一种光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，一种光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器,包括支架，支架包括上支板、下支板和用于支撑连接上支板与下支板的支撑柱，上支板和下支板之间形成一用于放置光谱仪样品杯的容腔；下支板设有底座，底座的上端面设有开口朝上的用于放置光谱仪样品杯的凹槽；上支板设有贯穿两端端面的插孔和预留观察孔，插孔用于引导低温恒温器冷头插入容腔内，预留观察孔用于观察低温恒温器冷头在容腔内的位置；上支板在插孔的周边设有方向微调装置，方向微调装置用于夹紧调节低温恒温器冷头在容腔水平横截面内的偏移位置。运用本实用新型组成的光谱测量系统占地小、结构稳定且光路不易跑偏，保证测量效果和精度。
【专利说明】
一种光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器
技术领域
[0001]本实用新型涉及仪器仪表领域，更具体地，涉及一种光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器。【背景技术】
[0002]目前低温下物质性质参数测量技术手段十分有限，多年来一致困扰低温物质的研究。为此，一些对人类发展非常重要的研究如超导机理研究、功能材料等研究因为相关物质参数的缺损而长时间裹足不前。[〇〇〇3]在低温下，通过光信号对光吸收系数的依赖关系，开展光谱研究，利用其对光热转换系数的依赖性，研究物质的热退激发过程，并由此获得非热退激发过程的信息，进而获取物质的微观物理和化学性质。
[0004]目前，各研究机构均通过低温恒温器来成就低温环境，但低温恒温器的冷头均设有管道，重量较大，而现有的技术基本上是采用悬挂式设计，即通过一个十字架把冷头悬挂起来，然后把冷头伸入光谱仪的样品室，同时通过十字架来调节冷头XYZ的行程，实现低温液氮温度或者低温液氦温度的光谱测量。[〇〇〇5]但是悬挂式的设计方式带来几方面的问题:
[0006]1、科研实验室都很拥挤，寸土寸金，而传统悬挂式设计结构需要占用面积很大的场地；
[0007]2、悬挂式结构的稳定性较差，光路容易跑偏；
[0008]3、低温和常温光谱测试切换的时候，光路需要重新调节，花费时间较多，加重了科研人员的重复性劳动作业。【实用新型内容】
[0009]本实用新型提供一种光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，以解决目前的低温恒温器与光谱仪的配合使用时，需要占用大面积试验场地、测量过程中光路容易跑偏的技术问题。
[0010]本实用新型提供了一种光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，包括支架，支架包括上支板、下支板和用于支撑连接上支板与下支板的支撑柱，上支板和下支板之间形成一用于放置光谱仪样品杯的容腔；
[0011]下支板设有底座，底座的上端面设有开口朝上的用于放置光谱仪样品杯的凹槽；
[0012]上支板设有贯穿两端端面的插孔和预留观察孔，插孔用于引导低温恒温器冷头插入容腔内，预留观察孔用于观察低温恒温器冷头在容腔内的位置；
[0013]上支板在插孔的周边设有方向微调装置，方向微调装置用于夹紧调节低温恒温器冷头在容腔水平横截面内的偏移位置。
[0014]进一步地，方向微调装置包括支杆，其一端与上支板的上表面连接，其另一端设有贯穿杆壁的通孔，通孔内套设有调节螺杆，螺杆包括设有调节旋钮的第一端和穿出通孔外的第二端，螺杆的第二端用于顶接低温恒温器的外缘。
[0015]进一步地，方向微调装置设有三个以上。
[0016]进一步地，多个方向微调装置均匀分布于插孔的周边。
[0017]进一步地，插孔呈方形、圆形或椭圆形。
[0018]进一步地，底座通过紧固件可拆卸连接于下支板。[〇〇19]本实用新型的有益效果:
[0020]本实用新型光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，通过上支板和下支板形成一个容腔，低温恒温器的冷头通过插孔深入到容腔内，通过上支板上的方向微调装置夹紧支撑该低温恒温器的冷头，同时亦能通过方向微调装置调节低温恒温器冷头在容腔水平横截面内的偏移位置，以使得在对样品进行测量时，低温恒温器的冷头能与放置于底座凹槽上的光谱仪样品杯配合使用。更具体地，底座上的凹槽与光谱仪样品杯尺寸大小一致，用以限制光谱仪样品杯在测量时产生水平方向上的位移，确保了光路不会产生偏移，提高了测量结果精度。【附图说明】
[0021]构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
[0022]图1是本实用新型实施例光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器的主视结构示意图；
[0023]图2是本实用新型实施例光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器的俯视结构示意图。[〇〇24]附图标记:[〇〇25]10、上支板;20、下支板;30、底座;40、支撑柱;50、方向微调装置;51、支杆;52、调节螺杆;60、插孔;70、凹槽。【具体实施方式】
[0026]下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0027]参照图1，本实用新型优选实施例提供了一种光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，包括支架，支架包括上支板10、下支板20和用于支撑连接上支板10与下支板20的支撑柱 40,上支板10和下支板20之间形成一用于放置光谱仪样品杯的容腔；[〇〇28]下支板20设有底座30,底座30的上端面设有开口朝上的用于放置光谱仪样品杯的凹槽70;[〇〇29] 上支板10设有贯穿两端端面的插孔60和预留观察孔，插孔60用于引导低温恒温器冷头插入容腔内，预留观察孔用于观察低温恒温器冷头在容腔内的位置；
[0030]上支板10在插孔60的周边设有方向微调装置50,方向微调装置50用于夹紧调节低温恒温器冷头在容腔水平横截面内的偏移位置。
[0031]本实用新型优选实施例光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，通过上支板10和下支板20形成一个容腔，低温恒温器的冷头通过插孔60深入到容腔内，通过上支板10上的方向微调装置50夹紧支撑该低温恒温器的冷头，同时亦能通过方向微调装置50调节低温恒温器冷头在容腔水平横截面内的偏移位置，以使得在对样品进行测量时，低温恒温器的冷头能与放置于底座30凹槽70上的光谱仪样品杯配合使用。更具体地，底座30上的凹槽70与光谱仪样品杯尺寸大小一致，用以限制光谱仪样品杯在测量时产生水平方向上的位移，确保了光路不会产生偏移，提高了测量结果精度。
[0032]本实用新型优先实施例的结构部件简单，组装十分方便，通过可调节耦合器直接同时与光谱仪和低温恒温器可拆卸连接，大幅增强了整体的机械强度，相较于传统的悬挂式设计结构，本实用新型优选实施例可调节耦合器直接铺设与地面，避免悬挂式设计结构所产生的晃动，进一步保证和提高了测量精度。[〇〇33]更具体地，上支板10设有预留观察孔，在将冷头深入到容腔内后，通过该预留观察孔能实时观察到冷头的位置，方便试验人员对其进行操作。[〇〇34]进一步地，参照图2,方向微调装置50包括支杆51，其一端与上支板10的上表面连接，其另一端设有贯穿杆壁的通孔，通孔内套设有调节螺杆52,螺杆包括设有调节旋钮的第一端和穿出通孔外的第二端，螺杆的第二端用于顶接低温恒温器的外缘。更具体地，通孔与调节螺杆52螺纹连接，且通过将螺杆朝冷头的方向旋入时，即能控制冷头沿调节螺杆52旋入的方向偏移。[〇〇35]进一步地，方向微调装置50设有三个以上。方向微调装置50的数量越多，对冷头的位置调节更加精细。同时，冷头的夹持强度更高，更加稳定。[〇〇36] 进一步地，多个方向微调装置50均匀分布于插孔60的周边。[〇〇37] 进一步地，插孔60呈方形、圆形或椭圆形。[〇〇38] 进一步地，底座30通过紧固件可拆卸连接于下支板20。通过此种方式，试验人员能根据样品测量时的具体需求针对性更换光谱仪样品杯。更具体地，底座30上的凹槽70设置成多种不同的形状和尺寸，以实现对不同光谱仪样品杯的贴合卡紧，方便实用。
[0039]以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，包括支架，其特征在于，所述支架包括上 支板、下支板和用于支撑连接所述上支板与所述下支板的支撑柱，所述上支板和所述下支 板之间形成一用于放置光谱仪样品杯的容腔;所述下支板设有底座，所述底座的上端面设 有开口朝上的用于放置光谱仪样品杯的凹槽;所述上支板设有贯穿两端端面的插孔和预留 观察孔，所述插孔用于引导低温恒温器冷头插入所述容腔内，所述预留观察孔用于观察所 述低温恒温器冷头在所述容腔内的位置;所述上支板在所述插孔的周边设有方向微调装 置，所述方向微调装置用于夹紧调节所述低温恒温器冷头在所述容腔水平横截面内的偏移 位置。2.根据权利要求1所述的光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，其特征在于，所述方向 微调装置包括支杆，其一端与所述上支板的上表面连接，其另一端设有贯穿杆壁的通孔，所 述通孔内套设有调节螺杆，所述螺杆包括设有调节旋钮的第一端和穿出所述通孔外的第二 端，所述螺杆的第二端用于顶接所述低温恒温器的外缘。3.根据权利要求2所述的光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，其特征在于，所述方向 微调装置设有三个以上。4.根据权利要求3所述的光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，其特征在于，多个所述 方向微调装置均匀分布于所述插孔的周边。5.根据权利要求1所述的光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，其特征在于，所述插孔 呈方形、圆形或椭圆形。6.根据权利要求1至5任一所述的光谱仪与低温恒温器的可调节耦合器，其特征在于， 所述底座通过紧固件可拆卸连接于所述下支板。
【文档编号】G01N21/01GK205607839SQ201520806886
【公开日】2016年9月28日
【申请日】2015年10月19日
【发明人】梁世健
【申请人】广州贝拓仪器设备有限公司