一种芯片检测装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种芯片检测装置，包括芯片检测装置，所述芯片检测装置上安装有芯片放置板，所述芯片放置板的左右两侧均安装有滑轨，且滑轨的顶部安装有限位装置，所述滑轨上安装有检测装置，且检测装置的下方安装有检测针，所述芯片检测装置上设置有启动按钮和功能调节键，且启动按钮位于功能调节键的左侧，所述芯片检测装置的底部安装有防滑装置。本实用新型在对芯片进行检测发现故障时，增加了一项故障位置标记功能，使得整个芯片检测完成后，操作人员可以很直观的了解芯片的哪个地方需要如何的维修；在同一工作台面上设置有两个检测装置，使得在批量芯片检测的时候，提高工作的效率。
【专利说明】
一种芯片检测装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及检测设备技术领域，具体为一种芯片检测装置。
【背景技术】
[0002]目前，芯片是主板的核心组成部分，按照在主板上的排列位置的不同，通常分为北桥芯片和南桥芯片。北桥芯片提供对CPU的类型和主频、内存的类型和最大容量、ISA/PCI/AGP插槽、ECC纠错等支持。南桥芯片则提供对KBC、RTC、USB、Ultra DMA/33EIDE数据传输方式和ACPI等的支持。其中北桥芯片起着主导性的作用，也称为主桥。
[0003]然而现有的芯片检测装置在使用过程中存在着一些不足之处，芯片的构造大多较为复杂，在制造过程中各个地方均有可能出现问题，而现有的检测装置并不具备标记故障位置的功能，从而使得检测过后的维修环节的操作较为繁琐，导致工作的效率十分低。
【发明内容】
[0004]本实用新型的目的在于提供一种芯片检测装置，以解决上述【背景技术】中提出的工作效率低的问题。
[0005]为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案:一种芯片检测装置，包括芯片检测装置、故障标记模块和信息储存模块，所述芯片检测装置上安装有芯片放置板，所述芯片放置板的左右两侧均安装有滑轨，且滑轨的顶部安装有限位装置，所述滑轨上安装有检测装置，且检测装置的下方安装有检测针，所述芯片检测装置上设置有启动按钮和功能调节键，且启动按钮位于功能调节键的左侧，所述芯片检测装置的底部安装有防滑装置，所述芯片检测装置输出端与AVR中央控制处理器输入端电性连接，所述AVR中央控制处理器输出端与信息分析模块输入端电性连接，所述故障标记模块输入端和信息储存模块输入端均与信息分析模块输出端电性连接，且故障标记模块输出端与信息储存模块输入端电性连接，所述信息储存模块输出端与解决方法整理模块输入端电性连接，所述解决方法整理模块输出端与信号发射装置输入端电性连接，所述信号发射装置输出端与终端设备输入端电性连接。
[0006]优选的，所述芯片放置板通过铰链装置安装在芯片检测装置上。
[0007]优选的，所述功能调节键共设置有三个。
[0008]优选的，所述滑轨为H形结构。
[0009]与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:该一种芯片检测装置，首先，在原有的基础上，在对芯片进行检测发现故障时，增加了一项故障位置标记功能，使得整个芯片检测完成后，操作人员可以很直观的了解芯片的哪个地方需要如何的维修，从而减少时间上的浪费，提高工作的效率;其次，在同一工作台面上设置有两个检测装置，使得在批量芯片检测的时候，提高工作的效率。
【附图说明】
[0010]图1为本实用一种芯片检测装置的结构示意图；
[0011 ]图2为本实用一种芯片检测装置的工作台面结构示意图；
[0012]图3为本实用一种芯片检测装置的原理框图。
[0013]图中:1-芯片放置板;2-检测针；3-限位装置;4-检测装置;5-滑轨;6_芯片检测装置;7-防滑装置;8-启动按钮;9-功能调节键；10-AVR中央控制处理器；11-信息分析模块；12-故障标记模块;13-信息储存模块;14-解决方法整理模块；15-信号发射装置;16-终端设备。
【具体实施方式】
[0014]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0015]请参阅图1-3，本实用新型提供的一种实施例:一种芯片检测装置，包括芯片检测装置6、故障标记模块12和信息储存模块13，芯片检测装置6上安装有芯片放置板I，芯片放置板I的左右两侧均安装有滑轨5，且滑轨5的顶部安装有限位装置3，滑轨5上安装有检测装置4，且检测装置4的下方安装有检测针2，芯片检测装置6上设置有启动按钮8和功能调节键9，且启动按钮8位于功能调节键9的左侧，芯片检测装置6的底部安装有防滑装置7，芯片检测装置6输出端与AVR中央控制处理器10输入端电性连接，AVR中央控制处理器10输出端与信息分析模块11输入端电性连接，故障标记模块12输入端和信息储存模块13输入端均与信息分析模块11输出端电性连接，且故障标记模块12输出端与信息储存模块13输入端电性连接，信息储存模块13输出端与解决方法整理模块14输入端电性连接，解决方法整理模块14输出端与信号发射装置15输入端电性连接，信号发射装置15输出端与终端设备16输入端电性连接，芯片放置板I通过铰链装置安装在芯片检测装置6上，功能调节键9共设置有三个，滑轨5为H形结构。
[0016]工作原理:本实用新型芯片检测装置接通电源后，将需要检测的芯片放置在芯片放置板I上，按功能调节键9调节检测装置4至合适的测试高度，然后按启动按钮8对芯片进行检测，当装置检测到芯片的某个地方有问题时，会通过故障标记模块12将故障位置定位并发送给信息储存模块13，待整个芯片检测完成后，解决方法整理模块14会分析各个故障的解决方法并通过信号发射装置15将分析结果发送至终端设备16，操作人员即可根据终端设备16上显示的信息直接对芯片的故障进行处理。
[0017]对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
【主权项】
1.一种芯片检测装置，包括芯片检测装置(6)、故障标记模块(12)和信息储存模块(13)，其特征在于:所述芯片检测装置(6)上安装有芯片放置板(I)，所述芯片放置板(I)的左右两侧均安装有滑轨(5)，且滑轨(5)的顶部安装有限位装置(3)，所述滑轨(5)上安装有检测装置(4)，且检测装置(4)的下方安装有检测针(2)，所述芯片检测装置(6)上设置有启动按钮(8)和功能调节键(9)，且启动按钮(8)位于功能调节键(9)的左侧，所述芯片检测装置(6)的底部安装有防滑装置(7)，所述芯片检测装置(6)输出端与AVR中央控制处理器(10)输入端电性连接，所述AVR中央控制处理器(10)输出端与信息分析模块(11)输入端电性连接，所述故障标记模块(12)输入端和信息储存模块(13)输入端均与信息分析模块(11)输出端电性连接，且故障标记模块(12)输出端与信息储存模块(13)输入端电性连接，所述信息储存模块(13)输出端与解决方法整理模块(14)输入端电性连接，所述解决方法整理模块(14)输出端与信号发射装置(15)输入端电性连接，所述信号发射装置(15)输出端与终端设备(16)输入端电性连接。2.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于:所述芯片放置板(I)通过铰链装置安装在芯片检测装置(6)上。3.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于:所述功能调节键(9)共设置有三个。4.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于:所述滑轨(5)为H形结构。
【文档编号】G01R31/317GK205643637SQ201620427868
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年5月10日
【发明人】何荣特
【申请人】河源西普电子有限公司