一种锂电池性能测试用恒温控制系统的制作方法

文档序号:15992377发布日期:2018-11-20 18:09阅读:211来源:国知局
一种锂电池性能测试用恒温控制系统的制作方法

本发明涉及锂电池性能测试技术领域,特别涉及其中的一种锂电池性能测试用恒温控制系统。



背景技术:

节能环保是当今世界发展的重要主题,世界各国争相发展各种节能环保产品。锂电池作为一种便携式电源,因其具有自放电率低、储能密度高、循环使用寿命长、无污染以及安全性能高等诸多优点,广泛应用于手机、笔记本电脑、电动汽车等多个领域中。而锂电池的性能好坏决定了节能环保的效果,因此锂电池的性能测试至关重要。

目前现有的电池性能测试装置其结构简单,使得测试精度很难保证,在对电池性能的检测过程中,电池直接暴露在外界环境中,环境温度严重影响电池本身的性能测试精度。因此亟待研制开发一种恒温测试性能装置,以便更好地解决上述问题。



技术实现要素:

为了解决现有技术的不足,本发明提出了一种锂电池性能测试用恒温控制系统。

本发明采用如下技术方案:

一种锂电池性能测试用恒温控制系统,包括温度检测模块、温度控制模块、温度调节模块、锂电池性能测试模块,温度检测模块包括温度传感器,温度控制模块包括单片机,温度调节模块包括制冷驱动电源电路和制热驱动电源电路,锂电池性能测试模块连接锂电池并测试锂电池的各种性能参数;

所述温度检测模块、锂电池性能测试模块、锂电池均放置在恒温箱中,单片机连接制冷驱动电源电路和制热驱动电源电路,制冷驱动电源电路和制热驱动电源电路分别连接设置在恒温箱内的半导体制冷片和半导体制热片;

单片机根据设定的温度数据通过温度调节模块调节恒温箱的温度,温度传感器采集恒温箱内部温度,将测试的温度信息传送至单片机,同时锂电池性能测试模块将所测性能参数数据传送至单片机,单片机将温度信息、性能参数数据与设定的温度数据比对,调整温度调节模块的工作状态。

优选地,所述温度检测模块、温度控制模块、温度调节模块、锂电池性能测试模块组成了闭环控制结构,温度检测模块将测试到的温度数据作为反馈信号反馈至温度控制模块,从而动态调节恒温箱的温度。

优选地,所述单片机内设数据读取单元、给定温度参数单元、PID调节器、PWM发生器,通过PID调节器产生温度信号并送至PWM发生器,PWM发生器根据温度信号产生PWM信号,控制产生作为制冷驱动电源电路和制热驱动电源电路的可控输出电压,进而控制半导体制冷片制冷或半导体制热片制热。

优选地,所述单片机还分别连接通信接口、显示与设定装置,通信接口用与将单片机与上位机连接,显示与设定装置用于相应数据的显示和温度数据的设定。

优选地,所述锂电池性能测试用恒温控制系统调温范围为-50℃~70℃。

优选地,所述锂电池性能测试模块测试的数据包括锂电池开路电压、实际容量、充放电效率、自放电率及电池老化程度。

采用如上技术方案取得的有益技术效果为:

本发明中所述及的锂电池性能测试用恒温控制系统具有的优点是选用半导体制冷片和制热片来调节恒温箱的温度,绿色环保,制冷片可连续工作,寿命长,使用简便,且能稳定的控制锂电池性能测试模块所处的环境温度,能够有效避免了外界温度对锂电池性能测试的影响,提高了锂电池性能的测试精度。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

图2为本发明的系统方框图。

具体实施方式

本发明提供了一种锂电池性能测试用恒温控制系统,为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,结合附图1至2对本发明的具体实施方式做进一步说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。

本发明提供了一种锂电池性能测试用恒温控制系统,如图1所示的,其包括温度检测模块1,温度控制模块2,温度调节模块3,锂电池性能测试模块4。其中温度检测模块是采用总线式温度传感器,测出的温度信号为数字信号,可直接通过总线传输给温度控制模块的单片机进行温度信号的相应处理;温度控制模块采用单片机作为控制器,接收温度检测模块传输来的温度信号,根据设定的温度数据通过PID调节器将温度信号送至PWM发生器,控制恒温箱温度的制冷制热指令,单片机与外设连接,将相应的信息送至通信接口,也可进行相应数据的显示和温度数据的设定;温度调节模块根据温度控制模块传送的制冷、制热指令,经过相应电路产生制冷、制热的可控输出电压,根据温度控制模块传送的控制信号分别吸收热量制冷和放出热量制热来调节恒温箱的温度,保证了电池性能模块在恒定的温度条件下测试锂电池各种性能参数。

锂电池的工作极限温度一般为-40℃~60℃,实验室条件下针对锂电池进行参数检测的环境温度范围为-50℃~70℃。半导体调温范围是-130和+90之间,半导体制冷片和半导体制热片能实现锂电池-50℃~70℃内任意温度的参数检测。

如系统方框图2,单片机根据给定的温度参数与温度传感器检测到温度进行比较,当低于给定温度时,通过PID调节器将温度信号送至PWM发生器,PWM信号经过相应电路产生制热驱动电源,驱动半导体制冷片制热,直至恒温箱内温度达到给定温度,同样,当恒温箱温度高于给定温度时,PWM信号经过相应电路产生制冷驱动电源,驱动半导体制冷片制冷,直至恒温箱内温度达到给定温度。

当然,以上说明仅仅为本发明的较佳实施例,本发明并不限于列举上述实施例,应当说明的是,任何熟悉本领域的技术人员在本说明书的指导下,所做出的所有等同替代、明显变形形式,均落在本说明书的实质范围之内,理应受到本发明的保护。

当前第1页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1