专利名称：确定时间间隔的方法及时间测量装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及能够确定经过的时间间隔的改进的方法和装置，具体地说，涉及允许在不消耗功率的情况下高度准确地确定清晰显示的经过时间间隔并可用于保修、维护以及其他目的的改进的方法和装置。
背景技术：
保修验证是现代商业中非常重要的一个方面。在此方面，检测产品替换、篡改、盗窃以及检测导致违反保修的其他问题的能力日趋重要。此外，对于设备(如电子设备)的一般维护，更容易地了解部件或产品何时接近定期的维护期是很重要的，由此可以对部件或产品进行评估和可能的调换。
有许多方法可以指示产品使用所经过的时间间隔。大量方法使用电子时间测量设备和/或经过时间的电子显示。例如，在核领域中，放射量测定器与电子计时器结合使用来测量一定时期内可以指示危险辐射水平的辐射量。测量时间的其他尝试包括利用变色材料。例如，存在会变色的公知材料，但是它们对温度变化非常敏感。因此，它们的可靠性不能满足各种商业和工业应用的要求。为此，在本领域中将继续采取努力，特别是提高以不消耗功率的方式确定经过时间的准确性(清晰显示经过时间的结果)，所述确定是低成本、安全、通用和可靠的。
如果不继续改进允许以不消耗功率的方式精确地确定经过的时间间隔的方法和装置(由此清晰地显示经过时间的结果，并且其是低成本、安全、通用和可靠的)，则不能完全实现产品和部件的改进的保修验证和维护管理的真正潜能。
发明内容
本发明在没有负面效果的情况下并以克服现有技术缺点的方式提供了允许以不消耗功率的方式确定经过时间间隔的增强的方法和装置，由此可以以低成本、安全、通用和可靠的方式清晰地显示经过时间的结果。
所示实施例的一个方面是一种允许确定时间间隔的方法和装置，包括提供至少具有从其发射辐射的第一表面的电离辐射源；将响应电离辐射的辐射敏感显示材料的第一表面放置在与所述电离辐射源的所述第一表面非常接近的位置，以便所述源的所述发射辐射击打所述辐射敏感显示材料，由此开始时间间隔；以及测量所述辐射敏感显示材料的特性变化，所述变化指示了在非常接近地放置后，所述源的所述发射辐射击打所述辐射敏感显示材料并引起所述辐射敏感显示材料变化的经过时间。
所示实施例的另一个方面是一种确定时间间隔的方法和装置，包括提供发射辐射的辐射源；在开始时间测量所述发射辐射的辐射水平的第一读数；将辐射抑制元件叠加在所述辐射源之上，以便抑制所述发射辐射通过所述辐射抑制元件；从所述叠加位置移除所述辐射抑制元件；以及在稍后的时间测量所述辐射源的所述发射辐射的辐射水平的第二读数，由此所述第一与第二读数之间的测量辐射水平的差指示了所述第一与第二读数之间的经过时间。
本实施例的另一个方面提供了一种在测量时间间隔方面具有高度特异性和高可靠性并可在不消耗电功率的情况下直接读取的方法和装置。
本实施例的另一个方面提供了一种确定可用于保修目的等的时间间隔并且是低成本、安全、通用以及可靠的方法和装置。
从以下应结合附图阅读的对优选实施例的详细说明，可以更全面地理解本实施例的这些和其他特性和方面。应当理解，上述的一般说明和下面的详细说明都是示例性的，并非对本发明进行限制。
图1是激活之前的根据本发明制造的双层经过时间间隔指示器装置的示意性截面图；图2是另一个示例性实施例的经过时间间隔指示器装置的示意性截面图；图3是另一个示例性实施例的简化的经过时间间隔指示器装置的示意性截面图；图4是激活期间的经过时间间隔指示器装置的示意性截面图；图5是可与本发明结合使用的灰度设备的示意性截面图；图6是本发明的一个示例性过程的流程图；图7是本发明的另一个示例性过程的流程图；以及图8是本发明的另一个示例性过程的流程图。
具体实施例方式
图1示出了根据本发明制造的一个多层结构的经过时间间隔指示器装置100的示例性实施例。指示器装置100适于为剥离结构。在此方面，其组件可以包括至少第一层组件105和第二层组件110。第一层组件105和第二层组件110处于彼此并置叠加的关系以形成双层结构。如下面将描述的，第一层组件105和第二层组件110可被连接和解除连接以开始和终止经过时间间隔。尽管示出了双层组件结构，但是也可以集成数层组件。
在示例性实施例中，指示器装置100是标签，所述标签优选地包括薄辐射发射膜112，所述薄辐射发射膜112是实质上发射电离辐射的源。薄电离辐射发射膜112可以包括薄载体箔层114和辐射发射层116。在本实施例中，载体箔层114优选地由适合的金属制成，如镍箔层114。辐射发射层116可以是Ni-63放射性核素膜并且可以通过对辐射发射膜112的镍箔层114的某一表面进行电镀来施加。薄镍箔层114的厚度约为0.0127毫米(0.5密耳)，辐射发射层116的厚度约为0.254毫米(10.0密耳)。可以使用其他厚度，具体取决于辐射发射层116的支持以及指示器装置的用途。辐射发射层116适于从第一表面118优选地发射α和/或β粒子，尽管本发明并不限于这些特定的粒子范围。本实施例中的辐射发射层116发射能量范围约为5-75keV(优选地，约在17-66keV之间)的β辐射。应当理解，本发明的范围包括其他放射强度，具体取决于构想的最终用途。发射的放射性粒子(如α和β粒子)具有可测量和可检测的半衰期。利用α和/或β粒子的一个原因是它们通常具有较低的强度并可以相对容易地被屏蔽。此外，当以本发明构想的方式使用时，处于优选辐射水平的α和/或β粒子不会另外引起危及健康的辐射风险。所选择的α和/或β粒子能够击打对电离辐射敏感的辐射敏感记录介质(如放射量测定薄膜层130)并导致后者发生物理变化。由于构想了商业用途，因此辐射发射膜112包含足够量的不会对健康造成危害的放射性材料(如美国政府机构规定的)。本实施例的辐射发射膜112可以从数个来源购得，所述来源包括加拿大安大略省多伦多市的Stuart Hunt and Associates或美国俄亥俄州克里夫兰的Victoreen公司。辐射发射层116是包括Ni-63放射性核素层(即，镍63同位素)的配方物。构想了其他适合的电离辐射材料源，如氚、铯137、锶90以及镅291。虽然上述实施例披露了一种类型的辐射发射膜结构，但是本发明构想了各种辐射发射材料。例如，氚也是几乎不会引起健康风险的低能β发射器，但是它主要以氚化水(T2O)的形式存在。在所述经过时间装置中成功使用氚要求在任何适合的水携带压敏粘合剂中使用氚化水的水分散液来替代Ni-63放射性核素层。
可以使用传统的技术和处理将一对压敏粘合剂层120、122层叠到电离辐射发射膜112的相对表面。压敏粘合剂层120、122可以由任意一种基于丙烯酸、基于橡胶或基于硅氧烷的双面粘合转移配方物(如可从美国明尼苏达州圣保罗市的3M或美国宾西法尼亚Glen Rock市的AdhesivesResearch购买的那些配方物)制成。显而易见地，可以利用其他适合的材料。压敏粘合剂层120用于最大程度地减少或甚至消除放射性材料对其的穿透。根据辐射发射膜112发射的辐射强度，压敏粘合剂层120可以具有范围约0.0127-0.254毫米(0.5到10密耳)的厚度；优选地，约0.0254-0.0508毫米(1-2密耳)。压敏粘合剂层122的厚度相对于压敏粘合剂层120而言要薄一些。这是为了在测量辐射期间，当辐射敏感显示设备或放射量测定薄膜层130以并置叠加关系接合时，允许β粒子穿透这两者(参见图1)。在本实施例中，压敏粘合剂层122的厚度约为0.0127毫米(0.5密耳)或更薄。明显地，压敏粘合剂层的厚度范围可以随要减弱辐射的程度而变化。如果必要，压敏粘合剂层122可被冲切(未示出)为相框几何图形或被穿孔以允许辐射发射层116直接照射辐射敏感显示设备或放射量测定薄膜层130。压敏粘合剂层120和122都可以由破坏型粘合剂材料制成，所述材料具有如此的强度以致它将撕开与之接触的材料的面材。此类粘合剂的一个非限制性实例是由位于明尼苏达州明尼阿波利斯的3M制造的350高强度丙烯酸粘合剂。还构想了其他破坏型粘合剂材料。当然，所述强度可以随构想的用途而不同。通过使用破坏型的压敏粘合剂层，可以显著减少或甚至消除对指示器的篡改。
将具有适当厚度的释放衬垫124层叠到压敏粘合剂层122，以防止在装运和存储期间过早粘合第一层组件105。释放衬垫124由诸如牛皮纸、聚酯薄膜或聚乙烯薄膜之类的任何适当材料制成。将具有适当厚度的释放衬垫126层叠到压敏粘合剂层120以防止装运和存储期间过早的粘合。释放衬垫126也可以由诸如牛皮纸、聚酯薄膜、聚乙烯薄膜之类的任何适当材料制成。释放层的厚度可以在约0.0254-0.254毫米(1-10密耳)之间；优选地约为0.0762毫米(3密耳)。所述厚度范围是优选的，因为它们会最大程度上减少或消除任何不希望的辐射泄漏。还可考虑压敏粘合剂层的厚度范围用于屏蔽。这样，形成了指示器装置100的第一层组件105。
本实施例中的第二层组件110包括辐射敏感显示设备或放射量测定薄膜层130。辐射敏感显示设备或放射量测定薄膜层130可以是公知的放射量测定薄膜，其中会发生物理和化学特性变化以响应放射性材料(如β粒子)的入射剂量并与其成比例。放射量测定薄膜层130可为黑白型并可从例如Agfa或Kodak购得。在本实施例中，放射量测定薄膜层130可以具有层叠到其相对表面的压敏粘合剂层132、134。压敏粘合剂层132和134分别具有约0.0254到0.254毫米(1密耳到10密耳)的厚度。再次地，所述厚度用于控制放射性材料的衰减(不包括柔韧性和粘合特性)。放射量测定薄膜层130可以通过压敏粘合剂层132层叠到释放衬垫136。压敏粘合剂层132可以由破坏型粘合材料制成，以便在将放射量测定薄膜从辐射发射薄膜取下时，所述粘合材料将破坏放射量测定薄膜。压敏粘合剂层132可以由与压敏粘合剂层120、122的材料类似的材料制成。根据所述的功能来适当地选择压敏粘合剂层132的粘合强度。辐射敏感放射量测定薄膜层130的厚度可以是优选地将在其中吸收所有发射的β粒子的厚度。β粒子击打放射量测定薄膜层130的第一表面131。此外，还控制和限制了意外照射的风险。在本实施例中，放射量测定薄膜层130的厚度约为0.254毫米(10密耳)。可以根据所遇到的环境来应用其他适当种类的辐射敏感材料和厚度。实际上，从辐射发射膜112发射的β粒子击打放射量测定薄膜层130，导致后者与β辐射的入射剂量成比例地变暗。随着时间的流逝，更多的β粒子击打放射量测定薄膜层130，由此导致其继续变暗。在图2中示出并将说明的实施例示出了指示器装置200，其中使用了高度敏感的成色放射量测定薄膜。
保护元件或覆层138实质上包括光学透明薄膜，该薄膜通过压敏粘合剂层134层叠到放射量测定薄膜层130(参见图1)的顶部或第二表面。保护覆层138随后层叠到远离辐射发射薄膜112的放射量测定薄膜层130的表面。在使用之前(例如，从仓库装运包含所述指示器装置的部件之前)，所述第一和第二组件是分离的，拆除所述释放衬垫，然后将所述第一和第二层组件接合。以这种方式，“计时器”(即放射性测量薄膜的照射量)将尽可能接近部件装运的时间来开始记录经过时间。
保护元件或覆层138是光学透明的以允许用户直接读取结果或任何自动设备读取结果。保护覆层138可以由任意一种聚合材料制成，包括但不限于聚碳酸酯、聚氯乙烯、聚乙烯、聚酯和聚丙烯。保护覆层138是透明的和/或半透明的，以便从视觉上观察随着β粒子的剂量改变的放射性测量薄膜层130的光学性质变化。放射量测定薄膜层130的逐渐变暗的亮度指示了经过时间。可以通过许多已知的手动和/或自动的方法来完成对所述逐渐变暗的测量。
一种示例性方法利用图5中示出的单独的灰度设备140。灰度设备140将薄膜的光密度变化与该类薄膜的特定辐射剂量的已知经过时间隔相关联。具体地说，放射量测定薄膜层130的亮度越暗，经过时间就越长。灰度设备140可以具有多个不同的光密度带142a-n(总称为142)，其密度与吸收的剂量成比例。用户可通过将任意时刻的放射量测定薄膜层130的光密度与灰度设备140相比较来确定经过的时间。还可以使用公知的光学设备来从视觉上比较不同的光密度带142的光密度。按时段(例如，月)为示出的光密度带142的时间间隔或时段创建索引。上述时段用于说明目的。当然，可以改变材料和剂量比率，由此光学性质的变化反映逐渐变化的时段。可将此类时间间隔与所感兴趣的任何特定时段(例如产品的保修、时间管理等事宜)相关联。因此，可在无需电力的情况下以高度可靠的方式查看经过的时间间隔的直接读数。
低粘度压敏粘合剂层150可以置于第一层组件105和第二层组件110中的一个或两者上。低粘度压敏粘合剂层150可以置于释放衬垫124和126中的一个或两者上。在本实施例中，压敏粘合剂层150通过传统技术层叠到第二层组件110的释放衬垫上。这样，形成了指示器装置100的第二层组件110。为了达到此目的，低粘度压敏粘合剂层150可以由基于丙烯酸、硅氧烷和/或橡胶的材料制成。低粘度压敏粘合剂层150的厚度可以介于0.0254-0.127毫米(1-5密耳)之间并且应足以允许反复剥离和层叠。低粘度压敏粘合剂层150的材料的上述实例是非限制性的，因为多种材料可实现所需的选择性重复剥离操作。第一和第二层组件105、110是可以结合在一起以便装运和/或安装的两个部分。低粘度压敏粘合剂层150用于轻易分离指示器装置的所述两个部分，而双释放衬垫如所述那样提供了足够的厚度来阻止β粒子照射发射量测定薄膜并且另外还阻止了不希望的辐射泄漏。
图7示出了形成和使用图1中示出的指示器装置100的过程700。在步骤702中，使用传统的技术和工艺将辐射发射层(如Ni-63放射性核素层)116电镀在镍箔层114上。应当理解，可以使用其他辐射发射层。此后，在步骤704中，可以使用传统的技术和工艺将压敏粘合剂层120、122层叠到电离辐射发射膜112的相对表面。在步骤706中，使用传统的技术和工艺将释放衬垫124、126层叠到压敏粘合剂层122两侧并将低粘度压敏粘合剂层层叠到释放衬垫124的顶部。在步骤708中，所述过程包括将放射量测定薄膜层130和释放衬垫136层叠到低粘度压敏粘合剂层150。在步骤710中，通过压敏粘合剂层134将保护覆层138层叠到放射量测定薄膜层130。这样，构建了第二层组件110。在步骤712中，从仓库中取出图1中示出的指示器装置100，将第一和第二组件105、110分离，取下释放衬垫124、136以及低粘度压敏粘合剂层150，然后将第一和第二层组件接合在一起。以这种方式，“计时器”(即，放射性测量薄膜的照射量)将开始记录经过的时间(尽可能接近部件装运的时间)。在步骤714中，取下释放衬垫126并将指示器装置100放置在要为其测量放置时间(例如，保修期的开始)的部件或产品上。应当理解，可以更改步骤712和714的顺序以及每个步骤中的过程组。在步骤716中，将放射量测定薄膜的光学变化与灰度设备140相比较以便确定经过的时间。用户可以通过保护覆层138查看光学性质的变化，并使用公知的方式将所述变化与灰度设备140进行比较以确定放射性测量薄膜层130暴露于β粒子的时间量。因此，用户可出于各种目的(包括确定保修)确定暴露于辐射的时间量。有利地，多层结构可以避免放射量测定薄膜过早地变暗(如可能在存储期间发生的)。
图2示出了一种示例性结构的指示器装置200。将使用相同的标号(但是用前缀2替代了前缀1)来指定与先前的实施例的结构相同的指示器装置200的结构。此结构不同于先前的结构，因为它用成色图像记录介质230替代了黑白放射量测定薄膜层130。在一个优选实施例中，成色图像记录介质230可以是从美国新泽西州韦恩市的ISP公司购买的GAF Chromic成色胶片。在这样的情况下选择使用如以上所述类型的薄膜，其中可以使用高能电子来测量所有类型的源，所述源包括低至5keV(或者在某些情况下更低)的广泛的放射性能量。薄膜中的活性组分(未示出)包括辐射敏感单体的亚微米大小的晶体。当薄膜暴露于电离辐射时，开始出现聚合反应，导致生成蓝色染料-聚合物复合物。所生成的聚合物的数量和色度的变化与活性层吸收的剂量成比例。对于标准的卤化银放射量测定薄膜，可以引起光学性质的变化。因此，蓝色的“灰度”设备(未示出)将测量本实施例的结果光学性质的变化。所述蓝色的灰度设备用于将色度与经过的暴露时间相关联。还应指出，在所有示例性实施例中，可以在不偏离本发明的范围的情况下，用成色图像记录介质替代黑白图像记录介质。
图3示出了另一种示例性和简化结构的指示器装置300。将使用相同的标号(但是用前缀“3”替代了前缀“1”)来指定与先前的指示器装置100的结构相同的指示器装置300的结构。在本实施例中，没有可选择地重复层叠和取消层叠的两个可接合部分。相反，辐射发射层312一侧与释放衬垫326接合，另一侧通过压敏粘合剂层322与放射量测定层330接合以形成单一结构。压敏粘合剂层322允许β粒子通过，由此β粒子击打薄膜以引起薄膜光学性质的变化。可通过透明的保护覆层338来查看光学性质的这些变化。可以取下释放衬垫326并将指示器装置附加到部件或产品。所述指示器装置的细薄且柔韧的特性使得指示器装置300可以多种方式放置到各种表面。
参考图6，其中示出了制作和使用指示器装置300的过程600。在步骤602中，使用传统的技术和工艺将辐射发射膜312电镀在镍箔层上。之后，在步骤604，使用传统的技术和工艺将压敏粘合剂层320、322层叠到电离辐射发射膜312的相对面。在步骤606中，过程600包括将放射量测定薄膜330层叠到压敏粘合剂层322。在步骤608中，将保护层338通过压敏粘合剂层334层叠到放射量测定薄膜330。这样，构建了指示器装置300。在步骤610，取下如图3所示的释放衬垫326并将压敏粘合剂层320放置在部件或产品(未示出)上。辐射发射薄膜312具有第一表面318，第一表面318将β辐射传递给放射量测定薄膜330的第一表面331以开始暴露时间间隔。在步骤612中，用户可以在参考灰度设备140之后直接读取放射量测定薄膜330的可视输出中的变化。
图4示出了另一种示例性和简化结构的指示器装置400。将使用相同的标号(但是用前缀“4”替代了前缀“1”)来指定与先前的指示器装置100的结构相同的指示器装置400的结构。指示器装置400的示例性结构不同于其他的结构，因为它是不可剥离的并且可以没有辐射敏感记录介质。所述示例性实施例依赖于保护覆层，所述保护覆层可取下地连接到电离辐射发射薄膜层412并且选择性地允许测量发射的辐射。通过测量辐射强度的差异，可以确定辐射测量事件之间的经过时间。这是因为辐射的衰变率是已知的并且可以以公知的方式来计算经过时间。因此，在测量时间间隔方面具有高度的特异性和高度的可靠性。这在用于测量保修期时非常有利并且是对用于同样目的的其他公知过程的独特改进。
图8示出了装配和使用指示器装置400的一个示例性过程800。在步骤802中完成制造辐射发射薄膜412，其中将辐射发射层416电镀在镍箔层414上。在步骤804中，将压敏粘合剂层层叠到辐射发射薄膜的两侧。在步骤806中，使用可轻松取下的压敏层434将保护覆层438层叠到辐射发射薄膜412的β发射表面。在步骤806中，取下指示器装置400底部的释放衬垫426。将指示器装置400例如放置在要装运的部件上。为了获得经过时间信息，取下保护覆层438并在步骤810中记录β活动以进行第一次读取。在此方面，使用辐射计数器，例如手持式盖格计数器，如可从美国Eurami Group购买的GAMMA_SCOUT。当然，保护覆层438被重新层叠到辐射发射薄膜412。保护覆层438用作辐射抑制元件。相应地，将抑制或屏蔽β活动的辐射。此后，在步骤812中，在经过可变时间段后取下保护覆层438并且开始β活动的第二次读取。将此记录与先前的记录或第一次读数相比较以便于根据辐射读数来确定经过时间。如所述的，由于详细记录了辐射发射层416(Ni-63)的半衰期，因此可以将在任意时间测量的剩余放射性活动与经过的时间相关联。
在此提出的实施例和实例是为了最佳地说明本发明及其实际应用并且由此使本领域的技术人员能够实施和使用本发明。但是，本领域的技术人员将认识到，提供上述描述和实例仅为了说明和举例。所述描述并非旨在是穷举的或是将本发明限于所公开的精确形式。在不偏离以下权利要求的精神和范围的情况下，根据上述教导可以做出许多修改和变化。
权利要求
1.一种确定时间间隔的方法，所述方法包括提供至少具有从其发射辐射的第一表面的电离辐射源；将响应电离辐射的辐射敏感显示材料的第一表面放置在与所述电离辐射源的所述第一表面非常接近的位置，以便所述源的所述发射辐射击打所述辐射敏感显示材料，由此开始时间间隔；以及测量所述辐射敏感显示材料的特性变化，所述变化指示了在非常接近地放置后，所述源的所述发射辐射击打所述辐射敏感显示材料并引起所述辐射敏感显示材料发生变化的经过时间。
2.根据权利要求1的方法，其中所述测量步骤测量所述辐射敏感显示材料的光学性质的变化。
3.根据权利要求1的方法，其中所述放置包括以叠加关系将所述辐射敏感显示材料的所述第一表面可取下地粘合到所述电离辐射源的所述第一表面。
4.根据权利要求1的方法，还包括以叠加关系将保护元件放置到所述辐射敏感显示材料的第二表面，所述辐射敏感显示材料的所述第二表面与所述辐射敏感显示材料的所述第一表面相对，以便所述保护元件保护所述辐射敏感显示材料并抑制所述辐射发射。
5.根据权利要求2的方法，其中所述提供所述辐射敏感显示材料包括提供对所述辐射发射敏感的放射量测定薄膜。
6.根据权利要求1的方法，其中所述提供所述电离辐射源包括提供发射适于击打所述辐射敏感显示材料的α和/或β粒子的源。
7.根据权利要求6的方法，还包括在与所述电离辐射源的所述第一表面相对的所述电离辐射源的第二表面上提供粘合剂层，以允许将所述电离辐射源附加到物体的表面。
8.根据权利要求7的方法，还包括将释放衬垫放置在所述电离辐射源的所述第二表面上。
9.根据权利要求1的方法，其中所述放置包括以叠加关系将所述辐射敏感显示材料的所述第一表面粘合到所述电离辐射源的所述第一表面，其中所述粘合包括具有可以破坏所述辐射敏感显示材料和/或所述电离辐射源中的一个或两者的强度的粘合剂。
10.一种确定时间间隔的方法，所述方法包括提供发射辐射的辐射源；在开始时间测量所述辐射源的所述发射辐射的辐射水平的第一读数；将辐射抑制元件叠加到所述辐射源之上，以便抑制所述发射辐射通过所述辐射抑制元件；从所述叠加位置移除所述辐射抑制元件；以及在稍后的时间测量所述辐射源的所述发射辐射的辐射水平的第二读数，由此所述第一与第二读数之间的测量辐射水平的差指示了所述第一与第二读数之间的经过时间。
11.根据权利要求10的方法，其中所述放置包括以叠加关系将所述辐射抑制元件的第一表面可取下地粘合到所述辐射源的第一表面。
12.根据权利要求10的方法，其中所述提供所述辐射源包括提供发射α和/或β粒子的源。
13.根据权利要求12的方法，还包括在与所述辐射源的所述第一表面相对的所述辐射源的第二表面上提供粘合剂层，以允许将所述辐射源附加到物体的表面。
14.一种时间测量装置，所述装置包括具有第一表面以及发射电离辐射的辐射源的第一组件；以及，具有第一表面并且包括响应电离辐射的辐射敏感显示材料的第二组件，可将所述第一组件的所述第一表面以叠加并置关系放置到所述第二组件的所述第一表面，以便所述源的所述辐射发射击打所述辐射敏感显示材料并在其中引起电离变化，所述变化指示了所述辐射源的所述发射辐射击打所述辐射敏感显示材料并在其中引起变化的经过时间。
15.根据权利要求14的时间测量装置，其中所述辐射源是放射性核素薄膜。
16.根据权利要求14的时间测量装置，其中所述辐射敏感显示材料是放射量测定薄膜。
17.根据权利要求14的时间测量装置，其中所述辐射源发射α和/或β粒子。
18.根据权利要求14的时间测量装置，还包括与响应电离辐射的所述辐射敏感显示材料的第二表面处于叠加关系的保护元件，所述保护元件保护所述辐射敏感显示材料并抑制所述发射辐射。
19.根据权利要求14的时间测量装置，其中将释放衬垫附加到所述第一组件的所述第一表面，并且将释放衬垫附加到所述第二组件的所述第一表面。
20.根据权利要求19的时间测量装置，其中所述第一和第二释放衬垫中的至少一个释放衬垫包括使得所述第一和第二释放衬垫能够被可取下地结合在一起的粘合剂层。
21.根据权利要求20的时间测量装置，其中所述粘合剂层是低粘度压敏粘合剂层。
22.一种时间测量装置，所述装置包括发射辐射的辐射源，其中所述辐射源是辐射发射薄膜；以及，辐射抑制元件，其中所述辐射抑制元件是以叠加关系可取下地粘合到所述辐射源的柔性材料，以便抑制所述发射辐射通过所述辐射抑制元件。
23.根据权利要求22的时间测量装置，还包括在与所述辐射源相对的所述辐射抑制元件的表面上的释放衬垫，其中可以取下所述释放衬垫以允许将所述辐射源和所述抑制元件放置在部件上。
24.根据权利要求22的时间测量装置，其中所述辐射源是放射性核素薄膜。
全文摘要
一种确定时间间隔的方法和装置，包括提供从其发射辐射的电离辐射源；将响应电离辐射的辐射敏感显示材料放置在与所述电离辐射源非常接近的位置，由此所述源的所述发射辐射击打所述辐射敏感显示材料，由此开始时间间隔；以及测量指示经过时间的所述辐射敏感显示材料的特性变化。
文档编号G04F13/00GK1932697SQ200610115929
公开日2007年3月21日 申请日期2006年8月18日 优先权日2005年9月13日
发明者J·库茨辛斯基, D·O·刘易斯 申请人:国际商业机器公司