专利名称：一种自动生成集成电路检测数据的方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及自动化技术领域，尤其涉及一种自动生成集成电路检测数据的方法及装置。
背景技术：
在设计集成电路时，首先需要确定集成电路的模块设计规格(MAS，ModuleArchitecture Spec)，然后根据MAS编写硬件的描述语言代码(verilog)，并且在集成电路设计的过程中，还会不断更改MAS以及verilog，每更改一部分verilog，都要改变MAS，如图1所示，为寄存器的数据结构示意图，所述集成电路的MAS包括寄存器的偏移量、名称、描述、默认值及存取方式。
验证工程师、驱动程序工程师或者硬件工程师在工作中会经常用到MAS，然而在集成电路设计过程中由于MAS会经常改变，同样集成电路的设计也会根据MAS，做出相应的改变，以保证集成电路符合MAS的要求，在集成电路的设计根据MAS做出相应的改变后，工作人员需要根据MAS测试集成电路的设计是否与MAS相符，并记录下集成电路的设计与MAS不相符的检测数据，进行相应的处理。
目前，现有技术根据MAS测试集成电路的设计是否与MAS相符，以及记录下集成电路的设计与MAS不相符的检测数据的工作是人工完成的，因此，工作效率低，而且所获得的检测数据不够准确。
综上，现有技术无法根据MAS自动生成集成电路的检测数据。
发明内容
本发明提供一种自动生成集成电路检测数据的方法及装置，用以解决现有技术中存在的无法根据MAS自动生成集成电路的检测数据的问题。
本发明方法，设置一测试单元，该测试单元存储有集成电路的模块设计规格数据，该方法包括步骤所述测试单元读取集成电路中寄存器的值，并将该值和所述集成电路的模块设计规格数据中该寄存器的默认值进行比较，当所述寄存器的值与该寄存器的默认值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据。
所述集成电路的模块设计规格数据包括集成电路中每个寄存器的地址、默认值及存取方式。
所述的存取方式为可读的存取方式，或可读可写的存取方式。
当所述寄存器的存取方式为可读可写的存取方式时，且当所述寄存器的值与该寄存器的默认值相同时，该方法进一步包括测试该寄存器的可读可写的存取方式的步骤，该步骤包括所述测试单元将不同于所述寄存器的默认值的值写入该寄存器，然后读取该寄存器的值，当所述写入的值与所述读取的值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据。
本发明装置包括测试单元，用于存储集成电路的模块设计规格数据，并读取集成电路中寄存器的值，将该值和所述集成电路的模块设计规格数据中该寄存器的默认值进行比较，当所述寄存器的值与该寄存器的默认值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据。
所述测试单元包括存储单元，用于存储集成电路的模块设计规格数据；比较单元，用于从所述存储单元中获得集成电路的模块设计规格数据中寄存器的默认值，并读取集成电路中该寄存器的值，将该值和所述集成电路的模块设计规格数据中该寄存器的默认值进行比较，当所述寄存器的值与该寄存器的默认值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据发送给测试数据单元；测试数据单元，用于将所述寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据。
所述的存储单元，用于存储集成电路的模块设计规格数据中寄存器的地址、默认值及存取方式；所述的比较单元，还用于当寄存器的存取方式为可读可写的存取方式时，并且当所述寄存器的值与该寄存器的默认值相同时，将不同于所述寄存器的默认值的值写入该寄存器，然后读取该寄存器的值，当所述写入的值与所述读取的值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据发送给测试数据单元。
本发明设置一测试单元，该测试单元存储有集成电路的模块设计规格数据，所述测试单元读取集成电路中寄存器的值，并将该值和所述集成电路的模块设计规格数据中该寄存器的默认值进行比较，当所述寄存器的值与该寄存器的默认值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据，使工作人员可以根据所述集成电路的检测数据，直接获得集成电路不符合模块设计规格的数据，避免了工作人员需要手动查找集成电路不符合模块设计规格的数据的繁琐，从而实现根据模块设计规格生成集成电路的检测数据的自动化，提高了工作效率，以及检测数据的准确度。
图1为寄存器的数据结构示意图；图2为本发明方法的流程示意图；图3为本发明方法具体实施方式
的流程示意图；图4为本发明装置的结构示意图。
具体实施例方式
本发明的核心思想为为了实现自动生成集成电路的检测数据，设置一测试单元，该测试单元包括存储单元、比较单元和测试数据单元，所述存储单元，存储集成电路的模块设计规格(MAS)数据，所述比较单元，从所述存储单元中获得集成电路的模块设计规格数据中寄存器的默认值，并读取集成电路中该寄存器的值，将该值和所述集成电路的模块设计规格数据中该寄存器的默认值进行比较，当所述寄存器的值与该寄存器的默认值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据发送给测试数据单元；所述测试数据单元，将所述寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据，那么工作人员只需根据该检测数据，进行相应的处理，避免了获得集成电路的检测数据的操作由人工实现所导致的工作效率低，以及检测数据不够准确的问题；较佳地，所述的集成电路的模块设计规格数据包括集成电路中每个寄存器的地址、默认值及存取方式；其中，所述的存取方式为可读的存取方式，也可以为可读可写的存取方式；那么所述的比较单元，还可以用于当寄存器的存取方式为可读可写的存取方式时，并且当所述寄存器的值与该寄存器的默认值相同时，将不同于所述寄存器的默认值的值写入该寄存器，然后读取该寄存器的值，当所述写入的值与所述读取的值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据发送给测试数据单元。
参见图2，本发明方法包括S201、设置一测试单元，该测试单元存储有集成电路的模块设计规格数据；较佳地，所述集成电路的模块设计规格数据包括集成电路中每个寄存器的地址、默认值及存取方式；其中，所述的存取方式为可读的存取方式，也可以为可读可写的存取方式；S202、所述测试单元读取集成电路中寄存器的值，并将该值和所述集成电路的模块设计规格数据中该寄存器的默认值进行比较，当所述寄存器的值与该寄存器的默认值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据；
比较所述同一寄存器地址所对应的模块设计规格数据中该寄存器的默认值和集成电路中该寄存器的值，当这两个值不同时，说明集成电路的设计不符合模块设计规格，因此需要将不符合规格的该寄存器的地址、默认值及存取方式作为集成电路的检测数据供工作人员进行相应处理；较佳地，根据模块设计规格数据中寄存器的存取方式，判断所述寄存器是否为只读存储器，如果为只读存储器，则读取该寄存器的值，并将该值和模块设计规格数据中的默认值进行比较，如果这两个值不相同，则将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据；如果为可读可写存储器，则读取该寄存器的值，并将该值和模块设计规格数据中该寄存器的默认值进行比较，当读取的值和该寄存器的默认值不相同，则将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据；如果这两个值相同，则将不同于该寄存器的默认值的值写入该寄存器，并读取该寄存器的值，当所述写入的值和所述读取的值不相同时，说明该寄存器的存取方式存在设计上的错误，需要进一步处理，所以需要将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据；那么，工作人员根据检测数据，即寄存器的模块设计规格数据，即可知道哪个寄存器在设计上出现错误，与预先设计的规格不符，并因此做出相应处理。
参见图3，本发明方法预先存储了集成电路的模块设计规格数据，该方法包括S301、设置一测试单元，该测试单元存储有集成电路的模块设计规格数据；所述集成电路的模块设计规格数据包括每个寄存器的地址、默认值和存取方式；S302、所述测试单元判断寄存器的存取方式是否为只读存取方式，如果是，则进行步骤S303，否则，进行步骤S304；S303、所述测试单元读取集成电路的寄存器的值，并与该寄存器的默认值进行比较，当读取的值和默认值不相同时，进行步骤S307；
S304、所述测试单元读取集成电路的寄存器的值；S305、所述测试单元判断读取的值和默认值是否相同，如果是，则进行步骤S306，否则进行步骤S307；S306、所述测试单元向所述寄存器写入数据，并读取该寄存器的值，当读取的值和写入的值不相同时，进行步骤S307；S307、将模块设计规格数据中寄存器的地址、默认值和存取方式作为集成电路的检测数据；S308、结束。
参见图4，本发明装置包括集成电路401和测试单元402；所述集成电路401包括至少一个寄存器；所述测试单元402包括存储单元4021、比较单元4022和测试数据单元4023；所述的存储单元4021，用于存储集成电路401的MAS数据，包括至少一个寄存器的地址、默认值和存取方式；其中，所述的存取方式为可读的存取方式或可读可写的存取方式；所述的比较单元4022，从存储单元4021中获得集成电路401的MAS数据，对每个寄存器，当寄存器的存取方式为只读的存取方式时，读取寄存器的值，并将该值和MAS中该寄存器的默认值进行比较，当这两个值不相同时，将MAS中该寄存器的地址、默认值和存取方式发送给测试数据单元4023；当寄存器的存取方式为可读可写的存取方式时，读取寄存器的值，并将该值和MAS中该寄存器的默认值进行比较，当这两个值不相同时，将MAS中该寄存器的地址、默认值和存取方式发送给测试数据单元4023；当所述读取的值和默认值相同时，将某个不同于所述寄存器的默认值的值写入寄存器，并读取寄存器的值，比较写入的值和读取的值，当这两个值不相同时，将MAS中该寄存器的地址、默认值和存取方式发送给测试数据单元4023；
所述的测试数据单元4023，用于将MAS的寄存器的地址、默认值和存取方式作为集成电路401的检测数据。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求
1.一种自动生成集成电路检测数据的方法，其特征在于，设置一测试单元，该测试单元存储有集成电路的模块设计规格数据，该方法包括步骤所述测试单元读取集成电路中寄存器的值，并将该值和所述集成电路的模块设计规格数据中该寄存器的默认值进行比较，当所述寄存器的值与该寄存器的默认值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述集成电路的模块设计规格数据包括集成电路中每个寄存器的地址、默认值及存取方式。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述的存取方式为可读的存取方式，或可读可写的存取方式。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述寄存器的存取方式为可读可写的存取方式时，且当所述寄存器的值与该寄存器的默认值相同时，该方法进一步包括测试该寄存器的可读可写的存取方式的步骤，该步骤包括所述测试单元将不同于所述寄存器的默认值的值写入该寄存器，然后读取该寄存器的值，当所述写入的值与所述读取的值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据。
5.一种自动生成集成电路检测数据的装置，其特征在于，该装置包括测试单元，用于存储集成电路的模块设计规格数据，并读取集成电路中寄存器的值，将该值和所述集成电路的模块设计规格数据中该寄存器的默认值进行比较，当所述寄存器的值与该寄存器的默认值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据。
6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述测试单元包括存储单元，用于存储集成电路的模块设计规格数据；比较单元，用于从所述存储单元中获得集成电路的模块设计规格数据中寄存器的默认值，并读取集成电路中该寄存器的值，将该值和所述集成电路的模块设计规格数据中该寄存器的默认值进行比较，当所述寄存器的值与该寄存器的默认值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据发送给测试数据单元；测试数据单元，用于将所述寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据。
7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述的存储单元，用于存储集成电路的模块设计规格数据中寄存器的地址、默认值及存取方式；所述的比较单元，还用于当寄存器的存取方式为可读可写的存取方式时，并且当所述寄存器的值与该寄存器的默认值相同时，将不同于所述寄存器的默认值的值写入该寄存器，然后读取该寄存器的值，当所述写入的值与所述读取的值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据发送给测试数据单元。
全文摘要
本发明公开了一种自动生成集成电路检测数据的方法及装置，用于测试集成电路是否符合模块设计规格，用以解决现有技术中测试集成电路是否符合模块设计规格的操作无法实现自动化的问题。本发明方法，设置一测试单元，该测试单元存储有集成电路的模块设计规格数据，该方法包括步骤所述测试单元读取集成电路中寄存器的值，并将该值和所述集成电路的模块设计规格数据中该寄存器的默认值进行比较，当所述寄存器的值与该寄存器的默认值不相同时，将该寄存器的模块设计规格数据作为集成电路的检测数据。本发明还公开了一种自动生成集成电路检测数据的装置。本发明用于实现根据模块设计规格获得集成电路的检测数据的自动化，提高了工作效率，以及检测数据的准确度。
文档编号G06F17/50GK1952944SQ20061011456
公开日2007年4月25日 申请日期2006年11月15日 优先权日2006年11月15日
发明者陈洪 申请人:北京中星微电子有限公司