专利名称：工序管理装置及工序管理方法
技术领域：
本发明涉及一种管理被对象物的处理工序的工序管理装置、工序管理方法、工序管理程序以及记录了该程序的记录介质。
背景技术：
在工场的生产线中，为了提高成品率，需要进行工序的改善处理。指定作为产品的不良原因的工序，修正工序以消除该原因，由此进行工序改善。
但是，在由多个工序构成的制造工序中，作为不良原因的候补，可以想到制造装置的部件缺陷、制造装置的设置问题以及传送路径上的问题等多种多样的主要因素。因此，很难指定不良原因。
并且，作为不良原因的现象出现时，不仅在产品上产生不良的症状，也会对制造装置的动作经历或检查装置的检查经历产生某些影响。与这些不良品的症状相关的数据、以及与制造装置的动作经历或检查装置的检查经历相关的数据变得很庞大，很难进行关于不良产生的分析。
在此，生产管理的相关经验丰富的生产管理负责人，就不良原因对不良品、制造装置、检查装置产生的影响的关系以及该影响的解释方法很有经验，可以有效地实施工序改善。但是，经验较少的生产管理负责人会一一考虑原因后进行原因的指定，工序的改善处理要花费很长时间。
因此，需要一种方法，能够实现在生产现场、无论熟练度如何的生产管理负责人都能高精度且高效率地推断异常原因。作为这种方法，下文所示的专利文献1中公开了一种印刷基板的生产线的不良原因分析方法。在该不良原因分析方法中，利用概率表示印刷结果和安装结果的联系、安装结果和焊接结果的联系，基于该概率推断不良要因。
专利文献1日本专利第3511632号公报(发行日平成16年3月29日)但是，在上述专利文件1公开的方法中存在如下问题推断的不良要因成为各工序的处理内容，因此对于由于多个工序间的相互作用而产生的不良等、不是各工序的处理单独作为原因的不良，不能准确地指定不良要因。
为了准确地指定这种不良要因，想到了通过全部确认假定的所有的关于不良产生机械装置的知识、来进行不良要因的推断。但是，这种方法存在着不良要因的推断花费太多时间的问题。
发明内容
本发明鉴于上述问题点，其目的在于提供一种工序管理装置、工序管理程序、记录了工序管理程序的记录介质、以及工序管理方法，在对被对象物进行处理的处理系统中，当因处理的不良导致被对象物产生不良时，即使熟练度低的用户也能准确且迅速地推断不良要因。
本发明的工序管理装置，为了解决上述问题，其特征在于，具有推断知识记录部，记录要因推断知识信息，该要因推断知识信息，使对被对象物进行处理的处理系统中可能产生的多个不良结果、分别与1个以上不良要因候补相对应，并且包括与直至各不良要因为止的条件相关的信息、以及与各条件对应的分析ID信息；分析方法记录部，记录与上述处理系统中的处理过程的检查结果相关的检查结果数据的分析方法信息、以及与各分析方法信息对应的分析ID信息；要因推断单元，基于与指定的不良结果对应的上述要因推断知识信息，推断与该不良结果对应的不良要因；以及分析处理单元，基于上述分析方法信息，进行检查结果数据的分析，上述要因推断单元，将推断不良要因所需要的上述条件作为问题向用户提示，并且上述分析处理单元，通过接收与上述问题对应的条件的分析ID信息，而基于与该ID对应的上述分析方法信息进行分析，并将分析结果向用户提示。
并且，本发明的工序管理方法，为了解决上述问题，其特征在于，具有以下步骤推断知识记录步骤，记录要因推断知识信息，该要因推断知识信息，使对被对象物进行处理的处理系统中可能产生的多个不良结果、分别与1个以上不良要因候补相对应，并且包括与直至各不良要因为止的条件相关的信息、以及与各条件对应的分析ID信息；分析方法记录步骤，记录与上述处理系统中的处理过程的检查结果相关的检查结果数据的分析方法信息、以及与各分析方法信息对应的分析ID信息；要因推断步骤，基于与指定的不良结果对应的上述要因推断知识信息，推断与该不良结果对应的不良要因；以及分析处理步骤，基于上述分析方法信息，进行检查结果数据的分析，在上述要因推断步骤中，将推断不良要因所需要的上述条件作为问题向用户提示，并且在上述分析处理步骤中，通过接收与上述问题对应的条件的分析ID信息，而基于与该ID对应的上述分析方法信息进行分析，并将分析结果向用户提示。
根据上述结构和方法，预先准备要因推断知识信息和分析方法信息。在此，要因推断知识信息，如上所述，使多个不良结果分别与1个以上不良要因候补相对应，并且包括与直至各不良要因为止的条件相关的信息、以及与各条件对应的分析ID信息。并且，分析方法信息如上所述，包括多个分析方法信息以及指定各分析方法信息的分析ID信息。即，通过分析ID进行要因推断知识信息的各条件和分析方法信息的对应。
并且，推断不良要因所需要的上述条件作为问题向用户提示时，按照通过分析ID与该问题的条件相对应的分析方法信息进行分析，将该分析结果向用户提示。因此，用户对于推断不良要因所需要的问题，即使没有关于应当怎样进行检查结果数据的分析的知识，也能得到最合适的检查结果数据的分析结果。因此，能够提供一种即使是不熟悉工序管理的用户也能够迅速且准确地进行要因推断的工序管理装置。
并且，例如，要因推断知识信息中包括分析方法信息时，有必要对于要因推断知识信息的全部条件分别记录分析方法信息，信息量变得庞大。与此相对，根据上述结构和方法，分别设置分析方法信息和要因推断知识信息，并且通过分析ID将分析方法信息和要因推断知识信息建立联系，降低了需要准备的信息量。
并且，本发明的工序管理装置，在上述构成中，优选的是，上述分析方法信息，是表示应该从上述检查结果数据中收集哪些检查结果数据的数据收集方法信息、以及与收集到的数据的加工方法相关的数据加工方法信息，上述分析ID对上述数据收集方法信息和上述数据加工方法信息的组合进行指定。
根据上述结构，作为分析方法信息，包括数据收集方法信息和数据加工方法信息，因此，分析处理单元，能够基于数据收集方法信息从检查结果数据收集必要的检查结果数据，基于数据加工方法信息加工收集到的检查结果数据进行分析。因此，能够利用分析处理单元更准确地进行分析。
并且，本发明的工序管理装置，在上述构成中，优选的是，还具有检查结果输入单元，从检查上述处理系统中的处理过程的检查装置接收检查结果数据；以及检查结果记录部，记录由上述检查结果输入单元接收到的检查结果数据，上述分析处理单元，从上述检查结果记录部取得检查结果数据，并进行分析。
根据上述结构，作为检查装置中检查的结果的检查结果数据由检查结果输入单元被接收，该接收到的检查结果数据被记录在检查结果记录部。因此，分析处理单元，通过读出记录在检查结果记录部的检查结果数据来进行分析即可，因此，例如与从检查装置取得检查结果的情况相比，能够在需要时迅速取得必要的检查结果数据。
并且，本发明的工序管理装置，在上述构成中，优选的是，上述分析处理单元通过来自用户的输入来接收上述分析ID信息。
根据上述结构，用户对分析处理单元进行分析ID信息的输入。因此，不需要设置从要因推断单元向分析处理单元交接分析ID信息的单元，因此能够在分别独立地设置要因推断单元和分析处理单元时实现各构成的简单化。
并且，本发明的工序管理装置，在上述构成中，优选的是，上述要因推断单元，将与当前提示的问题对应的条件的分析ID信息发送到上述分析处理单元，并且上述分析处理单元从上述要因推断单元接收上述分析ID信息。
根据上述结构，要因推断单元将与当前提示的问题对应的条件的分析ID信息发送到上述分析处理单元，分析处理单元从要因推断单元接收分析ID信息，因此与被提示的问题相对应的分析处理不用通过用户的手即可执行。因此，能够迅速进行要因推断处理。
并且，本发明的工序管理装置，在上述构成中，优选的是，上述要因推断单元将与不良结果相关的信息发送到上述分析处理单元，并且上述分析处理单元，基于从上述要因推断单元接收到的与上述不良结果相关的信息以及上述分析方法信息进行分析。
根据上述结构，与不良结果相关的信息从要因推断单元交接给分析处理单元。因此，可以省去用户对分析处理单元输入与不良结果相关的信息的时间，因此能够迅速地进行要因推断处理。
另外，上述工序管理装置也可以利用计算机实现，这种情况下，通过使计算机作为上述各单元进行动作、来使计算机实现上述工序管理装置的工序管理装置的工序管理程序、以及记录该程序的计算机可读记录介质也属于本发明的范畴之内。
本发明的工序管理装置如上所述构成为具有推断知识记录部，记录要因推断知识信息，该要因推断知识信息，使对被对象物进行处理的处理系统中可能产生的多个不良结果、分别与1个以上不良要因候补相对应，并且包括与直至各不良要因为止的条件相关的信息、以及与各条件对应的分析ID信息；分析方法记录部，记录与上述处理系统中的处理过程的检查结果相关的检查结果数据的分析方法信息、以及与各分析方法信息对应的分析ID信息；要因推断单元，基于与指定的不良结果对应的上述要因推断知识信息，推断与该不良结果对应的不良要因；以及分析处理单元，基于上述分析方法信息，进行检查结果数据的分析，上述要因推断单元，将推断不良要因所需要的上述条件作为问题向用户提示，并且上述分析处理单元，通过接收与上述问题对应的条件的分析ID信息，而基于与该ID对应的上述分析方法信息进行分析，并将分析结果向用户提示。
因此，其效果是提供一种即使是不熟悉工序管理的用户也能准确地进行要因推断的工序管理装置。并且，分别设置分析方法信息和要因推断知识信息，并且通过分析ID将分析方法信息和要因推断知识信息结合，起到了降低需要准备的信息量的效果。
图1是表示本发明的一个实施方式的工序管理装置的概略结构的框图。
图2是表示包括上述工序管理装置的生产系统的概略结构的框图。
图3是表示数据收集加工表的一例的图。
图4是表示要因推断知识信息的树形结构数据的一例的图。
图5是表示要因推断画面的一例的图。
图6是表示分析结果画面的一例的图。
图7是表示分析处理和要因推断处理的流程的流程图。
具体实施例方式
以下基于附图对本发明的一个实施方式进行说明。在本实施方式中，对应用于具有印刷基板生产线的生产系统的工序管理系统进行说明，但本发明并不限于印刷基板的生产系统，可以普遍应用于被对象物的处理工序的管理。另外，所谓被对象物的处理工序是指例如工业制品的生产工序；矿业制品、农产品、或原料的检查工序；废气对象物(例如，工场废弃物、工厂废水、废气、垃圾等)的处理工序；废气对象物的检查工序；设备的检查工序；回收工序等。
(生产系统的结构)首先，基于图2对应用了本实施方式的工序管理系统的印刷基板的生产系统(处理系统)1进行说明。生产系统1的生产线包括制造印刷基板的各工序(印刷工序、安装工序、回流工序等)。在该图所示例子中，生产系统1具有印刷装置11，进行将焊锡涂布到基板上的焊锡印刷工序；安装装置12，进行将电子部件安装到基板上的部件安装工序；焊接装置13，进行焊接基板上的电子部件的回流工序；以及工序管理装置10，进行生产系统1的管理。印刷装置11、安装装置12以及焊接装置13，从生产系统1的制品流程的上游至下游按照该顺序进行配置。
并且，在印刷装置11附近配置有印刷检查装置14a，安装装置12附近配置有安装检查装置14b，焊接装置13附近配置有焊接检查装置14c。印刷检查装置14a检查由印刷装置11处理的基板的质量。安装检查装置14b检查由安装装置12处理的基板。焊接检查装置14c检查由焊接装置13处理的基板。另外，下文中在不需要区分印刷检查装置14a、安装检查装置14b以及焊接检查装置14c的情况下，简单称为检查装置14。
并且，工序管理装置10，总括管理整个生产系统1，并进行后述的要因推断处理和分析处理。该工序管理装置10，接收来自作为生产管理者的用户的各种信息的输入和指示输入，进行各种处理。
工序管理装置10、印刷装置11、安装装置12、焊接装置13、印刷检查装置14a、安装检查装置14b、以及焊接检查装置14c，利用通信线路相互连接，由此形成通信网络。另外，作为通信网络只要是各装置可以相互通信的方式即可，例如设想形成LAN(Local AreaNetwork)的方式。
另外，也可以是以下方式与工序管理装置10分开地、以与上述通信网连接的状态另外设置用户进行操作输入的终端装置，通过该终端装置进行向工序管理装置10的数据输入和各种画面显示。
并且，在上述例中，分别对应于印刷装置11、安装装置12、以及焊接装置13来设置检查装置14，但是在生产系统1中至少设置一个检查装置14即可。例如，至少设置焊接检查装置14c，即可检测出最终的制造结果中产生的不良。
(工序管理装置的结构)接下来，参照图1对工序管理装置10的结构进行如下说明。如该图所示，工序管理装置10构成为具有要因推断部(要因推断单元)20、分析处理部(分析处理单元)30、检查结果输入部(检查结果输入单元)40、输入部50、以及显示部60。
输入部50，用于接收来自用户的指示输入以及信息输入等，由例如键盘或按钮等按键输入单元、鼠标等指示器(pointing device)等构成。显示部60，用于显示工序管理装置10的各种处理内容，例如可以由液晶显示装置、CRT(Cathode Ray Tube，阴极射线管)等显示装置构成。
检查结果输入部40，用于接收与生产系统1的制造过程的检查结果相关的数据，具有印刷结果输入部41、安装结果输入部42、焊接结果输入部43、以及制造装置经历输入部44。印刷结果输入部41接收印刷检查装置14a的检查结果。安装结果输入部42接收安装检查装置14b的检查结果。焊接结果输入部43接收焊接检查装置14c的检查结果。制造装置经历输入部44从印刷装置11、安装装置12以及焊接装置13接收与制造经历相关的信息。
另外，检查结果输入部40，从印刷装置11、安装装置12、焊接装置13、印刷检查装置14a、安装检查装置14b，以及焊接检查装置14c中的至少一个装置接收与检查结果相关的信息即可。例如，如果仅从焊接检查装置14c接收与焊接结果相关的检查结果数据，则能取得与最终的制造结果中产生的不良相关的检查结果数据。
分析处理部30，基于与检查结果相关的数据进行制造状态的分析处理，具有分析显示控制部31、数据处理部32、分析方法检索部33、数据收集处理部34、数据收集加工表(分析方法记录部)35、以及工序状态数据库(检查结果记录部)36。
工序状态数据库36，是记录由检查结果输入部40接收到的、与生产系统1的制造过程的检查结果相关的数据(检查结果数据)的数据库。即，在工序状态数据库36中记录印刷检查装置14a的检查结果；安装检查装置14b的检查结果；焊接检查装置14c的检查结果；与来自印刷装置11、安装装置12、以及焊接装置13的制造经历相关的信息。该工序状态数据库36记录在例如硬盘装置等记录介质中。
数据收集加工表35记录数据的收集方法以及收集到的数据的加工方法的相关信息。所谓数据的收集方法的相关信息，表示从记录在工序状态数据库36中的多个检查结果数据中收集哪些数据所涉及的信息。所谓数据的加工方法的相关信息，表示应当怎样对通过对应的数据收集方法收集到的数据进行加工并进行分析所涉及的信息。并且，数据收集加工表35中也记录了分析ID，该分析ID用于对数据的收集方法和收集到的数据的加工方法的相关信息的组合进行指定。该数据收集加工表35被记录在例如硬盘装置等记录介质中。另外，对于数据收集加工表35的详细内容在下文叙述。
数据处理部32进行分析处理部30的分析处理所需要的数据处理。首先，数据处理部32，按照从输入部50输入的指示输入，从分析方法检索部33取得与数据收集方法和数据加工方法相关的信息。取得的数据收集方法的信息，被发送到数据收集处理部34，取得分析所需要的数据。并且，数据处理部32，基于取得的数据加工方法，对取得的数据进行数据处理，并将分析结果发送给分析显示控制部31。
分析方法检索部33进行以下处理从数据收集加工表35取得与来自数据处理部32的指示相对应的数据收集方法和数据加工方法的相关信息，并将取得的信息发送给数据处理部32。通过从数据处理部32发送指定上述分析ID的信息，分析方法检索部33指定应当取得的数据收集方法和数据加工方法。另外，作为分析ID，例如有文字信息、数值信息、条形码信息等。利用条形码信息时，可使用条形码阅读器(bar code reader)作为输入部50。
数据收集处理部34进行以下处理从工序状态数据库36取得与来自数据处理部32的指示相对应的检查结果数据，并将其发送到数据处理部32。分析显示控制部31控制与分析处理相关的、显示部60的画面显示。作为与分析处理相关的画面显示例如有后述的分析结果画面。
要因推断部20，进行就与用户输入的不良结果相关的信息、推断其不良结果的要因的处理，具有推断处理部21、要因推断显示控制部22、以及推断知识记录部23。
推断知识记录部23记录要因推断知识信息。要因推断知识信息是用于探索多个不良结果的各自的要因的信息。该推断知识记录部23被记录在例如硬盘装置等记录介质上。对于该要因推断知识信息的详细内容在下文叙述。
推断处理部21，从推断知识记录部23读出与从输入部50输入的不良结果相关的要因推断知识信息，并基于该要因推断知识信息进行要因的推断。详细内容后述，要因推断知识信息包括作为条件的分支判断，通过从输入部50输入对该分支判断的回答，进行要因推断。要因推断显示控制部22控制与要因推断处理相关的、显示部60的画面显示。作为与要因推断处理相关的画面显示例如有后述的要因推断画面。
(数据收集加工表)接下来参照图3对数据收集加工表35进行说明。如该图所示，数据收集加工表35包括多个分析ID、以及与各分析ID相对应的数据收集方法信息及数据加工方法信息，其中多个分析ID用于对数据的收集方法和收集到的数据的加工方法的相关信息的组合进行指定。
数据收集方法信息，表示应当从工序状态数据库36中存储的检查结果数据中收集哪些数据所涉及的信息。以下对图3所示例中的数据收集方法信息的例子进行列举。
与分析ID:A对应的数据收集方法信息，是与被指定的不良品同一基板上的所有部件的部件偏差量。与分析ID:B对应的数据收集方法信息，是与和被指定的不良品同一批的从生产开始后的所有基板的不良部件在相同位置的部件的焊锡印刷转印率。与分析ID:C对应的数据收集方法信息，是与从和被指定的不良品同一天的线起动时间开始至被指定的不良品为止的期间生产的基板不良部件、在相同位置的部件的部件偏差量。与分析ID:D对应的数据收集方法信息，是和被指定的不良品同一批的所有基板上的所有部件的部件偏差量、和安装有该部件的安装机(マウンタ)的喷嘴的编号。
数据加工方法信息，表示基于数据收集方法信息收集的数据的分析方法和分析结果的显示方法的信息。以下对图3所示的数据加工方法信息的例子进行举例。
与分析ID:A对应的数据加工方法信息的内容是图示基板，进行对应的部件位置上偏差量大的部件为红色、偏差量小的部件为蓝色的4阶段的显示。与分析ID:B对应的数据加工方法信息的内容是将基板沿X轴方向分为10份，并用直方图显示各范围内的转印率的平均值。与分析ID:C对应的数据加工方法信息的内容是以时间为横轴、部件偏差量为纵轴，并用折线图表进行显示。与分析ID:D对应的数据加工方法信息的内容是按照各个喷嘴编号取部件偏差量的平均值，并用线图进行显示。
分析方法检索部33，从上述数据收集加工表35对与被指定的数据收集方法和数据加工方法相关的信息进行指定，并发送到数据处理部32。数据处理部32，将接收到的与数据收集方法相关的信息发送到数据收集处理部34，由此提取工序状态数据库36中存储的检查结果数据。并且，数据处理部32，基于提取的检查结果数据，按照接收到的数据加工方法进行分析运算，分析显示控制部31进行分析结果的显示。
(要因推断知识信息)接下来参照图4对要因推断知识信息进行说明。如该图所示，要因推断知识信息，是用于探索各个不良结果的要因的树形结构的数据。详细而言，要因推断知识信息，将各个不良结果与一个以上不良要因的候补相对应，并且包括与直至各不良要因为止的条件相关的信息。即，要因推断知识信息的树形结构，对于某不良结果，可基于与不良的发生状况相关的信息选择条件的分支，由此到达指定的不良要因。
以下作为要因推断知识信息的一例，对图4所示例子即不良结果为桥不良时的要因推断知识信息进行说明。首先，在条件C1中，判断从生产线起动开始部件偏差是否变小。并且，对该条件C1设定分析ID:C。即，基于如下信息进行条件C1的判断通过与分析ID:C对应的数据收集方法收集检查结果数据、并通过与分析ID:C对应的数据加工方法进行了分析、显示的信息。
在条件C1中判断为是、即判断为从生产线起动开始部件偏差变小时，在条件C2中判断搭载了对象不良部件的喷嘴的部件偏差量是否比其他的大。并且，对该条件C2设定分析ID:D。即，基于以下信息进行条件C2的判断通过与分析ID:D对应的数据收集方法收集检查结果数据、并通过与分析ID:D对应的数据加工方法进行了分析、显示的信息。
在条件C2中判断为是、即判断为搭载了对象不良部件的喷嘴的部件偏差量比其他的大时，判断不良要因是不良要因F1、即安装装置12(安装机)的该喷嘴损坏。另一方面，在条件C2中判断为否、即搭载了对象不良部件的喷嘴的部件偏差量不比其他的大时，判断不良要因是不良要因F2、即安装装置12(安装机)的该喷嘴的吸附力变弱。
另一方面，在条件C1判断为否、即从生产线起动开始部件偏差没有变小时，在条件C3中判断印刷面积是否向恒定方向变化。并且，对该条件C3设定分析ID:B。即，基于以下信息进行条件C3的判断通过与分析ID:B对应的数据收集方法收集检查结果数据、并通过与分析ID:B对应的数据加工方法进行了分析、显示的信息。
在条件C3中判断为是、即印刷面积向恒定方向变化时，判断不良要因是不良要因F3、即印刷装置11(印刷机)的下型损坏。
另一方面，在条件C3中判断为否、即印刷面积不向恒定方向变化时，在条件C4中判断在部件偏差量大的部位基板是否弯曲。并且，对该条件C4设定分析ID:A。即，基于以下信息进行条件C4的判断通过与分析ID:A对应的数据收集方法收集检查结果数据、并通过与分析ID:A对应的数据加工方法进行了分析、显示的信息。
在条件C4中判断为是、即在部件偏差量大的部位基板弯曲时，判断不良要因是不良要因F4、即基板保管时的不谨慎操作。另一方面，在条件C4中判断为否、即在部件偏差量大的部位基板没有弯曲时，判断不良要因是不良要因F5、即掩模开口部附着有污垢。
(要因推断画面)接下来，参照图5对在由要因推断部20进行的要因推断处理中显示在显示部60上的显示画面(以下称为要因推断画面)进行说明。如该图所示，在要因推断画面上设有不良结果指定区域FA1、推断过程显示区域FA2、以及要因候补显示区域FA3。
在不良结果指定区域FA1中有3个输入区域，分别是输入不良结果的种类的不良种类输入区域、输入产生不良的部件的种类的部件种类输入区域、以及输入产生不良的部件的尺寸的部件尺寸输入区域。用户检测到不良的产生时，由用户在上述3个输入区域中输入与该不良结果相关的信息。另外，对上述3个输入区域的输入，可以是由用户直接输入文字，也可以是利用下拉列表显示选择项、由用户从该选择项中选择指定项目来进行。
在推断过程显示区域FA2中设有显示推断不良要因所需要的问题的问题显示区域、用于输入对问题的回答的回答输入按钮、以及显示分析ID的分析ID显示区域。在问题显示区域中按照树形结构顺次显示与该不良结果对应的要因推断知识信息中包含的条件。
即，推断处理部21，首先，基于与输入到不良结果指定区域FA1中的不良相关的信息，指定不良结果。并且，指定处理部21，从推断知识记录部23读出与该不良结果对应的要因推断知识信息的树形结构的数据，要因推断显示控制部22按照该树形结构顺次在问题显示区域显示条件。并且，推断处理部21，从推断知识记录部23读出与显示在问题显示区域的条件相对应的分析ID，要因推断显示控制部22将其显示在分析ID显示区域。
其后，分析处理部30基于分析ID分析检查结果数据，并显示分析结果。通过观看该分析结果，用户判断对显示在问题显示区域的问题的回答，由用户从回答输入按钮输入回答。其后，按照回答顺次将下一条件显示在问题显示区域。
要因候补显示区域FA3中显示变为问题显示区域中显示的条件时的不良要因的候补。即，在要因推断知识信息的树形结构中，在最初的条件被显示时，显示所有该不良结果的不良要因的候补，随着条件的范围缩小，不良要因的候补减少，最终指定一个不良要因。
例如，在图4所示要因推断知识信息的例子中，在显示条件C1时、在要因候补显示区域FA3中显示不良要因F1～F5，在显示条件C2时、在要因候补显示区域FA3中显示不良要因F1、F2，此时选择“是”这一回答输入按钮时，在要因候补显示区域FA3中仅显示不良要因F1。
(分析结果画面)其次，参照图6对在由分析处理部30进行的分析处理中显示在显示部60上的显示画面(以下称为分析结果画面)进行说明。如该图所示，在分析结果画面上设有对象部件信息区域AA1和结果显示区域AA2。
对象部件信息区域AA1中显示对作为分析对象的部件进行指定的部件指定信息。作为该部件指定信息例如有基板形式信息、批号信息、基板ID信息、以及部件ID信息。数据处理部32，基于对要因推断部20输入的与不良相关的信息以及分析ID，指定上述部件指定信息。并且，在结果显示区域AA2上显示分析ID的输入区域以及分析结果。
数据处理部32，在由用户向输入区域输入分析ID时，首先从数据收集加工表35经由分析方法检索部33读出与该分析ID对应的数据收集方法信息。此外，数据处理部32从要因推断部20接收与不良结果相关的信息。并且，数据处理部32，基于数据收集方法信息和不良结果信息，指定应当收集数据的部件，并将与被指定的部件相关的信息显示在对象部件信息区域AA1。
并且，数据处理部32，基于数据收集方法信息，经由数据收集处理部34从工序状态数据库36读出与应当收集数据的部件相关的指定的检查结果数据，并且基于与该分析ID对应的数据加工方法对检查结果数据进行加工，利用分析显示控制部31将分析结果显示在显示部60上。分析结果可以以例如直方图、折线图、以及线图等方式来显示。
(分析处理以及要因推断处理的流程)接下来，参照图7所示流程图对上述分析处理以及要因推断处理的流程说明如下。在该图中，S1、S6～S9的处理表示分析处理部30进行的分析处理，S2～S5、S10的处理表示要因推断部20进行的要因推断处理。
首先，在步骤1(以下称为S1)中，以检测不良结果为目的，按照来自用户的指示输入，由分析处理部30进行分析处理。在此，用户适当地对利用记录在工序状态数据库36中的检查结果数据的分析处理进行指定，该被指定的分析处理由分析处理部30进行。并且，用户通过确认各种分析结果判断是否产生了不良。
在S1的分析处理的结果是用户判断为产生了不良时，在要因推断画面中，用户输入的与不良结果相关的信息由输入部50接收(S2)。与不良结果相关的信息被输入到推断处理部21，推断处理部21从推断知识记录部23中记录的要因指定知识信息中、指定与该不良结果对应的要因推断知识信息(S3)。
并且，推断处理部21，按照树形结构对指定的要因推断知识信息中包含的条件作为问题进行指定，要因推断显示控制部22在要因推断画面上显示该问题。并且，要因推断显示控制部22将与被指定的问题对应的分析ID显示在要因推断画面上。并且，要因推断显示控制部22将此时的不良要因的候补的列表显示在要因推断画面上(S4)。
在此，利用推断处理部21判断不良要因的候补是不是1个(S5)。在不良要因的候补是1个的情况下(在S5中为是)，判断不良要因的指定完成，要因推断处理结束。另一方面，在不良要因的候补不是1个的情况下(在S5中为否)，进行回答问题所需要的分析处理。
首先，在S6中，在分析处理画面中由用户进行分析ID的输入(S6)。在此，被输入的分析ID，从数据处理部32传送到分析方法检索部33，并由分析方法检索部33从数据收集加工表35读出与该分析ID对应的数据收集方法以及数据加工方法。并且，数据处理部32，基于数据收集方法信息，经由数据收集处理部34从工序状态数据库36读出与应当收集数据的部件相关的指定的检查结果数据(S7)。并且，数据处理部32，基于与该分析ID对应的数据加工方法加工检查结果数据(S8)。该加工结果通过分析显示控制部31显示在分析结果画面上(S9)。
在分析结果显示在分析结果画面上时，用户基于分析结果，输入对显示在要因推断画面上的问题的回答(S10)。该用户进行的回答的输入由推断处理部21接收。推断处理部21，根据用户的回答结果，按照树形结构指定要因推断知识信息所包含的条件作为下一个问题，进行从S4开始的处理。
另外，在上述例子中，在S6中，通过来自用户的输入将分析ID输入到分析处理部30，但也可以将与在要因推断部20中指定的分析ID相关的信息传送到数据处理部32。这种情况下，能够节省用户输入分析ID的时间。
并且，在上述例子中，在S10中由用户输入对问题的回答，但也可以将分析处理部30的分析结果输入到要因推断部20，推断处理部21基于分析结果选择对问题的回答。这种情况下，例如，向用户提示由推断处理部21选择的结果，在确认后转移到下一个问题。
另外，工序管理装置10所具有的要因推断部20、分析处理部30、以及检查结果输入部40中含有的各个功能块，可以由硬件逻辑构成，也可以如下所示利用CPU通过软件来实现。
即，工序管理装置具有执行实现各功能的控制程序的命令的CPU(central processing unit)、存储上述程序的ROM(read only memory)、展开上述程序的RAM(random access memory)、存储上述程序和各种数据的存储器等存储装置(记录介质)等。并且，可以通过将可由计算机读取地记录了实现上述功能的软件即工序管理装置10的控制程序的程序编码(执行形式程序、中间编码程序、源程序)的记录介质提供给上述工序管理装置10，并由该计算机(或CPU、MPU)读出并执行记录在记录介质中的程序编码，由此实现本发明的目的。
上述存储介质可以利用磁带或盒式录音带等带系列；包括フロツピ一盘(注册商标)或硬盘等磁盘、或CD-ROM/MO/MD/DVD/CD-R等光盘的盘系列；IC卡(包括存储卡)/光卡等的卡系列；或者掩模ROM/EPROM/EEPROM/闪存ROM等半导体存储器系列等。
并且，工序管理装置10构成为可与通信网络连接，也可以通过通信网络提供上述程序编码。作为该通信网络并不特意限定，例如可以利用因特网、内联网、外联网(extranet)、LAN、ISDN、VAN、CATV通信网、虚拟专用网(virtual private network)、电话线路网、移动通信网、卫星通信网等。并且作为构成通信网络的传送介质并不特意限定，例如可以利用IEEE1394、USB、电力线传送、有线电视网、电话线、ADSL线路等有线；或者IrDA或无线电遥控等红外线、Bluetooth(注册商标)、802.11无线、HDR、移动电话网、卫星信道、数字地面广播网等无线。另外，本发明还可以利用上述程序编码由电子传送具体化的、嵌入载波的计算机数据信号的方式得以实现。
本发明不限于上述实施方式，在权利要求所示范围内可以作各种变更。即，在权利要求范围内组合适当变更的技术手段而得到的实施方式也包括在本发明的技术范围内。
(产业上的利用可能性)本发明的工序管理装置例如适用于印刷基板的生产工序的管理，但并不限于此，可以普遍应用于被对象物的处理工序，其中被对象物的处理工序包括工业制品的生产工序；矿业制品、农产品、或者原料的检查工序；废气对象物(例如，工场废弃物、工厂废水、废气，垃圾等)的处理工序；废气对象物的检查工序；设备的检查工序；回收工序等。
权利要求
1.一种工序管理装置，其特征在于，具有推断知识记录部，记录要因推断知识信息，该要因推断知识信息，使对被对象物进行处理的处理系统中可能产生的多个不良结果、分别与1个以上不良要因候补相对应，并且包括与直至各不良要因为止的条件相关的信息、以及与各条件对应的分析ID信息；分析方法记录部，记录与上述处理系统中的处理过程的检查结果相关的检查结果数据的分析方法信息、以及与各分析方法信息对应的分析ID信息；要因推断单元，基于与指定的不良结果对应的上述要因推断知识信息，推断与该不良结果对应的不良要因；以及分析处理单元，基于上述分析方法信息，进行检查结果数据的分析，上述要因推断单元，将推断不良要因所需要的上述条件作为问题向用户提示，并且上述分析处理单元，通过接收与上述问题对应的条件的分析ID信息，而基于与该ID对应的上述分析方法信息进行分析，并将分析结果向用户提示。
2.根据权利要求1所述的工序管理装置，其特征在于，上述分析方法信息，是表示应该从上述检查结果数据中收集哪些检查结果数据的数据收集方法信息、以及与收集到的数据的加工方法相关的数据加工方法信息，上述分析ID对上述数据收集方法信息和上述数据加工方法信息的组合进行指定。
3.根据权利要求1所述的工序管理装置，其特征在于，还具有检查结果输入单元，从检查上述处理系统中的处理过程的检查装置接收检查结果数据；以及检查结果记录部，记录由上述检查结果输入单元接收到的检查结果数据，上述分析处理单元，从上述检查结果记录部取得检查结果数据，并进行分析。
4.根据权利要求1所述的工序管理装置，其特征在于，上述分析处理单元通过来自用户的输入来接收上述分析ID信息。
5.根据权利要求1所述的工序管理装置，其特征在于，上述要因推断单元，将与当前提示的问题对应的条件的分析ID信息发送到上述分析处理单元，并且上述分析处理单元从上述要因推断单元接收上述分析ID信息。
6.根据权利要求1所述的工序管理装置，其特征在于，上述要因推断单元将与不良结果相关的信息发送到上述分析处理单元，并且上述分析处理单元，基于从上述要因推断单元接收到的与上述不良结果相关的信息以及上述分析方法信息进行分析。
7.一种工序管理方法，其特征在于，具有以下步骤推断知识记录步骤，记录要因推断知识信息，该要因推断知识信息，使对被对象物进行处理的处理系统中可能产生的多个不良结果、分别与1个以上不良要因候补相对应，并且包括与直至各不良要因为止的条件相关的信息、以及与各条件对应的分析ID信息；分析方法记录步骤，记录与上述处理系统中的处理过程的检查结果相关的检查结果数据的分析方法信息、以及与各分析方法信息对应的分析ID信息；要因推断步骤，基于与指定的不良结果对应的上述要因推断知识信息，推断与该不良结果对应的不良要因；以及分析处理步骤，基于上述分析方法信息，进行检查结果数据的分析，在上述要因推断步骤中，将推断不良要因所需要的上述条件作为问题向用户提示，并且在上述分析处理步骤中，通过接收与上述问题对应的条件的分析ID信息，而基于与该ID对应的上述分析方法信息进行分析，并将分析结果向用户提示。
全文摘要
提供一种工序管理装置，在对被对象物进行处理的处理系统中，当因处理的不良导致被对象物产生不良时，即使熟练度低的用户也能准确且迅速地推断不良要因。推断处理部(21)，从推断知识记录部(23)读出与直至不良要因为止的条件相关的信息，并顺次将该条件作为问题向用户提示。使各条件与分析ID相对应，数据处理部(32)接收与问题对应的条件的分析ID信息，由此从数据收集加工表(35)读出与该ID对应的数据收集方法信息和数据加工方法信息，并根据其进行分析，将分析结果向用户提示。
文档编号G05B19/418GK1873677SQ20061008997
公开日2006年12月6日 申请日期2006年5月30日 优先权日2005年5月30日
发明者松下明, 森弘之, 古贺纯平 申请人:欧姆龙株式会社