检测电路的制作方法

文档序号:8411750
检测电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本申请涉及汽车电子技术领域,具体涉及一种检测电路。
【背景技术】
[0002]汽车中应用的控制器,通常有许多数字信号输入,对这些信号进行判断后,发出相应的控制指令。如整车控制器,它采集档位信号、加速踏板信号、制动踏板信号等其他部件信号后,做出相应的判断,控制下层各个控制器的动作,协调电机控制系统、电池管理系统、充电控制系统、DC-DC、制动系统之间的功能转换和能量分配。对于这些输入信号的采集,对车辆的状态与监视等功能起着关键的作用。因此,对输入信号的状态的准确采集及判断对整车来说是极为重要的。
[0003]现有的技术方案中,对集电极开路的数字输入信号而言,通常是采用电阻分压的方式送入处理器的I/o进行采集。
[0004]然而,对于分压电阻的取值需要进行复杂的计算,且不能同时应用于12V与24V的系统中。

【发明内容】

[0005](一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本申请提供一种检测电路,使得通过简单的电路就能实现信号状态的判断,同时能够兼容12V与24V系统的应用。
[0006](二)技术方案
为实现以上目的,本申请通过以下技术方案予以实现:
一种检测电路,运用于对输入到处理器I/o接口的集电极开路的数字输入信号进行检测;
所述检测电路包括,选通部件、上拉电阻R2和第二电源,选通部件的一端接收集电极开路的数字输入信号,另一端连接处理器I/O接口 ;
所述第二电源经过上拉电阻R2加载到处理器I/O接口上。
[0007]优选的,所述检测电路还包括:集电极开路的三极管、第一电源和上拉电阻R1, 所述第一电源经过上拉电阻Rl加载到所述三极管的集电极,所述三极管的集电极连接所述选通部件。
[0008]优选的,所述第一电源为12V或者24V。
[0009]优选的,所述三极管的发射极连接电阻R,所述上拉电阻Rl阻值大于电阻R。
[0010]优选的,所述选通部件为二极管,该二极管的负极连接所述三极管的集电极,该二极管的正极连接处理器I/o接口。
[0011]优选的,所述第二电源为3.3V或5V,与所述处理器电压相适应。
[0012]本发明还提供了一种汽车控制器,包括以上所述的检测电路。
[0013](三)有益效果本申请提供了一种检测电路,所述检测电路包括,选通部件、上拉电阻R2和第二电源,选通部件的一端接收集电极开路的数字输入信号,另一端连接处理器I/O接口 ;所述第二电源经过上拉电阻R2加载到处理器I/O接口上。本申请实现了信号状态的准确判断,同时能够兼容12V与24V系统的应用。
【附图说明】
[0014]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0015]图1为本申请提供的检测电路的结构示意图;
图2为本申请提供的检测电路的结构示意图。
【具体实施方式】
[0016]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
[0017]实施例1:
如图1所示,一种检测电路,运用于对输入到处理器I/O接口的集电极开路的数字输入信号进行检测,
所述检测电路包括,选通部件、上拉电阻R2和第二电源,选通部件的一端接收集电极开路的数字输入信号,另一端连接处理器I/O接口 ;
所述第二电源经过上拉电阻R2加载到处理器I/O接口上。
[0018]本申请实现了对集电极开路的数字输入信号状态的准确判断。
[0019]下面对本申请实施例进行详细说明:
进一步的,所述检测电路还包括:集电极开路的三极管、第一电源和上拉电阻Rl ;所述第一电源经过上拉电阻Rl加载到所述三极管的集电极,所述三极管的集电极连接所述选通部件。
[0020]进一步的,所述第一电源为12V或者24V ;所述第二电源为3.3V或5V,与所述处理器电压相适应。
[0021]进一步的,所述三极管的发射极连接电阻R,所述上拉电阻Rl阻值大于电阻R。
[0022]作为一种优选的方式,所述选通部件为二极管,该二极管的负极连接所述三极管的集电极,该二极管的正极连接处理器I/o接口。所述选通部件也可以通过两个三极管构成。
[0023]如图2所示,在第一电源为12V系统中:
当三极管导通时,上拉电阻Rl和电阻R对第一电源进行分压,由于电阻R相对于上拉电阻Rl阻值较小,A点电压接近于0V,为低电平,此时二极管Dl导通,B点电压为二极管Dl的导通压降、三极管导通压降和电阻R两端电压之和,约为1.4V,因此处理器MCU能检测到一个低电平信号。
[0024]当三极管不导通时,A点电压为12V,为高电平,二极管Dl不导通,此时B点电压为3.3V或5V,因此处理器MCU能检测到一个高电平信号。
[0025]图2所示,在第一电源为24V的系统中:
当三极管导通时,上拉电阻Rl和电阻R对第一电源进行分压,由于电阻R相对于上拉电阻Rl阻值较小,A点电压接近于0V,为低电平,此时二极管Dl导通,B点电压为二极管Dl的导通压降、三极管导通压降和电阻R两端电压之和,约为1.4V,因此处理器MCU能检测到一个低电平信号。
[0026]当三极管不导通时,A点电压为24V,为高电平,二极管Dl不导通,此时B点电压为3.3V或5V,因此处理器MCU能检测到一个高电平信号。
[0027]通过以上两实验可以看出,本实施例能够同时兼容12V与24V系统的应用。
[0028]实施例3:
基于相同的构思,本申请还提供了一种汽车控制器,包括上述任一项实施例所述的检测电路。
[0029]综上所述,本申请提供了一种检测电路,所述检测电路包括,选通部件、上拉电阻R2和第二电源,选通部件的一端接收集电极开路的数字输入信号,另一端连接处理器I/O接口 ;所述第二电源经过上拉电阻R2加载到处理器I/O接口上。本申请实现了信号状态的准确判断,同时能够兼容12V与24V系统的应用。
[0030]需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
【主权项】
1.一种检测电路,其特征在于,运用于对输入到处理器I/o接口的集电极开路的数字输入信号进行检测; 所述检测电路包括,选通部件、上拉电阻R2和第二电源,选通部件的一端接收集电极开路的数字输入信号,另一端连接处理器I/O接口 ; 所述第二电源经过上拉电阻R2加载到处理器I/O接口上。
2.如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述检测电路还包括:集电极开路的三极管、第一电源和上拉电阻R1,所述第一电源经过上拉电阻Rl加载到所述三极管的集电极,所述三极管的集电极连接所述选通部件。
3.如权利要求2所述的检测电路,其特征在于,所述第一电源为12V或者24V。
4.如权利要求2所述的检测电路,其特征在于,所述三极管的发射极连接电阻R,所述上拉电阻Rl阻值大于电阻R。
5.如权利要求2所述的检测电路,其特征在于,所述选通部件为二极管,该二极管的负极连接所述三极管的集电极,该二极管的正极连接处理器I/O接口。
6.如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述第二电源为3.3V或5V,与所述处理器电压相适应。
【专利摘要】本申请提供一种检测电路,涉及汽车电子技术领域。运用于对输入到处理器I/O接口的集电极开路的数字输入信号进行检测;所述检测电路包括,选通部件、上拉电阻R2和第二电源,选通部件的一端接收集电极开路的数字输入信号,另一端连接处理器I/O接口;所述第二电源经过上拉电阻R2加载到处理器I/O接口上。本申请实现了信号状态的准确判断,同时能够兼容12V与24V系统的应用。
【IPC分类】G05B19-042
【公开号】CN104730997
【申请号】CN201510135737
【发明人】刘清清
【申请人】刘清清
【公开日】2015年6月24日
【申请日】2015年3月26日
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