行调整以及控制测量室温度的优点。
[0021]以上所述，仅为本实用新型较佳的【具体实施方式】，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型披露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。
【主权项】
1.一种恒温分析天平，其特征在于，所述恒温分析天平包括:测量基座、测量室、测量平 台、加热管、继电器、电源和恒温控制电路；其中，电源与所述继电器、所述加热管串联连接;所述恒温控制电路包括:电压源、热敏 电阻、电阻、三极管、比较器和继电器；第一电压源与热敏电阻的一端连接，热敏电阻的另一端连接第一电阻的一端，第一电 阻的另一端接地，热敏电阻的另一端连接比较器的反向输入端，比较器的正向输入端连接 第二电压源，比较器的输出端连接三极管的基极，三极管的集电极连接第一电压源，三极管 的发射极连接继电器的一端，继电器的另一端连接第二电阻，第二电阻的另一端接地。2.根据权利要求1所述的恒温分析天平，其特征在于，所述测量基座的四角设置4个槽 孔，该分析天平还包括:与该4个槽孔配合的柱体、插销，该柱体的侧面设置有与插销配合的 定位孔，该槽孔的一侧设置有高度不同的多个限位孔。
【文档编号】G01G1/42GK205607514SQ201620156872
【公开日】2016年9月28日
【申请日】2016年3月1日
【发明人】刘锦荣
【申请人】广东中健检测技术有限公司