专利名称：计算机稳定性测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试装置，尤指一种计算才几稳定性测试装置。
背景技术：
计算才几产品生产完毕后，都必须测试其稳定性以保-〖正产品质量。测试 计算机开关机性能是计算机稳定性测试过程中必不可少的环节。测试计算 机的开机功能的传统方法是将计算机接上交流电源并通过手工操作的方式 以测试其开机或关机性能。若不能正常开/关机，或开/关机的时间过长， 则需要更进一步测试计算机的性能以查出异常原因便于维修。但是这种人 工操作的方式效率低，尤其是测试多台计算机，而且需要重复测试计算机 的开/关才几性能时，浪费时间^A力，成本高。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供节省人力，效率较高的计算机稳定性测试 装置。
一种计算机稳定性测试装置，用于测试至少一计算机的开关机性能， 每一计算机包括一对开机引脚及一开机信号产生引脚，所述计算机稳定性
测试装置包括一与被测计算机开机引脚相连的开关模组，所述计算机稳定 性测试装置还包括一单片机，所述开关才莫组包括至少一芯片，所述芯片包
括至少一与所述单片才M目连的输入引脚及与每一输入引脚对应的一对输出 引脚，所述每对输出引脚与一台被测计算机的开机引脚相连，所述单片机 还与所述计算机开机信号引脚相连以检测被测计算机的开关机状态，所述 单片机输出开机信号/关机信号至所述芯片的输入引脚以控制所述芯片的 输出引脚的导通及断开状态，从而测试所述计算机开机/关机性能。
本发明计算机稳定性测试装置利用 一单片机输出开机信号/关机信号 以控制与被测计算机相连的开关模组，从而间接的控制被测计算机的开/ 关机，达到测试计算机开关机性能的目的。由于单片机具有在系统编程特 性，可以通过编写或更该程序设定所述开/关机信号的保持时间，及开/关 机信号的切换时间，并将程序下载至所述单片机内，电路简单，制作方便， 测试效率高。
图1为本发明较佳实施方式计算机稳定性测试装置的设计原理图。
图2为本发明较佳实施方式计算机稳定性测试装置的电路图。
具体实施例方式
请参阅图1,本发明较佳实施方式计算机稳定性测试装置的设计原理 如下通过编写相应的程序并烧录至单片机内使单片机发送开机信号/关机 信号至一模拟开关，以控制所述模拟开关的导通/断开状态，从而间接地控 制待测计算机的开/关机。
请参阅图2，本发明较佳实施方式计算机稳定性测试装置用于测试主 机板上设有开机引脚和开机信号产生引脚的计算机，包括一单片机IO、 一 开关模组20、 一计算机开机接头30、 一计算机开机信'号产生接头40、 一 晶振电路50、 一复位信号产生电路60、 一 ISP (In-System Programming, 在系统可编程)模组70。
所述单片机10为一 AT89S51型号的单片机，包括P0(P0.0-P0.7)口 、 P1(P1.0-P1.7)口、 P2(P2.0-P2.7)口及P3(P3.0-P3.7)口，所述单片机10还包 括一对接所述晶振电路50的输A/输出引脚XTAL1及XTAL2、 一接所述 复位电路60的引脚RET及一接VCC电源(+5V)的引脚EA弁。
所述开关模组20包括两个74HC4066芯片，所述每一 74HC4066芯片 均包括4个控制信号输入引脚1E、 2E、 3E、 4E及4对输出引脚1Y、 1Z; 2Y、 2Z; 3Y、 3Z; 4Y、 4Z。
所述计算机开机接头30包括8对开关引脚分别与8台被测计算机主机 板上的开机引脚相连。
所述计算机开机信号产生接头40包括16个引脚，其中引脚1-8接地，
引脚9-16分别与8台4皮测计算才几主积叔上的开积W言号产生引脚相连，在开 机后，所述开机信号产生引脚产生+5V电压，关机后，开机信号产生引脚 电压为零。
所述晶振电路50由石英晶体和微调电容组成，由于所述单片机10内 部有一个高增益反相放大器，当外接所述晶振电路50后，就构成了自激振 荡器并产生振荡时钟脉冲。
所述复位信号产生电路60输入复位信号至所述单片机10,当输入的 信号连续2个机器周期以上高电平时即为有效，用以完成单片机的复位初 始化操作。
所述ISP模组70包括6个引脚，其中引脚1与引脚6分别接VCC电 源及接地，引脚2-4与所述单片机10相连，引脚5与所述复位信号产生电 ^各60相连。
下面详细介绍所述单片机10与其外围电路的连接线路，所述单片机 10的PO 口的P0.0-P0.7分别与一端接VCC电源的电阻R (阻值IO千欧)相连。
所述单片机10的Pl 口的P1.0-P1.3分别与一 74HC4066芯片的控制信 号输入引脚1E、 2E、 3E、 4E相连,P1.4-P1.7分别与另一 74HC4066芯片 的控制信号输入引脚1E、 2E、 3E、 4E相连。所述74HC4066芯片的每一 输入引脚对应一对输出引脚，所述两个74HC4066芯片的8对输出引脚分 别与所述计算机开机接头30的8对引脚相连。所述74HC4066芯片的每一 输入可I脚对应 一对输出引脚，所述74HC4066芯片的输入《I脚接高电平时， 该输入引脚对应的一对输出引脚导通；所述74HC4066芯片的输入引脚接 低电平时，该输入引脚对应的一对输出引脚断开。所述单片机10的P1口 作为输出端口用与输出开机信号/关机信号至所述74HC4066芯片的输入引 脚。
所述单片机10的P1.5、 P1.6、 P1.7还与所述ISP模组70的引脚2-4 相连，以便下载程序至所述单片机10。
所述单片机10的P2 口的P2.0-P2.7分别通过一保护电阻与一发光二极 管的阳极相连，同时还与所述计算机开机信号产生接头40的引脚9-16相 连，所述发光二极管的阴极接地，用于显示对应的计算机的开关机状态。 所述单片机10的P2 口作为输入端口，所述计算机开机信号产生接头40
的引脚9-16输入信号(+5V或OV电压信号)至所述P2 口 ，所述单片机 10根据输入P2 口的信号判断待测计算机的开关机状态。所述单片机10通 过所述计算机开机信号产生接头40与被测计算机主机板上的开机信号产 生引脚相连。
使用时，先将各待测计算机接上220 V的交流电源，所述单片机10 通电初始化后，即开始测试待测计算机的开/关机功能。测试时，所述单片 机10循环检测P2.0-P2.7引脚的状态，如果检测到P2 口的某一引脚的为低 电平，即该引脚对应的被测计算才;Ui未开机，所^单片机Pl 口与该被测 电脑对应的引脚输出开机信号至所述74HC4066芯片对应的输入引脚，以 使该被测计算机开机。计算机开机并运行一段时间后，所述单片机10输出 关机信号至所述74HC4066芯片，以使所述计算机关机。由于所述单片机 10具有在系统编程特性，可以通过编写或更该程序设定所述开/关机信号的 保持时间、开/关机信号的切换时间及循环次数，并通过所述ISP模组70 下载至所述单片机IO内。
测试过程中，如果计算机不能正常开机或关机，则视该计算机开/关机 性能稳定性不合格，需要进一步检查异常的原因。
权利要求
1.一种计算机稳定性测试装置，用于测试至少一计算机的开关机性能，每一计算机包括一对开机引脚及一开机信号产生引脚，所述计算机稳定性测试装置包括一与被测计算机开机引脚相连的开关模组，其特征在于所述计算机稳定性测试装置还包括一单片机，所述开关模组包括至少一芯片，所述芯片包括至少一与所述单片机相连的输入引脚及与每一输入引脚对应的一对输出引脚，所述每对输出引脚与一台被测计算机的开机引脚相连，所述单片机还与所述计算机开机信号引脚相连以检测被测计算机的开关机状态，所述单片机输出开机信号/关机信号至所述芯片的输入引脚以控制所述芯片的输出引脚的导通及断开状态，从而测试所述计算机开机/关机性能。
2. 如权利要求1所述的计算积4t、定性测试装置，其特征在于所述单 片机包括一输出端口 ，所述输出端口与所述芯片的输入引脚相连。
3. 如权利要求2所述的计算机稳定性测试装置，其特征在于所述开 关模组包括一对芯片，每一芯片具有四个输入引脚和四对输出引脚，所述 输出端口包括8个引脚，分别与所述一对芯片的8个输入引脚相连。
4. 如权利要求2所述的计算机稳定性测试装置，其特征在于所述单 片才腿包括输入端口，所述输入端口包括8个引脚，所述输入端口的8个 S1脚分别与 一发光二极管的阳极相连，所述发光二极管的阴极接地。
5. 如权利要求4所述的计算机稳定性测试装置，其特征在于所述输 入端口的8个引脚还分别与一待测计算机的开机信号产生引脚相连，所述 开机信号产生引脚在待测计算机开机后产生高电平信号，关机后产生低电 平信号。
6. 如权利要求1所述的计算机稳定性测试装置，其特征在于所述测 试装置还包括一下载程序至所述单片机的在系统可编程模组，所述在系统 可编程模组与所述单片机相连。
7. 如权利要求6所述的计算机稳定性测试装置，其特征在于所迷测 试装置还包括一与所述单片机及所述在系统可编程才莫组相连的复位信号产 生电路。
8. 如权利要求7所述的计算机稳定性测试装置，其特征在于所述测 试装置还包括一与所述单片才M目连的晶振电路。
9. 如权利要求1所述的计算机稳定性测试装置，其特征在于所述单 片机为一 AT89S51型号的单片机。
全文摘要
一种计算机稳定性测试装置，用于测试至少一计算机的开关机性能，每一计算机包括一对开机引脚及一开机信号产生引脚，所述计算机稳定性测试装置包括一与被测计算机开机引脚相连的开关模组，所述计算机稳定性测试装置还包括一单片机，所述开关模组包括至少一芯片，所述芯片包括至少一与所述单片机相连的输入引脚及与每一输入引脚对应的一对输出引脚，所述每对输出引脚与一台被测计算机的开机引脚相连，所述单片机还与所述计算机开机信号引脚相连以检测被测计算机的开关机状态，所述单片机输出开机信号/关机信号至所述芯片的输入引脚以控制所述芯片的输出引脚的导通及断开状态，从而测试所述计算机开机/关机性能。
文档编号G06F11/267GK101105765SQ20061006161
公开日2008年1月16日 申请日期2006年7月12日 优先权日2006年7月12日
发明者汪永安 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司