专利名称：计算机开关机测试电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试电路，尤指一种计算机开关机测试电路。
背景技术：
计算机产品生产完毕后，都必须测试其稳定性以保证产品质量。测试计算机开关机性能 是计算机稳定性测试过程中必不可少的环节。测试计算机的开关机功能的传统方法是将计算 机接上交流电源并通过手工操作其电源键的方式以测试其开机或关机性能。若不能正常开/ 关机，或开/关机的时间过长，则需要更进一步测试计算机的性能以査出异常原因便于维修 。但是这种人工操作的方式效率低，尤其是测试多台计算机，而且需要重复测试计算机的开 /关机性能时，浪费时间及人力。
为了提高测试效率，测试计算机开关机性能时可采用机械手开关模拟手动操作，重复触 压计算机开关，达成测试计算机开关机性能的目的。但是，这种机械手不太稳定，不能严格 的按照测试要求自动完成测试。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种测试效率高且稳定可靠的计算机开关机测试电路。 一种计算机开关机测试电路，用于测试待测计算机的开关机性能，包括一与所述待测计 算机相连以控制所述待测计算机开关机状态的开关模组，所述计算机开关机测试电路还包括 一与所述开关模组相连以控制所述开关模组的开合状态的控制芯片，所述控制芯片内烧录有 测试程序且在所述测试程序运行时发出周期性的高/低电平信号至所述开关模组以控制所述 开关模组重复切换所述待测计算机的开关机状态，所述测试程序设定所述高/低电平信号的 切换频率及保持时间。
本发明计算机开关机测试电路利用一烧录有测试程序的控制芯片来测试计算机的开关机 性能，电路稳定可靠，且可按照测试要求自动对计算机进行开关机测试，测试效率高。
图l为本发明较佳实施方式计算机开关机测试电路的组成方框图。 图2是图1中控制模组、驱动模组及显示模组的电路图。 图3是图1中电源模组及开关模组的电路图。
具体实施方式
请参阅图l，本发明较佳实施方式计算机开关机测试电路包括一控制模组IO、 一驱动模 组20、 一显示模组30、 一电源模组40及一开关模组50。所述控制模组10可周期性地发出开/ 关机信号至所述开关模组50，所述开关模组50与待测试计算机的开关引脚相连，可重复的对 所述待测试计算机进行开关机动作，从而验证所述待测试计算机是否能通过严格的开关机测 试。所述显示模组30可显示测试时间，测试次数等测试信息。所述驱动模组20用于驱动所述 显示模组30。所述电源模组40可提供电源至所述控制模组10及其它需供电的模组。
请参阅图2，所述控制模组10包括一单片机102 (亦可为其它可编程的控制芯片)及一提 供时钟脉冲信号的晶振电路104。所述单片机102内烧录有测试程序、按键扫描程序、驱动显 示程序等程序。所述单片机l02在所述测试程序运行时发出周期性的高/低电平信号以重复切 换所述待测计算机的开关状态，所述测试程序根据测试需求设定了所述高/低电平信号的切 换频率及保持时间。所述晶振电路l04由石英晶体Y和微调电容C 1及C2组成，由于所述单片机 102内部有一个高增益反相放大器，当外接所述晶振电路50后，就构成了自激振荡器并产生 振荡时钟脉冲。所述单片机104的PB0 (定时器/计数器)引脚与一按键K1相连，PB1 (定时器 /计数器)引脚与一按键K2相连，PB2 (模拟信号输入端)引脚与一按键K3相连，PB3 (模拟 信号输入端)引脚与一按键K4相连。所述按键Kl为开始/停止键，当所述按键扫描程序检测 到K1键被按下时可以开始或停止测试程序；所述按键K2为设置键，当所述按键扫描程序扫描 到所述K2键被按下时可切换并选定测试参数(如测试时间，测试次数等参数)类型，使所述 显示模组30相应显示测试次数或测试时间等信息；所述按键K3为加法键，当所述按键扫描程 序扫描到所述K3键被按下时可增加选定的测试参数值，如增加测试时间或测试次数；所述按 键K4为减法键，当所述按键扫描程序扫描到所述K4键被按下时可减小选定的测试参数值，如 减少测试时间或测试次数。所述单片机104还外接一连接器106，该连接器106可插接一编程 器用于烧录开关机测试程序至所述单片机102。所述单片机102的PD7引脚接有一工作指示灯 Dl，该工作指示灯D1在测试时发亮，在测试停止时熄灭。
所述驱动模组20包括四个三极管Q1， Q2， Q3及Q4，所述三极管Q1， Q2， Q3及Q4的基极分 别与所述单片机102的PA4， PA5， PA6及PA7相连，集电极与所述显示模组30的驱动引脚l-4相 连，发射极均接地。
所述显示模组30包括4个从右至左排列的数码管LED1-LED4，所述数码管LED1-LED4的 a-g引脚分别与所述单片机102的PC0-PC6引脚相连，控制引脚l-4分别与所述驱动模组20的三 极管Q1-Q4的集电极相连。所述数码管LEDl-LED4的状态受控于所述三极管Ql-Q4的导通/截止 状态及所述单片机102的PC0-PC6引脚发出信号的状态。例如，如需驱动所述显示模组30显示数字IO，所述驱动显示程序运行，使所述单片机102的引脚PA6， PA7发出低电平信号，使所 述三极管Q3及Q4截止，所述LED3及LED4因而未被驱动，处于熄灭状态；所述单片机102的引 脚PA5， PA4发出高电平信号，使所述三极管Q2及Q1导通，所述LED3及LED4因而被驱动，可以 显示出相应的数字，所述单片机102的引脚PC1， PC2发出高电平信号至所述LED2的b和c引脚 ，使所述数码管LED2显示数字1，所述单片机的引脚PC0-PC5发出高电平信号至所述数码管 LEDl的a-f引脚，使所述数码管LED1显示数字0，因而所述显示模组30呈现的数字为10。
所述电源模组40包括一 电源线VCC ， 一接地线GND及连接于该电源线VCC及接地线GND之间 的滤波电容C3及C4。所述单片机102的VCC引脚与所述电源模组40电源线VCC相连，GND引脚与 所述电源模组40的接地线GND相连。
所述开关模组50包括一二极管D2， 一三极管Q5及一光电耦合器B，所述光电耦合器B的输 出端可与待测计算机的开关相连以便对其进行开关机测试。所述光电耦合器B的发光源为一 发光二极管，受光器为一光敏三极管。所述二极管D2的阳极与所述单片机102的PA3引脚相连 ，当所述单片机102的PA3引脚发出高电平信号时，所述二极管D2及三极管Q5均导通，所述光 电耦合器B的二极管也导通，所述光电耦合器B的输出端的阻抗很小，相当于开关"闭合"， 可将待测试计算机的开关信号(PWRBT)接地，从而切换所述待测计算机的开关机状态，当所 述单片机102的PA3引脚发出低电平信号时，所述二极管D2及三极管Q5均导通，所述光电耦合 器B的二极管也导通，所述光电耦合器B的输出端的阻抗很大，相当于开关"断开"，所述待 测计算机的开机或关机的状态保持不变。
测试时，先开启电源，使所述单片机102通电，然后按下所述按键K1开始测试，所述单 片机l 02的PA3弓1脚即可按照既定的测试程序周期性的发出高/低电平的测试信号至所述开关 模组50，对待测计算机进行开关机测试。如一种待测试电脑，需在温度湿度不断变化的条件 下通过58小时的测试，每一个测试周期使所述待测试计算机保持开机状态8分钟，关机状态 32秒，完成该项测试时，先将相应的程序烧录至所述单片机102，然后可利用本开关机测试 电路对其进行自动测试，测试效率高，且测试信息可以通过所述显示模组30显示出来，便于 监视测试信息。
权利要求
1.一种计算机开关机测试电路，用于测试待测计算机的开关机性能，包括一与所述待测计算机相连以控制所述待测计算机开关机状态的开关模组，其特征在于所述计算机开关机测试电路还包括一与所述开关模组相连以控制所述开关模组的开合状态的控制芯片，所述控制芯片内烧录有测试程序且在所述测试程序运行时发出周期性的高/低电平信号至所述开关模组以控制所述开关模组重复切换所述待测计算机的开关机状态，所述测试程序设定所述高/低电平信号的切换频率及保持时间。
2.如权利要求l所述的计算机开关机测试电路，其特征在于所述 开关模组包括一与所述控制芯片相连的三极管及一光电耦合器，所述光电耦合器的输入端与 所述三极管相连，输出端与所述待测计算机的开关机引脚相连，所述控制芯片发出高电平信 号至所述三极管时所述三极管及所述光电耦合器均导通以切换所述待测计算机的开关机状态
3.如权利要求l所述的计算机开关机测试电路，其特征在于所述 控制芯片接有一第一按键，所述控制芯片内还烧录有一按键扫描程序，所述按键扫描程序检 测到所述第一按键被按下时开启或结束所述测试程序。
4.如权利要求3所述的计算机开关机测试电路，其特征在于所述 控制芯片还接有一第二按键，所述按键扫描程序检测到所述第二按键被按下时选定一种测试 参数的类型，所述测试参数的类型包括测试时间及测试次数两种类型。
5.如权利要求4所述的计算机开关机测试电路，其特征在于所述 控制芯片还接有一第三按键及一第四按键，所述按键扫描程序扫描到所述第三按键被按下时 增加所述被选定的测试参数的值，所述按键扫描程序扫描到所述第四按键被按下时减小所述 被选定的测试参数的值。
6.如权利要求l所述的计算机开关机测试电路，其特征在于所述 计算机开关机测试电路还包括一显示模组及一用于驱动所述显示模组的驱动模组，所述驱动 模组连接于所述控制芯片及所述显示模组之间且在接受到所述控制芯片发出的高电平信号时驱动所述显示模组。
7.如权利要求6所述的计算机开关机测试电路，其特征在于所述驱动模组包括若干与所述控制芯片相连的三极管，当所述控制芯片发出高电平信号时所述三 极管导通以驱动所述显示模组。
8.如权利要求7所述的计算机开关机测试电路，其特征在于所述显示模组包括若干数码管，所述数码管与所述驱动模组的三极管对应相连，所述控制芯片内 还烧录有一驱动显示程序且在所述驱动显示程序运行时输出信号至所述三极管及所述数码管 以驱动所述数码管显示测试信息。
全文摘要
一种计算机开关机测试电路，用于测试待测计算机的开关机性能，包括一与所述待测计算机相连以控制所述待测计算机开关机状态的开关模组，所述计算机开关机测试电路还包括一与所述开关模组相连以控制所述开关模组的开合状态的控制芯片，所述控制芯片内烧录有测试程序且在所述测试程序运行时发出周期性的高/低电平信号至所述开关模组以控制所述开关模组重复切换所述待测计算机的开关机状态，所述测试程序设定所述高/低电平信号的切换频率及保持时间。本发明计算机开关机电路可按照测试要求自动地对计算机进行开关机测试，测试效率高。
文档编号G06F11/26GK101576840SQ20081030142
公开日2009年11月11日 申请日期2008年5月6日 优先权日2008年5月6日
发明者刘玉林, 卢洪浪, 范利平 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司