一种电子恒温样品架的温控装置的制作方法

本实用新型涉及荧光光学检测仪器技术领域，尤其涉及一种电子恒温样品架的温控装置。

背景技术：

荧光物质的荧光强度对温度变化很敏感。溶液温度下降时，介质的粘度增大，荧光物质与分子的碰撞也随之减少，去活化过程也减少，则荧光强度增加。相反，随着温度上升，荧光物质与分子的碰撞频率增加，使去活化几率增加，则荧光强度下降。为了获得准确的实验数据，一般需要把样品的测试温度控制在一定范围内。传统的控制温度的方法是通过水浴法来控制样品的测试温度，这种方法温控精度差，而且样品需要预先处理到一定温度。

目前在通过比色法测量组分含量的测量设备中采用了半导体加热制冷片调节来调节测试温度，但是现有利用半导体加热制冷片的方式是在比色皿的一侧加热，造成比色皿内的液体受热不均影响了测量精度，再者由于半导体加热制冷片的加热或制冷范围取决于加热制冷片两端的温差。热端散热良好，两端隔温良好情况下，两端温差取决于制冷片的供电电压。然而现实环境中，在使用加热制冷片制冷时，加热制冷片热端的热量往往难以有效的散出去。现有的方法中，有通过热端施加水浴装置的方式来带走加热制冷片产生的热量，它的温控范围与循环水的温度有关。(理论上循环水水温为加热制冷片热端的温度，冷端的温度等于水温减去两端温差)。但是这种方法不仅增加整个装置的复杂性，而且因为样品可能带有腐蚀性导致水浴装置的腐蚀，水管老化，从而有发生漏水的隐患。

为了克服现有技术中的一些缺陷，提出了一种电子恒温样品架的温控装置。本实用新型采用TEC半导体加热制冷片来控制样品架的温度。TEC半导体加热制冷片利用新的加热制冷技术，具有体积小、响应快、高精度、无制冷剂、易于实现加热制冷转换等优点，可有效提高恒温样品架的控制精度，而且响应迅速。

技术实现要素：

本实用新型提出了一种电子恒温样品架的温控装置，包括：底座、散热片、加热制冷片和保温部件；所述加热制冷片设置在所述散热片的中部，所述加热制冷片的导线从所述散热片上凿设的通孔中导出；所述保温部件为一侧开口的中空长方体结构，所述保温部件的开口包覆于所述加热制冷片的四周，所述保温部件的底部与所述底座相固定；其中，所述保温部件的外部为一侧开口的保温壳，所述保温壳的中央设有铜块，所述铜块为中空槽型长方体结构，所述铜块的一侧与所述加热制冷片接触，所述保温壳的顶部具有与所述铜块的槽型位置相对应的开孔；于所述保温壳和所述铜块的三个侧面均设有透光孔。

本实用新型提出的所述电子恒温样品架的温控装置中，所述保温壳与所述散热片之间、所述保温壳与所述铜块的接触面之间设有保温泡沫。

本实用新型提出的所述电子恒温样品架的温控装置中，所述铜块的底部连接有温度传感器，所述温度传感器的导线透过所述散热片上凿设的通孔导出。

本实用新型提出的所述电子恒温样品架的温控装置中，所述槽型的长度延伸到与所述加热制冷片接触的一侧。

本实用新型提出的所述电子恒温样品架的温控装置中，所述铜块中央的槽型内安装有至少一个弹簧片，所述弹簧片包括位于顶部的安装部和下部的弹簧脚，所述安装部通过螺丝与所述铜块固定，所述弹簧脚位于所述透光孔的两侧。

本实用新型提出的所述电子恒温样品架的温控装置中，所述铜块的槽型内进一步设有凹槽，所述凹槽的宽度大于等于所述透光孔的宽度。

本实用新型提出的所述电子恒温样品架的温控装置中，所述保温壳包括：保温壳底盖、保温壳侧板和保温壳上盖；所述保温壳底盖与所述底座通过螺丝连接，所述保温壳侧板成“匚”形，所述保温壳上盖通过螺丝与所述保温壳侧板连接，所述保温壳上盖中设有开孔。

本实用新型的有益效果在于：

本实用新型利用TEC半导体加热制冷片进行加热和制冷，具有体积小、响应快、高精度、无制冷剂、易于实现加热制冷转换等优点，可有效提高恒温样品架的控制精度，而且响应迅速，并且配合铜块使得样品受热均匀。在常温环境下，温控装置的温控范围在15℃-45℃之间，温度控制精度±0.5℃，且带有温度补偿功能。温控装置三面开孔，既可以用于荧光技术检测时直角光路的保温，也可以用于紫外可见技术检测时直线光路的保温。

附图说明

图1是本实用新型一种电子恒温样品架装置的结构图，1a为侧视图，1b为俯视图。

图2是本实用新型一种电子恒温样品架装置侧视图沿A-A方向的剖视图。

图3是本实用新型一种电子恒温样品架装置俯视图沿B-B方向的剖视图。

图4是本实用新型一种电子恒温样品架装置铜块的的主视图和左上等轴测视图。

图5是本实用新型一种电子恒温样品架装置弹簧片的主视图和左上等轴测视图。

图6是本装置测量荧光样品时光路示意图。

图7是本装置测量紫外可见样品时光路示意图。

具体实施方式

结合以下具体实施例和附图，对本实用新型作进一步的详细说明。实施本实用新型的过程、条件、实验方法等，除以下专门提及的内容之外，均为本领域的普遍知识和公知常识，本实用新型没有特别限制内容。

图1a和图1b分别显示的是本实用新型电子恒温样品架的温控装置的侧视图与俯视图，该温控装置包括：底座1、散热片2、加热制冷片3和保温部件4；加热制冷片3设置在散热片2的中部，加热制冷片3的导线从散热片2上凿设的通孔中导出；保温部件4为一侧开口的中空长方体结构，保温部件4的开口包覆于加热制冷片3的四周，保温部件4的底部与底座1相固定。参见图2和图3，保温部件4的外部为一侧开口的保温壳41，保温壳41的中央设有铜块43，铜块43为中空槽型长方体结构，加热制冷片3的两面均匀涂抹导热硅脂，一面紧贴铜块43，另一面紧贴散热片2。保温壳41的顶部具有与铜块43的槽型位置相对应的开孔；于保温壳41和铜块43的三个侧面均设有透光孔46，透光孔46位于同一水平高度。如图6所示，三侧的透光孔46可用于输入激发光和透过发射光。本实用新型装置也可用于测量紫外可见样品，如图7所示，测量时位于同一直线上的两侧透光孔46可分别输入入射光和透过出射光。

本实用新型提出的电子恒温样品架的温控装置中，保温壳41包括：保温壳底盖411、保温壳侧板412和保温壳上盖413；保温壳底盖411与底座1通过螺丝连接，保温壳侧板412成“匚”形，保温壳上盖413通过螺丝与保温壳侧板412连接，保温壳上盖413中设有开孔。铜块43居中放置在保温壳41的中央，保温壳41与散热片2之间设有保温泡沫42。加热制冷片3顶部与铜块43顶部齐平，有一条泡沫位于加热制冷片上方，隔绝加热制冷片3热端与铜块43之间空气的流通。

本实用新型提出的电子恒温样品架的温控装置中，铜块43的底部连接有温度传感器45，温度传感器45的导线透过散热片2上凿设的通孔导出。

本实用新型提出的电子恒温样品架的温控装置中，槽型的长度延伸到与加热制冷片3接触的一侧。铜块43与加热制冷片3接触的一侧中间有空隙，防止比色皿与透光孔46相配合的接触面起毛。图4和图5分别显示的是铜块及弹簧片的主视图及左上等轴测视图，铜块43中央的槽型内相邻两侧安装有二个弹簧片44，弹簧片44包括位于顶部的安装部441和下部的弹簧脚442，安装部441通过螺丝与铜块43固定，弹簧脚442的中央设有与透光孔46相同的通孔。两个弹簧片相互垂直支撑比色皿，保证重复比色皿放置的一致性。铜块43的槽型内进一步设有凹槽431，凹槽431的宽度大于等于透光孔46的宽度，防止比色皿与透光孔46相配合的接触面起毛。

本实用新型的保护内容不局限于以上实施例。在不背离实用新型构思的精神和范围下，本领域技术人员能够想到的变化和优点都被包括在本实用新型中，并且以所附的权利要求书为保护范围。