二极管功率老化﹑反偏试验通用夹具的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种二极管功率老化﹑反偏试验通用夹具，它包括二极管安装基板和试验电路板，二极管安装基板上设置有若干用以安装被测试二极管的二极管安装管孔，二极管安装基板的一侧边设置有内置若干第一接线端子的卡槽，第一接线端子分别与二极管安装管孔电连接；试验电路板上设置有若干试验电路，试验电路板的一侧边设置有与卡槽相对应且相互卡接的卡口，卡口上设置有若干第二接线端子，第二接线端子分别与试验电路电连接；试验电路板包括二极管反偏试验电路板和二极管功率老化试验电路板。本实用新型只需安装一次二极管产品即可完成功率老化和反偏试验，从而实现了产品反偏和功率老化无间隙试验，缩短了产品的筛选试验时间。
【专利说明】
二极管功率老化及偏试验通用夹具
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种二极管试验夹具，具体地说是一种二极管功率老化、反偏试验通用夹具，属于电子元器件测试装置技术领域。
【背景技术】
[0002]随着二极管的使用越来越广泛，二极管的使用环境也各不一样。为了能够满足各种使用环境的要求，需要在生产二极管时对二极管进行筛选试验。筛选试验:是指为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效的产品而进行的试验。通过筛选试验主要是指剔除早期失效的产品而进行的试验，它是一种对产品进行全数检验的非破坏性试验，通过按照一定的程序施加环境应力，激发出产品潜在的设计和制造缺陷，以便剔除早期失效产品，降低失效率。元器件的筛选一般应由元器件生产方按照军用电子元器件规范或供需双方签订的合同进行。
[0003]二极管筛选试验中主要包括二极管功率老化试验和二极管反偏试验。一、二极管功率老化试验:功率老化筛选的原理及作用是给电子元器件施加一定的功率，模拟其工作环境，使它们内部的潜在故障加速暴露出来，然后进行电气参数测量，筛选剔除那些失效或变值的元器件，尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。功率老化筛选的指导思想是，经过功率老化筛选，有缺陷的元器件会失效，而优质品能够通过，这里必须注意试验方法正确和外加条件适当，否则，可能对参加筛选的元器件造成不必要的损伤。二、二极管反偏试验:二极管反偏试验是使产品在高温下加上反向偏压，这是一种严酷的工作方式，由于高温下漏电流增大，在温度和电场的作用下，质量差的器件就会失效，用这种方法可以判断生产批的质量好坏，尤其是高温性能的水平。
[0004]目前二极管功率老化、反偏试验需要分别采用反偏试验夹具进行反偏试验和采用功率老化试验夹具进行功率老化试验，这种试验方式存在的以下问题:现有的反偏试验夹具是将进行试验的二极管所有管位各串联一个电阻，然后再并联。现有的功率老化试验夹具是将进行试验的二极管所有管位先并联一个电阻和LED指示灯，然后再串联。这种分开设计的反偏和功率老化试验夹具，进行筛选试验的产品需分别安装到反偏试验夹具和功率老化试验夹具上，即一支产品反偏安装一次，功率老化再安装一次，在实际生成过程中，玻封和塑封二极管产品由于其体积小、产品电极极性不明显的特点，在产品功率老化安装和测试方面存在较多的困难，从而使筛选工序工作量非常大，试验夹具也容易损坏，也增加了轴向产品应力损伤。
[0005]为了加快筛选进度，迫切需要重新设计一种新的反二极管偏和功率老化试验夹具。
【实用新型内容】
[0006]为克服上述现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种二极管功率老化、反偏试验通用夹具，其能够实现低压小电流二极管反偏和功率老化试验的无间隙试验，从而缩短产品的筛选试验时间，也使筛选过程控制变得极为方便。
[0007]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:二极管功率老化、反偏试验通用夹具，其特征是:包括二极管安装基板和试验电路板，所述二极管安装基板上设置有若干二极管安装管孔，二极管安装基板的一侧边设置有卡槽，所述卡槽内设置有若干第一接线端子，所述的第一接线端子分别与二极管安装管孔电连接;所述二极管安装管孔用以安装被测试二极管;所述试验电路板上设置有若干试验电路，试验电路板的一侧边设置有与卡槽相对应且相互卡接的卡口，所述卡口上设置有若干与第一接线端子相对应的第二接线端子，所述的第二接线端子分别与试验电路电连接;所述试验电路板包括二极管反偏试验电路板和二极管功率老化试验电路板。
[0008]优选地，所述二极管反偏试验电路板上设置有二极管反偏试验电路，所述二极管反偏试验电路与设置在二极管反偏试验电路板一侧边卡口上的第二接线端子电连接。
[0009]优选地，所述二极管反偏试验电路包括与二极管安装基板上的被测试二极管数量一致的反偏试验电阻，所述的反偏试验电阻的一端并联后与电源电压相连，反偏试验电阻的另一端分别与卡口上的第二接线端子电连接，卡口上其它未与反偏试验电阻连接的第二接线端子并联后接地。
[0010]优选地，所述二极管功率老化试验电路板上设置有二极管功率老化试验电路，所述二极管功率老化试验电路与设置在二极管功率老化试验电路板一侧边卡口上的第二接线端子电连接。
[0011]优选地，所述二极管功率老化试验电路包括与二极管安装基板上的被测试二极管数量一致的功率老化试验电阻和LED指示灯，所述的功率老化试验电阻和LED指示灯相互交替组成串联电路，串联电路的一端与电源电压相连，串联电路的另一端接地;一个功率老化试验电阻和一个LED指示灯组成一组测试电路，每组测试电路的两端分别与卡口上的第二接线端子电连接。
[0012]本实用新型的有益效果是:
[0013]本实用新型提出了一种新的功率老化、反偏试验通用夹具，二极管产品只需安装一次即可完成功率老化和反偏试验，从而实现了产品反偏和功率老化无间隙试验，缩短了产品的筛选试验时间，加快了产品的试验进度，也使筛选过程控制变得极为方便。
[0014]与现有技术相比，本实用新型主要具有以下优势:
[0015]1.被测试元器件无需进行二次安装，被测试元器件安装和拆卸的工作量减小一半，提高了工作效率。
[0016]2.对于轴向产品，由于无需二次安装，减少了由安装和拆卸引起的应力损伤。
[0017]3.实现了产品在夹具上的测试，提高了测试速度，减少了产品测试所需的周转时间，反偏试验结束后可以快速地进行下一步的功率老化试验。
[0018]4.由于实现了产品反偏和功率老化的无间隙试验，筛选过程控制变得极为方便，特别对于那些产品数量较大的批次，产品拆成小批次后，这些小批次的产品都能及时完成反偏和功率老化试验，降低了过程中的风险。
[0019]5.由于无需进行二次安装，实现了产品从初测到终点测试的一一对应，在需要对产品的参数做试验前后对比时就格外容易。
【附图说明】
[0020]图1是本实用新型在将二极管安装基板和试验电路板安装在一起进行二极管试验时的结构不意图；
[0021]图2是本实用新型将二极管安装基板和试验电路板分开时的结构示意图；
[0022]图3是本实用新型的二极管安装基板的结构示意图；
[0023]图4是本实用新型的二极管反偏试验电路板的结构示意图；
[0024]图5是本实用新型的二极管功率老化试验电路板的结构示意图；
[0025]图中，I二极管安装基板、11二极管安装管孔、12卡槽、2试验电路板、21卡口、2-1二极管反偏试验电路板、21-1 二极管反偏试验电路板卡口、2-2 二极管功率老化试验电路板、21-2 二极管功率老化试验电路板卡口。
【具体实施方式】
[0026]为了简化本实用新型的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本实用新型省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本实用新型。
[0027]如图1至图5所示，本实用新型的一种二极管功率老化、反偏试验通用夹具，它包括二极管安装基板I和试验电路板2，所述二极管安装基板I上设置有若干二极管安装管孔11，二极管安装基板I的一侧边设置有卡槽12，所述卡槽12内设置有若干第一接线端子(all、al2、al3^_aln和bll、bl2、bl3^_bln)，所述的第一接线端子分别与二极管安装管孔11电连接;所述二极管安装管孔11用以安装被测试二极管(D11、D12、D13…Dln);所述试验电路板2上设置有若干试验电路，试验电路板2的一侧边设置有与卡槽相对应且相互卡接的卡口 21，所述卡口 21上设置有若干与第一接线端子相对应的第二接线端子，所述的第二接线端子分别与试验电路电连接。所述试验电路板2包括二极管反偏试验电路板2-1和二极管功率老化试验电路板2_2。
[0028]如图4所示，本实用新型所述的二极管反偏试验电路板2-1上设置有二极管反偏试验电路，所述二极管反偏试验电路与设置在二极管反偏试验电路板一侧边二极管反偏试验电路板卡口21-1上的第二接线端子(321、322、323丨3211和匕2^22423-七211)电连接。所述二极管反偏试验电路包括与二极管安装基板上的被测试二极管数量一致的反偏试验电阻(R21、R22、R23…R2n)，所述的反偏试验电阻(R21、R22、R23…R2n)的一端并联后与电源电压VCC相连，反偏试验电阻的另一端分别与二极管反偏试验电路板卡口 21-1上的第二接线端子(b21、b22、b23…b2n)电连接，二极管反偏试验电路板卡口 21-1上其它未与反偏试验电阻连接的第二接线端子(a21、a22、a23…a2n)并联后接地。
[0029]如图5所示，本实用新型的所述二极管功率老化试验电路板2-2上设置有二极管功率老化试验电路，所述二极管功率老化试验电路与设置在二极管功率老化试验电路板一侧边二极管功率老化试验电路板卡口 21-2上的第二接线端子(a31、a32、a33…a3n和b31、b32、b33…b3n)电连接。所述二极管功率老化试验电路包括与二极管安装基板上的被测试二极管数量一致的功率老化试验电阻(1?31、1?32、1?33丨1?311)和1^0指示灯(1^031、1^032、1^033...LED3n)，所述的功率老化试验电阻和LED指示灯相互交替组成串联电路，串联电路的一端与电源电压相连，串联电路的另一端接地;一个功率老化试验电阻和一个LED指示灯组成一组测试电路(如图5所示，R31和LED31为一组测试电路、R32和LED32为一组测试电路、R33和LED33为一组测试电路…R3n和LED3n为一组测试电路)，每组测试电路的两端分别与卡口上的第二接线端子电连接。
[0030]通过对电路的分析，本实用新型将所有管位看作是一个安装夹具，而将反偏使用的串联电阻、功率老化使用的并联电阻和LED指示灯独立出来放到单独的一个试验夹具上，分别看做反偏电路和功率老化电路。
[0031]在需进行反偏和功率老化试验时，先将产品安装到二极管安装基板上，进行反偏试验时将二极管反偏试验电路板安装到二极管安装基板上，即二极管安装基板的all和二极管反偏试验电路板的a21连接，二极管安装基板的bll和二极管反偏试验电路板的b21连接，以此类推，这样就可实现原反偏试验夹具的功能.而当需要进行功率老化试验时，将二极管反偏试验电路板取下，再将二极管功率老化试验电路板安装到二极管安装基板上，即二极管安装基板的all和功二极管功率老化试验电路板的a31连接，二极管安装基板的bll和二极管功率老化试验电路板的b31连接，以此类推，这样就可以实现原功率老化夹具的功能。这种利用本实用新型的测试方法达到了设计要求，满足通过更换二极管反偏试验电路板和二极管功率老化试验电路板即可实现产品的反偏和功率老化试验，无需进行产品的二次安装，实现了产品反偏和功率老化试验的无间隙试验。
[0032]本实用新型的设计适用于二极管等电子元器件的筛选试验。使用此设计方案，待试验的产品只需安装一次，即可完成功率老化和反偏试验，并且产品的测试也可试验夹具上进行，提高了测试速度，减少了产品测试和二次安装和拆卸的所需的周转时间，提高了工作效率。实现了产品从试验前，反偏试验后和功率老化试验后的测试的一一对应，在安装和测试方面都节约了人工成本。本实用新型同时减小了轴向产品由于安装和拆卸引起的应力损伤，筛选过程控制变得极为方便，大大降低了过程中的风险。
[0033]与现有技术相比，本实用新型主要具有以下优势:
[0034]1.被测试元器件无需进行二次安装，被测试元器件安装和拆卸的工作量减小一半，提高了工作效率。
[0035]2.对于轴向产品，由于无需二次安装，减少了由安装和拆卸引起的应力损伤。
[0036]3.实现了产品在夹具上的测试，提高了测试速度，减少了产品测试所需的周转时间，反偏试验结束后可以快速地进行下一步的功率老化试验。
[0037]4.由于实现了产品反偏和功率老化的无间隙试验，筛选过程控制变得极为方便，特别对于那些产品数量较大的批次，产品拆成小批次后，这些小批次的产品都能及时完成反偏和功率老化试验，降低了过程中的风险。
[0038]5.由于无需进行二次安装，实现了产品从初测到终点测试的一一对应，在需要对产品的参数做试验前后对比时就格外容易。
[0039]本实用新型在效益方面的意义:
[0040]1.通过测算按玻封和塑封产品每月筛选6万支计算，在安装和测试方面可以节约1.5人的工作量，每年可以节约人工成本10万元以上，长期节约成本更甚。
[0041]2.原试验夹具在产品失效时往往会将反偏或老化电路烧坏，导致整个试验夹具报废，而采用新方法后产品失效时不会将试验安装夹具烧毁，只是将两个对应的反偏电路板和功率老化电路板损坏，从而更好的节约了成本。
[0042]以上所述只是本实用新型的优选实施方式，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也被视为本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.二极管功率老化、反偏试验通用夹具，其特征是:包括二极管安装基板和试验电路板，所述二极管安装基板上设置有若干二极管安装管孔，二极管安装基板的一侧边设置有卡槽，所述卡槽内设置有若干第一接线端子，所述的第一接线端子分别与二极管安装管孔电连接;所述二极管安装管孔用以安装被测试二极管;所述试验电路板上设置有若干试验电路，试验电路板的一侧边设置有与卡槽相对应且相互卡接的卡口，所述卡口上设置有若干与第一接线端子相对应的第二接线端子，所述的第二接线端子分别与试验电路电连接；所述试验电路板包括二极管反偏试验电路板和二极管功率老化试验电路板。2.根据权利要求1所述的二极管功率老化、反偏试验通用夹具，其特征是:所述二极管反偏试验电路板上设置有二极管反偏试验电路，所述二极管反偏试验电路与设置在二极管反偏试验电路板一侧边卡口上的第二接线端子电连接。3.根据权利要求2所述的二极管功率老化、反偏试验通用夹具，其特征是:所述二极管反偏试验电路包括与二极管安装基板上的被测试二极管数量一致的反偏试验电阻，所述的反偏试验电阻的一端并联后与电源电压相连，反偏试验电阻的另一端分别与卡口上的第二接线端子电连接，卡口上其它未与反偏试验电阻连接的第二接线端子并联后接地。4.根据权利要求1所述的二极管功率老化、反偏试验通用夹具，其特征是:所述二极管功率老化试验电路板上设置有二极管功率老化试验电路，所述二极管功率老化试验电路与设置在二极管功率老化试验电路板一侧边卡口上的第二接线端子电连接。5.根据权利要求4所述的二极管功率老化、反偏试验通用夹具，其特征是:所述二极管功率老化试验电路包括与二极管安装基板上的被测试二极管数量一致的功率老化试验电阻和LED指示灯，所述的功率老化试验电阻和LED指示灯相互交替组成串联电路，串联电路的一端与电源电压相连，串联电路的另一端接地;一个功率老化试验电阻和一个LED指示灯组成一组测试电路，每组测试电路的两端分别与卡口上的第二接线端子电连接。
【文档编号】G01R1/04GK205620437SQ201620383799
【公开日】2016年10月5日
【申请日】2016年4月29日
【发明人】郝思成, 耿宁宁, 李兴广
【申请人】济南市半导体元件实验所