专利名称：测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及一种用以测试CPU的QPI总线的测试装置。
背景技术：
在进行CPU的空焊测试时，例如以Inte11366 CPU为例，每个CPU有80根QPI总线，工程师 要逐根逐根地去测量，并且由于QPI总线没有测试点，需要直接在CPU SOCKET上测量，这样 容易造成CPU接脚弯曲，使维修更为困难。
上述测试方式不仅费时费力、工作效率低，而且增大了CPU的不良率， 一般CPU的QPI总 线的空焊率为2%。
发明内容
鉴于上述问题，本实用新型提供了一种测试装置，用以辅助测试CPU的QPI总线。 为了达到上述目的，本实用新型采用了如下的技术方案 一种测试装置，其适用于测试 CPU的总线中，其中，该测试装置主要包括虚拟CPU，其插接于待测试CPU的插槽中，且待 测试CPU的总线与虚拟CPU的总线一一对应，该虚拟CPU的总线接地；显示模块，其与虚拟CPU 的总线连接，用以显示虚拟CPU的总线状态；以及供电模块，用以提供该显示模块的工作电 压。
较佳的，本实用新型提供了一种测试装置，其中，所述显示模块为若干个LED灯，每一 LED灯与每一根总线一一对应，用以显示每一根总线的状态，此外，所述测试装置还包括用 以令LED灯发光的上拉电阻。
相较于先前技术，本实用新型提供了一种测试装置，不仅可以直观，有效地判断CPU的 总线的连接状况，而且有效地避免在量测时导致CPU接脚折弯的情况，提高了维修效率。
图l为本实用新型的示意图具体实施方式
请参照图l所示，为本实用新型的示意图。本实用新型所述的测试装置主要适用于测试 CPU的总线中，于本实施例中，以测试CPU的QPI总线为例。
其中，所述测试装置主要包括待测试的CPU101、虚拟CPU102、显示模块103以及供电模 块104。
又，所述虚拟CPU102对应插接于待测试CPU101的插槽中，且待测试CPUIOI的QPI总线与 该虚拟CPU 102的QPI总线——对应，以借由该虚拟CPU 102将待测试CPU 101的QPI总线引出，将 该虚拟CPU102的QPI总线通过O欧姆的电阻接地，且将该虚拟CPU102的QPI总线连接至显示模 块103。
所述显示模块103用以显示待测试CPU101的总线状态，于本实施例中，以设置有若干个 与待测试CPU101的QPI总线数目相同的LED灯的面板为例，每一LED灯与每一根QPI总线一一对 应，用以显示每一根QPI总线的状态，该显示模块103经由上拉电阻与供电模块104连接，该 供电模块104用以提供工作电压。
如此，当需要测试CPU的QPI总线时，将虚拟CPU插接于该待测试的CPU的插槽上，然后去 观察显示模块103上的LED灯，若某一LED灯发光，则说明相应的QPI总线是通的。某一LED灯 不发光，则说明相应的QPI总线不通。这时，就可以针对不通的通路进行验证与更换BGA的动 作。
相较于先前技术，本实用新型提供了一种测试装置，不仅可以直观，有效地判断CPU的 总线的连接状况，而且有效地避免在量测时导致CPU接脚折弯的情况，提高了维修效率。
权利要求1..一种测试装置，其适用于测试CPU的总线中，其特征在于，该测试装置主要包括虚拟CPU，其插接于待测试CPU的插槽中，且待测试CPU的总线与虚拟CPU的总线一一对应，该虚拟CPU的总线接地；用以显示虚拟CPU的总线状态的显示模块，其与虚拟CPU的总线连接；以及用以提供显示模块的工作电压的供电模块。
2 根据权利要求l所述的测试装置，其特征在于，所述显示模块为若 干个用以显示总线状态的LED灯，每一LED灯与每一根总线一一对应。
3 根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包 括用以令LED灯发光的上拉电阻。
专利摘要本实用新型提供了一种测试装置，其适用于测试CPU的总线中，其中，该测试装置主要包括虚拟CPU，其插接于待测试CPU的插槽中，且待测试CPU的总线与虚拟CPU的总线一一对应，该虚拟CPU的总线接地；显示模块，其与虚拟CPU的总线连接，用以显示虚拟CPU的总线状态；以及供电模块，用以提供该显示模块的工作电压。其中，所述显示模块为若干个LED灯，每一LED灯与每一根总线一一对应，用以显示每一根总线的状态。本实用新型不仅可以直观，有效地判断CPU的总线的连接状况，而且有效地避免在量测时导致CPU接脚折弯的情况，提高了维修效率。
文档编号G06F11/267GK201374056SQ200920300818
公开日2009年12月30日 申请日期2009年2月24日 优先权日2009年2月24日
发明者欧阳培英 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司