一种不改变芯片引脚调整芯片输出参数的方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明属于电子电路技术领域，涉及一种调整芯片输出参数的方法，特别是涉及一种不改变芯片引脚调整芯片输出参数的方法及系统。
【背景技术】
[0002]通常情况下，芯片的引脚和功能是固定设置好的，其仅适用于特定的场景范围，如特定的输出电压范围，特定的输出电流范围，特定的过压保护范围等。即该芯片的应用范围是有限的。
[0003]以一个简单的三端恒流器件为例，其只有3个引脚，输入脚，电源脚和接地脚，没有额外的引脚及元件可以控制输出电流等参数的改变，因此其实际应用范围比较有限。如图1所示，三端恒流器件包括输入脚(Drain)，电源脚(VCC)，接地脚(GND)，开关(Qsw)，控制模块(Control),保护模块(Protect1n),反馈模块(Current sense and feedback),调制模块(Regulator),稳压模块(ZENER);其中，调制模块(Regulator)的作用是调节电源脚(VCC)的供电电压的大小。如果需要改变图1中的三端恒流器件的输出参数，就需要三端恒流器件具备相应的引脚实现控制，如果没有多余的管脚，改变三端恒流器件输出参数的功能就无法实现，除非芯片做内置固定的功能，但是功能一旦内置固定了，其输出参数的范围也就固定了，就无法实现灵活调整了。
[0004]那么，如何在不改变芯片引脚的前提下实现对芯片输出参数的改变，就是本发明所要解决的技术问题。
【发明内容】
[0005]鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种不改变芯片引脚调整芯片输出参数的方法及系统，用于解决现有技术中改变芯片输出参数需要增加额外控制管脚的问题。
[0006]为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种不改变芯片引脚调整芯片输出参数的方法，所述不改变芯片引脚调整芯片输出参数的方法包括:在芯片的电源脚上电前即所述芯片未启动时，利用与所述芯片的输入脚相连的恒流源为所述电源脚的去耦电容充电；在充电至第一预设电压时，检测所述去耦电容的充电特性；所述去耦电容的充电特性中的参数包括去耦电容的容值、充电电流、充电时间、充电电压；利用充电特性中的参数变化量设置所述芯片的对应输出参数；所述恒流源继续为所述去耦电容充电。
[0007]可选地，所述不改变芯片引脚调整芯片输出参数的方法还包括:在充电至第二预设电压时，所述芯片启动，并以设置好的对应输出参数为初始值开始工作；所述第二预设电压大于所述第一预设电压；所述恒流源继续为所述去耦电容充电。
[0008]可选地，所述不改变芯片引脚调整芯片输出参数的方法还包括:当所述芯片在工作过程中触发保护后使电源脚的电压降至所述第一预设电压时，利用所述充电特性中的参数变化量重新设置所述芯片的对应输出参数；所述恒流源继续为所述去耦电容充电。
[0009]可选地，所述检测所述去耦电容的充电特性，利用充电特性中的参数变化量设置所述芯片的对应输出参数的一种具体实现过程包括:在给定的充电时间内，检测随所述去耦电容容值变化的充电电压的变化，其中，所述恒流源提供的充电电流是固定不变的；利用所述充电电压的变化量设置所述芯片的对应输出参数。
[0010]可选地，所述检测所述去耦电容的充电特性，利用充电特性中的参数变化量设置所述芯片的对应输出参数的一种具体实现过程包括:在固定的充电电压变化范围内，检测随所述去耦电容容值变化的充电时间的变化，其中，所述恒流源提供的充电电流是固定不变的；用所述充电时间的变化量设置所述芯片的对应输出参数。
[0011]可选地，所述对应输出参数包括输出电流、输出电压、过流保护电流、或过压保护电压。
[0012]本发明还提供一种不改变芯片引脚调整芯片输出参数的系统，所述不改变芯片引脚调整芯片输出参数的系统内置于所述芯片中，包括:充电模块，包括一恒流源；所述恒流源的一端与所述芯片的输入脚相连，所述恒流源的另一端与所述芯片的电源脚相连，在芯片的电源脚上电前即所述芯片未启动时，为所述芯片的电源脚的去耦电容充电；检测模块，与所述芯片的电源脚相连，在所述电源脚的电压达到第一预设电压时，检测所述去耦电容的充电特性；所述去耦电容的充电特性中的参数包括去耦电容的容值、充电电流、充电时间、充电电压；输出参数设置模块，与所述检测模块相连，利用充电特性中的参数变化量设置所述芯片的对应输出参数。
[0013]可选地，在所述芯片的电源脚上电或充电至第二预设电压时，所述芯片启动，并以设置好的对应输出参数为初始值开始工作；所述不改变芯片引脚调整芯片输出参数的系统在所述芯片的电源脚上电或充电至第二预设电压时停止工作；所述第二预设电压大于所述第一预设电压。
[0014]可选地，所述参数变化量为所述去耦电容的充电电压变化量；所述检测模块包括:第一比较器，同向输入端与所述芯片的电源脚相连，反向输入端接所述第一预设电压，当所述电源脚的电压达到第一预设电压时，输出检测控制信号；时间控制器，与所述芯片的电源脚和第一比较器分别相连，在所述检测控制信号的触发下开始在预设时间段内输出所述芯片的电源脚的电压信号供后续检测；电压变化量检测组件，与所述时间控制器相连，检测所述电压信号，获得电压变化量；所述电压变化量检测组件包括至少2个电压比较器；每个电压比较器的反向输入端均接一不同的参考电压；每个电压比较器的同向输入端均与所述时间控制器的输出端相连；每个电压比较器的输出信号均表TK一个不同的电压变化量；所述输出参数设置模块与所述电压变化量检测组件的输出端相连，接收到所述电压变化量检测组件中的每个电压比较器的输出信号均对应获得一个不同的充电电压变化量。
[0015]可选地，所述参数变化量为所述去耦电容的充电时间变化量；所述检测模块包括:第二比较器，同向输入端与所述芯片的电源脚相连，反向输入端接所述第一预设电压，当所述电源脚的电压达到第一预设电压时，输出第一比较信号；第三比较器，反向输入端与所述芯片的电源脚相连，同向输入端接大于所述第一预设电压固定值的参考电压，当所述电源脚的电压达到所述参考电压时，输出第二比较信号；所述输出参数设置模块与所述第二比较器的输出端和第三比较器的输出端分别相连，比较所述第一比较信号和第二比较信号的接收时间差获得充电时间变化量。
[0016]如上所述，本发明所述的不改变芯片引脚调整芯片输出参数的方法及系统，具有以下有益效果:
[0017]本发明通过改变芯片电源脚的去耦电容的容量获得参数变量，从而利用参数变量实现对芯片的输出参数进行灵活设置和调整，使芯片的应用范围得到拓宽，突破了芯片管脚类型及数目的限制增加芯片功能，扩展了芯片的使用范围。
【附图说明】
[0018]图1为现有的一种三端恒流器件的电路结构示意图。
[0019]图2为本发明实施例所述的不改变芯片引脚调整芯片输出参数的方法的一种实现过程的流程示意图。
[0020]图3为本发明实施例所述的不改变芯片引脚调整芯片输出参数的方法的另一种实现过程的流程示意图。
[0021]图4a和图4b为本发明实施例所述的不改变芯片引脚调整芯片输出参数的方法的第三种实现过程的流程示意图。
[0022]图5为本发明实施例所述的不改变芯片引脚调整芯片输出参数的系统的一种实现结构示意图。
[0023]图6为本发明实施例所述的检测模块的一种具体实现结构示意图。
[0024]图7为图6所示的检测模块结构的工作时序示意图。
[0025]图8为本发明实施例所述的检测