一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，包括基座、第一支架、第二支架、直线驱动装置、处理器以及一个以上的接触探针，第一支架和第二支架分设于基座一侧，第一支架用于固定外部电路板上的待测试焊盘，接触探针设于第二支架上，基座上开有第一接口和第二接口，接触探针的一端通过穿过第一接口的电线与处理器电连接，接触探针的另一端与固定在第一支架上的外部电路板上的待测试焊盘位置对应，且待测试焊盘通过穿过第二接口的电线与处理器电连接，第二支架与基座滑动配合，直线驱动装置的输出端与第二支架驱动连接。本实用新型可以对焊盘的点接触老化和焊盘的接触电阻进行测试。
【专利说明】
一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置
技术领域
[0001]本实用新型属于PCB领域，尤其涉及一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置。
【背景技术】
[0002]PCB焊盘通常是与电路板上的元件引脚焊接，实现元件在电路中的电气连接。其中，元件引脚除了与PCB焊接外，还可以使元件引脚与设于PCB板上的焊盘以接触方式实现元件的电气连接目的。为了保证电气性能，元件引脚与焊盘的铜面满接最好，然而在元件引脚与焊盘铜面多次接触后，会使焊盘与元件的接触电阻增大，从而使焊盘与元件引脚在多次接触后元件引脚与焊盘的电气连接性能下降，即焊盘的点接触老化。因此，为了合理使用焊盘，需要对焊盘的点接触老化和焊盘的接触电阻进行测试。
【实用新型内容】
[0003]针对现有技术的不足，本实用新型的目的旨在于提供一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，通过该测试装置可以对焊盘的点接触老化和焊盘的接触电阻进行测试。
[0004]为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案:
[0005]—种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，包括基座、第一支架、第二支架、直线驱动装置、处理器以及一个以上的接触探针，第一支架和第二支架分设于基座一侧，第一支架用于固定外部电路板上的待测试焊盘，接触探针设于第二支架上，基座上开有第一接口和第二接口，接触探针的一端通过穿过第一接口的电线与处理器电连接，接触探针的另一端与固定在第一支架上的外部电路板上的待测试焊盘位置对应，并用于与待测试焊盘电接触，且待测试焊盘通过穿过第二接口的电线与处理器电连接，第二支架与基座滑动配合，直线驱动装置的输出端与第二支架驱动连接，用于驱使第二支架在远离和靠近第一支架的方向上运动。
[0006]优选的，上述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置还包括固定夹板，该固定夹板与第一支架可拆卸连接，固定夹板与外部焊盘可拆卸连接。
[0007]优选的，上述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置的固定夹板上设有一通腔，该通腔与第一支架围合成一凹槽，该凹槽用于与外部焊盘卡接。
[0008]优选的，上述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置还包括固定于基座上的一个以上的导轨，该导轨与第二支架滑动配合。
[0009]优选的，上述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置还包括设于导轨上的一个以上的限位开关。
[0010]优选的，上述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置的限位开关包括限位座、定位杆和表面设有标尺的连接件，限位座设于基座上，连接件由第二支架的一侧伸出并罩于限位座上，限位座上开有限位槽，连接件上开有与限位槽对应的通口，定位杆贯穿通口并与限位槽抵接配合。
[0011]优选的，上述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置的处理器为一微电阻i+o
[0012]优选的，上述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置还包括控制器，该控制器与直线驱动装置电连接。
[0013]优选的，上述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置的固定夹板的数量为两个以上。
[0014]相比现有技术，本实用新型的有益效果在于:
[0015]本实用新型通过第一支架将外部电路板上的待测试焊盘固定，直线驱动装置的输出端驱动第二支架在远离和靠近第一支架的方向运动，从而带动接触探针与待测试焊盘电接触或断开，从而实现对焊盘的接触电阻和点接触老化的测试。
【附图说明】
[0016]图1为本实用新型的整体结构图；
[0017]图2为本实用新型的固定夹板结构示意图；
[0018]图中:1、基座;2、第一支架;3、第二支架;4、接触探针;5、第一接口；6、第二接口；7、固定夹板;71、通腔;8、导轨;9、限位开关;91、连接件;92、定位杆;93、通口。
【具体实施方式】
[0019]下面，结合附图以及【具体实施方式】，对本实用新型做进一步描述:
[0020]请参见图1和图2，一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，包括基座1、第一支架2、第二支架3、直线驱动装置、处理器以及一个以上的接触探针4，第一支架2和第二支架3分设于基座I 一侧，第一支架2用于固定外部电路板上的待测试焊盘，接触探针4设于第二支架3上，基座I上开有第一接口 5和第二接口 6，接触探针4的一端通过穿过第一接口 5的电线与处理器电连接，接触探针4的另一端与固定在第一支架2上的外部电路板上的待测试焊盘位置对应，并用于与待测试焊盘电接触，且该待测试焊盘通过穿过第二接口 6的电线与处理器电连接，第二支架3与基座I滑动配合，直线驱动装置的输出端与第二支架3驱动连接，用于驱使第二支架3在远离和靠近第一支架2的方向上运动。
[0021]使用时，通过直线驱动装置的输出端带动第二支架3朝靠近第一支架2的方向运动，直至接触探针4与固定于第一支架2上的外部电路板上的待测试焊盘电接触，并使接触探针4的端部与外部元件引脚在外部焊盘上的接触点对应，如此，处理器与第一接口 5、接触探针4、待测试焊盘、以及第二接口 6依次导通，而处理器内置的现有简单程序可通过待测试焊盘表面的电压值和电流值计算出焊盘表面的平均接触电阻值，之后直线驱动装置的输出端驱动第二支架3远离第一支架2，接触探针4与待测试焊盘断开，完成一次测试。在进行待测试焊盘的点接触老化测试时，只需重复上述测试动作，直至处理器计算出的接触电阻值与第一次测试获得接触电阻值存在一定差异时，完成点接触老化测试。本实施例中设定的差异为当电阻变化率<10%时，待测试焊盘点接触老化测试完毕，其中电阻变化率=(第一次测得的接触电阻值-最后一次测得的接触电阻值)/第一次测得的接触电阻值X 100%。上述的差异不限于本实施例中规定的，还可以根据待测试焊盘与外部元件的不同电气性能设定。
[0022]为了方便更换第一支架2上的外部电路板上的待测试焊盘，作为一种优选方案，本实施例中还增设了固定夹板7，通过使固定夹板7与第一支架2可拆卸连接，可方便固定夹板7与第一支架2的拆卸，而通过使固定夹板7与外部电路板可拆卸连接，不仅便于外部电路板与固定夹板7的拆卸，也便于更换固定于第一支架2上的外部电路板上的待测试焊盘。作为一种优选方案，本实施例中在固定夹板7上设有一通腔71，并使该通腔71与第一支架2围合成一凹槽，如此可使外部焊盘与凹槽卡接，而凹槽槽底在测试过程中，可与外部焊盘抵接，限制外部焊盘的移动，提高测试的精确度。
[0023]为了限制第二支架3的运动，作为一种优选方案，本实施例中在基座I上固定有一个以上的导轨8，并使该导轨8与第二支架3滑动配合。
[0024]为了使接触探针4与外部焊盘电接触时，接触探针4给外部焊盘表面的压力一定，作为一种优选方案，本实施例中在导轨8上设置了一个以上的限位开关9，该限位开关9不仅可以起到对待测试焊盘的限位保护作用，而且可以使接触探针4作用在外部焊盘表面的压力一定，提高测试准度。本实施例中的限位开关9包括限位座、定位杆92和表面设有标尺的连接件91，限位座设于基座I上，连接件91由第二支架3的一侧伸出并罩于限位座上，限位座上开有限位槽，连接件91上开有与限位槽对应的通口 93，定位杆92贯穿通口 93并与限位槽抵接配合，如此，根据标尺调节定位杆92位置，即可方便设定保护距离。当然也可以采用其他结构的限位开关9。
[0025]为了提高测试精度，可以使处理器为一微电阻计，但也可以是其他设备。
[0026]为了实现自动化，提高测试效率和准度，还可以增设控制器，并使控制器与直线驱动装置电连接，如此，控制器内的现有简单程序即可控制直线驱动装置的输出端按照设定好的按压速度、按压频率、按压深度等试验参数来带动接触探针4运动，无需人手动操作，SP可简单高效完成测试。
[0027]为了提高测试效率，还可以使固定夹板7的数量为两个以上，如此就可以同时进行多块待测试焊盘的测试工作。
[0028]对本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及形变，而所有的这些改变以及形变都应该属于本实用新型权利要求的保护范围之内。
【主权项】
1.一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，其特征在于，包括基座、第一支架、第二支架、直线驱动装置、处理器以及一个以上的接触探针，第一支架和第二支架分设于基座一侧，第一支架用于固定外部电路板上的待测试焊盘，接触探针设于第二支架上，基座上开有第一接口和第二接口，接触探针的一端通过穿过第一接口的电线与处理器电连接，接触探针的另一端与固定在第一支架上的外部电路板上的待测试焊盘位置对应，并用于与待测试焊盘电接触，且待测试焊盘通过穿过第二接口的电线与处理器电连接，第二支架与基座滑动配合，直线驱动装置的输出端与第二支架驱动连接，用于驱使第二支架在远离和靠近第一支架的方向上运动。2.根据权利要求1所述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，其特征在于，还包括固定夹板，该固定夹板与第一支架可拆卸连接，固定夹板与外部焊盘可拆卸连接。3.根据权利要求2所述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，其特征在于，固定夹板上设有一通腔，该通腔与第一支架围合成一凹槽，该凹槽用于与外部焊盘卡接。4.根据权利要求1所述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，其特征在于，还包括固定于基座上的一个以上的导轨，该导轨与第二支架滑动配合。5.根据权利要求4所述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，其特征在于，还包括设于导轨上的一个以上的限位开关。6.根据权利要求5所述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，其特征在于，限位开关包括限位座、定位杆和表面设有标尺的连接件，限位座设于基座上，连接件由第二支架的一侧伸出并罩于限位座上，限位座上开有限位槽，连接件上开有与限位槽对应的通口，定位杆贯穿通口并与限位槽抵接配合。7.根据权利要求1所述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，其特征在于，处理器为一微电阻计。8.根据权利要求1-7任意一项所述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，其特征在于，还包括控制器，该控制器与直线驱动装置电连接。9.根据权利要求1-7任意一项所述的一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置，其特征在于，固定夹板的数量为两个以上。
【文档编号】G01R27/02GK205656249SQ201620276877
【公开日】2016年10月19日
【申请日】2016年4月1日 公开号201620276877.8, CN 201620276877, CN 205656249 U, CN 205656249U, CN-U-205656249, CN201620276877, CN201620276877.8, CN205656249 U, CN205656249U
【发明人】张智畅, 陈蓓, 胡梦海
【申请人】广州兴森快捷电路科技有限公司, 深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司, 广州市兴森电子有限公司