测试座的制作方法
【专利摘要】一种测试座，包括本体、第一导电部、第二导电部、第三导电部、第四导电部、第一导电线路及第二导电线路。本体具有探针插槽。探针插槽具有底部及侧壁。第一导电部设置于探针插槽的底部，且用以于探针插入探针插槽时电性接触于探针的末端电极。第二导电部设置于探针插槽的侧壁，且用以于探针插入探针插槽时电性接触于探针的侧电极。第三导电部及第四导电部设置于本体的表面，且用以与待测装置电性连接。第一导电线路设置于本体，且电性连接第一导电部及第三导电部。第二导电线路设置于本体，且电性连接第二导电部及第四导电部。
【专利说明】
测试座
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种测试座，尤其涉及一种可使用探针测试待测装置的测试座。
【背景技术】
[0002]随着科技的日新月异，电子装置日渐普及。电子装置是藉由组装各种电子元件及电路板而完成。电子元件可藉由焊接的方式组装于电路板，例如于电子元件的接脚穿过电路板再以焊料焊接，或者电子元件的接脚放置于电路板上再以焊料焊接的表面安装技术(surface mount technology)。
[0003]电子装置于完成后，通常会对电子元件进行各种电性测试，以确认电子元件的组装是否正确无误，且确认电子元件本身的状态是否完善或有所损伤。一般而言，会使用探针对电子元件进行测试。
[0004]然而，现今的电子元件的尺寸愈来愈小，其针脚或电性连接点的尺寸亦随之变得更小。故测试人员于握取探针而对电子元件进行检测时，常会误触非目标的针脚或电性连接点，除了可能导致检测错误之外，还可能导致短路而损坏电子元件或探针本身。再者，因测试人员握持探针时的状态可能不一致，使得探针触碰电子元件的状态亦可能不一致，导致检测信号中可能含有噪声或其他问题信号。
【实用新型内容】
[0005]有鉴于以上的问题，本实用新型的目的在于提出一种测试座，其可供探针测试待测装置，且可避免探针因误操作而导致错误测试结果。
[0006]为达上述目的，本实用新型提供一种测试座，用以供一探针测试一待测装置，该探针具有一末端电极及一侧电极，该测试座包括:
[0007]—本体，具有一探针插槽，该探针插槽具有一底部及一侧壁，且该探针插槽用以供该探针插入；
[0008]—第一导电部，设置于该探针插槽的该底部，且该第一导电部用以于该探针插入该探针插槽时电性接触于该末端电极；
[0009]—第二导电部，设置于该探针插槽的该侧壁，且该第二导电部用以于该探针插入该探针插槽时电性接触于该侧电极；
[0010]—第三导电部及一第四导电部，设置于该本体的表面，且用以与该待测装置电性连接；
[0011]—第一导电线路，设置于该本体，且电性连接该第一导电部及该第三导电部；以及
[0012]—第二导电线路，设置于该本体，且电性连接该第二导电部及该第四导电部。
[0013]上述的测试座，其中该本体包括彼此相连的一装设部及一凸出部，该装设部具有一第一面及一第二面，该凸出部自该第一面凸出，该探针插槽自该凸出部向该装设部凹陷，该第三导电部及该第四导电部设置于该第二面。
[0014]上述的测试座，其中更包括一第五导电部及一第三导电线路，该第五导电部设置于该第一面，该第三导电线路设置于该本体，且将该第五导电部电性连接至该第三导电部及该第四导电部的其中一者。
[0015]上述的测试座，其中该第三导电线路设置于该本体的表面或埋设于该本体内。
[0016]上述的测试座，其中该第五导电部为插槽、针脚或连接片。
[0017]上述的测试座，其中更包括一第六导电部及一第四导电线路，该第六导电部设置于该第一面，该第四导电线路设置于该本体，且将该第六导电部电性连接至该第三导电部及该第四导电部的其中另一者。
[0018]上述的测试座，其中该第四导电线路设置于该本体的表面或埋设于该本体内。
[0019]上述的测试座，其中该第六导电部为插槽、针脚或连接片。
[0020]上述的测试座，其中更包括一第五导电部、一第六导电部及一第三导电线路，该第五导电部设置于该第一面，该第六导电部设置于该第二面，该第三导电线路设置于该本体且电性连接该第五导电部及该第六导电部。
[0021 ] 上述的测试座，其中该探针插槽包括一窄径部及一宽径部，该窄径部相邻该底部，该宽径部与该窄径部相连，该窄径部的内径小于该宽径部的内径且大于该探针的该末端电极的外径，该宽径部的内径大于该探针的该侧电极的外径。
[0022]上述的测试座，其中该本体包括彼此相连的一定位结构及一装设部，该定位结构围绕一容置区，该容置区用以容置该待测装置。
[0023]上述的测试座，其中该第三导电部及该第四导电部设置于该定位结构或位于该容置区的该装设部。
[0024]根据本实用新型的测试座，藉由设置用以供探针插入的探针插槽，而可避免探针接触于不应接触的位置，亦可使探针与第一导电部及第二导电部电性接触时的状态趋于一致。此外，藉由第一导电线路电性连接第一导电部及第三导电部以及第二导电线路电性连接第二导电部及第四导电部，使得测试座的电性连接处于稳定的状态。因此，可避免探针因误操作而导致错误测试结果，且能够减少因测试状态差异所造成的测试误差。
[0025]以下结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细描述，但不作为对本实用新型的限定。
【附图说明】
[0026]图1绘示使用依照本实用新型的一实施例的测试座以探针对待测装置进行测试的侧视剖面示意图；
[0027]图2绘示使用依照本实用新型的另一实施例的测试座以探针对待测装置进行测试的侧视剖面示意图；
[0028]图3绘示使用依照本实用新型的另一实施例的测试座以探针对待测装置进行测试的侧视剖面示意图；
[0029]图4A绘示依照本实用新型的另一实施例的测试座及待测装置的立体分解示意图；
[0030]图4B绘示图4A所示的测试座及待测装置的立体组合示意图。
[0031]图5A绘示依照本实用新型的另一实施例的测试座及待测装置的立体分解示意图；
[0032]图5B绘示图5A所示的测试座及待测装置的立体组合示意图。
[0033]其中，附图标记
[0034]110、210、310、410、510 测试座
[0035]111、211、311、411 本体
[0036]llla、211a、311a、411a 装设部
[0037]lllal、211al、311al、411al、511al 第一面
[0038]Illa2、211a2、311a2、411a2 第二面
[0039]lllb、211b、311b、411b 凸出部
[0040]1110、2110、3110、4110、5110 探针插槽
[0041]111U3111 底部
[0042]1112、2112 侧壁
[0043]1113 窄径部
[0044]1114 宽径部
[0045]112U2121 第一导电部
[0046]1122、2122 第二导电部
[0047]1123、2123、3123 第三导电部
[0048]1124、2124、3124 第四导电部
[0049]113U2131第一导电线路
[0050]1132、2132 第二导电线路[0051 ]120、220、320 探针
[0052]121末端电极
[0053]122、222 侧电极
[0054]130、230、330、430、530 待测装置
[0055]131、231、431、531 电极
[0056]132、232 主体
[0057]140电路板
[0058]141 电极
[0059]211c、311c、411c、511c 定位结构
[0060]211cl、311cl 容置区[0061 ]2125、3125第五导电部
[0062]2126、3126第六导电部
[0063]2133、3133第三导电线路
[0064]2134、3134第四导电线路
[0065]251、252、351、352、451、452、551、552 外部导线
[0066]4121、4122、4123、4124、4125、4126 导电部
[0067]4127、4128、5121、5122、5123、5124 导电部
[0068]4131、4132、4133、4134 导电线路
【具体实施方式】
[0069]以下在实施方式中详细叙述本实用新型的详细特征以及优点，其内容足以使任何本领域中具通常知识者了解本实用新型的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、权利要求范围及附图，任何本领域中具通常知识者可轻易地理解本实用新型相关的目的及优点。以下的实施例是进一步详细说明本实用新型的观点，但非以任何观点限制本实用新型的范畴。此外，本案的附图中的元件比例关系仅为示意以便于说明，而非用以限制本实用新型的范畴。
[0070]请参照图1，绘示使用依照本实用新型的一实施例的测试座110以探针120对待测装置130进行测试的侧视剖面示意图。测试座110用以供探针120测试待测装置130。于本实施例中，测试座110包含本体111、第一导电部1121、第二导电部1122、第三导电部1123、第四导电部1124、第一导电线路1131及第二导电线路1132。
[0071]本体111的材质为绝缘材质。本体111包含彼此相连的装设部Illa及凸出部111b。装设部Illa具有相对的第一面Illal及第二面llla2。凸出部Illb自第一面Illal凸出。装设部Illa的周围尺寸可对应于待测装置130的周围尺寸。凸出部Illb的周围尺寸可小于装设部11 Ia的周围尺寸，以节省本体111的用料。本体111具有探针插槽1110。探针插槽1110自凸出部Illb向装设部Illa凹陷。
[0072]探针插槽1110具有底部1111、侧壁1112且包含窄径部1113及宽径部1114。窄径部1113相邻底部1111。宽径部1114与窄径部1113相连。窄径部1113的内径小于宽径部1114的内径。第一导电部1121设置于探针插槽1110的底部1111。第二导电部1122设置于探针插槽1110的侧壁1112位于宽径部1114的位置。
[0073]探针插槽1110用以供探针120插入。探针120具有末端电极121及侧电极122。于探针120插入探针插槽1110时，第一导电部1121可电性接触于探针120的末端电极121，第二导电部1122可电性接触于侧电极122。
[0074]其中，窄径部1113的内径可略大于探针120的末端电极121的外径，宽径部1114的内径可略大于探针120的侧电极122的外径。故每次于探针120插入探针插槽1110时，探针120相对于本体111的位置皆可趋于一致。藉此可增加使用探针120进行测试的稳定度，以提升测试结果的可信度。第二导电部1122可为具有弹性的导电弹片，而可于探针120插入探针插槽1110时令第二导电部1122稳定地抵靠于探针120的侧电极122，以维持第二导电部1122及侧电极122之间的电性接触。
[0075]第三导电部1123及第四导电部1124设置于本体111的装设部Illa的第二面llla2。第三导电部1123及第四导电部1124用以与待测装置130电性连接。
[0076]其中，待测装置130的电极131可分别电性连接至电路板140的电极141。图1中的待测装置130的电极131可为包覆待测装置130的主体132的端部的类型，但不以此为限。电极131亦可为针脚型或其他类型。于进行测试时，可藉由焊料以焊接方式电性连接第三导电部1123与待测装置130的电极131以及电性连接第四导电部1124与待测装置130的电极131。藉此，可将测试座110装设于待测装置130。而测试结束后可再藉由解焊方式使测试座110与待测装置130分离。但不以此为限。另外亦可藉由卡合元件或固定元件等方式将测试座110装设于待测装置130。
[0077]第一导电线路1131设置于本体111，且电性连接第一导电部1121及第三导电部1123。第二导电线路1132设置于本体111，且电性连接第二导电部1122及第四导电部1124。
[0078]因此，当欲测试于电路板140上的待测装置130时，可先将测试座110装设于待测装置130，且使第三导电部1123电性连接于待测装置130的其中一电极131，使第四导电部1124电性连接于待测装置130的另一电极131。
[0079]接下来，可经由电路板140运作待测装置130，再将探针120插入测试座110的探针插槽1110，以测试及量测待测装置130状态。或者，亦可先将探针120插入测试座110的本体111的探针插槽1110，再经由电路板140运作待测装置130，此时可测试及量测待测装置130自未运作至运作时的状态。由于测试座110本身拥有固定的电性线路，且其探针插槽1110可避免探针120误触不应接触的位置，因此可避免探针120受到外界人为因素而检测到错误信号，进而提升测试的准确性。
[0080]另外，请参照图2，绘示使用依照本新型的另一实施例的测试座210以探针220对待测装置230进行测试的侧视剖面示意图。其中，图2中的探针220可与图1中的探针120相同，测试座210及待测装置230可与图1中的测试座110及待测装置130相异。然而，测试座210与测试座110相同的部分，将省略其详细的说明。
[0081 ]于图2中，待测装置230的电极231可为针脚型，且自待测装置230的主体232的周围向外延伸。
[0082]于本实施例中，测试座210除了包含本体211、第一导电部2121、第二导电部2122、第三导电部2123、第四导电部2124、第一导电线路2131及第二导电线路2132，亦包含第五导电部2125、第六导电部2126、第三导电线路2133及第四导电线路2134。
[0083]绝缘的本体211亦具有探针插槽2110，且包含彼此相连装设部21 la、凸出部21 Ib及定位结构211c。装设部211a具有相对的第一面211al及第二面211a2。凸出部211b自第一面211al凸出。定位结构211c设置于装设部211a的第二面211a2的周围且围绕容置区211cl。容置区21 Icl用以容置待测装置230的主体232。定位结构211c的形状可为多个点状、多个条状、多个L状、多个U状、单框状等各种形状。
[0084]第二导电部2122可为环形的导电弹片，且设置于探针插槽2110的侧壁2112，而可于探针220插入探针插槽2110时令第二导电部2122稳定地抵靠于探针220的侧电极222，以维持二者之间的电性接触。第三导电部2123及第四导电部2124可设置于定位结构211c。
[0085]第五导电部2125及第六导电部2126设置于本体211的装设部211a的第一面211al。第五导电部2125及第六导电部2126可为连接片，但不限于此，亦可为插槽或针脚。另外，夕卜部导线251及外部导线252可分别焊接至第五导电部2125及第六导电部2126。外部导线251及外部导线252可提供待测装置230运作电源或其他馈入信号。
[0086]第三导电线路2133及第四导电线路2134设置于本体211。其中，第三导电线路2133可电性连接第五导电部2125及第三导电部2123。第四导电线路2134可电性连接第六导电部2126及第四导电部2124。第三导电线路2133及第四导电线路2134可设置于本体211的表面。第三导电线路2133及第四导电线路2134的体积可加大以增加其电流容许量。但不限于此，第三导电线路2133及第四导电线路2134亦可依需求埋设于本体211之内。
[0087]于进行测试时，可藉由焊料以焊接方式电性连接位于第三导电部2123的第三导电线路2133与待测装置230的电极231，且可电性连接位于第四导电部2124的第四导电线路2134与待测装置230的电极231。
[0088]再者，请参照图3，绘示使用依照本新型的另一实施例的测试座310以探针320对待测装置330进行测试的侧视剖面示意图。其中，图3中的探针320及待测装置330可分别与图1中的探针120及待测装置130相同，测试座310可与图1中的测试座110及图2中的测试座210相异。然而，测试座310与测试座110相同的部分或与测试座210相同的部分，将省略其详细的说明。
[0089 ] 于图3中的实施例中，测试座310的本体311的探针插槽3110自凸出部311b向装设部311a凹陷，且延伸至装设部311a，故探针插槽3110的底部3111可位于装设部311a的第一面31 Ial及第二面31 la2之间。藉此可加深探针320插入探针插槽3110的深度，而可增加探针320的稳定度。
[0090]此外，第五导电部3125可为针脚，以供具夹头的外部导线351以夹固方式电性连接。第六导电部3126可为插槽，以供具连接头的外部导线352以插射方式电性连接。第五导电部3125及第六导电部3126的类型不限于此，而可依需求改变。
[0091]第三导电线路3133及第四导电线路3134亦可依需求埋设于本体311之内。
[0092]绝缘的本体211包含彼此相连装设部311a、凸出部311b及定位结构311c。凸出部311b自装设部311a的第一面311al凸出。定位结构311c设置于装设部311a的第二面311a2的周围且围绕容置区311cl。容置区311cl用以容置待测装置330。第三导电部3123及第四导电部3124设置于装设部311a的第二面311a2位于容置区311cl的范围内。
[0093]此外，请参照图4A及图4B，图4A绘示依照本实用新型的另一实施例的测试座410及待测装置430的立体分解示意图，图4B绘示图4A所示的测试座410及待测装置430的立体组合示意图。其中，图4A及图4B中的待测装置430可与图2中的待测装置230相似，但可具有八个针脚型的电极431。测试座410可与图1中的测试座110、图2中的测试座210及图3中的测试座310相异。然而，测试座410与测试座110相同的部分、与测试座210相同的部分或与测试座310相同的部分，将省略其详细的说明。
[0094]图4A及图4B中，测试座410的本体411包含彼此相连的装设部411a、凸出部41Ib及定位结构411c。凸出部41 Ib凸出于装设部41 Ia的第一面41 Ial。定位结构41 Ic位于装设部411a的第二面411a2。测试座410可包含位于探针插槽4110的导电部4121及导电部4122，包含位于定位结构411c的导电部4123、多个导电部4124、多个导电部4125及导电部4126，且包含位于第一面411al的导电部4127及导电部4128。测试座410亦包含电性连接导电部4123及导电部4127的导电线路4133、电性连接导电部4124及导电部4121的导电线路4131、电性连接导电部4125及导电部4122的导电线路4132及电性连接导电部4126及导电部4128的导电线路4134。外部导线451及外部导线452可分别焊接至导电部4127及导电部4128。
[0095]此外，位于定位结构411c的导电部4123、多个导电部4124、多个导电部4125及导电部4126可分别电性连接至待测装置430的针脚431，以将测试座410装设于待测装置430。
[0096]请参照图5A及图5B，图5A绘示依照本实用新型的另一实施例的测试座510及待测装置430的立体分解示意图，图5B绘示图5A所示的测试座510及待测装置530的立体组合示意图。其中，图5A及图5B中的待测装置530可与图4A及图4B中的待测装置430相似。测试座510可与图4A及图4B中的测试座410相异。然而，测试座510与测试座410相同的部分，将省略其详细的说明。
[0097]图5A及图5B中，测试座510可具有多个探针插槽5110。测试座510可包含位于探针插槽5110的导电部5121及导电部5122，包含位于定位结构511c的导电部5123，且包含位于第一面511al的导电部5124。导电部5123可分别电性连接至导电部5121、导电部5122及导电部5124。外部导线551及外部导线552可分别焊接至导电部5124。此外，位于定位结构511c的导电部5123可分别电性连接至待测装置530的针脚型的电极531，以将测试座510装设于待测装置530。
[0098]综上所述，本实用新型的测试座，藉由设置用以供探针插入的探针插槽，而可避免探针接触于不应接触的位置，亦可使探针与第一导电部及第二导电部电性接触时的状态趋于一致。此外，藉由第一导电线路电性连接第一导电部及第三导电部以及第二导电线路电性连接第二导电部及第四导电部，使得测试座的电性连接处于稳定的状态。因此，可避免探针因误操作而导致错误测试结果，且能够减少因测试状态差异所造成的测试误差。
[0099]当然，本实用新型还可有其它多种实施例，在不背离本实用新型精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本实用新型作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。
【主权项】
1.一种测试座，用以供一探针测试一待测装置，该探针具有一末端电极及一侧电极，其特征在于，该测试座包括: 一本体，具有一探针插槽，该探针插槽具有一底部及一侧壁，且该探针插槽用以供该探针插入； 一第一导电部，设置于该探针插槽的该底部，且该第一导电部用以于该探针插入该探针插槽时电性接触于该末端电极； 一第二导电部，设置于该探针插槽的该侧壁，且该第二导电部用以于该探针插入该探针插槽时电性接触于该侧电极； 一第三导电部及一第四导电部，设置于该本体的表面，且用以与该待测装置电性连接； 一第一导电线路，设置于该本体，且电性连接该第一导电部及该第三导电部；以及 一第二导电线路，设置于该本体，且电性连接该第二导电部及该第四导电部。2.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，该本体包括彼此相连的一装设部及一凸出部，该装设部具有一第一面及一第二面，该凸出部自该第一面凸出，该探针插槽自该凸出部向该装设部凹陷，该第三导电部及该第四导电部设置于该第二面。3.根据权利要求2所述的测试座，其特征在于，更包括一第五导电部及一第三导电线路，该第五导电部设置于该第一面，该第三导电线路设置于该本体，且将该第五导电部电性连接至该第三导电部及该第四导电部的其中一者。4.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，该第三导电线路设置于该本体的表面或埋设于该本体内。5.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，该第五导电部为插槽、针脚或连接片。6.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，更包括一第六导电部及一第四导电线路，该第六导电部设置于该第一面，该第四导电线路设置于该本体，且将该第六导电部电性连接至该第三导电部及该第四导电部的其中另一者。7.根据权利要求6所述的测试座，其特征在于，该第四导电线路设置于该本体的表面或埋设于该本体内。8.根据权利要求6所述的测试座，其特征在于，该第六导电部为插槽、针脚或连接片。9.根据权利要求2所述的测试座，其特征在于，更包括一第五导电部、一第六导电部及一第三导电线路，该第五导电部设置于该第一面，该第六导电部设置于该第二面，该第三导电线路设置于该本体且电性连接该第五导电部及该第六导电部。10.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，该探针插槽包括一窄径部及一宽径部，该窄径部相邻该底部，该宽径部与该窄径部相连，该窄径部的内径小于该宽径部的内径且大于该探针的该末端电极的外径，该宽径部的内径大于该探针的该侧电极的外径。11.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，该本体包括彼此相连的一定位结构及一装设部，该定位结构围绕一容置区，该容置区用以容置该待测装置。12.根据权利要求11所述的测试座，其特征在于，该第三导电部及该第四导电部设置于该定位结构或位于该容置区的该装设部。
【文档编号】G01R31/00GK205679709SQ201620597131
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年6月17日 公开号201620597131.7, CN 201620597131, CN 205679709 U, CN 205679709U, CN-U-205679709, CN201620597131, CN201620597131.7, CN205679709 U, CN205679709U
【发明人】周世傑, 龚志祥
【申请人】精英电脑股份有限公司