验证drc配置文件的方法

文档序号:6561178阅读:687来源:国知局
专利名称:验证drc配置文件的方法
技术领域
本发明涉及半导体设计工艺方法,尤其涉及一种利用正确图形和错误 图形验证DRC (Design Rule Check,设计规则检査)配置文件的方法。
背景技术
芯片版图设计时必须进行DRC检查,不符合版图设计规则的图案不 能保证在硅片上实现,图1说明了版图验证在IC设计中的位置。
任何物理版图验证工具都通过DRC配置文件对版图数据进行检查, 其流程如图2所示。DRC配置文件的质量可决定版图设计规则检査的准确 性,因此,DRC配置文件必须涵盖版图设计中的每一条规则,并且不能有 漏错(版图错误没有检査出来),不能有伪错(正确的版图被报告有错)。
目前,主要通过手工构建的错误图形和成功流片的设计检验DRC配 置文件是否正确,用DRC配置文件检査错误图形应该报告相应的错误,检 査成功流片的设计应没有错误,否则表明配置文件有误。
这种方法的缺点是手工构建的错误图形和成功流片的设计不能覆盖 版图设计规则中的所有设计规则,因而不能保证DRC配置文件的精确性。

发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种验证DRC配置文件的方法,能 确保DRC配置文件的准确性,并使DRC配置文件对每一条设计规则作精确 检査。 为了解决上述技术问题,本发明验证DRC配置文件的方法包括如下 步骤
(1) 设计两组图形, 一组为正确图形,另一组为错误图形,所述正确 图形符合版图设计规则的要求,所述错误图形不满足版图设计规则的要 求;
(2) 用DRC配置文件分别检査正确图形和错误图形;
(3) 如果步骤(2)中的DRC配置文件检査正确图形没有错误,且检 査错误图形有相应错误,说明DRC配置文件正确;
(4) 如果步骤(2)不能得出步骤(3)的结果,说明DRC配置文件 有错误,需进行修改。
本发明的验证DRC配置文件的方法,保证了版图设计规则检査的准 确性,为芯片成功流片提供有力保障。


下面结合附图和具体实施方式
对本发明作进一步详细说明。
图1是现有版图验证在IC设计中所处位置的示意图2是现有DRC配置文件检査版图数据的流程图3是本发明的实施例中正确图形和错误图形的举例示意图4是本发明验证DRC配置文件的方法的流程图。
具体实施例方式
本发明验证DRC配置文件的方法,包括如下步骤设计两组图形, 一组为正确图形,该图形符合版图设计规则的要求,另一组为错误图形, 该错误图形不满足版图设计规则的要求,这两组图形都包含版图设计中的
全部规则;用DRC配置文件分别检査正确图形和错误图形,如果检查正 确图形都没有错误,且检査错误图形都有相应规则的错误,说明DRC配 置文件正确,否则说明DRC配置文件有错误,需进行修改(见图4)。
本发明验证DRC配置文件的方法,通过参数化单元实现正确图形的 设计,使正确图形恰好符合版图设计规则的要求,再由改变参数值一个格 点得到错误图形,该错误图形刚好不满足版图设计规则的要求。例如某条 规则是金属的最小距离为0. 32,则该规则的正确图形和错误图形如图3 所示,在正确图形中,表示两个金属之间最小距离的数值为0. 32,而在 错误图形中,表示两个金属之间最小距离的数值为0.31。然后用DRC配 置文件分别检査正确图形和错误图形,如果检查正确图形都没有错误,检 査错误图形都有相应规则的错误,说明DRC配置文件正确,否则说明该 DRC配置文件有误,需修改。
权利要求
1.一种验证DRC配置文件的方法,其特征在于,包括如下步骤(1)设计两组图形,一组为正确图形,另一组为错误图形,所述正确图形符合版图设计规则的要求,所述错误图形不满足版图设计规则的要求;(2)用DRC配置文件分别检查正确图形和错误图形;(3)如果步骤(2)中的DRC配置文件检查正确图形没有错误,且检查错误图形有相应错误,说明DRC配置文件正确;(4)如果步骤(2)不能得出步骤(3)的结果,说明DRC配置文件有错误,需进行修改。
2. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤(1)中设计正 确图形通过参数化单元实现。
3. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤(1)中的错误 图形由改变参数值一个格点获得。
4. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述正确图形和错误图形 都包含版图设计规则。
全文摘要
本发明公开了一种验证DRC配置文件的方法,包括步骤设计两组图形,一组为正确图形,另一组为错误图形;用DRC配置文件分别检查正确图形和错误图形,如果检查正确图形没有错误,且检查错误图形有相应错误,说明DRC配置文件正确,否则说明DRC配置文件有错误,需修改。本发明的验证DRC配置文件的方法,能确保DRC配置文件的正确,保证版图设计规则检查的准确性,为芯片成功流片提供有力保障。
文档编号G06F17/50GK101162477SQ20061011712
公开日2008年4月16日 申请日期2006年10月13日 优先权日2006年10月13日
发明者晏志卿 申请人:上海华虹Nec电子有限公司
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